專利名稱：一種測試一體化光纖的表座的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及量具技術領域，具體涉及用于測試光通訊系統(tǒng)中的光電探測器耦合使用的一體化光纖焊接面到陶瓷端面的高度所需的工裝。
背景技術：
由于現(xiàn)有耦合技術是采用鋼針和插針套分離，這兩者之間需要激光焊接才能將這兩個器件進行連接。但器件由此焊點較多可靠性較差，為此改進后的耦合光纖的耦合端將插針套和鋼針做成一體化。如圖6所示。一體化光纖只有一個焊接面62，焊點會比以前的減少，可靠性提高。為提高生產效率，一體化光纖6耦合端焊接面62到斜8°陶瓷端面61 最高點611必須設計到一個合理的高度h。此高度h的測量必須很精準，如果用游標卡尺測量誤差較大，會導致耦合時損壞器件。因此，測量此高度h成為一個很難完成的工序。
發(fā)明內容本實用新型的發(fā)明目的是提供一種測試一體化光纖的表座以解決對一體化光纖的上述高度測量時存在的問題。為達到上述發(fā)明目的，本實用新型所采用的技術方案為提供了一種測試一體化光纖的表座，包括基板、百分表安裝架；所述百分表安裝架設置有百分表安裝孔，并設置于基板的中段；其特征在于還包括有光纖測試頭安裝板和光纖測試頭；所述光纖測試頭安裝板設置有安裝光纖測試頭的光纖測試頭安裝孔，并設置于所述基板的一端；所述光纖測試頭設置有光纖測試孔，并安裝在所述光纖測試頭安裝孔內。其特征進一步在于所述光纖測試孔的軸心線與所述百分表安裝孔的軸心線重
I=I O本表座是專為新型的一體化光纖所設計的。待耦合的一體化光纖6需要測試耦合端焊接面62到斜8°陶瓷端面61最高點611的高度h時，先用一根標準光纖來校準百分表 5，校準后則將待耦合的一體化光纖6的耦合端插入光纖測試孔41進行測試。該高度h將快速、準確的在百分表5上顯示出來。由此，大大提高測試的速度和測量準確度。

圖1為本實用新型的測量狀態(tài)示意圖；圖2為光纖測試頭安裝板的結構示意圖；圖3為光纖測試頭安裝板的側視圖；圖4為光纖測試頭的結構示意圖；圖5為光纖測試頭的剖視圖；圖6為一體化光纖的結構示意圖。其中1、基板，2、百分表安裝架，21，百分表安裝孔，3、光纖測試頭安裝板，31、光纖測試頭安裝孔，4、光纖測試頭，41、光纖測試孔，5、百分表，51、傳動桿，52、接觸頭，6、一體化光纖，61、陶瓷端面，611、最高點，62、焊接面，h、高度。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的具體實施方式
做詳細地描述如圖1-5所示，該測試一體化光纖的表座包括基板1、百分表安裝架2 ；所述百分表安裝架2設置有百分表安裝孔21，并設置于基板1的中段；還包括有光纖測試頭安裝板3和光纖測試頭4 ；所述光纖測試頭安裝板3設置有安裝光纖測試頭4的光纖測試頭安裝孔31， 并設置于所述基板1的一端；所述光纖測試頭4設置有光纖測試孔41，并安裝在所述光纖測試頭安裝孔31內。所述光纖測試孔41的軸心線與所述百分表安裝孔21的軸心線重合。如圖1、6所示，百分表5通過百分表安裝孔21安裝固定，其傳動桿51端部的接觸頭52伸入光纖測試頭4內，測量時接觸頭52與一體化光纖6耦合端斜8°陶瓷端面61最高點611接觸。待耦合的一體化光纖6需要測試如圖6所示的高度h時，先用一根標準光纖來校準百分表5，校準后則將待耦合的一體化光纖6的耦合端插入光纖測試孔41進行測試。該高度h將快速、準確的在百分表5上顯示出來。由此，大大提高測試的速度和測量準確度。本實用新型并不限于上述實例，在本實用新型的權利要求書所限定的范圍內，本領域技術人員不經創(chuàng)造性勞動即可做出的各種變形或修改均受本專利的保護。
權利要求1.一種測試一體化光纖的表座，包括基板(1)、百分表安裝架(2)；所述百分表安裝架 (2)設置有百分表安裝孔(21)，并設置于基板(1)的中段；其特征在于還包括有光纖測試頭安裝板(3)和光纖測試頭(4);所述光纖測試頭安裝板(3)設置有安裝光纖測試頭(4)的光纖測試頭安裝孔(31)，并設置于基板(1)的一端；所述光纖測試頭(4)設置有光纖測試孔 (41)，并安裝在光纖測試頭安裝孔(31)內。
2.根據(jù)權利要求1所述的測試一體化光纖的表座，其特征在于所述光纖測試孔(41) 的軸心線與所述百分表安裝孔(21)的軸心線重合。
專利摘要本實用新型公開了一種測試一體化光纖的表座，包括基板、百分表安裝架；所述百分表安裝架設置有百分表安裝孔，并設置于基板的中段；還包括有光纖測試頭安裝板和光纖測試頭；所述光纖測試頭安裝板設置有安裝光纖測試頭的光纖測試頭安裝孔，并設置于基板的一端；所述光纖測試頭設置有光纖測試孔，并安裝在所述光纖測試頭安裝孔內。本表座是專為新型的一體化光纖所設計的。校準后百分表后將待耦合的一體化光纖的耦合端插入光纖測試孔進行測試。一體化光纖耦合端焊接面到斜8°陶瓷端面最高點的高度將快速、準確的在百分表上顯示出來。由此，大大提高測試的速度和測量準確度。
文檔編號G01B5/02GK202119357SQ201120225129
公開日2012年1月18日 申請日期2011年6月29日 優(yōu)先權日2011年6月29日
發(fā)明者鄧焰 申請人:成都天潤光電有限責任公司