一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，包括底座，底座的兩端開有卡條活動槽，卡條活動槽中設有兩個貫穿兩端卡條活動槽的卡條，卡條的下方開有放射源槽。本實用新型的可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，通過調(diào)節(jié)卡條，可適用于不同尺寸規(guī)格的探測器，使表面污染監(jiān)測儀整個校準過程更為便捷方便，極大改善和簡化校準過程。
【專利說明】 —種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及輻射監(jiān)測與防護【技術領域】，具體涉及一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具。
【背景技術】
[0002]在核電廠、后處理廠等含放射性操作的部門，放射性監(jiān)管部門和相關放射性物質使用單位等都配備有表面污染監(jiān)測儀。該儀器能夠測量物體表面的α、β粒子污染情況，以便決定是否采取去污等處理措施，防止人員被放射性污染。
[0003]表面污染監(jiān)測儀在放射性監(jiān)控領域大量使用，生產(chǎn)廠家很多，或因為使用目的不同、或因為使用對象不同，造成表面污染監(jiān)測儀的探測器尺寸有不同的規(guī)格，這給這些儀器的校準帶來不少困擾。本實用新型正是針對該問題而提出的一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具。
實用新型內(nèi)容
[0004]針對現(xiàn)有技術中存在的缺陷，本實用新型的目的在于提供一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，通過該裝置能夠簡化校準過程，提高表面污染監(jiān)測儀的校準效率。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用的技術方案如下:
[0006]一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，包括底座，底座的兩端開有卡條活動槽，卡條活動槽中設有兩個貫穿兩端卡條活動槽的卡條，卡條的下方開有放射源槽。
[0007]進一步，如上所述的一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，所述的卡條與放射源槽的距離為5mm。
[0008]再進一步，如上所述的一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，所述的卡條與放射源槽的距離為10mm。
[0009]更進一步，如上所述的一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，所述的底座的長度為20cm，寬度為15cm。
[0010]本實用新型的有益效果在于:本實用新型的可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，通過調(diào)節(jié)卡條，可適用于不同尺寸規(guī)格的探測器，使表面污染監(jiān)測儀整個校準過程更為便捷方便，極大改善和簡化了校準過程。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1為【具體實施方式】中一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具的主視圖；
[0012]圖2為【具體實施方式】中一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具的俯視圖。
【具體實施方式】
[0013]下面結合說明書附圖與【具體實施方式】對本實用新型做進一步的詳細說明。
[0014]圖1和圖2分別示出了本實用新型【具體實施方式】中一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具的主視圖和俯視圖，該工具包括底座1，底座I的兩端開有卡條活動槽4，卡條活動槽4中設有兩個貫穿兩端卡條活動槽4的卡條3，卡條3的下方開有放射源槽2。
[0015]本實用新型的可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，主要用于輔助表面污染監(jiān)測儀的校準，在校準時，探測器置于卡條3上，放射源置于放射源槽2中，卡條3穿過兩端的卡條活動槽4，即卡條3外露，以便在卡條活動槽4內(nèi)自由調(diào)節(jié)卡條3，以適應不同尺寸的探測器。
[0016]表面污染監(jiān)測儀在涉及放射性的領域大量使用，其探測器尺寸有很多的規(guī)格，我國相關標準及規(guī)程要求，檢定/校準這些儀器時，探測器到放射源的距離是固定的，對α粒子為5mm，對β粒子來說是10mm。為了完成儀器的α粒子和β粒子的校準內(nèi)容，本實施方式中可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具的卡條3與放射源槽2的距離為5mm或者10mm，即探測器距放射源的距離設計為5mm或10mm。
[0017]本實施方式中整個輔助校準裝置的長度為20cm，寬度為15cm，即底座I的長度為20cm,寬度為 15cm。
[0018]本實用新型的可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具用于表面污染監(jiān)測儀的α、β校準，α和β的表面污染單位以Bq/cm2給出，但實際上，探測器測量的是入射進探測器的α、β粒子個數(shù)，測量單位為cps (每秒鐘計數(shù))。探測器計數(shù)與表面污染值是成正比的，即存在一個比例系數(shù)將探測器計數(shù)和表面污染值聯(lián)系起來，如何準確找到這個比例系數(shù)可通過校準實驗來實現(xiàn)，這個比例系數(shù)稱為表面活度響應。使用本實施方式中可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具開展校準實驗時，將放射源從放射源槽2內(nèi)插入，表面污染監(jiān)測儀放在卡條3上，移動卡條3以適應不同尺寸的探測器，開展校準實驗。由于放射源的表面活度已知，通過與測量得到的探測器計數(shù)相比，即可得到儀器的表面活度響應。在實際使用中，通過探測器計數(shù)和校準的表面活度響應可以得到物體、墻壁、地面等的表面污染情況，保證測量數(shù)據(jù)的有效性。
[0019]此外，為了降低α、β的散射和β產(chǎn)生的韌致輻射，本實施方式的可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具整體采用有機玻璃材料，從而降低校準時引起的干擾，更好的開展校準實驗。
[0020]顯然，本領域的技術人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權利要求及其同等技術的范圍之內(nèi)，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【權利要求】
1.一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，其特征在于，包括底座(1)，底座(I)的兩端開有卡條活動槽(4)，卡條活動槽(4)中設有兩個貫穿兩端卡條活動槽(4)的卡條(3)，卡條(3)的下方開有放射源槽(2)。
2.如權利要求1所述的一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，其特征在于，所述的卡條(3)與放射源槽(2)的距離為5mm。
3.如權利要求1所述的一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，其特征在于，所述的卡條(3)與放射源槽(2)的距離為10mm。
4.如權利要求1至3之一所述的一種可用于表面污染監(jiān)測儀校準的工具，其特征在于，所述的底座(I)的長度為20cm，寬度為15cm。
【文檔編號】G01T1/169GK203773060SQ201320881203
【公開日】2014年8月13日 申請日期:2013年12月30日 優(yōu)先權日:2013年12月30日
【發(fā)明者】王勇, 黃亞雯, 韋應靖, 李強, 馮梅, 楊慧梅, 牛蒙青, 陳立 申請人:中國輻射防護研究院