一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置制造方法
【專利摘要】一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置，該裝置包括依次設(shè)置的激光光源、入射激光光路、載物臺(tái)、二次諧波激光光路、針孔、入射光濾色片和光電倍增管。測試時(shí)，利用激光倍頻晶體具有對入射激光進(jìn)行倍頻的性質(zhì)，采用激光對激光倍頻晶體進(jìn)行照射，產(chǎn)生入射激光的二次諧波，用光電倍增管對出射的二次諧波進(jìn)行接收，得到二次諧波的光強(qiáng)度，用該裝置對激光倍頻晶體不同區(qū)域進(jìn)行照射，得到不同區(qū)域的二次諧波強(qiáng)度，通過分析不同區(qū)域產(chǎn)生二次諧波的強(qiáng)度，可對激光倍頻晶體的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)進(jìn)行判斷，無須對晶體進(jìn)行破壞，就能分析出其內(nèi)部結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了對激光倍頻晶體質(zhì)量的無損探測。
【專利說明】一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及晶體性質(zhì)測試裝置【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]激光共焦掃描顯微鏡能對被測試物體進(jìn)行三維掃描成像，在生物組織內(nèi)部結(jié)構(gòu)的微觀探測上有重要應(yīng)用。目前常見的激光共焦掃描顯微鏡大都是利用被測試物體的熒光效應(yīng)進(jìn)行測試，被測物體大多是非晶態(tài)或者是多晶態(tài)。
[0003]近年來，關(guān)于倍頻晶體的研究工作取得了重大進(jìn)展。對于具有激光倍頻效應(yīng)的單晶態(tài)物體，目前缺少對其性質(zhì)的測試裝置和方法。目前對激光倍頻晶體的微觀結(jié)構(gòu)和微觀缺陷進(jìn)行無損探測非常困難，用常規(guī)的元素分析和結(jié)構(gòu)測定方法觀測激光倍頻晶體不僅具有破壞性，而且很難將微觀結(jié)構(gòu)和缺陷測定。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]鑒于上述問題，本實(shí)用新型的目的是提供一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置，其可以對激光倍頻晶體的微觀結(jié)構(gòu)和微觀缺陷進(jìn)行無損探測。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采取以下技術(shù)方案:
[0006]一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置，它包括依次設(shè)置的激光光源、入射激光光路、載物臺(tái)、二次諧波激光光路、針孔、入射光濾色片和光電倍增管；
[0007]該入射激光光路包括平行放置的第一凸透鏡和第二凸透鏡；
[0008]該二次諧波激光光路包括平行放置的第三凸透鏡和第四凸透鏡；
[0009]該激光光源位于該第一凸透鏡的外側(cè)焦點(diǎn)處；該針孔位于該第四凸透鏡的外側(cè)焦點(diǎn)處；
[0010]用于放置待測激光倍頻晶體的載物臺(tái)位于該第二凸透鏡及該第三凸透鏡的焦點(diǎn)重合處。
[0011]本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型利用激光倍頻晶體具有激光倍頻效應(yīng)這一性質(zhì)，對該晶體產(chǎn)生的二次諧波的強(qiáng)度進(jìn)行測定，從而能判定該晶體的結(jié)構(gòu)、缺陷和性質(zhì)等，并且不對激光倍頻晶體造成破壞。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是本實(shí)用新型測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的進(jìn)行詳細(xì)的描述。
[0014]如圖1所示，本實(shí)用新型提供一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置，能利用激光倍頻晶體對入射激光進(jìn)行倍頻的功能來測試晶體的性質(zhì)，它包括依次設(shè)置的激光光源1、入射激光光路2、載物臺(tái)3、二次諧波激光光路4、針孔5、入射光濾色片6、光電倍增管7。其中，該入射激光光路2和該二次諧波激光光路4分別包括兩個(gè)平行放置的凸透鏡，即第一凸透鏡21、第二凸透鏡22、第三凸透鏡41、第四凸透鏡42。待測激光倍頻晶體置于該載物臺(tái)3上并位于該第二凸透鏡22及該第三凸透鏡41的焦點(diǎn)重合處。該激光光源I位于該第一凸透鏡21的外側(cè)焦點(diǎn)，根據(jù)被測試晶體的不同需求，激光光源可改變?yōu)椴煌ㄩL、不同功率。該針孔5位于該第四凸透鏡42的外側(cè)焦點(diǎn)處。激光光源I的光線經(jīng)該入射激光光路2產(chǎn)生入射激光并聚焦在激光倍頻晶體上，而此處晶體產(chǎn)生的二次諧波激光經(jīng)過二次諧波激光光路4聚焦在針孔5上，通過針孔5的二次諧波激光經(jīng)過入射光濾色片6的過濾打在光電倍增管上7，其強(qiáng)度被記錄下來。
[0015]使用上述裝置對激光倍頻晶體進(jìn)行測試時(shí)，首先根據(jù)入射激光的波長以及待測激光倍頻晶體的雙折射率確定入射激光和二次諧波激光的相位匹配角度，然后將待測激光倍頻晶體按照相位匹配角度加工成激光倍頻晶體器件，并放置于所述載物臺(tái)上。
[0016]相位匹配角的計(jì)算方法如下表所示:
【權(quán)利要求】
1.一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置，其特征在于:它包括依次設(shè)置的激光光源、入射激光光路、載物臺(tái)、二次諧波激光光路、針孔、入射光濾色片和光電倍增管； 該入射激光光路包括平行放置的第一凸透鏡和第二凸透鏡； 該二次諧波激光光路包括平行放置的第三凸透鏡和第四凸透鏡； 該激光光源位于該第一凸透鏡的外側(cè)焦點(diǎn)處；該針孔位于該第四凸透鏡的外側(cè)焦點(diǎn)處； 用于放置待測激光倍頻晶體的載物臺(tái)位于該第二凸透鏡及該第三凸透鏡的焦點(diǎn)重合處。
【文檔編號(hào)】G01N21/63GK203616251SQ201320735502
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2013年11月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月19日
【發(fā)明者】劉春雷, 雷同光, 金攀, 王瑞臣, 郝建磊 申請人:有研光電新材料有限責(zé)任公司