專利名稱：一種led光分布特性測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電光源測(cè)試裝置，尤其是LED光分布特性的測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
LED是發(fā)光二極管的簡(jiǎn)稱，是一種電致發(fā)光器件，即P — N結(jié)發(fā)光，屬于固態(tài)光源。LED被稱為第四代照明光源或綠色光源，因其節(jié)能環(huán)保、體積小壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于顯示、裝飾、城市夜景、道路等特殊照明領(lǐng)域。LED發(fā)光具有方向性及分布不均勻的特點(diǎn)，其光分布特性是分析和評(píng)價(jià)LED性能的重要指標(biāo)。實(shí)驗(yàn)室通過(guò)測(cè)量LED光強(qiáng)分布圖，經(jīng)過(guò)換算獲得LED的光均勻性參數(shù)來(lái)分析 LED的發(fā)光及照明效果。生產(chǎn)企業(yè)篩選LED和檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)檢驗(yàn)時(shí)都有必要對(duì)LED進(jìn)行光分布特性測(cè)試，進(jìn)而判斷LED質(zhì)量?jī)?yōu)劣。目前LED光分布特性的測(cè)量設(shè)備主要是分布光度計(jì)。然而分布光度計(jì)往往尺寸龐大、設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、操作步驟繁瑣、成本高昂，測(cè)試光分布特性的速度緩慢；另外，分布光度計(jì)一次只能測(cè)試一個(gè)LED光源，對(duì)大批量小尺寸的LED進(jìn)行檢測(cè)的時(shí)效性與性價(jià)比都很低，而且現(xiàn)有的分布光度計(jì)技術(shù)也不支持對(duì)多顆LED或LED陣列的光分布特性進(jìn)行同步測(cè)試。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服上述背景技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較低，能夠快速測(cè)量LED光分布特性、分析LED顆粒及LED陣列發(fā)光缺陷的LED光分布特性測(cè)試裝置。本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案為一種LED光分布特性測(cè)試裝置，包括計(jì)算機(jī)；其特征在于該裝置還包括一可調(diào)支架、固定在可調(diào)支架上的LED、通過(guò)導(dǎo)線接通LED的驅(qū)動(dòng)電源、正向面對(duì)著LED發(fā)光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光學(xué)掃描儀，所述光學(xué)掃描儀與計(jì)算機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)線連通。所述的可調(diào)支架包括底座、安裝在底座上的垂直桿、通過(guò)可調(diào)節(jié)的十字夾固定在垂直桿上的水平桿以及固定在水平桿前端用于固定LED的光源夾。所述的LED的發(fā)光面豎直朝下，所述漫射透光屏水平定位在LED的下邊且覆蓋在光學(xué)掃描儀的掃描臺(tái)上。所述漫射透光屏是磨砂PC膜板或毛玻璃。所述漫射透光屏尺寸與所述的光學(xué)掃描儀的掃描臺(tái)尺寸相同。本實(shí)用新型的工作原理是接通電源后，LED發(fā)出的光線近距離照射到所述的漫射透光屏后，在所述的漫射透光屏朝向掃描臺(tái)的一面(即漫射透光屏的背面)形成與LED光分布相對(duì)應(yīng)的明暗光斑；計(jì)算機(jī)通過(guò)掃描軟件控制所述的光學(xué)掃描儀掃描光斑獲取圖像后，經(jīng)圖像處理軟件處理就獲得LED光強(qiáng)分布圖，即可用于直觀判定LED光分布特性。本實(shí)用新型的有益效果是由于以光學(xué)掃描儀作為L(zhǎng)ED探測(cè)器件，且以計(jì)算機(jī)處理圖像，可迅速得到LED光強(qiáng)分布圖，進(jìn)而能夠直觀判定LED光分布特性。該裝置支持多顆LED同時(shí)同步測(cè)量光分布特性，能夠?qū)晤wLED的發(fā)光缺陷、LED陣列中的LED排列情況和光分布均勻性進(jìn)行診斷式分析，特別適用于批量LED光源的光分布特性快速檢測(cè)。另外，整套裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作便捷，成本極低。

圖I為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為測(cè)量單個(gè)LED得到的光強(qiáng)分布圖。圖3為測(cè)量LED陣列得到的光強(qiáng)分布圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖所示的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。 如圖I所示的LED光分布特性測(cè)試裝置中可調(diào)支架的底座I上安裝著垂直桿11，水平桿13通過(guò)十字夾12安裝在垂直桿上；通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)十字夾上的旋鈕可調(diào)節(jié)水平桿13高度；水平桿13前端(圖中的右端)安裝光源夾14，LED3通過(guò)光源夾夾緊固定于漫射透光屏4的上方；LED的發(fā)光面正對(duì)漫射透光屏4 (圖中顯示LED的發(fā)光面方向是豎直向下，由箭頭A表示)；調(diào)節(jié)十字夾可使LED3與漫射透光屏4保持測(cè)試所需的距離。驅(qū)動(dòng)電源2通過(guò)導(dǎo)線21連接并點(diǎn)亮LED，LED發(fā)出的發(fā)散光線，近距離照射到下方的漫射透光屏4，在漫射透光屏朝向光學(xué)掃描儀5的掃描臺(tái)一面形成與LED發(fā)光方向、發(fā)光強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)的明暗光斑,光斑包含LED的光分布信息。漫射透光屏水平放置并包覆著光學(xué)掃描儀的掃描臺(tái)區(qū)域，光學(xué)掃描儀掃描并記錄漫射透光屏4上的LED3的光斑。光學(xué)掃描儀通過(guò)與計(jì)算機(jī)6連接的數(shù)據(jù)線51,將光斑信號(hào)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)；由于光斑與LED發(fā)光角度、發(fā)光強(qiáng)度存在對(duì)應(yīng)關(guān)系；計(jì)算機(jī)通過(guò)圖像分析軟件及相關(guān)程序計(jì)算，即可將包含LED光分布信息的光斑圖轉(zhuǎn)換為某一發(fā)光面上的光強(qiáng)分布圖(如圖2所示)。測(cè)試多顆LED形成的LED陣列，光源夾上需接通LED陣列；通過(guò)光學(xué)掃描儀掃描、計(jì)算機(jī)處理后獲得的光強(qiáng)分布圖(如圖3所示)。所述漫射透光屏，應(yīng)選取對(duì)LED發(fā)出的光線具有一定的漫射效應(yīng)和透射效應(yīng)的材料(對(duì)LED光的透光率為I. 5%-80%);具體材料可以是磨砂PC (聚碳酸酯塑料)膜板(厚度
O.或是毛玻璃(厚度2mm-4mm)等。所述漫射透光屏尺寸與所述的光學(xué)掃描儀的掃描臺(tái)尺寸最好相同(一致)。作為推薦，所述的光學(xué)掃描儀具有300dpi以上的像素分辨率，216mmX 297mm的掃描尺寸。所述驅(qū)動(dòng)電源包括用于驅(qū)動(dòng)LED的直流電源和交流電源；推薦選用輸出電源大小可調(diào)的驅(qū)動(dòng)電源。以上所述的各種電氣元件及機(jī)械零部件可全部外購(gòu)獲得。最后還需注意的是，以上列舉的僅是本實(shí)用新型的具體實(shí)施例子。顯然，本實(shí)用新型不限于上述實(shí)施例子，還可以有許多功能擴(kuò)展，光源結(jié)構(gòu)和數(shù)量的變化、其它類似光源的更換等擴(kuò)展均應(yīng)認(rèn)為是本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種LED光分布特性測(cè)試裝置，包括計(jì)算機(jī)(6);其特征在于該裝置還包括一可調(diào)支架、固定在可調(diào)支架上的LED (3 )、通過(guò)導(dǎo)線(21)接通LED的驅(qū)動(dòng)電源(2 )、正向面對(duì)著LED發(fā)光面的漫射透光屏(4)、位于漫射透光屏背面的光學(xué)掃描儀(5)，所述光學(xué)掃描儀與計(jì)算機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)線(51)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種LED光分布特性測(cè)試裝置，其特征在于所述的可調(diào)支架包括底座(1)、安裝在底座上的垂直桿(11)、通過(guò)可調(diào)節(jié)的十字夾(12)固定在垂直桿上的水平桿(13)以及固定在水平桿前端用于固定LED的光源夾(14)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的一種LED光分布特性測(cè)試裝置，其特征在于所述的LED的發(fā)光面豎直朝下，所述漫射透光屏水平定位在LED的下邊且覆蓋在光學(xué)掃描儀的掃描臺(tái)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種LED光分布特性測(cè)試裝置，其特征在于所述漫射透光屏是磨砂PC膜板或毛玻璃。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種LED光分布特性測(cè)試裝置，其特征在于所述漫射透光屏尺寸與所述的光學(xué)掃描儀的掃描臺(tái)尺寸相同。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種LED光分布特性的測(cè)試裝置。所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供的裝置應(yīng)具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較低，能夠快速測(cè)量LED光分布特性、分析LED顆粒及LED陣列發(fā)光缺陷的LED光分布特性測(cè)試裝置的特點(diǎn)。技術(shù)方案是一種LED光分布特性測(cè)試裝置，包括計(jì)算機(jī)；其特征在于該裝置還包括一可調(diào)支架、固定在可調(diào)支架上的LED、通過(guò)導(dǎo)線接通LED的驅(qū)動(dòng)電源、正向面對(duì)著LED發(fā)光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光學(xué)掃描儀，所述光學(xué)掃描儀與計(jì)算機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)線連通。所述的可調(diào)支架包括底座、安裝在底座上的垂直桿、通過(guò)可調(diào)節(jié)的十字夾固定在垂直桿上的水平桿以及固定在水平桿前端用于固定LED的光源夾。
文檔編號(hào)G01J1/00GK202676282SQ20122027046
公開(kāi)日2013年1月16日 申請(qǐng)日期2012年6月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月6日
發(fā)明者朱騰飛, 蔣一成, 張俊, 蔡怡 申請(qǐng)人:杭州市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢測(cè)院