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批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號:6041310閱讀:167來源:國知局
專利名稱:批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),尤其是一種可以批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),屬于發(fā)光二極管測試領(lǐng)域。
背景技術(shù)
現(xiàn)有發(fā)光二極管壽命測試的設(shè)備,是通過給器件提供電壓或者電流,使器件發(fā)光。通過采集器件工作的電壓,電流以及亮度信號的值,從而分析得出器件的壽命。在測試時,將器件固定于安裝器件的測試盒內(nèi),通過盒內(nèi)的電極與器件電極接觸,從而給器件提供電壓或者電流。有現(xiàn)在有設(shè)備中,器件在安裝時需要取下測試盒,安裝完成后,再將其連接入設(shè)備中,這樣的設(shè)備操作復(fù)雜,安裝器件的過程容易對系統(tǒng)造成影響,不適用于批量器件的連續(xù)測試。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種結(jié)構(gòu)簡單、布局緊湊、實施方便的批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu)。本實用新型的目的可以通過采取如下技術(shù)方案達(dá)到:批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:包括機柜、設(shè)置在機柜內(nèi)的多層滑動式抽屜、信號轉(zhuǎn)接模塊以及用于控制器件工作的計算機,所述計算機通過第一線纜與信號轉(zhuǎn)接模塊連接,所述每一層抽屜內(nèi)固定有器件測試模塊,在所述每塊器件測試模塊上安裝有若干個用于放置待測試器件的測試盒,所述每一層抽屜內(nèi)的器件測試模塊通過第二線纜與信號轉(zhuǎn)接模塊連接。作為一種優(yōu)選方案,所述機柜內(nèi)左右兩側(cè)設(shè)置有導(dǎo)軌,所述每一層抽屜通過導(dǎo)軌滑動連接在機柜上。作為一種優(yōu)選方案,所述機柜內(nèi)安裝有散熱風(fēng)扇,在機柜的門上開有用于輔助散熱的通風(fēng)孔。作為一種優(yōu)選方案,所述機柜內(nèi)安裝有用于記錄器件工作中的溫度及濕度的溫度及濕度傳感模塊。作為一種優(yōu)選方案,所述計算機包括主機、顯示器以及安裝于主機上的數(shù)據(jù)采集模塊與數(shù)字信號輸出模塊。作為一種優(yōu)選方案,所述每一層抽屜內(nèi)的器件測試模塊上安裝有第一連接器;所述信號轉(zhuǎn)接模塊上安裝有若干個第二連接器,其中一個第二連接器通過第一線纜與計算機連接,其余的第二連接器通過第二線纜分別與器件測試模塊上的第一連接器連接。作為一種優(yōu)選方案,所述第二線纜為可隨著器件測試模塊一起運動的可彎曲線纜。本實用新型相對于現(xiàn)有技術(shù)具有如下的有益效果:1、本實用新型的抽屜通過導(dǎo)軌滑動連接在機柜上,利用這種滑動式抽屜,方便用戶在測試的過程中安裝及卸載發(fā)光二極管器件,在安裝發(fā)光二極管器件的時候不再與系統(tǒng)斷開,實現(xiàn)連續(xù)測試。2、本實用新型由于在機柜中安裝有多層抽屜,在每一層抽屜內(nèi)的器件測試模塊中放置多個器件測試盒,而每個測試盒的控制及數(shù)據(jù)采集均是獨立的,因此可以同時對批量的發(fā)光二極管器件進(jìn)行測試。3、本實用新型利用信號轉(zhuǎn)接模塊分發(fā)來自計算機的信號,并匯總發(fā)光二極管器件的測試信息返回給計算機,簡化了系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。4、本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,布局緊湊,實施方便,易于維修檢查,解決了現(xiàn)有設(shè)備器件安裝及取下器件不方便,難以滿足批量測試要求的技術(shù)問題,具有良好的應(yīng)用前景。

圖1為本實用新型機柜開啟的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實用新型計算機與信號轉(zhuǎn)接模塊的連接示意圖。
具體實施方式
實施例1:如圖1和圖2所示,本實施例的設(shè)備結(jié)構(gòu)包括機柜1、多層滑動式抽屜2、信號轉(zhuǎn)接模塊3以及計算機4,所述多層滑動式抽屜2設(shè)置在機柜I內(nèi),所述機柜I內(nèi)左右兩側(cè)設(shè)置有導(dǎo)軌9,所述每一層抽屜2通過導(dǎo)軌9滑動連接在機柜I上,所述每一層抽屜2內(nèi)固定有器件測試模塊6,在所述每塊器件測試模塊6上安裝有若干個測試盒7,所述每一層抽屜2內(nèi)的器件測試模塊6上安裝有第一連接器11 ;所述信號轉(zhuǎn)接模塊3上安裝有若干個第二連接器12,其中一個第二連接器12通過第一線纜5與計算機4連接,其余的第二連接器12通過第二線纜8分別與器件測試模塊6上的第一連接器11連接。其中,所述機柜I內(nèi)安裝有散熱風(fēng)扇10,機柜I的門上還開有通風(fēng)孔,用于輔助散熱。所述機柜I內(nèi)還安裝有溫度及濕度傳感模塊,用于記錄器件工作中的溫度及濕度。所述計算機4包括主機、顯示器以及安裝于主機上的數(shù)據(jù)采集模塊與數(shù)字信號輸出模塊,在主機中還安裝有相應(yīng)的控制軟件,通過操作軟件界面實現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集和顯示。所述第二線纜8為柔軟可彎曲線纜,可以隨著器件測試模塊6 —起運動。所述測試盒7可以根據(jù)待測器件的形狀進(jìn)行設(shè)計。本實施例的工作過程如下:I)打開測試盒7的盒蓋,放入待測的發(fā)光二極管器件,合上盒蓋即完成的器件的安裝;2)在計算機4中的軟件界面設(shè)置好待測器件的工作模式和參數(shù),點擊開始后,控制信號通過信號轉(zhuǎn)接模塊3分發(fā)到器件測試模塊6,通過器件測試模塊6驅(qū)動器件工作,器件工作時的信息再通過信號轉(zhuǎn)接模塊3送回到計算機4中進(jìn)行處理并顯示;3)器件測試完成后,打開測試盒7,取出器件,即完成一個器件的壽命測試。類似的,可以將其它的器件放置于其它的測試盒7中,完成對批量器件的測試。以上所述,僅為本實用新型優(yōu)選的實施例,但本實用新型的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實用新型所公開的范圍內(nèi),根據(jù)本實用新型的技術(shù)方案及其實用新型構(gòu)思加以等同替換或改變,都屬于本實用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:包括機柜(I)、設(shè)置在機柜(I)內(nèi)的多層滑動式抽屜(2)、信號轉(zhuǎn)接模塊(3)以及用于控制器件工作的計算機(4),所述計算機(4 )通過第一線纜(5 )與信號轉(zhuǎn)接模塊(3 )連接,所述每一層抽屜(2 )內(nèi)固定有器件測試模塊(6),在所述每塊器件測試模塊(6)上安裝有若干個用于放置待測試器件的測試盒(7),所述每一層抽屜(2)內(nèi)的器件測試模塊(6)通過第二線纜(8)與信號轉(zhuǎn)接模塊(3)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:所述機柜(I)內(nèi)左右兩側(cè)設(shè)置有導(dǎo)軌(9),所述每一層抽屜(2)通過導(dǎo)軌(9)滑動連接在機柜(I)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:所述機柜(I)內(nèi)安裝有散熱風(fēng)扇(10),在機柜(I)的門上開有用于輔助散熱的通風(fēng)孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:所述機柜(I)內(nèi)安裝有用于記錄器件工作中的溫度及濕度的溫度及濕度傳感模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:所述計算機(4)包括主機、顯示器以及安裝于主機上的數(shù)據(jù)采集模塊與數(shù)字信號輸出模塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:所述每一層抽屜(2 )內(nèi)的器件測試模塊(6 )上安裝有第一連接器(11);所述信號轉(zhuǎn)接模塊(3 )上安裝有若干個第二連接器(12),其中一個第二連接器(12)通過第一線纜(5)與計算機(4)連接,其余的第二連接器(12)通過第二線纜(8)分別與器件測試模塊(6)上的第一連接器(11)連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),其特征在于:所述第二線纜(8)為可隨著器件測試模塊(6) —起運動的可彎曲線纜。
專利摘要本實用新型公開了一種批量測試發(fā)光二極管器件壽命的設(shè)備結(jié)構(gòu),包括機柜、設(shè)置在機柜內(nèi)的多層滑動式抽屜、信號轉(zhuǎn)接模塊以及用于控制器件工作的計算機,所述計算機通過第一線纜與信號轉(zhuǎn)接模塊連接,所述每一層抽屜內(nèi)固定有器件測試模塊,在所述每塊器件測試模塊上安裝有若干個用于放置待測試器件的測試盒,所述每一層抽屜內(nèi)的器件測試模塊通過第二線纜與信號轉(zhuǎn)接模塊連接。本實用新型可以同時對批量的發(fā)光二極管器件進(jìn)行測試,且結(jié)構(gòu)簡單,布局緊湊,實施方便,易于維修檢查,解決了現(xiàn)有設(shè)備器件安裝及取下器件不方便,難以滿足批量測試要求的技術(shù)問題,具有良好的應(yīng)用前景。
文檔編號G01R31/01GK203037782SQ201220699350
公開日2013年7月3日 申請日期2012年12月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月17日
發(fā)明者羅建國, 王劍斌, 王磊, 吳為敬, 彭俊彪 申請人:華南理工大學(xué)
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