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一種釹鐵硼平面工裝量具的制作方法

文檔序號:6051378閱讀:447來源:國知局
專利名稱:一種釹鐵硼平面工裝量具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及稀土永磁材料技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種釹鐵硼平面工裝量具。
背景技術(shù)
目前,稀土永磁材料分為稀土-鈷合金系和釹鐵硼合金兩大類,其中的釹鐵硼合金采用燒結(jié)法生產(chǎn)的綜合磁性能最好,燒結(jié)釹鐵硼產(chǎn)品根據(jù)產(chǎn)品要求通過自動磁場成型壓機、圓柱成型壓機、方塊成型壓機來成型壓制。環(huán)形釹鐵硼合金制品一般作為填充結(jié)構(gòu)與設(shè)備配合,因此需要較高的平面度和同心度等參數(shù),特別是批量生產(chǎn)中對于同心度的測量,通過游標(biāo)卡尺等普通測量壁厚的方式,會產(chǎn)生比較大的測量誤差,因此需要對量具進(jìn)行改進(jìn)來提高測量精度和速度。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷和不足,提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便的一種釹鐵硼平面工裝量具。為實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用以下技術(shù)方案:本實用新型所述的一種釹鐵硼平面工裝量具,包括上表面光滑平整的基面平臺,所述基面平臺底面上設(shè)有支撐架,基面平臺底部設(shè)有測量器,測量器的靈敏觸頭穿過基面平臺且高出基面平臺的上表面。進(jìn)一步地,所 述基面平臺底面設(shè)有固定架,固定架與測量器連接。進(jìn)一步地,所述支撐架包括若干等高支腳,所述支腳對稱設(shè)置于基面平臺底面上。進(jìn)一步地,所述測量器為千分表或者百分表。本實用新型有益效果為:本實用新型通過高精度的基面平臺為基準(zhǔn),產(chǎn)品沿基面平臺平移經(jīng)過量具后即可測出產(chǎn)品的平面度,改變了卡尺對壁厚多點測量的誤差,提高了測量的效率。

圖1是本實用新型的正面結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本實用新型的立體結(jié)構(gòu)示意圖。圖中:1、基面平臺;2、支撐架;3、測量器; 11、固定架;31、靈敏觸頭。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進(jìn)一步的說明。本實用新型所述的一種釹鐵硼平面工裝量具,包括上表面光滑平整的基面平臺1,所述基面平臺I底面上設(shè)有支撐架2,支撐架2使基準(zhǔn)平臺I的測量基面形成水平,基面平臺I底部設(shè)有測量器3,測量器3的靈敏觸頭31穿過基面平臺I且高出基面平臺I的上表面;靈敏觸頭31在基準(zhǔn)平臺I上表面形成凸起的測量點。上述部件為本實用新型主體結(jié)構(gòu)。所述支撐架2包括若干等高支腳,所述支腳對稱設(shè)置于基面平臺I底面上;所述基面平臺I底面設(shè)有固定架11,固定架11中心設(shè)置開口,測量器3的探頭穿過固定架11并與之連接;所述測量器3為千分表或者百分表。工作原理:工件的檢測面緊貼于基準(zhǔn)平臺1,移動并使工件的底面經(jīng)過測量器3的靈敏觸頭31,工件底面的平面度情況根據(jù)測量器3的讀數(shù)進(jìn)行記錄后得出。以上所述僅是本實用新型的較佳實施方式,故凡依本實用新型專利申請范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所 做的等效變化或修飾,均包括于本實用新型專利申請范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種釹鐵硼平面工裝量具,包括上表面光滑平整的基面平臺(1),其特征在于:所述基面平臺(I)底面上設(shè)有支撐架(2 ),基面平臺(I)底部設(shè)有測量器(3 ),測量器(3 )的靈敏觸頭(31)穿過基面平臺(I)且高出基面平臺(I)的上表面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的釹鐵硼平面工裝量具,其特征在于:所述基面平臺(I)底面設(shè)有固定架(11),固定架(11)與測量器(3)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的釹鐵硼平面工裝量具,其特征在于:所述支撐架(2)包括若干等高支腳,所述支腳對稱設(shè)置于基面平臺(I)底面上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的釹鐵硼平面工裝量具,其特征在于:所述測量器(3)為千分表或 百分表。
專利摘要本實用新型涉及稀土永磁材料技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種釹鐵硼平面工裝量具;本實用新型所述的一種釹鐵硼平面工裝量具,包括上表面光滑平整的基面平臺,所述基面平臺底面上設(shè)有支撐架,基面平臺底部設(shè)有測量器,測量器的靈敏觸頭穿過基面平臺且高出基面平臺的上表面;本實用新型通過高精度的基面平臺為基準(zhǔn),產(chǎn)品沿基面平臺平移經(jīng)過量具后即可測出產(chǎn)品的平面度,改變了卡尺對壁厚多點測量的誤差,提高了測量的效率。
文檔編號G01B5/28GK203132492SQ20132004124
公開日2013年8月14日 申請日期2013年1月23日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月23日
發(fā)明者卓劍虹, 易鵬鵬, 陳偉, 樂坤龍 申請人:寧波松科磁材有限公司
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