專利名稱：基于espr的重金屬分析儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于分析化學(xué)領(lǐng)域，具體涉及一種基于ESPR的重金屬分析儀。
背景技術(shù)：
隨著科學(xué)技術(shù)及經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，人類對環(huán)境的破壞越來越嚴(yán)重，排放到環(huán)境中的污染物種類越來越多，環(huán)境中的微量元素對于自然界是不可少的，但是，過量會(huì)對動(dòng)植物及人類帶來很大的危害，尤其是鎘、鉛、汞、鉻以及類金屬砷等生物毒性顯著的重金屬，即使是微量的也會(huì)對人體健康產(chǎn)生極大的危害，在了解重金屬離子毒性以及對環(huán)境的危害的基礎(chǔ)上，通過分析環(huán)境中金屬離子的種類、含量和存在形態(tài)，對其環(huán)境效應(yīng)提前做出預(yù)測，可有效防止環(huán)境的進(jìn)一步惡化以及帶來的災(zāi)難性后果。 目前，關(guān)于金屬離子的監(jiān)測方法有很多，GC、HPLC, FT-IR、GS/MS、原子吸收、ICP-MS、X射線熒光光譜法、比色法、離子色譜等方法已經(jīng)用于污染物的測定。雖然這些方法的靈敏度較高，但是實(shí)驗(yàn)耗資昂貴，運(yùn)行費(fèi)用高，并且測定的前處理工作要求精細(xì)。電化學(xué)方法儀器設(shè)備簡單，易自動(dòng)化，靈敏度和準(zhǔn)確度都很高，選擇性好，方法多樣，速度快，并且運(yùn)行費(fèi)用比較低，更具有實(shí)用性，在現(xiàn)代環(huán)境分析中得到了更廣泛的推廣。電化學(xué)也有其缺點(diǎn)，測定前期的樣品處理比較復(fù)雜，要求較高，若離子選擇性電極被污染，則會(huì)降低測定的靈敏度。而且常規(guī)電化學(xué)方法不能提供有效的空間分辨率。表面等離子體共振(SPR)技術(shù)是一種物理光學(xué)現(xiàn)象，對界面電荷密度變化非常敏感，具有實(shí)時(shí)監(jiān)測反應(yīng)動(dòng)態(tài)過程，分析樣品無需標(biāo)記，靈敏度高，無背景干擾等特點(diǎn)。將電化學(xué)方法與SPR結(jié)合的電化學(xué)/表面等離子體共振(ESPR)技術(shù)，也就是電化學(xué)原位時(shí)間分辨表面等離子體共振技術(shù)可以在電化學(xué)現(xiàn)場測量的同時(shí)對超薄膜表面的等離子體共振吸收進(jìn)行時(shí)間分辨測量，該技術(shù)用于分析領(lǐng)域，最初用于檢測電化學(xué)反應(yīng)的局部表面電勢，后來還包括局部表面的氧化還原反應(yīng)檢測，氧化還原反應(yīng)引起的蛋白質(zhì)表面構(gòu)象的變化，不同電勢控制下的DNA鏈的變性，電化學(xué)引起的高分子聚合作用等。相比較傳統(tǒng)的基于測量電流信號(hào)的電化學(xué)方法，這一技術(shù)更有利于研究發(fā)生在電極表面的非均相反應(yīng)，同時(shí)還可以用來測量反應(yīng)體系的光學(xué)性質(zhì)，可以幫助分析確定反應(yīng)機(jī)理。但是在直接測定分子量較低、濃度較低的樣品時(shí)，分析靈敏度也不夠高。因此，在以后的研究中，提高ESPR檢測的靈敏度、準(zhǔn)確度將使ESPR技術(shù)進(jìn)一步完善。另外采用ESPR檢測溶液中的金屬離子時(shí)，由于存在金屬的沉積/溶解過程，因此，對薄金屬膜板(Au膜)會(huì)有所損傷，使其應(yīng)用也受到一定的限制。現(xiàn)有的關(guān)于ESPR檢測溶液中的金屬離子時(shí)，僅采用單一的金電極，無法同時(shí)富集多目標(biāo)重金屬離子，不利于多目標(biāo)重金屬離子的測定。當(dāng)電極的尺寸從常規(guī)的毫米級降到微米級的時(shí)候，很多電化學(xué)行為發(fā)生了改變。在微電極上，只要擴(kuò)散層厚度達(dá)到100微米甚至更小就可以滿足穩(wěn)態(tài)條件，所以微電極的很多應(yīng)用都是基于穩(wěn)態(tài)的。微電極陣列(microelectrodes array,MEA)的使用可以使所需的樣品量比傳統(tǒng)普通電極大大減少。微電極陣列不僅所需試劑量少，體積小，批量生產(chǎn)一致性好，而且具有更高的電流密度和更好的信噪比。因此，將微電極陣列與電化學(xué)溶出伏安法相結(jié)合檢測重金屬，具有分析成本低，測定過程無需攪拌，儀器簡單輕便，響應(yīng)時(shí)間快，靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)。但是，目前并沒有電極陣列和電化學(xué)/表面等離子體共振(ESPR)技術(shù)相結(jié)合測定重金屬的儀器
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型為了克服以上現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供了一種基于ESPR的重金屬分析儀，該分析儀可以實(shí)現(xiàn)多目標(biāo)重金屬的同時(shí)檢測，提高檢測的靈敏度，提高空間分辨率，減少薄金屬膜板(陣列電極及其活性點(diǎn))的損傷。本實(shí)用新型的目的通過以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)本基于ESPR的重金屬分析儀，包括化學(xué)反應(yīng)部分、表面等離子體共振光譜儀和信息處理系統(tǒng)，化學(xué)反應(yīng)部分包括檢測池、對電極、參比電極、陣列電極和電化學(xué)工作站；陣列電極位于檢測池底部，對電極、參比電極插入檢測池內(nèi)，對電極、參比電極、陣列電極分別連接電化學(xué)工作站；電化學(xué)工作站、表面等離子體共振光譜儀分別連接信息處理系統(tǒng)；陣列電極包括多個(gè)活性點(diǎn)，活性點(diǎn)的的制備材料可為下述中的一種或幾種碳纖維、玻碳、碳納米管、石墨烯、富勒烯、金剛石、金、鉬、鉍、硼；陣列電極為經(jīng)過修飾的電極，所用的修飾物為殼聚糖、改性殼聚糖、殼聚糖/碳納米管復(fù)合物、漆酚樹脂、吡咯啶二硫代氨基甲酸銨、四羥基蒽醌中的一種或者幾種。陣列電極經(jīng)過修飾可以提高對重金屬離子的吸附性、選擇性和檢測靈敏度，降低檢測限，同時(shí)減少檢測過程中對活性點(diǎn)的損傷。所述表面等離子體共振光譜儀包括光源、棱鏡和SPR檢測器，棱鏡安裝在陣列電極下面，光源、棱鏡和SPR檢測器依次光路連接。所述SPR檢測器為分辨率高可以快速拍照的CXD照相機(jī)。所述光源為激光或者LED燈。上述的基于ESPR的重金屬分析儀的分析方法，包括陽極溶出伏安法、差分脈沖溶出伏安法、方波溶出伏安法、離子交換伏安法和微分脈沖溶出伏安法?；陔娀瘜W(xué)原位時(shí)間分辨表面等離子體共振技術(shù)，所述陽極溶出伏安法包括以下步驟(I)根據(jù)待檢測重金屬離子種類，選擇陣列電極，選擇修飾物，陣列電極經(jīng)過同位鍍膜工藝進(jìn)行修飾；(2)把待檢測溶液加入檢測池，電化學(xué)工作站給對電極、參比電極、陣列電極提供電壓，激光或者LED燈發(fā)出平行偏振光；(3)根據(jù)待檢測溶液的濃度，調(diào)節(jié)電化學(xué)工作站的電壓，調(diào)節(jié)平行偏振光的光強(qiáng)；根據(jù)待檢測溶液的介電常數(shù)，調(diào)節(jié)平行偏振光入射棱鏡的角度，找到共振角；(4)平行偏振光以共振角入射到棱鏡，透過棱鏡照射到陣列電極表面，導(dǎo)致陣列電極表面電子發(fā)生共振，電子吸收光能量，使反射光的強(qiáng)度達(dá)到最小，反射光射出棱鏡，SPR檢測器檢測反射光信號(hào)SPR信號(hào)，光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，傳送給信息處理系統(tǒng)；同時(shí)，三個(gè)電極富集溶液中的重金屬離子，電化學(xué)工作站收集信號(hào)，也傳送給信息處理系統(tǒng)；(5)分析過程中，電化學(xué)工作站對陣列電極施加不同的電壓進(jìn)行富集或者施加相反電壓除去富集的物質(zhì)，CXD照相機(jī)檢測整個(gè)過程中的SPR信號(hào)，CXD照相機(jī)測量陣列電極表面的等離子體共振吸收，進(jìn)行時(shí)間分辨，分析SPR信號(hào)得到測量重金屬離子的種類和濃度，信息處理系統(tǒng)根據(jù)SPR譜可得到所測溶液的電化學(xué)信息和光學(xué)信息，處理得到定性分析與定量分析所需的信息。所述重金屬離子為下述種類任意之一或組合鉛、鎘、銅、鉻、汞、鋅、砷、鈷、鎳、鈀、鐵。所述步驟(2)中，把待檢測溶液加入檢測池，同時(shí)進(jìn)行一個(gè)陣列電極同位鍍鉍的工藝把鉍鹽加入檢測池；檢測過程中，重金屬離子先還原成金屬薄膜再氧化溶出，同時(shí)，鉍離子跟著重金屬離子實(shí)現(xiàn)了還原再氧化溶出，鉍離子起到協(xié)同作用。陣列電極同位鍍鉍膜具有靈敏度高、電位窗口寬、對溶解氧不敏感等優(yōu)點(diǎn)，在修飾過的陣列電極上用同位鍍鉍膜的方法測重金屬離子，靈敏度較高，可實(shí)現(xiàn)多種重金屬離子的同時(shí)快速測定。本實(shí)用新型相對于現(xiàn)有技術(shù)具有如下的優(yōu)點(diǎn) I、本基于ESPR的重金屬分析儀，將電化學(xué)方法與SPR結(jié)合，可以非常有效的減小背景的干擾；由于背景反應(yīng)不會(huì)在電極表面形成固態(tài)產(chǎn)物，因此它對SPR檢測干擾非常小。但是，即使在沒有凈電流通過電極表面的情況下，只要電極表面有固態(tài)產(chǎn)物(如金屬化合物)的形成，SPR則有較為靈敏的響應(yīng)。2、本實(shí)用新型是一種全光學(xué)檢測，電化學(xué)噪音對ESPR基本無影響；共振角與介電常數(shù)有關(guān)，待測溶液的介電常數(shù)與其組成有關(guān)，若溶液組成發(fā)生改變，則共振角明顯變化，所以通過SPR譜(反射光強(qiáng)度與入射角的關(guān)系)，即可非常靈敏地對樣品進(jìn)行定性、定量分析。表面等離子體共振(surface Plasmon resonance, SPR)技術(shù)利用了金屬薄膜光學(xué)I禹合產(chǎn)生的物理光學(xué)現(xiàn)象，是一種非常靈敏的光學(xué)分析手段，因此電化學(xué)噪音對ESPR基本無影響。3、本實(shí)用新型采用合適的物質(zhì)修飾工作電極，既可以提高其靈敏度和選擇性，同時(shí)又減小了對活性點(diǎn)的損傷。采用ESPR檢測溶液中的金屬離子時(shí)，由于存在金屬的沉積/溶解過程，因此，對活性點(diǎn)(Au膜)會(huì)有所損傷，使其應(yīng)用也受到一定的限制。如果采用合適的配體對重金屬離子進(jìn)行絡(luò)合，則既能有選擇性地轉(zhuǎn)移重金屬離子，又可減小對活性點(diǎn)的損傷。4、本實(shí)用新型集成了陣列電極、SPR傳感器和電化學(xué)測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，擴(kuò)大了其各自的應(yīng)用范圍，對重金屬離子檢測具有多目標(biāo)同時(shí)檢測、高分辨率、高靈敏度、高選擇性和快響應(yīng)時(shí)間等特點(diǎn)，可廣泛應(yīng)用于淡水、海水、日常用品及體液中重金屬離子的檢測和日常監(jiān)測。5、表面等離子體共振(SPR)技術(shù)是一種物理光學(xué)現(xiàn)象，對界面電荷密度變化非常敏感，具有實(shí)時(shí)監(jiān)測反應(yīng)動(dòng)態(tài)過程，分析樣品無需標(biāo)記，靈敏度高，無背景干擾等特點(diǎn)。SPR與電化學(xué)測量技術(shù)結(jié)合，應(yīng)用到化學(xué)分析領(lǐng)域，擴(kuò)展了 SPR的應(yīng)用領(lǐng)域，同時(shí)也解決了電化學(xué)本身的一些局限，帶來了新的效果如簡化樣品的前期處理，提供有效的空間分辨率等。

圖I是本實(shí)用新型的基于ESPR的重金屬分析儀的三個(gè)電極與棱鏡的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是重金屬分析儀的整體圖；[0033]圖3是陣列電極的立體角度圖；圖4是重金屬分儀比較富集時(shí)間與SPR信號(hào)的關(guān)系圖；圖5是重金屬分儀比較富集電位與SPR信號(hào)的關(guān)系圖；圖6是對不同濃度Pb2+的檢測圖；圖7是表示圖6之重金屬濃度與SPR信號(hào)之間的相關(guān)系數(shù)圖；圖8是對不同濃度的Pb2+和Cu2+同時(shí)檢測圖；圖9是修飾陣列電極對不同濃度Pb2+的檢測圖；圖10是表示圖9之重金屬濃度與SPR信號(hào)之間的相關(guān)系數(shù)圖；圖11是修飾陣列電極對不同濃度的Cd2+、Pb2+和Cu2+同時(shí)檢測圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。實(shí)施例I :如圖I、圖2、圖3所示的基于ESPR的重金屬分析儀，化學(xué)反應(yīng)部分、表面等離子體共振光譜儀和信息處理系統(tǒng)1，化學(xué)反應(yīng)部分包括檢測池2、對電極3、參比電極4、陣列電極5和電化學(xué)工作站6 ;陣列電極位于檢測池底部，對電極、參比電極插入檢測池內(nèi)，對電極、參比電極、陣列電極分別連接電化學(xué)工作站；電化學(xué)工作站、表面等離子體共振光譜儀分別連接信息處理系統(tǒng)；陣列電極包括8個(gè)活性點(diǎn)7，活性點(diǎn)的的制備材料可為下述中的一種或幾種碳纖維、玻碳、碳納米管、石墨烯、富勒烯、金剛石、金、鉬、鉍、硼；陣列電極為經(jīng)過修飾的電極，所用的修飾物為殼聚糖、改性殼聚糖、殼聚糖/碳納米管復(fù)合物、漆酚樹脂、吡咯啶二硫代氨基甲酸銨、四羥基蒽醌中的一種或者幾種。陣列電極經(jīng)過修飾可以提高對重金屬離子的吸附性、選擇性和檢測靈敏度，降低檢測限，同時(shí)減少檢測過程中對活性點(diǎn)的損傷。表面等離子體共振光譜儀包括LED燈8、棱鏡9和分辨率高可以快速拍照的CXD照相機(jī)10，棱鏡安裝在陣列電極下面，LED燈發(fā)出的光通過棱鏡到達(dá)CCD照相機(jī)?；陔娀瘜W(xué)原位時(shí)間分辨表面等離子體共振技術(shù)，采用陽極溶出伏安法，包括以下步驟(I)根據(jù)待檢測重金屬離子種類，選擇陣列電極，選擇修飾物，陣列電極經(jīng)過同位鍍膜工藝進(jìn)行修飾；(2)把待檢測溶液加入檢測池，電化學(xué)工作站給對電極、參比電極、陣列電極提供電壓，激光或者LED燈發(fā)出平行偏振光；(3)根據(jù)待檢測溶液的濃度，調(diào)節(jié)電化學(xué)工作站的電壓，調(diào)節(jié)平行偏振光的光強(qiáng)；根據(jù)待檢測溶液的介電常數(shù)，調(diào)節(jié)平行偏振光入射棱鏡的角度，找到共振角；(4)平行偏振光以共振角入射到棱鏡，透過棱鏡照射到陣列電極表面，導(dǎo)致陣列電極表面電子發(fā)生共振，電子吸收光能量，使反射光的強(qiáng)度達(dá)到最小，反射光射出棱鏡，SPR檢測器檢測反射光信號(hào)SPR信號(hào)，光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，傳送給信息處理系統(tǒng)；同時(shí)，三個(gè)電極富集溶液中的重金屬離子，電化學(xué)工作站收集信號(hào)，也傳送給信息處理系統(tǒng)；[0054](5)分析過程中，電化學(xué)工作站對陣列電極施加不同的電壓進(jìn)行富集或者施加相反電壓除去富集的物質(zhì)，CXD照相機(jī)檢測整個(gè)過程中的SPR信號(hào)，CXD照相機(jī)測量陣列電極表面的等離子體共振吸收，進(jìn)行時(shí)間分辨，分析SPR信號(hào)得到測量重金屬離子的種類和濃度，信息處理系統(tǒng)根據(jù)SPR譜可得到所測溶液的電化學(xué)信息和光學(xué)信息，處理得到定性分析與定量分析所需的信息。所述重金屬離子為下述種類任意之一或組合鉛、鎘、銅、鉻、汞、鋅、砷、鈷、鎳、鈀、鐵。實(shí)施例2 為了提高分析靈敏度，可以在實(shí)施例的步驟(2)中，把待檢測溶液加入檢測池，同時(shí)進(jìn)行一個(gè)陣列電極同位鍍鉍的工藝把鉍鹽加入檢測池；檢測過程中，重金屬離子先還原成金屬薄膜再氧化溶出，同時(shí)，鉍離子跟著重金屬離子實(shí)現(xiàn)了還原再氧化溶出，鉍離子起到協(xié)同作用。陣列電極同位鍍鉍膜具有靈敏度高、電位窗口寬、對溶解氧不敏感等優(yōu)點(diǎn)，在 修飾過的陣列電極上用同位鍍鉍膜的方法測重金屬離子，靈敏度較高，可實(shí)現(xiàn)多種重金屬離子的同時(shí)快速測定。實(shí)施例3 圖4是分儀比較富集時(shí)間與SPR信號(hào)的關(guān)系的圖表；圖5是分儀比較富集電位與SPR信號(hào)的關(guān)系的圖表。如圖4所示當(dāng)富集時(shí)間從60s增加到180s時(shí)，SPR信號(hào)強(qiáng)度增加，當(dāng)富集時(shí)間繼續(xù)增加時(shí)，SPR信號(hào)強(qiáng)度變化不明顯；如圖5所示Pb2+的SPR信號(hào)強(qiáng)度隨著富集電位從-O. 9V至-1. 3V增加，當(dāng)電位更負(fù)時(shí)，SPR信號(hào)強(qiáng)度反而降低。因此，考慮測試時(shí)間和靈敏度，富集電位選擇-I. 3V，富集時(shí)間選擇180s，此條件下響應(yīng)電流最大。實(shí)施例4:圖6是對不同濃度Pb2+的檢測圖表；圖7是表示圖6之重金屬濃度與SPR信號(hào)之間的相關(guān)系數(shù)的圖表。如圖6所示，在O. IM NaClO4溶液中不同濃度的Pb2+的SPR信號(hào)與電壓的關(guān)系圖。其信號(hào)經(jīng)過相同條件下的O. IM NaClO4S白溶液校正。富集電位為_1. 3V，富集時(shí)間為3min。在-O. 6V—O. 4V電勢范圍內(nèi)SPR信號(hào)有明顯改變。如圖7所示相關(guān)系數(shù)值 R2 為 O. 9496。此實(shí)驗(yàn)表明了用本分析儀測量Pb2+線性非常好。實(shí)施例5 圖8是本實(shí)用新型實(shí)施例對不同濃度的Pb2+和Cu2+同時(shí)檢測圖表。如圖8所示，不同濃度的Pb2+和Cu2+同時(shí)檢測的SPR信號(hào)和電勢關(guān)系圖。在O. IMNaClO4溶液中Pb2+的SPR位移較負(fù)，在-O. 4V附近，Cu2+的SPR位移較正，在O. 2V附近。樣品溶液的富集電勢和時(shí)間分別為-I. 3V和3min。Pb2+的SPR位移改變電勢范圍為-O. 6V—0. 4V，Cu2+的SPR位移改變電勢范圍為O. 2V-OVο此實(shí)驗(yàn)說明了本分析儀同時(shí)測Pb2+和Cu2+，響應(yīng)時(shí)間快，分辨率和靈敏度高。實(shí)施例6 圖9是修飾工作電極對不同濃度Pb2+的檢測圖表；圖10是表示圖9之重金屬濃度與SPR信號(hào)之間的相關(guān)系數(shù)的圖表。如圖9所示，將殼聚糖復(fù)合在工作電極(即陣列電極)上，在修飾電極上用同位鍍鉍膜的方法，在O. IM NaClO4溶液測得的中不同濃度的Pb2+的SPR信號(hào)與電壓的關(guān)系圖。其信號(hào)經(jīng)過相同條件下的O. IM NaClO4S白溶液校正。富集電位為-1.3V，富集時(shí)間為3min。在-O. 6V—0. 4V電勢范圍內(nèi)SPR信號(hào)有明顯改變。其檢測線與裸金電極相比有所降低。如圖10所示各個(gè)相關(guān)系數(shù)值為O. 9878。此實(shí)驗(yàn)表明了用本分析儀測量不同濃度的Pb2+，線性都非常好。實(shí)施例7 圖11是修飾電極對不同濃度的Cd2+、Pb2+和Cu2+同時(shí)檢測圖表。如圖11所示，將殼聚糖復(fù)合在工作電極上，在修飾電極上用同位鍍鉍膜的方法，不同濃度的Cd2+、Pb2+和Cu2+同時(shí)檢測的SPR信號(hào)和電勢關(guān)系圖。在O. IM NaClO4溶液中Cd2+的SPR位移較負(fù)，在-O. 7V附近，Pb2+的SPR位移在-O. 45V附近，Cu2+的SPR位移較正，在O. 2V附近。樣品溶液的富集電勢和時(shí)間分別為-I. 3V和3min。Cd2+的SPR位移改變電勢范圍為-O. 75—0. 65V，Pb2+ 的SPR位移改變電勢范圍為-O. 65V—O. 45V，Cu2+的SPR位移改變電勢范圍為O. 2V-OV0此實(shí)驗(yàn)說明了本分析儀同時(shí)測Cd2+、Pb2+和Cu2+，響應(yīng)時(shí)間快，分辨率和靈敏度高。上述具體實(shí)施方式
為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，并不能對本實(shí)用新型進(jìn)行限定，其他的任何未背離本實(shí)用新型的技術(shù)方案而所做的改變或其它等效的置換方式，都包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.基于ESPR的重金屬分析儀，其特征在于包括化學(xué)反應(yīng)部分、表面等離子體共振光譜儀和信息處理系統(tǒng)，化學(xué)反應(yīng)部分包括檢測池、對電極、參比電極、陣列電極和電化學(xué)工作站； 陣列電極位于檢測池底部,對電極、參比電極插入檢測池內(nèi)，對電極、參比電極、陣列電極分別連接電化學(xué)工作站；電化學(xué)工作站、表面等離子體共振光譜儀分別連接信息處理系統(tǒng)； 陣列電極包括多個(gè)活性點(diǎn)，活性點(diǎn)的的制備材料可為下述中的一種碳纖維、玻碳、碳納米管、石墨烯、富勒烯、金剛石、金、鉬、秘、硼； 陣列電極為經(jīng)過修飾的電極，所用的修飾物為殼聚糖、改性殼聚糖、殼聚糖/碳納米管復(fù)合物、漆酚樹脂、吡咯啶二硫代氨基甲酸銨、四羥基蒽醌中的一種。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的基于ESPR的重金屬分析儀，其特征在于所述表面等離子體共振光譜儀包括光源、棱鏡和SPR檢測器，棱鏡安裝在陣列電極下面，光源、棱鏡和SPR檢測器依次光路連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于ESPR的重金屬分析儀，其特征在于所述SPR檢測器為CCD照相機(jī)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于ESPR的重金屬分析儀，其特征在于所述光源為激光或者LED燈。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種基于ESPR的重金屬分析儀，包括化學(xué)反應(yīng)部分、表面等離子體共振光譜儀和信息處理系統(tǒng)，化學(xué)反應(yīng)部分包括檢測池、對電極、參比電極、陣列電極和電化學(xué)工作站；陣列電極位于檢測池底部，對電極、參比電極插入檢測池內(nèi)，對電極、參比電極、陣列電極分別連接電化學(xué)工作站；電化學(xué)工作站、表面等離子體共振光譜儀分別連接信息處理系統(tǒng)。該分析儀可以實(shí)現(xiàn)多目標(biāo)重金屬的同時(shí)檢測，提高檢測的靈敏度，提高空間分辨率，減少薄金屬膜板(陣列電極及其活性點(diǎn))的損傷。
文檔編號(hào)G01N21/41GK202548053SQ20122017854
公開日2012年11月21日 申請日期2012年4月24日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月24日
發(fā)明者葉建山, 黃奕瑩 申請人:廣州盈思傳感科技有限公司