專利名稱：折射率測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種教學(xué)實驗裝置，具體為一種測量透光物體折射率的裝置。
背景技術(shù)：
目前學(xué)校物理課學(xué)到光學(xué)中有關(guān)光的折射內(nèi)容時，通常利用光在經(jīng)過不同介質(zhì)時發(fā)生折射的現(xiàn)象來測待測物體的折射率，用來加深同學(xué)們對知識的理解，提高學(xué)習(xí)效率。在測量試驗中，通常要用到專業(yè)的光源，并且需要跟蹤光路測出入射角和出射角后利用公式計算出折射率。這種方法所需器材繁多，跟蹤光路難度大，入射角出射角通過手繪與量角器測量，精度低。中國專利ZL200620105920. 0公開的折射率測量儀，其雖然在一定程度上簡化了測量步驟，但仍需要兩次角度測量，而且其測量盤的最小刻度僅為1°，降低了實驗結(jié)果的精度。
發(fā)明內(nèi)容針對上述現(xiàn)有技術(shù)上的不足，本實用新型提供了一種折射率測量裝置。該折射率測量裝置通過將出射角的測量改為對長度的測量，提高了測量精度，使測量結(jié)果更為精確。本實用新型所采用的技術(shù)方案是一種折射率測量裝置，包括圓形底座，所述圓形底座周邊刻有角度標(biāo)識，其特征是所述圓形底座的中心點上固定有轉(zhuǎn)軸，一個寬度為d的兩端帶有指針的長方形薄片通過轉(zhuǎn)軸固定在圓形底座上。所述的折射率測量裝置，其特征是在圓形底座的底部過圓心固定有水平定位鐵片。本實用新型的有益效果是將精度較低的角度測量換為精度較高的長度測量，提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

圖1為本實用新型的折射率測量裝置測試狀態(tài)示意圖。圖中，1-圓形底座，2-長方形薄片，3-待測物體，4-轉(zhuǎn)軸，5-定位磁鐵塊。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式
做進一步的說明。如圖1，有一個圓形底座1，所述圓形底座分為四個象限，每個象限均制有0-90度刻度，并且兩個0度刻度的連線與兩個90度刻度的連線相垂直。其中兩個0度刻度的連線為豎直線，兩個90度刻度的連線為水平線。在圓心底座I的底部過圓心固定有水平定位鐵片。圓形底座I的中心點固定有轉(zhuǎn)軸4，一個兩端固定有指針的寬度為d的長方形薄片2固定在轉(zhuǎn)軸4上，所述長方形薄片2兩端指針?biāo)傅目潭燃礊槠湫D(zhuǎn)的角度，待測物體3為一個透明的長方形物體。測量時，將待測物體3置于長方形薄片2上部，并且待測物體3的中心與底座I的中心點即轉(zhuǎn)軸4重合。在待測物體3的兩側(cè)放置定位磁鐵塊5，以使待測物體3保持固定。轉(zhuǎn)動長方形薄片2的同時透過待測物體3可以觀察到長方形薄片2的兩條長邊發(fā)生視覺錯位。當(dāng)長方形薄片2的兩條長邊在視覺上重合，即錯位量恰好為長方形薄片的寬度d時，停止轉(zhuǎn)動，此時長方形薄片2上指針?biāo)傅亩葦?shù)為入射角i，測量待測物體3的光線入射面與出射面間距離h。通過折射率公式
+Sit2I,將測量出的i，h，d數(shù)值帶入即可算出待測物體3的折射率。本實用新型的折射率測量裝置底座I與長方形薄片2的材質(zhì)采用金屬板如鋁合金板或樹脂板或木質(zhì)材料等制作，但長方形薄片2須采用非磁性(弱磁性)材料。在底座I的底部用粘接劑固定一個厚度不超過I毫米的薄鐵片。薄鐵片的固定位置過底座I的中心，并且與圖中所示的兩個90度刻度的水平連線相平行。
權(quán)利要求1.一種折射率測量裝置，包括圓形底座(I)，所述圓形底座(I)周邊刻有角度標(biāo)識，其特征是所述圓形底座(I)的中心點上固定有轉(zhuǎn)軸(4)，一個寬度為d的兩端帶有指針的長方形薄片(2)通過轉(zhuǎn)軸(4)固定在圓形底座(I)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的折射率測量裝置，其特征是在圓形底座(I)的底部過圓心固定有水平定位鐵片。
專利摘要一種折射率測量裝置，包括圓形底座，所述圓形底座邊緣刻有環(huán)形的角度標(biāo)識，其特征為所述圓形底座上固定有一個兩端帶有指針、可繞其圓心O任意轉(zhuǎn)動的長方形薄片。該折射率測量裝置通過將出射角的測量改為對長度的測量，提高了測量精度，使測量結(jié)果更為精確。
文檔編號G01N21/41GK202886280SQ201220541150
公開日2013年4月17日 申請日期2012年10月22日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月22日
發(fā)明者王勤 申請人:王勤