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基于fpga的紅外焦平面陣列盲元檢測系統(tǒng)及方法

文檔序號:6178426閱讀:231來源:國知局
基于fpga的紅外焦平面陣列盲元檢測系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測系統(tǒng)及方法。該系統(tǒng)包括兩點參數(shù)計算和存取模塊、基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊、基于偏置矩陣B的二次3σ盲元檢測模塊、盲元集合表存儲更新模塊和盲元補償模塊。檢測方法為:將原始的數(shù)字圖像信號進行兩點參數(shù)的解算,得到兩點參數(shù)矩陣并存入FPGA的內(nèi)部RAM;對兩點參數(shù)矩陣分別進行基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測和基于偏置矩陣B的二次3σ盲元檢測,并將兩次盲元檢測的結(jié)果合并得到盲元集合表;調(diào)整檢測溫度重復(fù)以上步驟得到對應(yīng)于不同溫度的盲元集合表,將不同溫度對應(yīng)的盲元集合表進行整理合并用于后續(xù)補償。本發(fā)明檢測效率高、質(zhì)量好,能夠減少檢測中的漏判盲元。
【專利說明】基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于紅外圖像增強【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是一種基于FPGA的紅外焦平面陣列盲 元檢測系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 在紅外焦平面成像系統(tǒng)中,盲元數(shù)是一個很重要的評價指標(biāo),直接決定了紅外焦 平面的品質(zhì)。當(dāng)盲元數(shù)量過多或者抱團,將嚴(yán)重影響圖像質(zhì)量,非常不利于觀測。
[0003] 在紅外成像系統(tǒng)中廣泛使用的盲元檢測技術(shù)包括定標(biāo)法、線性外推失效元檢測法 和3 〇檢測法,它們都根據(jù)一定的判據(jù)來決定所指定的像素點是不是盲元:定標(biāo)法根據(jù)紅 夕卜焦平面陣列對高溫?zé)嵩春偷蜏責(zé)嵩吹捻憫?yīng)來檢測盲元;線性外推失效元檢測法根據(jù)在一 個窗口中上下、左右或者斜對角線的灰度梯度變化作為依據(jù)來檢測盲元;3 〇檢測法以紅 外焦平面陣列像元響應(yīng)值服從正態(tài)分布為前提,根據(jù)概率學(xué)上的3〇法則為基本原理來檢 測盲元,但是該方法對于不同溫度情況沒有進行全面的考慮,當(dāng)紅外焦平面進入過高或過 低的溫度情況下就可能會出現(xiàn)新的盲元。綜上所述,目前方法都能夠進行有效的盲元檢測, 但是仍然存在較多不能被忽略的漏判,且存在盲元檢測效率低、質(zhì)量差、不易實現(xiàn)的缺點。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明的目的在于提供一種效率高、質(zhì)量好的基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元 檢測系統(tǒng)及方法,該系統(tǒng)易于實現(xiàn)、節(jié)省資源、處理速度快,并且能夠減少盲元檢測中的漏 判。
[0005]實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為:一種基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測 系統(tǒng),包括兩點參數(shù)計算和存取模塊、基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊、基于 偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊、盲元集合表存儲更新模塊和盲元補償模塊;兩點參數(shù) 計算和存取模塊的輸出端分別接入基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊和基于 偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊,基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊和基 于偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊都輸出端均接入盲元集合表存儲更新模塊,盲元集 合表存儲更新模塊與盲元補償模塊連接;
[0006] 兩點參數(shù)計算和存取模塊將原始的數(shù)字圖像信號進行兩點參數(shù)的解算,得到兩點 參數(shù)矩陣并存入FPGA的內(nèi)部RAM;基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊讀取內(nèi)部 RAM中存儲的兩點參數(shù)矩陣中的增益矩陣K,并使用掩膜滑動窗口 3〇法則進行盲元檢測, 得到盲元集合表{A};基于偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊讀取內(nèi)部RAM中存儲的兩 點參數(shù)矩陣中的偏置矩陣B,并使用二次3〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表{C};然后 將盲元集合表{A}和{C}送入盲元集合表存儲更新模塊進行整理合并后存入內(nèi)部RAM;盲 元補償模塊讀取內(nèi)部RAM的盲元集合表進行后續(xù)補償操作。
[0007] -種基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測方法,步驟如下:
[0008] 步驟1,兩點參數(shù)解算和存?。杭t外探測器對準(zhǔn)面源黑體之后進行熱電信號的轉(zhuǎn) 換,然后將原始的數(shù)字圖像信號送入兩點參數(shù)計算和存取模塊進行兩點參數(shù)的解算,進行 多次兩點校正求平均值后,將所得的兩點參數(shù)矩陣存入FPGA的內(nèi)部RAM;
[0009] 步驟2,基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊讀取內(nèi)部RAM中存儲的兩 點參數(shù)矩陣中的增益矩陣K,并使用掩膜滑動窗口 3〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表 {A};
[0010] 步驟3,基于偏置矩陣B的二次3O盲元檢測模塊讀取內(nèi)部RAM中存儲的兩點參數(shù) 矩陣中的偏置矩陣B,并使用二次3〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表{C};
[0011] 步驟4,將步驟2所得盲元集合表{A}和步驟3所得盲元集合表{C}送入盲元集合 表存儲更新模塊進行整理合并,得到最終的盲元集合表{T1}并存入內(nèi)部RAM;
[0012] 步驟5,調(diào)整檢測溫度段重復(fù)檢測:改變步驟1中的面源黑體溫度,并重復(fù)步驟 1?4,得到不同溫度段對應(yīng)的盲元集合表,通過盲元集合表存儲更新模塊將不同溫度段的 盲元集合表順次次存入FPGA的內(nèi)部RAM;
[0013] 步驟6,盲元集合表整合:盲元集合表存儲更新模塊將不同檢測溫度段的盲元集 合表進行整理合并,得到最終的盲元集合表{T}并存入內(nèi)部RAM;
[0014] 步驟7,盲元補償模塊讀取RAM中的最終盲元集合表{T}并進行后續(xù)的盲元補償操 作。
[0015] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,其顯著優(yōu)點為:(1)實時性好、效率高:在FPGA中使用合 理的數(shù)據(jù)流結(jié)構(gòu)和并行的處理方式,保證了檢測效率和實時性;(2)判定依據(jù)全面:從灰度 檢測域轉(zhuǎn)移到了兩點參數(shù)檢測域,同時考慮增益參數(shù)矩陣和偏置參數(shù)矩陣,并且對增益矩 陣增加了滑動掩膜窗口的操作,使檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確;(3)多溫度段檢測提高檢測準(zhǔn)確率: 將不同溫度情況下的檢測結(jié)果進行整理合并,所得到的盲元集合全面準(zhǔn)確。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017] 圖2是本發(fā)明基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測方法的流程圖。
[0018] 圖3是實施例1中傳統(tǒng)的3 〇檢測法和本發(fā)明方法的盲元檢測效果比較圖,其中 (a)是原始圖像,(b)是采用傳統(tǒng)的3 〇法對(a)中圖像進行盲元檢測得到的效果圖,(c) 是采用本采用發(fā)明方法對(a)中圖像進行盲元檢測得到的效果圖。

【具體實施方式】
[0019] 下面結(jié)合附圖及具體實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明。
[0020] 結(jié)合圖1,本發(fā)明基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測系統(tǒng),包括兩點參數(shù)計算 和存取模塊1、基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊2、基于偏置矩陣B的二次3 〇 盲元檢測模塊3、盲元集合表存儲更新模塊4和盲元補償模塊5 ;兩點參數(shù)計算和存取模塊 1的輸出端分別接入基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊2和基于偏置矩陣B的 二次3 〇盲元檢測模塊3,基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊2和基于偏置矩陣 B的二次3 〇盲元檢測模塊3都輸出端均接入盲元集合表存儲更新模塊4,盲元集合表存儲 更新模塊4與盲元補償模塊5連接;
[0021]兩點參數(shù)計算和存取模塊1將原始的數(shù)字圖像信號進行兩點參數(shù)的解算,得到兩 點參數(shù)矩陣并存入FPGA的內(nèi)部RAM;基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊2讀取 內(nèi)部RAM中存儲的兩點參數(shù)矩陣中的增益矩陣K,并使用掩膜滑動窗口 3 〇法則進行盲元檢 測,得到盲元集合表{A};基于偏置矩陣B的二次3〇盲元檢測模塊3讀取內(nèi)部RAM中存儲 的兩點參數(shù)矩陣中的偏置矩陣B,并使用二次3〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表{C}; 然后將盲元集合表{A}和{C}送入盲元集合表存儲更新模塊4進行整理合并后存入內(nèi)部 RAM;盲元補償模塊5讀取內(nèi)部RAM的盲元集合表進行后續(xù)補償操作。
[0022] 結(jié)合圖2,本發(fā)明基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測方法,步驟如下:
[0023] 步驟1,兩點參數(shù)解算和存?。杭t外探測器對準(zhǔn)面源黑體之后進行熱電信號的轉(zhuǎn) 換,然后將原始的數(shù)字圖像信號送入兩點參數(shù)計算和存取模塊1進行兩點參數(shù)的解算,進 行多次兩點校正求平均值后,將所得的兩點參數(shù)矩陣存入FPGA的內(nèi)部RAM。
[0024] 步驟2,基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊2讀取內(nèi)部RAM中存儲的兩 點參數(shù)矩陣中的增益矩陣K,并使用掩膜滑動窗口 3〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表 {A};具體步驟如下:
[0025] (2. 1)設(shè)定滑動掩膜窗口大小為NXN,且N為3?9的奇數(shù),滑動掩膜窗口中心位 置(iQ,jQ)為需要檢測的像元點,(iQ,jQ)是增益矩陣K中的點,讀取中心位置為(iQ,jQ)的 滑動掩膜窗口所在區(qū)域中各像元(i,j)的增益值1?/),然后確定該滑動掩膜窗口下所有 像元增益值f0'-./)的均值7和方差5:

【權(quán)利要求】
1. 一種基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測系統(tǒng),其特征在于,包括兩點參數(shù)計算和 存取模塊(1)、基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊(2)、基于偏置矩陣B的二次 3 〇盲元檢測模塊(3)、盲元集合表存儲更新模塊(4)和盲元補償模塊(5);兩點參數(shù)計算和 存取模塊(1)的輸出端分別接入基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊(2)和基于 偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊(3),基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊 (2)和基于偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊(3)都輸出端均接入盲元集合表存儲更新 模塊(4),盲元集合表存儲更新模塊(4)與盲元補償模塊(5)連接; 兩點參數(shù)計算和存取模塊(1)將原始的數(shù)字圖像信號進行兩點參數(shù)的解算,得到兩點 參數(shù)矩陣并存入FPGA的內(nèi)部RAM ;基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊(2)讀取 內(nèi)部RAM中存儲的兩點參數(shù)矩陣中的增益矩陣K,并使用掩膜滑動窗口 3〇法則進行盲元 檢測,得到盲元集合表{A};基于偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊(3)讀取內(nèi)部RAM中 存儲的兩點參數(shù)矩陣中的偏置矩陣B,并使用二次3 〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表 {C};然后將盲元集合表{A}和{C}送入盲元集合表存儲更新模塊(4)進行整理合并后存入 內(nèi)部RAM ;盲元補償模塊(5)讀取內(nèi)部RAM的盲元集合表進行后續(xù)補償操作。
2. -種基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測方法,其特征在于,步驟如下: 步驟1,兩點參數(shù)解算和存?。杭t外探測器對準(zhǔn)面源黑體之后進行熱電信號的轉(zhuǎn)換,然 后將原始的數(shù)字圖像信號送入兩點參數(shù)計算和存取模塊(1)進行兩點參數(shù)的解算,進行多 次兩點校正求平均值后,將所得的兩點參數(shù)矩陣存入FPGA的內(nèi)部RAM ; 步驟2,基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測模塊(2)讀取內(nèi)部RAM中存儲的兩 點參數(shù)矩陣中的增益矩陣K,并使用掩膜滑動窗口 3〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表 {A}; 步驟3,基于偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測模塊(3)讀取內(nèi)部RAM中存儲的兩點參數(shù) 矩陣中的偏置矩陣B,并使用二次3 〇法則進行盲元檢測,得到盲元集合表{C}; 步驟4,將步驟2所得盲元集合表{Α}和步驟3所得盲元集合表{C}送入盲元集合表存 儲更新模塊(4)進行整理合并,得到最終的盲元集合表{Τ1}并存入內(nèi)部RAM; 步驟5,調(diào)整檢測溫度重復(fù)檢測:改變步驟1中的面源黑體溫度,并重復(fù)步驟1?4,得 到不同溫度對應(yīng)的盲元集合表,通過盲元集合表存儲更新模塊(4)將不同溫度的盲元集合 表順次次存入FPGA的內(nèi)部RAM ; 步驟6,盲元集合表整合:盲元集合表存儲更新模塊(4 )將不同檢測溫度的盲元集合表 進行整理合并,得到最終的盲元集合表{T}并存入內(nèi)部RAM; 步驟7,盲元補償模塊(5)讀取RAM中的最終盲元集合表{T}并進行后續(xù)的盲元補償操 作。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測方法,其特征在于,步 驟2所述的基于增益矩陣K的掩膜滑動窗口盲元檢測,具體步驟如下: (2. 1)設(shè)定滑動掩膜窗口大小為NXN,且N為3?9的奇數(shù),滑動掩膜窗口中心位置 (i。,j。)為需要檢測的像元點,(i。,j。)是增益矩陣K中的點,讀取中心位置為(i。,j。)的滑 動掩膜窗口所在區(qū)域中各像元(i,j)的增益值然后確定該滑動掩膜窗口下所有像 元增益值石,··./)的均值?和方差σ 5
(2.2) 根據(jù)3。法則,若|^(4,./(,卜^)|<35,則('^像元點為探測器的正常像元, 若I (石4,Λ)-?)丨>3&,則(iQ,jQ)像元點為探測器的異常像元即盲元 (3. 2)重復(fù)步驟(2. 1)?(2. 2),滑動掩膜窗口遍歷整幅圖像,得到盲元集合表{A}。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測方法,其特征在于,步 驟3所述基于偏置矩陣B的二次3 〇盲元檢測的具體步驟如下: (3. 1)確定整個偏置矩陣B中偏置值B(i,j)均值;和方差設(shè)偏置矩陣B大小為 LXW,則:
(3.2) 根據(jù)3。法則,若|出(1,」)-^>卜3=,則(1,」)像元點為探測器的異常像元,即 盲兀; (3. 3)將步驟(3. 2)中檢測到的盲元位置從偏置矩陣B中剔除,得到新的偏置矩陣B', 再重復(fù)步驟(3.1),對偏置矩陣B'進行二次3 〇盲元檢測;
B'(i,j)為剔除盲元后的偏置矩陣,$為矩陣B'(i,j)的平均值,7為矩陣B'(i,j)的 方差;Δ為被剔除的像元點總個數(shù);若I -WMcr ,則(i,·?)像元點為探測器的異 常像元即盲元;將兩次盲元檢測結(jié)果進行合并,得到盲元集合表{C}。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于FPGA的紅外焦平面陣列盲元檢測方法,其特征在于,步 驟5所述調(diào)整檢測溫度重復(fù)檢測,其中檢測溫度即步驟1中的面源黑體溫度分別設(shè)為KTC、 30°C 和 50°C。
【文檔編號】G01J5/10GK104515599SQ201310456821
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2013年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月29日
【發(fā)明者】顧國華, 張橋舟, 陳錢, 隋修寶, 錢惟賢, 路東明, 何偉基, 于雪蓮 申請人:南京理工大學(xué)
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