專利名稱：一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于電子設(shè)備的邊界掃描測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著封裝技術(shù)、微組裝技術(shù)及裸芯片技術(shù)的發(fā)展與廣泛應(yīng)用，電路系統(tǒng)朝著高密度、高速度、高可靠和微型化方向快速發(fā)展。軍事電子裝備中已大量使用高密的PCB(Printed Circuit Board, PCB)、MCM (Multi-Chip Module, MCM)、板上系統(tǒng) SoB (Systemon Board, SoB)、片上系統(tǒng)SoC (System on Chip, SoC)和裸芯片等新工藝和新技術(shù)的高密度系統(tǒng)集成組件，從而顯著改善了軍事電子裝備的性能。這些軍事電子裝備在功能、技術(shù)指標(biāo)和可靠性得到很大程度提高的同時(shí)，測(cè)試和維修的難度也大大增加，常規(guī)物理探針手段已經(jīng)難以完成這些復(fù)雜系統(tǒng)的測(cè)試，因此迫切需要解決高密度復(fù)雜電子設(shè)備的測(cè)試問題，提高與改善電路系統(tǒng)的可測(cè)性與可維護(hù)性。邊界掃描測(cè)試技術(shù)以其特有的“虛擬探針”功能，為解決高密度系統(tǒng)集成組件的測(cè)試難題提供了強(qiáng)有力的手段。邊界掃描測(cè)試技術(shù)以IEEE1149.X系列標(biāo)準(zhǔn)的頒布和應(yīng)用為標(biāo)志，是一種得到了廣泛應(yīng)用并不斷快速發(fā)展的主流可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)。IEEE1149.X系列標(biāo)準(zhǔn)是國際上在上世紀(jì)九十年代到本世紀(jì)初形成的一種電子系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，該系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了邊界掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)，涵蓋了數(shù)字電路邊界掃描測(cè)試(IEEE1149. I)、數(shù)?；旌想娐愤吔鐠呙铚y(cè)試(IEEE1149. 4)、模塊測(cè)試與維護(hù)總線(IEEE1149. 5)以及高速數(shù)字電路邊界掃描測(cè)試(IEEE1149. 6)等內(nèi)容，該系列標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用是提高電路系統(tǒng)可測(cè)性的主流技術(shù)，其中的 IEEEl 149. I 標(biāo)準(zhǔn)，也稱 JTAG (Joint Test Action Group，JTAG)標(biāo)準(zhǔn)，JTAG 標(biāo)準(zhǔn)因其所需提供額外可測(cè)性成本低、方便高效等特點(diǎn)而成功應(yīng)用，提高了軍事電子裝備系統(tǒng)集成組件的可測(cè)性和可維護(hù)性。目前大部分大規(guī)模器件如FPGA、DSP和微處理器等都支持邊界掃描接口，可在一定程度上完成復(fù)雜電路系統(tǒng)的可測(cè)性設(shè)計(jì)，但在國內(nèi)支持IEEE1149. X系列標(biāo)準(zhǔn)的通用實(shí)用化邊界掃描測(cè)試平臺(tái)較少，且對(duì)邊掃器件外圍電路的測(cè)試覆蓋率不高，測(cè)試通用性不強(qiáng)，亟需改進(jìn)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，本測(cè)試系統(tǒng)不但可以適用于多種接口數(shù)字電路板的測(cè)試，而且本測(cè)試系統(tǒng)對(duì)單板測(cè)試覆蓋不到的外圍電路及接線也能進(jìn)行有效的測(cè)試覆蓋，從而擴(kuò)大了數(shù)字電路板上邊界掃描測(cè)試的覆蓋范圍，降低了測(cè)試成本。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用了以下技術(shù)方案一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其包括如下組成部分測(cè)試計(jì)算機(jī)，用于依次通過以太網(wǎng)接口和以太網(wǎng)控制器向JTAG控制器發(fā)出測(cè)試指令，并依次通過以太網(wǎng)控制器和以太網(wǎng)接口接收自JTAG控制器處發(fā)送來的測(cè)試結(jié)果；JTAG控制器，用于接收測(cè)試計(jì)算機(jī)發(fā)送來的測(cè)試指令，并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量，所述JTAG控制器通過JTAG接口與被測(cè)件上的邊界掃描器件雙向通信相連，所述JTAG控制器還通過邊界掃描擴(kuò)展模塊與被測(cè)件上的接口連接器相連；邊界掃描擴(kuò)展模塊，用于通過JTAG接口接收J(rèn)TAG控制器發(fā)送來的JTAG測(cè)試向量并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，邊界掃描擴(kuò)展模塊對(duì)被測(cè)件發(fā)送用于測(cè)試覆蓋被測(cè)件上的接口連接器處待測(cè)器件的測(cè)試信號(hào)及接收測(cè)試結(jié)果，所述測(cè)試結(jié)果通過JTAG接口傳送至JTAG控制器；電源，用于向以太網(wǎng)控制器、JTAG控制器、邊界掃描擴(kuò)展模塊提供用電。同時(shí)本實(shí)用新型還可以通過以下方式得以進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)優(yōu)選的，所述JTAG控制器包括如下組成部分邊界掃描控制器，用于依次通過以太網(wǎng)接口和以太網(wǎng)控制器接收測(cè)試計(jì)算機(jī)發(fā)送來的測(cè)試指令，并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量，所述邊界掃描控制器依次通過以太網(wǎng)控制器和以太網(wǎng)接口向測(cè)試計(jì)算機(jī)發(fā)送測(cè)試結(jié)果；所述邊界掃描控制器還與JTAG路由器通過標(biāo)準(zhǔn)JTAG信號(hào)連接；JTAG路由器，用于通過多路JTAG接口與被測(cè)件上的JTAG接口對(duì)應(yīng)相連，所述JTAG路由器控制所述多路JTAG接口向被測(cè)件和邊界掃描擴(kuò)展模塊同時(shí)發(fā)送JTAG測(cè)試向量并采集測(cè)試結(jié)果，然后將所采集到的測(cè)試結(jié)果傳送至邊界掃描控制器；所述JTAG路由器與邊界掃描擴(kuò)展模塊采用標(biāo)準(zhǔn)JTAG信號(hào)連接；電源與邊界掃描控制器和JTAG路由器均為電連接。優(yōu)選的，所述邊界掃描擴(kuò)展模塊包括如下組成部分邊界掃描器件，通過JTAG接口與JTAG路由器通信連接，接收來自邊界掃描控制器的JTAG測(cè)試向量，并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；邊界掃描器件通過適配器向被測(cè)件發(fā)送測(cè)試信號(hào)，同時(shí)采集適配器轉(zhuǎn)接來的被測(cè)件的測(cè)試結(jié)果，再依次通過JTAG路由器和邊界掃描控制器將測(cè)試結(jié)果回傳至測(cè)試計(jì)算機(jī)；適配器，用于使電源與被測(cè)件之間的電壓信號(hào)相匹配和/或使邊界掃描器件與被測(cè)件的接口連接器之間的電平信號(hào)相匹配；電源與邊界掃描器件和適配器均為電連接。進(jìn)一步的，所述適配器呈插條狀，適配器的兩端設(shè)置有電壓轉(zhuǎn)換部件，適配器的中部設(shè)置有電平轉(zhuǎn)換部件。作為本實(shí)用新型的更進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述以太網(wǎng)接口、以太網(wǎng)控制器、邊界掃描控制器、JTAG路由器、邊界掃描器件、適配器、電源以及多路JTAG接口均整合安裝在同一個(gè)測(cè)試底板上。所述邊界掃描器件包括Altera公司的型號(hào)為EPF10K100 EBC356-3的FPGA，所述FPGA安置于測(cè)試底板中，通過接口連接器與適配器相連。本實(shí)用新型的有益效果I )、本實(shí)用新型中的JTAG控制器包括邊界掃描控制器和JTAG路由器，所述JTAG路由器采用的是專業(yè)的JTAG系統(tǒng)級(jí)接口芯片所提供的單點(diǎn)接入到多掃描鏈結(jié)構(gòu)，用于將邊界掃描控制器的單路JTAG接口轉(zhuǎn)換成多路，并可由邊界掃描控制器同時(shí)控制。也即本實(shí)用新型中的JTAG路由器可以同時(shí)與多個(gè)JTAG接口相連以形成多個(gè)分支鏈路，還具有支持隔離的診斷能力，從而可以選擇不同的分支鏈路進(jìn)行測(cè)試。這種測(cè)試結(jié)構(gòu)不但增加了邊界掃描測(cè)試的靈活性，而且使得邊界掃描控制器可以同時(shí)控制多條JTAG鏈，擴(kuò)大了測(cè)試覆蓋范圍，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)的邊界掃描測(cè)試。2)、本實(shí)用新型中的邊界掃描擴(kuò)展模塊包括邊界掃描器件和適配器，所述邊界掃描器件為寬電壓接口器件，適用于LVTTL、TTL等各種電平；所述適配器的主要功能是將被測(cè)件的IO轉(zhuǎn)接至測(cè)試底板上的邊界掃描器件的邊掃單元，從而使得測(cè)試計(jì)算機(jī)可以直接控制測(cè)試底板上的JTAG控制器，發(fā)送測(cè)試指令，并接收測(cè)試結(jié)果。針對(duì)不同接口的被測(cè)件，需要設(shè)計(jì)不同的適配器。適配器的設(shè)計(jì)一方面包括被測(cè)件接口連接器的轉(zhuǎn)接，另一方面為連接關(guān)系的映射，適配器的設(shè)計(jì)可采用印制板的方式，也可采用電纜的方式連接，這樣使得二次開發(fā)設(shè)計(jì)適配器的難度要遠(yuǎn)小于測(cè)試底板的設(shè)計(jì)。3)、本實(shí)用新型利用邊界掃描測(cè)試中的互連測(cè)試，將被測(cè)件中的接口連接器通過適配器引入測(cè)試底板中的邊界掃描器件，從而增加了邊界掃描器件的覆蓋范圍，實(shí)現(xiàn)邊界掃描測(cè)試覆蓋率的擴(kuò)大，同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了對(duì)邊界掃描測(cè)試中的單板測(cè)試覆蓋不到的外圍電路進(jìn)行有效的測(cè)試覆蓋。本掃描測(cè)試系統(tǒng)既可檢測(cè)出被測(cè)件本身各集成電路之間的連線故障，又可檢測(cè)出被測(cè)件的接口連接器的連接及接口電路的短路(橋接)、開路、固定邏輯等故障。

[0027]圖I是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。[0028]圖2是本實(shí)用新型的適配器原理框圖。[0029]圖3是本實(shí)用新型的邊界掃描測(cè)試的工作狀態(tài)圖。[0030]圖4是本實(shí)用新型的擴(kuò)展電路板測(cè)試示意圖。[0031]圖5是本實(shí)用新型的擴(kuò)展電纜測(cè)試示意圖。[0032]圖中標(biāo)注符號(hào)的含義如下[0033]10 一測(cè)試計(jì)算機(jī) 20 —以太網(wǎng)接口30—-以太網(wǎng)控制器[0034]40—JTAG控制器 41 一邊界掃描控制器42—-JTAG路由器[0035]50—邊界掃描擴(kuò)展模塊 51—邊界掃描器件52—適配器[0036]60—電源7 O — JTAG接口 80—測(cè)試底板90一被測(cè)件[0037]90A—被測(cè)電路板 90B—被測(cè)電纜 91 一接口連接器
具體實(shí)施方式
如圖I所示，一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其包括如下組成部分測(cè)試計(jì)算機(jī)10，用于依次通過以太網(wǎng)接口 20和以太網(wǎng)控制器30向JTAG控制器40發(fā)出測(cè)試指令，并依次通過以太網(wǎng)控制器30和以太網(wǎng)接口 20接收自JTAG控制器40處發(fā)送來的測(cè)試結(jié)果；JTAG控制器40，用于接收測(cè)試計(jì)算機(jī)10發(fā)送來的測(cè)試指令，并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量，所述JTAG控制器40通過JTAG接口 70與被測(cè)件上的邊界掃描器件雙向通信相連，所述JTAG控制器40還通過邊界掃描擴(kuò)展模塊50與被測(cè)件上的接口連接器相連；[0041 ] 邊界掃描擴(kuò)展模塊50，用于接收J(rèn)TAG控制器40發(fā)送來的JTAG測(cè)試向量并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，邊界掃描擴(kuò)展模塊50對(duì)被測(cè)件發(fā)送測(cè)試信號(hào)及接收測(cè)試結(jié)果，并將所采集到的測(cè)試結(jié)果傳送至JTAG控制器40 ；電源60，用于向以太網(wǎng)控制器30、JTAG控制器40、邊界掃描擴(kuò)展模塊50提供用電。在對(duì)被測(cè)件進(jìn)行掃描測(cè)試時(shí)，電源60通過邊界掃描擴(kuò)展模塊50向被測(cè)件提供用電。優(yōu)選的，如圖I所示，所述JTAG控制器40包括如下組成部分邊界掃描控制器41，用于依次通過以太網(wǎng)接口 20和以太網(wǎng)控制器30接收測(cè)試計(jì)算機(jī)10發(fā)送來的測(cè)試指令，并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量，所述邊界掃描控制器41依次通過以太網(wǎng)控制器30和以太網(wǎng)接口 20向測(cè)試計(jì)算機(jī)10發(fā)送測(cè)試結(jié)果；所述邊界掃描控制器41還與JTAG路由器42雙向通信連接；JTAG路由器42，用于通過多路JTAG接口 70與被測(cè)件90上的JTAG接口對(duì)應(yīng)相連，所述JTAG路由器42控制所述多路JTAG接口 70向被測(cè)件和邊界掃描擴(kuò)展模塊50同時(shí)發(fā)送JTAG測(cè)試向量并采集被測(cè)件的測(cè)試結(jié)果，然后將所采集到的測(cè)試結(jié)果傳送至邊界掃描控制器41 ;所述JTAG路由器42與邊界掃描擴(kuò)展模塊50采用標(biāo)準(zhǔn)JTAG信號(hào)連接；電源60與邊界掃描控制器41和JTAG路由器42均為電連接。邊界掃描控制器41為掃描測(cè)試系統(tǒng)的核心，其產(chǎn)生符合IEEEl 149. I標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量，以實(shí)現(xiàn)邊界掃描測(cè)試操作。圖I中的以太網(wǎng)接口 20也即RJ45接口能夠?qū)崿F(xiàn)網(wǎng)絡(luò)物理層的連接，從而使掃描測(cè)試系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程測(cè)試功能。優(yōu)選的，如圖I所示，所述邊界掃描擴(kuò)展模塊50包括如下組成部分邊界掃描器件51，通過JTAG接口與JTAG路由器42通信，接收自邊界掃描控制器41處傳送來的JTAG測(cè)試向量，并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；邊界掃描器件51通過適配器52向被測(cè)件90發(fā)送測(cè)試信號(hào)，同時(shí)采集適配器52轉(zhuǎn)接來的被測(cè)件的測(cè)試結(jié)果，再依次通過JTAG路由器42和邊界掃描控制器41將測(cè)試結(jié)果回傳至測(cè)試計(jì)算機(jī)10 ；適配器52，用于使電源60與被測(cè)件90之間的電壓信號(hào)相匹配和/或使邊界掃描器件51與被測(cè)件90的接口連接器之間的電平信號(hào)相匹配；電源60與邊界掃描器件51和適配器52均為電連接。進(jìn)一步的，如圖I所示，測(cè)試底板80上的邊界掃描器件51包括Altera公司的FLEX10K系列型號(hào)為EPF10K100 EBC356-3的FPGA，該器件的輸入輸出管腳兼容2. 5V、3. 3V、5V多種電壓標(biāo)準(zhǔn)，給適配器52的設(shè)計(jì)提供了較大的靈活性。如圖3、4、5所示，所述邊界掃描器件51上的FPGA通過接口連接器與適配器52相連。測(cè)試時(shí)，在測(cè)試底板80上將邊界掃描器件51的JTAG鏈直接接入JTAG路由器42，其余JTAG接口接入被測(cè)件，這樣邊界掃描控制器41可同時(shí)控制測(cè)試底板80上的邊界掃描器件51以及被測(cè)件上的邊界掃描器件，使得二者形成通路，以完成對(duì)被測(cè)件90上的接口連接器處的接口電路的互連測(cè)試。將適配器52安裝在測(cè)試底板80上時(shí)，可在測(cè)試底板80上設(shè)置插槽，并將適配器52裝設(shè)在插槽中即可。進(jìn)一步的，如圖1、2所示，所述適配器52呈插條狀，適配器52的兩端設(shè)置有電壓轉(zhuǎn)換部件521，適配器52的中部設(shè)置有電平轉(zhuǎn)換部件522。[0056]圖2所示為適配器52的示意圖，測(cè)試底板80給適配器52共提供兩種電壓類型直流5V及3. 3V，如果被測(cè)件上有特殊電壓的供電需求，則需在適配器52上增加電壓轉(zhuǎn)換部件521以對(duì)被測(cè)件90供電。除了給被測(cè)件90供電之外，適配器52要對(duì)被測(cè)件90中的IO管腳與測(cè)試底板80的連接關(guān)系進(jìn)行相應(yīng)的映射，映射的主要原則為相同電平類型的信號(hào)才可直接連接，如果有特殊電平類型的信號(hào)，則需在適配器52中增加電平轉(zhuǎn)換部件522以完成對(duì)該信號(hào)的測(cè)試覆蓋。作為本實(shí)用新型的更進(jìn)一步的技術(shù)方案，如圖I所示，所述以太網(wǎng)接口 20、以太網(wǎng)控制器30、邊界掃描控制器41、JTAG路由器42、邊界掃描器件51、適配器52、電源60以及多路JTAG接口 70均整合安裝在同一個(gè)測(cè)試底板80上。下面結(jié)合圖3 5對(duì)本實(shí)用新型的工作過程做進(jìn)一步說明。實(shí)施例I圖3所示為本實(shí)施例的被測(cè)件的原理圖，該被測(cè)件90中包括均支持國際標(biāo)準(zhǔn)IEEEl 149. I的2塊FPGA及2塊DSP芯片，所述2塊FPGA及2塊DSP芯片即為被測(cè)件上的邊界掃描器件，被測(cè)件90上還包括2片RAM、一塊NOR型FLASH及若干接口電路。接口電路I是將TTL電平轉(zhuǎn)換成RS422電平通過對(duì)外接口送出，接口電路2是將外來的RS422電平的信號(hào)轉(zhuǎn)換成TTL進(jìn)入FPGA處理，接口電路3是雙向TTL電平的緩沖器，接口電路4是雙向LVTTL的緩沖器。所述接口電路I、接口電路2、接口電路3、接口電路4即為被測(cè)件90上的接口連接器處的待測(cè)器件。 若不借助本測(cè)試系統(tǒng)，單單對(duì)被測(cè)件90本身做邊界掃描測(cè)試，則本被測(cè)件90上的接口電路是無法被測(cè)試和覆蓋的。若借助本測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行掃描測(cè)試，則被測(cè)件90能夠全部被掃描測(cè)試及覆蓋，從而使測(cè)試范圍有較大提升。本實(shí)施例中適配器52的設(shè)計(jì)，需要將被測(cè)件90的接口電路1、2的RS422電平轉(zhuǎn)化成TTL電平接至邊界掃描器件51中FPGA，接口電路3、4的電平符合FPGA的接口電壓范圍，所以在適配器中將接口電路3、4直接接至邊界掃描器件51中FPGA的IO管腳。圖3中的JTAGO JTAG2均接入測(cè)試底板80上的JTAG路由器42，通過測(cè)試計(jì)算機(jī)10控制測(cè)試底板80上的邊界掃描控制器41發(fā)出符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量并采集測(cè)試結(jié)果，最后送回測(cè)試計(jì)算機(jī)10分析。實(shí)施例2如圖4所示，被測(cè)件為被測(cè)電路板90A，被測(cè)電路板90A上沒有JTAG接口，當(dāng)對(duì)被測(cè)電路板90A進(jìn)行掃描測(cè)試時(shí)，將邊界掃描器件51上的JTAGO接口接入測(cè)試底板80上的JTAG路由器42，通過測(cè)試計(jì)算機(jī)10控制測(cè)試底板80上的邊界掃描控制器41發(fā)出符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量并采集測(cè)試結(jié)果，以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)電路板90A上的ICl IC5的全部覆
至JHL ο本實(shí)施例中的適配器52無須設(shè)置電壓轉(zhuǎn)換部件521和電平轉(zhuǎn)換部件522。實(shí)施例3如圖5所示，被測(cè)件為被測(cè)電纜90B，被測(cè)電纜90B通過其接口連接器也即電纜連接器與適配器52相連，適配器52將被測(cè)電纜90B兩端分別接入邊界掃描器件51中的FPGA，這樣可以測(cè)得被測(cè)電纜90B所有信號(hào)之間的短路、斷路及虛短、虛斷故障。綜上所述，本實(shí)用新型為電路測(cè)試者提供了一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅適用于電路板的測(cè)試，還適用于電纜測(cè)試。對(duì)常規(guī)測(cè)試覆蓋不到的外圍電路可進(jìn)行有效的測(cè)試覆蓋，運(yùn)用設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單的適配器使得該測(cè)試系統(tǒng)適用于各種接口的數(shù)字電路，既提高了測(cè)試覆蓋率，又降低了測(cè)試成本。
權(quán)利要求1.一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括如下組成部分測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)，用于依次通過以太網(wǎng)接口(20)和以太網(wǎng)控制器(30)向JTAG控制器(40)發(fā)出測(cè)試指令，并依次通過以太網(wǎng)控制器(30)和以太網(wǎng)接口(20)接收自JTAG控制器(40)處發(fā)送來的測(cè)試結(jié)果；JTAG控制器(40)，用于接收測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)發(fā)送來的測(cè)試指令，并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量，所述JTAG控制器(40)通過JTAG接口(70)與被測(cè)件上的邊界掃描器件雙向通信相連，所述JTAG控制器(40)還通過邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)與被測(cè)件上的接口連接器相連；邊界掃描擴(kuò)展模塊(50 )，用于通過JTAG接口接收J(rèn)TAG控制器(40 )發(fā)送來的JTAG測(cè)試向量并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)對(duì)被測(cè)件發(fā)送用于測(cè)試覆蓋被測(cè)件上的接口連接器處待測(cè)器件的測(cè)試信號(hào)及接收測(cè)試結(jié)果，所述測(cè)試結(jié)果通過JTAG接口傳送至JTAG控制器(40);電源(60)，用于向以太網(wǎng)控制器(30)、JTAG控制器(40)、邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)提供用電。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述JTAG控制器(40)包括如下組成部分邊界掃描控制器(41)，用于依次通過以太網(wǎng)接口(20)和以太網(wǎng)控制器(30)接收測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)發(fā)送來的測(cè)試指令，并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量，所述邊界掃描控制器(41)依次通過以太網(wǎng)控制器(30)和以太網(wǎng)接口(20)向測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)發(fā)送測(cè)試結(jié)果；所述邊界掃描控制器(41)還與JTAG路由器(42)通過標(biāo)準(zhǔn)JTAG信號(hào)連接；JTAG路由器(42)，用于通過多路JTAG接口( 70)與被測(cè)件上的JTAG接口對(duì)應(yīng)相連，所述JTAG路由器(42)控制所述多路JTAG接口(70)向被測(cè)件和邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)同時(shí)發(fā)送JTAG測(cè)試向量并采集測(cè)試結(jié)果，然后將所采集到的測(cè)試結(jié)果傳送至邊界掃描控制器(41);所述JTAG路由器(42)與邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)采用標(biāo)準(zhǔn)JTAG信號(hào)連接；電源(60)與邊界掃描控制器(41)和JTAG路由器(42)均為電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)包括如下組成部分邊界掃描器件(51)，通過JTAG接口與JTAG路由器(42)通信連接，接收來自邊界掃描控制器(41)的JTAG測(cè)試向量，并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；邊界掃描器件(51)通過適配器(52)向被測(cè)件(90)發(fā)送測(cè)試信號(hào)，同時(shí)采集適配器(52)轉(zhuǎn)接來的被測(cè)件(90)的測(cè)試結(jié)果，再依次通過JTAG路由器(42)和邊界掃描控制器(41)將測(cè)試結(jié)果回傳至測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)；適配器(52)，用于使電源(60)與被測(cè)件之間的電壓信號(hào)相匹配和/或使邊界掃描器件(51)與被測(cè)件的接口連接器之間的電平信號(hào)相匹配；電源(60)與邊界掃描器件(51)和適配器(52)均為電連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述適配器(52)呈插條狀，適配器(52)的兩端設(shè)置有電壓轉(zhuǎn)換部件(521)，適配器(52)的中部設(shè)置有電平轉(zhuǎn)換部件(522)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述以太網(wǎng)接口(20)、以太網(wǎng)控制器(30)、邊界掃描控制器(41)、JTAG路由器(42)、邊界掃描器件(51)、適配器(52)、電源(60)以及多路JTAG接口(70)均整合安裝在同一個(gè)測(cè)試底板(80)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述邊界掃描器件(51)包括Altera公司的型號(hào)為EPF10K100EBC356-3的FPGA安置于測(cè)試底板(80)中，通過接口連接器與適配器(52)相連。
專利摘要本實(shí)用新型屬于電子設(shè)備的邊界掃描測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)。本測(cè)試系統(tǒng)包括電源、發(fā)出測(cè)試指令和接收測(cè)試結(jié)果的測(cè)試計(jì)算機(jī)、用于接收測(cè)試指令并產(chǎn)生JTAG測(cè)試向量的JTAG控制器，還包括用于擴(kuò)大被測(cè)件掃描測(cè)試覆蓋范圍的邊界掃描擴(kuò)展模塊，JTAG控制器通過各JTAG接口同時(shí)控制被測(cè)件及邊界掃描擴(kuò)展模塊中的邊界掃描器件，發(fā)出測(cè)試信號(hào)并將所采集到的測(cè)試結(jié)果通過JTAG控制器發(fā)送至測(cè)試計(jì)算機(jī)。本測(cè)試系統(tǒng)適用于電路板和電纜的測(cè)試，且可對(duì)常規(guī)測(cè)試覆蓋不到的外圍電路進(jìn)行有效的測(cè)試覆蓋，邊界掃描擴(kuò)展模塊中的適配器使得本測(cè)試系統(tǒng)適用于各種接口的數(shù)字電路，既提高了測(cè)試覆蓋率，又降低了測(cè)試成本。
文檔編號(hào)G01R31/3185GK202735479SQ20122045933
公開日2013年2月13日 申請(qǐng)日期2012年9月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月11日
發(fā)明者尤路, 劉軍, 夏勇, 張卿, 楊志謙 申請(qǐng)人:中國電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所