專利名稱：一種圖像法顆粒分析儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種用圖像法測(cè)量和分析顆粒粒度和形貌的測(cè)量裝置，特別涉及一種可更換的自帶照明光源和樣品池的顯微物鏡的粒度儀。
背景技術(shù)：
近年來隨CXD和CMOS數(shù)字相機(jī)的發(fā)展，采用數(shù)字相機(jī)代替?zhèn)鹘y(tǒng)顯微鏡上的目鏡構(gòu)成的圖像法顆粒粒度分析儀已得到廣泛應(yīng)用。圖像法顆粒粒度儀根據(jù)被測(cè)顆粒是出于靜止?fàn)顟B(tài)還是流動(dòng)狀態(tài)分成靜態(tài)圖像法顆粒粒度儀和動(dòng)態(tài)圖像法顆粒粒度儀。靜態(tài)圖像法顆粒粒度儀是在顯微鏡上改進(jìn)，用CXD或CMOS數(shù)字?jǐn)z像頭或數(shù)字相機(jī)替代顯微鏡上原有目鏡， 顆粒樣品放在載玻片上，數(shù)字?jǐn)z像機(jī)或數(shù)字相機(jī)拍攝到顆粒的顯微圖像后將輸出信號(hào)送到計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，得到顆粒的圖像，進(jìn)一步用顆粒粒度分析軟件得到顆粒的粒度分布，形狀等參數(shù)。在測(cè)量不同大小顆粒時(shí)可以用顯微鏡上的旋轉(zhuǎn)式物鏡機(jī)構(gòu)換用不同放大倍率的物鏡，但照明光源系統(tǒng)仍是同一個(gè)，并不因更換物鏡而變化。動(dòng)態(tài)圖像法顆粒粒度儀則是將載玻片改成流動(dòng)樣品池，顆粒從樣品池的一端流入，從另一端流出。在測(cè)量粉體的動(dòng)態(tài)圖像法顆粒粒度儀中，該樣品池可以僅是個(gè)測(cè)量空間。動(dòng)態(tài)圖像顆粒粒度儀中被測(cè)顆粒處于流動(dòng)狀態(tài)，顆粒不宜粘連或團(tuán)聚，可以得到更準(zhǔn)確的結(jié)果。由于圖像法顆粒粒度儀是從傳統(tǒng)顯微鏡改進(jìn)而來，傳統(tǒng)顯微鏡結(jié)構(gòu)使得圖像法顆粒粒度儀的尺寸比較大，適合在實(shí)驗(yàn)室分析顆粒樣品，但不適合到現(xiàn)場(chǎng)等的顆粒分析。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中圖像法顆粒粒度儀結(jié)構(gòu)較大，不適合便攜的缺點(diǎn)，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可以方便更換不同放大倍率顯微物鏡部件的圖像法顆粒粒度儀。本實(shí)用新型的基本原理將微型光源，如發(fā)光二極管作為圖像法測(cè)量時(shí)的光源，分別布置在樣品池的下方，作為透射測(cè)量的光源，以及布置在顯微物鏡周圍，作為反射測(cè)量的光源。顯微物鏡、透射光源、反射光源、樣品池或載波片以及樣品池微距調(diào)整機(jī)構(gòu)構(gòu)成一個(gè)整體。在需要根據(jù)被測(cè)顆粒大小不同更換不同放大倍率物鏡時(shí)，將裝有上述所有部件整體更換。這樣可以大大減小圖像法顆粒粒度儀的外形尺寸，同時(shí)可以有很大的顆粒粒度測(cè)量范圍。基于上述發(fā)明原理，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種圖像法顆粒分析儀，其特征在于，該分析儀從上到下依次為數(shù)字相機(jī)、顯微物鏡、反射光源、樣品池或載波片、微距調(diào)整支架以及透射光源構(gòu)成，所述顯微物鏡、反射光源、透射光源、樣品池或載波片及微距調(diào)整支架構(gòu)成一個(gè)整體部件。所述的樣品池或載波片與透射光源之間增置有全反棱鏡或反射鏡，并將透射光源布置成與顯微物鏡光軸成90度角，通過全反棱鏡或反射鏡等將光折轉(zhuǎn)90度，照亮樣品池或載玻片上的顆粒樣品。所述的反射光源、透射光源均采用發(fā)光二極管。所述的樣品池或載波片布置在微距調(diào)整支架上，測(cè)量時(shí)，調(diào)整該支架得到清晰的圖像。所述顯微物鏡、反射光源、透射光源、樣品池或載波片及微距調(diào)整支架構(gòu)成一個(gè)整體部件，該整體部件可以很方便地與數(shù)字相機(jī)拆裝相連，構(gòu)成圖像法顆粒粒度分析儀。本實(shí)用新型的有益效果是采用該結(jié)構(gòu)后可以大大減小圖像法顆粒粒度儀的尺寸，構(gòu)成易于攜帶的具有寬粒度測(cè)量范圍的微型圖像法顆粒粒度儀。

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例1示意圖；圖2本實(shí)用新型為實(shí)施例2示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例1 由圖1所示，一種圖像法顆粒分析儀，其特點(diǎn)是，該分析儀從上到下依次為數(shù)字相機(jī)1、顯微物鏡2、反射光源3、透射光源7、樣品池5或載波片4以及微距調(diào)整支架6構(gòu)成， 所述顯微物鏡2、反射光源3、透射光源7、樣品池5或載波片4及微距調(diào)整支架6構(gòu)成一個(gè)整體部件；所述的反射光源3、透射光源7均采用白光二極管。透射法測(cè)量時(shí)，位于最下面的透射光源7發(fā)出的光照亮樣品池5或載玻片4上的顆粒樣品，顆粒圖像被顯微物鏡2放大成像在像平面上，放大的圖像被數(shù)字相機(jī)1接收后獲得的圖像信號(hào)送到計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理，得到顆粒粒度分布和形狀因子參數(shù)；由于顯微物鏡的景深很小，為得到清晰的圖像，樣品池布置在微距調(diào)整支架6上，測(cè)量時(shí)可以調(diào)整該支架得到清晰的圖像。反射法測(cè)量時(shí)，透射光源7不發(fā)光，反射光源3發(fā)光，照亮樣品池或載玻片上的顆粒樣品，顆粒圖像被顯微物鏡2放大成像在像平面上，放大的圖像被數(shù)字相機(jī)接收后獲得的圖像信號(hào)送到計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理，得到顆粒粒度分布和形狀因子參數(shù)。圖1中的虛線框表示在該虛線框內(nèi)的器件構(gòu)成1個(gè)整體部件，該整體部件做成可更換形式，其中顯微物鏡的倍率不同。在不同大小顆粒測(cè)量時(shí)可以根據(jù)需要換用具有不同放大倍率顯微物鏡的部件以滿足測(cè)量的要求。實(shí)施例2 考慮到結(jié)構(gòu)需要時(shí)，可在樣品池或載波片與透射光源之間增置有全反棱鏡或反射鏡，并將透射光源布置成與顯微物鏡光軸成90度角，通過全反棱鏡或反射鏡等將光折轉(zhuǎn)90 度，照亮樣品池或載玻片上的顆粒樣品。顆粒圖像被顯微物鏡2放大成像在像平面上，放大的圖像被數(shù)字相機(jī)1接收后獲得的圖像信號(hào)送到計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理，得到顆粒粒度分布和形狀因子參數(shù)。
權(quán)利要求1.一種圖像法顆粒分析儀，其特征在于，該分析儀從上到下依次為數(shù)字相機(jī)、顯微物鏡、反射光源、樣品池或載波片以及微距調(diào)整支架、透射光源構(gòu)成，所述顯微物鏡、反射光源、透射光源、樣品池或載波片及微距調(diào)整支架構(gòu)成一個(gè)整體部件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像法顆粒分析儀，其特征在于，所述的樣品池或載波片與透射光源發(fā)光二極管之間增置有全反棱鏡或反射鏡，并將透射光源發(fā)光二極管布置成與顯微物鏡光軸成90度角，通過全反棱鏡或反射鏡等將光折轉(zhuǎn)90度，照亮樣品池或載玻片上的顆粒樣品。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的圖像法顆粒分析儀，其特征在于，所述的反射光源、透射光源均采用發(fā)光二極管。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的圖像法顆粒分析儀，其特征在于，所述的樣品池或載波片布置在微距調(diào)整支架上，測(cè)量時(shí)，調(diào)整該支架得到清晰的圖像。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種圖像法顆粒分析儀，其特點(diǎn)是，該分析儀從上到下依次為數(shù)字相機(jī)、顯微物鏡、反射光源、樣品池或載波片、微距調(diào)整支架以及透射光源構(gòu)成，所述的反射光源、透射光源均采用發(fā)光二極管，所述的樣品池或載波片布置在微距調(diào)整支架上，測(cè)量時(shí)，調(diào)整該支架得到清晰的圖像；透射光源亮，反射光源不亮，用透射法測(cè)量；反射光源亮，透射光源不亮，用反射法測(cè)量；顯微物鏡、發(fā)光光源、樣品池構(gòu)成一個(gè)整體部件，該整體部件可以很方便地與數(shù)字相機(jī)拆裝相連，構(gòu)成圖像法顆粒粒度分析儀。本實(shí)用新型的有益效果是采用該結(jié)構(gòu)后可以大大減小圖像法顆粒粒度儀的尺寸，構(gòu)成易于攜帶的具有寬粒度測(cè)量范圍的微型圖像法顆粒粒度儀。
文檔編號(hào)G01N15/02GK202101916SQ20112007062
公開日2012年1月4日 申請(qǐng)日期2011年3月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月17日
發(fā)明者蘇明旭, 蔡小舒 申請(qǐng)人:上海理工大學(xué)