一種基于led組的檢測電路及檢測器的制造方法

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一種基于led組的檢測電路及檢測器的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明適用于電路領域，尤其涉及一種基于LED組的檢測電路及檢測器。當電源開關電路控制總開關（開關K1）閉合時，方波電路產生方波信號，D觸發(fā)芯片U2根據(jù)方波電路產生的方波信號的方波個數(shù)，控制第一開關管、第二開關管、第三開關管、第四開關管的導通，檢測LED組的焊接電路中的各個光敏二極管電路，保證了各個光敏二極管電路的焊接質量，質量檢測效率高，并且節(jié)省了人力、物力。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明屬于電路領域，尤其涉及一種基于LED組的檢測電路及檢測器。 -種基于LED組的檢測電路及檢測器

【背景技術】
[0002] 隨著科學技術的不斷發(fā)展，LED燈具作為新型的、環(huán)保、體積小的節(jié)能燈具，廣泛使用應用于各個領域；尤其是，隨著生活質量的提高，燈具作為一種環(huán)境裝飾品而受歡迎，因此，人們對LED組的質量要求也越來越高；現(xiàn)有的檢測LED組的質量的檢測方式，還停留在使用萬用表檢測，檢測效率低，浪費大量人力物力，而且容易誤檢。

【發(fā)明內容】

[0003] 本發(fā)明的目的在于提供一種基于LED組的檢測電路，旨在提供一種對焊接的LED 組電路進行智能檢測的電路。
[0004] 本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的，一種基于LED組的檢測電路，所述基于LED組的檢測電路的輸入端和輸出端分別接電源電路和LED組的焊接電路，所述基于LED組的檢測電路包括：
[0005] 電源開關電路、方波電路、分壓電阻R5、分壓電阻R6、分壓電阻R7、分壓電阻R8、分壓電阻R9、分壓電阻R11、分流電阻R16、分流電阻R17、分流電阻R18、分流電阻R19、開關 K2、濾波電容C3、濾波電容C4、第一開關管、第二開關管、第三開關管、第四開關管及D觸發(fā) 芯片U2 ;
[0006] 所述電源開關電路分別接所述電源電路和所述方波電路，所述分壓電阻R11的第一端和第二端分別接所述電源開關電路和所述開關K2的第一端，所述分壓電阻R9連接在所述開關K2的第二端與地之間，所述開關K2的第二端接所述D觸發(fā)芯片U2的復位引腳 RESET，所述分壓電阻R5的第一端和第二端分別接所述方波電路與所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK，所述分壓電阻R6、濾波電容C3均分別連接在所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK 與地之間，所述濾波電容C4連接在所述分壓電阻R11的第一端與地之間，所述分壓電阻R7 連接在所述D觸發(fā)芯片U2的重置引腳EN與地之間，所述分壓電阻R8連接在所述D觸發(fā)芯片U2的進位引腳C0UT與重置引腳EN之間，所述D觸發(fā)芯片U2的電源引腳VDD接所述電源開關電路，所述D觸發(fā)芯片U2的接地引腳VSS接地，所述分流電阻R16連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第一輸出引腳Q0與所述第一開關管的控制端之間，所述分流電阻R17連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第二輸出引腳Q1與所述第二開關管的控制端之間，所述分流電阻R18 連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第三輸出引腳Q2與所述第三開關管的控制端之間，所述分流電阻R19連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第四輸出引腳Q3與所述第四開關管的控制端之間，所述第一開關管的低電壓端、所述第二開關管的低電壓端、所述第三開關管的低電壓端、所述第四開關管的低電壓端均接地，所述第一開關管的高電壓端、所述第二開關管的高電壓端、所述第三開關管的高電壓端、所述第四開關管的高電壓端均接所述LED組的焊接電路。
[0007] 本發(fā)明還提供一種檢測器，所述檢測器包括電源電路及基于LED組的檢測電路，所述基于LED組的檢測電路的輸入端和輸出端分別接所述電源電路和LED組的焊接電路，所述基于LED組的檢測電路包括：
[0008] 電源開關電路、方波電路、分壓電阻R5、分壓電阻R6、分壓電阻R7、分壓電阻R8、分壓電阻R9、分壓電阻R11、分流電阻R16、分流電阻R17、分流電阻R18、分流電阻R19、開關 K2、濾波電容C3、濾波電容C4、第一開關管、第二開關管、第三開關管、第四開關管及D觸發(fā) 芯片U2 ;
[0009] 所述電源開關電路分別接所述電源電路和所述方波電路，所述分壓電阻R11的第一端和第二端分別接所述電源開關電路和所述開關K2的第一端，所述分壓電阻R9連接在所述開關K2的第二端與地之間，所述開關K2的第二端接所述D觸發(fā)芯片U2的復位引腳 RESET，所述分壓電阻R5的第一端和第二端分別接所述方波電路與所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK，所述分壓電阻R6、濾波電容C3均分別連接在所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK 與地之間，所述濾波電容C4連接在所述分壓電阻R11的第一端與地之間，所述分壓電阻R7 連接在所述D觸發(fā)芯片U2的重置引腳EN與地之間，所述分壓電阻R8連接在所述D觸發(fā)芯片U2的進位引腳C0UT與重置引腳EN之間，所述D觸發(fā)芯片U2的電源引腳VDD接所述電源開關電路，所述D觸發(fā)芯片U2的接地引腳VSS接地，所述分流電阻R16連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第一輸出引腳Q0與所述第一開關管的控制端之間，所述分流電阻R17連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第二輸出引腳Q1與所述第二開關管的控制端之間，所述分流電阻R18 連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第三輸出引腳Q2與所述第三開關管的控制端之間，所述分流電阻R19連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第四輸出引腳Q3與所述第四開關管的控制端之間，所述第一開關管的低電壓端、所述第二開關管的低電壓端、所述第三開關管的低電壓端、所述第四開關管的低電壓端均接地，所述第一開關管的高電壓端、所述第二開關管的高電壓端、所述第三開關管的高電壓端、所述第四開關管的高電壓端均接所述LED組的焊接電路。
[0010] 在本發(fā)明中，當電源開關電路控制總開關(開關K1)閉合時，方波電路產生方波信號，D觸發(fā)芯片U2根據(jù)方波電路產生的方波信號的方波個數(shù)，控制第一開關管、第二開關管、第三開關管、第四開關管的導通，檢測LED組的焊接電路中的各個光敏二極管電路，保證了各個光敏二極管電路的焊接質量，質量檢測效率高，并且節(jié)省了人力、物力。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011] 圖1是本發(fā)明實施例提供的基于LED組的檢測電路的電路結構圖；
[0012] 圖2是本發(fā)明實施例提供的基于LED組的檢測電路的電路圖；
[0013] 圖3是本發(fā)明另一實施例提供的基于LED組的檢測電路的電路圖；
[0014] 圖4是本發(fā)明實施例提供的基于LED組的檢測電路的檢測方法的流程圖。

【具體實施方式】
[0015] 為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0016] 圖1示出了本發(fā)明實施例提供的基于LED組的檢測電路的結構，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關的部分，詳述如下。
[0017] 一種基于LED組的檢測電路，所述基于LED組的檢測電路的輸入端和輸出端分別接電源電路和LED組的焊接電路，所述基于LED組的檢測電路包括：
[0018] 電源開關電路1、方波電路2、分壓電阻R5、分壓電阻R6、分壓電阻R7、分壓電阻 R8、分壓電阻R9、分壓電阻R11、分流電阻R16、分流電阻R17、分流電阻R18、分流電阻R19、開關K2、濾波電容C3、濾波電容C4、第一開關管31、第二開關管32、第三開關管33、第四開關管34及D觸發(fā)芯片U2 ;
[0019] 所述電源開關電路1分別接所述電源電路和所述方波電路2，所述分壓電阻Rl 1的第一端和第二端分別接所述電源開關電路1和所述開關K2的第一端，所述分壓電阻R9連接在所述開關K2的第二端與地之間，所述開關K2的第二端接所述D觸發(fā)芯片U2的復位引腳RESET，所述分壓電阻R5的第一端和第二端分別接所述方波電路2與所述D觸發(fā)芯片U2 的觸發(fā)引腳CLK，所述分壓電阻R6、濾波電容C3均分別連接在所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK與地之間，所述濾波電容C4連接在所述分壓電阻R11的第一端與地之間，所述分壓電阻R7連接在所述D觸發(fā)芯片U2的重置引腳EN與地之間，所述分壓電阻R8連接在所述D 觸發(fā)芯片U2的進位引腳C0UT與重置引腳EN之間，所述D觸發(fā)芯片U2的電源引腳VDD接所述電源開關電路1，所述D觸發(fā)芯片U2的接地引腳VSS接地，所述分流電阻R16連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第一輸出引腳Q0與所述第一開關管31的控制端之間，所述分流電阻 R17連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第二輸出引腳Q1與所述第二開關管32的控制端之間，所述分流電阻R18連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第三輸出引腳Q2與所述第三開關管33的控制端之間，所述分流電阻R19連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第四輸出引腳Q3與所述第四開關管34的控制端之間，所述第一開關管31的低電壓端、所述第二開關管32的低電壓端、所述第三開關管33的低電壓端、所述第四開關管34的低電壓端均接地，所述第一開關管31 的高電壓端、所述第二開關管32的高電壓端、所述第三開關管33的高電壓端、所述第四開關管34的高電壓端均接所述LED組的焊接電路。
[0020] 圖2示出了本發(fā)明實施例提供的基于LED組的檢測電路的具體電路，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關的部分，詳述如下。
[0021] 作為本發(fā)明一實施例，所述電源開關電路1包括：
[0022] 二極管D1、充電電池 BT、開關K1、濾波電容C1、分壓電阻R10及光敏二極管LED5 ;
[0023] 所述二極管D1的陽極和陰極分別接所述電源電路和所述充電電池 BT的正極，所述充電電池 BT的負極分別接地和所述電源電路，所述開關K1的第一端接所述充電電池 BT 的正極，所述濾波電容C1連接在所述開關K1的第二端與地之間，所述分壓電阻R10連接在所述開關K1的第二端與所述光敏二極管LED5的陽極，所述光敏二極管LED5的陰極接地，所述開關K1的第二端分別接所述方波電路2和所述分壓電阻R11的第一端。
[0024] 作為本發(fā)明一實施例，所述方波電路2包括：
[0025] 分壓電阻R3、分壓電阻R4、反饋電阻R1、反饋電阻R2、運算放大芯片U1及極性電容C2 ;
[0026] 所述分壓電阻R3連接在所述開關K1的第二端與所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+之間，所述分壓電阻R4連接在所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+與地之間，所述反饋電阻R1連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳V0UT與正極輸入引腳VI+之間，所述反饋電阻R2連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳V0UT與負極輸入引腳VI-之間，所述極性電容C2的正極和負極分別接所述運算放大芯片U1的負極輸入引腳VI-和地，所述運算放大芯片U1的輸出引腳VOUT接所述分壓電阻R5的第一端。
[0027] 作為本發(fā)明一實施例，所述第一開關管31采用ΝΡΝ型三極管Q1，所述ΝΡΝ型三極管Q1的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第一開關管31的高電壓端、控制端、低電壓端；
[0028] 作為本發(fā)明一實施例，所述第二開關管32采用ΝΡΝ型三極管Q2,所述ΝΡΝ型三極管Q2的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第二開關管32的高電壓端、控制端、低電壓端；
[0029] 作為本發(fā)明一實施例，所述第三開關管33采用ΝΡΝ型三極管Q3,所述ΝΡΝ型三極管Q3的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第三開關管33的高電壓端、控制端、低電壓端；
[0030] 作為本發(fā)明一實施例，所述第四開關管34采用ΝΡΝ型三極管Q4,所述ΝΡΝ型三極管Q4的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第四開關管34的高電壓端、控制端、低電壓端。
[0031] 圖3示出了本發(fā)明實施例提供的基于LED組的檢測電路的具體電路，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關的部分，詳述如下。
[0032] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第一開關管31采用N型M0S管Q5,所述N型M0S管 Q5的漏極、柵極、源極分別為所述第一開關管31的高電位端、控制端、低電位端；
[0033] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第二開關管32采用N型M0S管Q6,所述N型M0S管 Q6的漏極、柵極、源極分別為所述第二開關管32的高電位端、控制端、低電位端；
[0034] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第三開關管33采用N型M0S管Q7,所述N型M0S管 Q7的漏極、柵極、源極分別為所述第三開關管33的高電位端、控制端、低電位端；
[0035] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第四開關管34采用N型M0S管Q8,所述N型M0S管 Q8的漏極、柵極、源極分別為所述第四開關管34的高電位端、控制端、低電位端。
[0036] 作為本發(fā)明另一實施例，本發(fā)明還提供了一種檢測器，所述檢測器包括電源電路及基于LED組的檢測電路，所述基于LED組的檢測電路的輸入端和輸出端分別接所述電源電路和LED組的焊接電路，所述基于LED組的檢測電路包括：
[0037] 電源開關電路1、方波電路2、分壓電阻R5、分壓電阻R6、分壓電阻R7、分壓電阻 R8、分壓電阻R9、分壓電阻R11、分流電阻R16、分流電阻R17、分流電阻R18、分流電阻R19、開關K2、濾波電容C3、濾波電容C4、第一開關管31、第二開關管32、第三開關管33、第四開關管34及D觸發(fā)芯片U2 ;
[0038] 所述電源開關電路1分別接所述電源電路和所述方波電路2，所述分壓電阻Rl 1的第一端和第二端分別接所述電源開關電路1和所述開關K2的第一端，所述分壓電阻R9連接在所述開關K2的第二端與地之間，所述開關K2的第二端接所述D觸發(fā)芯片U2的復位引腳RESET，所述分壓電阻R5的第一端和第二端分別接所述方波電路2與所述D觸發(fā)芯片U2 的觸發(fā)引腳CLK，所述分壓電阻R6、濾波電容C3均分別連接在所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK與地之間，所述濾波電容C4連接在所述分壓電阻R11的第一端與地之間，所述分壓電阻R7連接在所述D觸發(fā)芯片U2的重置引腳EN與地之間，所述分壓電阻R8連接在所述D 觸發(fā)芯片U2的進位引腳C0UT與重置引腳EN之間，所述D觸發(fā)芯片U2的電源引腳VDD接所述電源開關電路1，所述D觸發(fā)芯片U2的接地引腳VSS接地，所述分流電阻R16連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第一輸出引腳Q0與所述第一開關管31的控制端之間，所述分流電阻 R17連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第二輸出引腳Q1與所述第二開關管32的控制端之間，所述分流電阻R18連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第三輸出引腳Q2與所述第三開關管33的控制端之間，所述分流電阻R19連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第四輸出引腳Q3與所述第四開關管34的控制端之間，所述第一開關管31的低電壓端、所述第二開關管32的低電壓端、所述第三開關管33的低電壓端、所述第四開關管34的低電壓端均接地，所述第一開關管31 的高電壓端、所述第二開關管32的高電壓端、所述第三開關管33的高電壓端、所述第四開關管34的高電壓端均接所述LED組的焊接電路。
[0039] 作為本發(fā)明另一實施例，所述電源開關電路1包括：
[0040] 二極管D1、充電電池BT、開關K1、濾波電容C1、分壓電阻R10及光敏二極管LED5 ;
[0041] 所述二極管D1的陽極和陰極分別接所述電源電路和所述充電電池 BT的正極，所述充電電池 BT的負極分別接地和所述電源電路，所述開關K1的第一端接所述充電電池 BT 的正極，所述濾波電容C1連接在所述開關K1的第二端與地之間，所述分壓電阻R10連接在所述開關K1的第二端與所述光敏二極管LED5的陽極，所述光敏二極管LED5的陰極接地，所述開關K1的第二端分別接所述方波電路2和所述分壓電阻R11的第一端。
[0042] 作為本發(fā)明另一實施例，所述方波電路2包括：
[0043] 分壓電阻R3、分壓電阻R4、反饋電阻R1、反饋電阻R2、運算放大芯片U1及極性電容C2 ;
[0044] 所述分壓電阻R3連接在所述開關K1的第二端與所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+之間，所述分壓電阻R4連接在所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+與地之間，所述反饋電阻R1連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳V0UT與正極輸入引腳VI+之間，所述反饋電阻R2連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳V0UT與負極輸入引腳VI-之間，所述極性電容C2的正極和負極分別接所述運算放大芯片U1的負極輸入引腳VI-和地，所述運算放大芯片U1的輸出引腳V0UT接所述分壓電阻R5的第一端。
[0045] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第一開關管31采用NPN型三極管Q1，所述NPN型三極管Q1的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第一開關管31的高電壓端、控制端、低電壓端；
[0046] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第二開關管32采用NPN型三極管Q2,所述NPN型三極管Q2的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第二開關管32的高電壓端、控制端、低電壓端；
[0047] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第三開關管33采用NPN型三極管Q3,所述NPN型三極管Q3的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第三開關管33的高電壓端、控制端、低電壓端；
[0048] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第四開關管34采用NPN型三極管Q4,所述NPN型三極管Q4的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第四開關管34的高電壓端、控制端、低電壓端。
[0049] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第一開關管31采用N型M0S管Q5,所述N型M0S管 Q5的漏極、柵極、源極分別為所述第一開關管31的高電位端、控制端、低電位端；
[0050] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第二開關管32采用N型M0S管Q6,所述N型M0S管 Q6的漏極、柵極、源極分別為所述第二開關管32的高電位端、控制端、低電位端；
[0051] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第三開關管33采用N型M0S管Q7,所述N型M0S管 Q7的漏極、柵極、源極分別為所述第三開關管33的高電位端、控制端、低電位端；
[0052] 作為本發(fā)明另一實施例，所述第四開關管34采用N型M0S管Q8,所述N型M0S管 Q8的漏極、柵極、源極分別為所述第四開關管34的高電位端、控制端、低電位端。
[0053] 為了更好地解釋本發(fā)明，以運算放大芯片U1采用運算放大芯片LM258、D觸發(fā)芯片 U2采用D觸發(fā)芯片⑶4017為例，結合圖2,說明基于LED組的檢測電路的工作原理：
[0054] 電源開關電路1提供一個總開關(開關K1)，通過該總開關控制基于LED組的檢測電路是否工作；具體地，當開關K1斷開時，方波電路2以及D觸發(fā)芯片U2沒有電源供電，停止工作，同時也沒有電源電壓經(jīng)過分壓電阻R10向光敏二極管LED5供電，因此，作為電源指示燈的光敏二極管LED5未點亮，當開關K1閉合時，作為電源指示燈的光敏二極管LED5點殼。
[0055] 另外，為了保持基于LED組的檢測電路持續(xù)正常工作，本發(fā)明采用充電電池 BT向基于LED組的檢測電路供電的同時，還外接電源電路；電源電路可以向充電電池 BT充電，也可以直接向基于LED組的檢測電路供電；更優(yōu)的是，為了防止電源電路的高電平輸出引腳與低電平輸出引腳分別與充電電池的負極和正極錯誤連接，損壞充電電池，本發(fā)明提供了二極管D1，保證電源電路的高電平輸出引腳通過二極管D1接充電電池的正極，實現(xiàn)對充電電池 BT的保護。
[0056] 當開關K1初始閉合時，開關K1的第二端的高電平經(jīng)過分壓電阻R3和分壓電阻R4 分壓后，向運算放大芯片LM258的正極輸入引腳VI+提供分壓電阻R4兩端的電壓，這時，運算放大芯片LM258的負極輸入引腳VI-為低電平，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出高電平信號；運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT通過反饋電阻R2向極性電容C2充電，將運算放大芯片LM258的負極輸入引腳VI-充電至運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出的高電壓，同時，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT經(jīng)過反饋電阻R1和分壓電阻R4分壓，因此，運算放大芯片LM258的正極輸入引腳VI+的電壓低于運算放大芯片LM258的負極輸入引腳VI-的電壓，從而，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出低電平信號，這時，極性電容C2經(jīng)過反饋電阻R2放電，直到分壓電阻R4兩端的電壓高于極性電容C2兩端的電壓，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出高電平信號；以此類推，該方波電路2持續(xù) 產生方波信號。
[0057] 在本實施例中，所述LED組的焊接電路4包括：分壓電阻R17、分壓電阻R18、分壓電阻R19、光敏二極管LED1、光敏二極管LED2、光敏二極管LED3、光敏二極管LED4、測試點 41、測試點42、測試點43、測試點44、焊接點45 ;其中，分壓電阻R17連接在電源VCC1與光敏二極管LED1的陽極之間，分壓電阻R18連接在電源VCC1與光敏二極管LED2的陽極之間，分壓電阻R19連接在電源VCC1與光敏二極管LED3的陽極之間，所述光敏二極管LED4的陽極和陰極分別接焊接點45與地之間。下面以對PCB板上焊接的測試點41、測試點42、測試點43、測試點44依次進行檢測為例，詳述如下：
[0058] 將NPN型三極管Q1的集電極、NPN型三極管Q2的集電極、NPN型三極管Q3的集電極、NPN型三極管Q4的集電極分別接測試點41、測試點42、測試點43、測試點44。
[0059] 該方波電路2經(jīng)過分壓電阻R5向D觸發(fā)芯片⑶4017的觸發(fā)引腳CLK發(fā)送方波信號，當D觸發(fā)芯片⑶4017的觸發(fā)引腳CLK接收到該方波信號的上升沿時，D觸發(fā)芯片⑶4017 將計數(shù)值加1 ;當計數(shù)值依次為1、2、3、4時，D觸發(fā)芯片⑶4017的第一輸出引腳Q0、第二輸出引腳Q1、第三輸出引腳Q2、第四輸出引腳Q3依次逐個輸出高電平，從而，NPN型三極管 Q1、NPN型三極管Q2、NPN型三極管Q3、NPN型三極管Q4依次逐個導通，分別逐個測試測試點 41、測試點42、測試點43、測試點44 ;當光敏二極管LED1不亮時，則不亮的光敏二極管LED1 存在錯焊、虛焊等情況，類似地，當對光敏二極管LED2、光敏二極管LED3檢測時，若出現(xiàn)不亮的情況，也同樣存在錯焊、虛焊等情況；當光敏二極管LED1、光敏二極管LED2、光敏二極管LED3中存在兩個及以上光敏二極管同時點亮時，則錯誤點亮的光敏二極管存在連焊；當對測試點44檢測時，若光敏二極管LED4點亮，則代表光敏二極管LED4存在連焊的情況，若光敏二極管LED4未點亮，則光敏二極管LED4焊接正常。
[0060] 優(yōu)選的是，在對LED組的焊接電路4進行檢測前，預先閉合開關K2,通過分壓電阻 R11、開關K2、分壓電阻R9組成的電路，向D觸發(fā)芯片⑶4017的復位引腳RESET提供高電平信號，D觸發(fā)芯片⑶4017將計數(shù)值置0。
[0061] 優(yōu)選的是，當D觸發(fā)芯片CD4017將計數(shù)值達到預設計數(shù)值(該預設計數(shù)值為用戶根據(jù)需要、D觸發(fā)芯片CD4017的參數(shù)配置預先設定，在本實施例中，該預設計數(shù)值設置為 10)時，D觸發(fā)芯片⑶4017的進位引腳C0UT輸出高電平，從而，分壓電阻R7兩端的電壓置為高電平，D觸發(fā)芯片⑶4017將計數(shù)值置0。
[0062] 圖4是本發(fā)明實施例提供的基于LED組的檢測電路的檢測方法的流程圖，為了便于描述，僅示出了與本發(fā)明實施例相關的部分。
[0063] 以運算放大芯片U1采用運算放大芯片LM258、D觸發(fā)芯片U2采用D觸發(fā)芯片 CD4017為例，結合圖2提供的基于LED組的檢測電路，對基于LED組的檢測電路的檢測方法詳述，具體如下：
[0064] 步驟S101，電源開關電路向方波電路和控制電路供電。
[0065] 所述控制電路包括：分壓電阻R5、分壓電阻R6、分壓電阻R7、分壓電阻R8、分壓電阻R9、分壓電阻R11、分流電阻R16、分流電阻R17、分流電阻R18、分流電阻R19、開關K2、濾波電容C3、濾波電容C4、NPN型三極管Q1、NPN型三極管Q2、NPN型三極管Q3、NPN型三極管 Q4及D觸發(fā)芯片⑶4017 ;所述分壓電阻R11的第一端和第二端分別接所述電源開關電路和所述開關K2的第一端，所述分壓電阻R9連接在所述開關K2的第二端與地之間，所述開關 K2的第二端接所述D觸發(fā)芯片⑶4017的復位引腳RESET，所述分壓電阻R5的第一端和第二端分別接所述方波電路與所述D觸發(fā)芯片CD4017的觸發(fā)引腳CLK，所述分壓電阻R6、濾波電容C3均分別連接在所述D觸發(fā)芯片CD4017的觸發(fā)引腳CLK與地之間，所述濾波電容 C4連接在所述分壓電阻R11的第一端與地之間，所述分壓電阻R7連接在所述D觸發(fā)芯片 ⑶4017的重置引腳EN與地之間，所述分壓電阻R8連接在所述D觸發(fā)芯片⑶4017的進位引腳C0UT與重置引腳EN之間，所述D觸發(fā)芯片⑶4017的電源引腳VDD接所述電源開關電路，所述D觸發(fā)芯片⑶4017的接地引腳VSS接地，所述分流電阻R16連接在所述D觸發(fā)芯片⑶4017的第一輸出引腳Q0與所述NPN型三極管Q1的基極之間，所述分流電阻R17連接在所述D觸發(fā)芯片⑶4017的第二輸出引腳Q1與所述NPN型三極管Q2的基極之間，所述分流電阻R18連接在所述D觸發(fā)芯片⑶4017的第三輸出引腳Q2與所述NPN型三極管Q3的基極之間，所述分流電阻R19連接在所述D觸發(fā)芯片⑶4017的第四輸出引腳Q3與所述NPN 型三極管Q4的基極之間，所述NPN型三極管Q1的發(fā)射極、所述NPN型三極管Q2的發(fā)射極、所述NPN型三極管Q3的發(fā)射極、所述NPN型三極管Q4的發(fā)射極均接地，所述NPN型三極管 Q1的集電極、所述NPN型三極管Q2的集電極、所述NPN型三極管Q3的集電極、所述NPN型三極管Q4的集電極均接所述LED組的焊接電路。
[0066] 電源開關電路提供一個總開關(開關K1)，通過該總開關控制基于LED組的檢測電路是否工作；具體地，當開關K1斷開時，方波電路以及控制電路沒有電源供電，停止工作，同時也沒有電源電壓經(jīng)過分壓電阻R10向光敏二極管LED5供電，因此，作為電源指示燈的光敏二極管LED5未點亮，當開關K1閉合時，作為電源指示燈的光敏二極管LED5點亮。
[0067] 步驟S102,方波電路產生方波信號。
[0068] 當開關K1初始閉合時，開關K1的第二端的高電平經(jīng)過分壓電阻R3和分壓電阻R4 分壓后，向運算放大芯片LM258的正極輸入引腳VI+提供分壓電阻R4兩端的電壓，這時，運算放大芯片LM258的負極輸入引腳VI-為低電平，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出高電平信號；運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT通過反饋電阻R2向極性電容C2充電，將運算放大芯片LM258的負極輸入引腳VI-充電至運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出的高電壓，同時，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT經(jīng)過反饋電阻R1和分壓電阻R4分壓，因此，運算放大芯片LM258的正極輸入引腳VI+的電壓低于運算放大芯片LM258的負極輸入引腳VI-的電壓，從而，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出低電平信號，這時，極性電容C2經(jīng)過反饋電阻R2放電，直到分壓電阻R4兩端的電壓高于極性電容C2兩端的電壓，運算放大芯片LM258的輸出引腳V0UT輸出高電平信號；以此類推，該方波電路持續(xù)產生方波信號。
[0069] 步驟S103,控制電路根據(jù)方波電路產生的方波信號的方波個數(shù)，控制對LED組的焊接電路進行故障檢測。
[0070] 在本實施例中，以對PCB板上焊接的測試點41、測試點42、測試點43、測試點44依次進行檢測為例，詳述如下：
[0071] 該方波電路經(jīng)過分壓電阻R5向D觸發(fā)芯片⑶4017的觸發(fā)引腳CLK發(fā)送方波信號，當D觸發(fā)芯片⑶4017的觸發(fā)引腳CLK接收到該方波信號的上升沿時，D觸發(fā)芯片⑶4017將計數(shù)值加1 ;當計數(shù)值依次為1、2、3、4時，D觸發(fā)芯片⑶4017的第一輸出引腳Q0、第二輸出引腳Q1、第三輸出引腳Q2、第四輸出引腳Q3依次逐個輸出高電平，從而，NPN型三極管Q1、 NPN型三極管Q2、NPN型三極管Q3、NPN型三極管Q4依次逐個導通，分別逐個測試測試點 41、測試點42、測試點43、測試點44 ;當光敏二極管LED1不亮時，則不亮的光敏二極管LED1 存在錯焊、虛焊等情況，類似地，當對光敏二極管LED2、光敏二極管LED3檢測時，若出現(xiàn)不亮的情況，也同樣存在錯焊、虛焊等情況；當光敏二極管LED1、光敏二極管LED2、光敏二極管LED3中存在兩個及以上光敏二極管同時點亮時，則錯誤點亮的光敏二極管存在連焊；當對測試點44檢測時，若光敏二極管LED4點亮，則代表光敏二極管LED4存在連焊的情況，若光敏二極管LED4未點亮，則光敏二極管LED4焊接正常。
[0072] 優(yōu)選的是，在通過控制電路對LED組的焊接電路進行檢測前，預先閉合開關K2,通過分壓電阻R11、開關K2、分壓電阻R9組成的電路，向D觸發(fā)芯片⑶4017的復位引腳RESET 提供高電平信號，D觸發(fā)芯片⑶4017將計數(shù)值置0。
[0073] 優(yōu)選的是，當D觸發(fā)芯片CD4017將計數(shù)值達到預設計數(shù)值(該預設計數(shù)值為用戶根據(jù)需要、D觸發(fā)芯片CD4017的實際允許情況預先設定，在本實施例中，該預設計數(shù)值設置為10)時，D觸發(fā)芯片CD4017的進位引腳C0UT輸出高電平，從而，分壓電阻R7兩端的電壓置為高電平，D觸發(fā)芯片⑶4017將計數(shù)值置0。
[0074] 在本發(fā)明實施例中，當電源開關電路控制總開關(開關K1)閉合時，方波電路產生方波信號，D觸發(fā)芯片U2根據(jù)方波電路產生的方波信號的方波個數(shù)，控制第一開關管、第二開關管、第三開關管、第四開關管的導通，檢測LED組的焊接電路中的各個光敏二極管電路，保證了各個光敏二極管電路的焊接質量，質量檢測效率高，并且節(jié)省了人力、物力。
[0075] 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
【權利要求】
1. 一種基于LED組的檢測電路，所述基于LED組的檢測電路的輸入端和輸出端分別接電源電路和LED組的焊接電路，其特征在于，所述基于LED組的檢測電路包括：電源開關電路、方波電路、分壓電阻R5、分壓電阻R6、分壓電阻R7、分壓電阻R8、分壓電阻R9、分壓電阻R11、分流電阻R16、分流電阻R17、分流電阻R18、分流電阻R19、開關K2、濾波電容C3、濾波電容C4、第一開關管、第二開關管、第三開關管、第四開關管及D觸發(fā)芯片 U2 ；所述電源開關電路分別接所述電源電路和所述方波電路，所述分壓電阻Rl 1的第一端和第二端分別接所述電源開關電路和所述開關K2的第一端，所述分壓電阻R9連接在所述開關K2的第二端與地之間，所述開關K2的第二端接所述D觸發(fā)芯片U2的復位引腳RESET，所述分壓電阻R5的第一端和第二端分別接所述方波電路與所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳 CLK，所述分壓電阻R6、濾波電容C3均分別連接在所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK與地之間，所述濾波電容C4連接在所述分壓電阻Rl 1的第一端與地之間，所述分壓電阻R7連接在所述D觸發(fā)芯片U2的重置引腳EN與地之間，所述分壓電阻R8連接在所述D觸發(fā)芯片U2 的進位引腳COUT與重置引腳EN之間，所述D觸發(fā)芯片U2的電源引腳VDD接所述電源開關電路，所述D觸發(fā)芯片U2的接地引腳VSS接地，所述分流電阻R16連接在所述D觸發(fā)芯片 U2的第一輸出引腳Q0與所述第一開關管的控制端之間，所述分流電阻R17連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第二輸出引腳Q1與所述第二開關管的控制端之間，所述分流電阻R18連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第三輸出引腳Q2與所述第三開關管的控制端之間，所述分流電阻R19 連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第四輸出引腳Q3與所述第四開關管的控制端之間，所述第一開關管的低電壓端、所述第二開關管的低電壓端、所述第三開關管的低電壓端、所述第四開關管的低電壓端均接地，所述第一開關管的高電壓端、所述第二開關管的高電壓端、所述第三開關管的高電壓端、所述第四開關管的高電壓端均接所述LED組的焊接電路。
2. 如權利要求1所述的基于LED組的檢測電路，其特征在于，所述電源開關電路包括：二極管D1、充電電池 BT、開關K1、濾波電容C1、分壓電阻R10及光敏二極管LED5 ; 所述二極管D1的陽極和陰極分別接所述電源電路和所述充電電池 BT的正極，所述充電電池 BT的負極分別接地和所述電源電路，所述開關K1的第一端接所述充電電池 BT的正極，所述濾波電容C1連接在所述開關K1的第二端與地之間，所述分壓電阻R10連接在所述開關K1的第二端與所述光敏二極管LED5的陽極，所述光敏二極管LED5的陰極接地，所述開關K1的第二端分別接所述方波電路和所述分壓電阻R11的第一端。
3. 如權利要求2所述的基于LED組的檢測電路，其特征在于，所述方波電路包括：分壓電阻R3、分壓電阻R4、反饋電阻R1、反饋電阻R2、運算放大芯片U1及極性電容C2 ; 所述分壓電阻R3連接在所述開關K1的第二端與所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+之間，所述分壓電阻R4連接在所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+與地之間，所述反饋電阻R1連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳VOUT與正極輸入引腳VI+之間，所述反饋電阻R2連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳VOUT與負極輸入引腳VI-之間，所述極性電容C2的正極和負極分別接所述運算放大芯片U1的負極輸入引腳VI-和地，所述運算放大芯片U1的輸出引腳VOUT接所述分壓電阻R5的第一端。
4. 如權利要求1所述的基于LED組的檢測電路，其特征在于，所述第一開關管采用NPN型三極管Q1，所述NPN型三極管Q1的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第一開關管的高電壓端、控制端、低電壓端；所述第二開關管采用NPN型三極管Q2,所述NPN型三極管Q2的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第二開關管的高電壓端、控制端、低電壓端；所述第三開關管采用NPN型三極管Q3,所述NPN型三極管Q3的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第三開關管的高電壓端、控制端、低電壓端；所述第四開關管采用NPN型三極管Q4，所述NPN型三極管Q4的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第四開關管的高電壓端、控制端、低電壓端。
5. 如權利要求1所述的基于LED組的檢測電路，其特征在于，所述第一開關管采用N型MOS管Q5,所述N型MOS管Q5的漏極、柵極、源極分別為所述第一開關管的高電位端、控制端、低電位端；所述第二開關管采用N型MOS管Q6,所述N型MOS管Q6的漏極、柵極、源極分別為所述第二開關管的高電位端、控制端、低電位端；所述第三開關管采用N型MOS管Q7,所述N型MOS管Q7的漏極、柵極、源極分別為所述第三開關管的高電位端、控制端、低電位端；所述第四開關管采用N型MOS管Q8,所述N型MOS管Q8的漏極、柵極、源極分別為所述第四開關管的高電位端、控制端、低電位端。
6. -種檢測器，所述檢測器包括電源電路及基于LED組的檢測電路，所述基于LED組的檢測電路的輸入端和輸出端分別接所述電源電路和LED組的焊接電路，其特征在于，所述基于LED組的檢測電路包括：電源開關電路、方波電路、分壓電阻R5、分壓電阻R6、分壓電阻R7、分壓電阻R8、分壓電阻R9、分壓電阻R11、分流電阻R16、分流電阻R17、分流電阻R18、分流電阻R19、開關K2、濾波電容C3、濾波電容C4、第一開關管、第二開關管、第三開關管、第四開關管及D觸發(fā)芯片 U2 ；所述電源開關電路分別接所述電源電路和所述方波電路，所述分壓電阻Rl 1的第一端和第二端分別接所述電源開關電路和所述開關K2的第一端，所述分壓電阻R9連接在所述開關K2的第二端與地之間，所述開關K2的第二端接所述D觸發(fā)芯片U2的復位引腳RESET，所述分壓電阻R5的第一端和第二端分別接所述方波電路與所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳 CLK，所述分壓電阻R6、濾波電容C3均分別連接在所述D觸發(fā)芯片U2的觸發(fā)引腳CLK與地之間，所述濾波電容C4連接在所述分壓電阻Rl 1的第一端與地之間，所述分壓電阻R7連接在所述D觸發(fā)芯片U2的重置引腳EN與地之間，所述分壓電阻R8連接在所述D觸發(fā)芯片U2 的進位引腳COUT與重置引腳EN之間，所述D觸發(fā)芯片U2的電源引腳VDD接所述電源開關電路，所述D觸發(fā)芯片U2的接地引腳VSS接地，所述分流電阻R16連接在所述D觸發(fā)芯片 U2的第一輸出引腳Q0與所述第一開關管的控制端之間，所述分流電阻R17連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第二輸出引腳Q1與所述第二開關管的控制端之間，所述分流電阻R18連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第三輸出引腳Q2與所述第三開關管的控制端之間，所述分流電阻R19 連接在所述D觸發(fā)芯片U2的第四輸出引腳Q3與所述第四開關管的控制端之間，所述第一開關管的低電壓端、所述第二開關管的低電壓端、所述第三開關管的低電壓端、所述第四開關管的低電壓端均接地，所述第一開關管的高電壓端、所述第二開關管的高電壓端、所述第三開關管的高電壓端、所述第四開關管的高電壓端均接所述LED組的焊接電路。
7. 如權利要求6所述的檢測器，其特征在于，所述電源開關電路包括：二極管D1、充電電池 BT、開關K1、濾波電容C1、分壓電阻R10及光敏二極管LED5 ; 所述二極管D1的陽極和陰極分別接所述電源電路和所述充電電池 BT的正極，所述充電電池 BT的負極分別接地和所述電源電路，所述開關K1的第一端接所述充電電池 BT的正極，所述濾波電容C1連接在所述開關K1的第二端與地之間，所述分壓電阻R10連接在所述開關K1的第二端與所述光敏二極管LED5的陽極，所述光敏二極管LED5的陰極接地，所述開關K1的第二端分別接所述方波電路和所述分壓電阻R11的第一端。
8. 如權利要求7所述的檢測器，其特征在于，所述方波電路包括：分壓電阻R3、分壓電阻R4、反饋電阻R1、反饋電阻R2、運算放大芯片U1及極性電容C2 ; 所述分壓電阻R3連接在所述開關K1的第二端與所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+之間，所述分壓電阻R4連接在所述運算放大芯片U1的正極輸入引腳VI+與地之間，所述反饋電阻R1連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳VOUT與正極輸入引腳VI+之間，所述反饋電阻R2連接在所述運算放大芯片U1的輸出引腳VOUT與負極輸入引腳VI-之間，所述極性電容C2的正極和負極分別接所述運算放大芯片U1的負極輸入引腳VI-和地，所述運算放大芯片U1的輸出引腳VOUT接所述分壓電阻R5的第一端。
9. 如權利要求6所述的檢測器，其特征在于，所述第一開關管采用NPN型三極管Q1，所述NPN型三極管Q1的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第一開關管的高電壓端、控制端、低電壓端；所述第二開關管采用NPN型三極管Q2,所述NPN型三極管Q2的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第二開關管的高電壓端、控制端、低電壓端；所述第三開關管采用NPN型三極管Q3,所述NPN型三極管Q3的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第三開關管的高電壓端、控制端、低電壓端；所述第四開關管采用NPN型三極管Q4，所述NPN型三極管Q4的集電極、基極、發(fā)射極分別為所述第四開關管的高電壓端、控制端、低電壓端。
10. 如權利要求6所述的檢測器，其特征在于，所述第一開關管采用N型M0S管Q5,所述N型M0S管Q5的漏極、柵極、源極分別為所述第一開關管的高電位端、控制端、低電位端；所述第二開關管采用N型M0S管Q6，所述N型M0S管Q6的漏極、柵極、源極分別為所述第二開關管的高電位端、控制端、低電位端；所述第三開關管采用N型M0S管Q7,所述N型M0S管Q7的漏極、柵極、源極分別為所述第三開關管的高電位端、控制端、低電位端；所述第四開關管采用N型M0S管Q8,所述N型M0S管Q8的漏極、柵極、源極分別為所述第四開關管的高電位端、控制端、低電位端。
【文檔編號】G01R31/02GK104101810SQ201310127738
【公開日】2014年10月15日申請日期:2013年4月12日優(yōu)先權日:2013年4月12日
【發(fā)明者】周明杰, 陳鋼申請人:海洋王（東莞）照明科技有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明技術有限公司

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