專利名稱：一種光場光能量陣列測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及激光的功率和能量的檢測，尤其是一種適用于大型斑狀激光的能量分布均勻性檢測的光場光能量陣列測量裝置。
背景技術(shù)：
目前，對光斑均勻性檢測一般采用激光功率計進行多點測試記錄后，再進行對測量點功率值比較分析來判斷光斑能量是否符合要求。此種測量方式復雜，效率低。

實用新型內(nèi)容本實用新型為解決背景技術(shù)中存在的技術(shù)問題，而提供一種可一次進行多點檢測且可較快判斷出光斑的均勻性的光場光能量陣列測量裝置。本實用新型的技術(shù)解決方案是本實用新型為一種光場光能量陣列測量裝置，其特殊之處在于該裝置包括光電接收頭和MCU處理系統(tǒng)，所述光電接收頭與MCU處理系統(tǒng)連接。該裝置還包括放大電路，所述光電接收頭通過放大電路與MCU處理系統(tǒng)連接。該裝置還包括調(diào)零電路和標定電路，所述調(diào)零電路和標定電路分別與放大電路連接。該裝置還包括數(shù)據(jù)顯示裝置，所述數(shù)據(jù)顯示裝置與MCU處理系統(tǒng)連接。該裝置還包括電源管理系統(tǒng)，所述電源管理系統(tǒng)負責給MCU處理系統(tǒng)、放大電路、 調(diào)零電路、標定電路和數(shù)據(jù)顯示裝置供電。上述光電接收頭包括光電接收器件和光電接收頭外殼，所述光電接收器件成陣列排布在光電接收頭外殼上。上述光電接收器件為光電池或光電二極管。上述放大電路采用0P07C放大器。上述調(diào)零電路采用電阻R9、R7、R11和電位器R27組成，所述電阻R9、R7、R11分別和電位器R27相接，通過調(diào)節(jié)電位器R27使輸出為零，所述標定電路主要由VR3電位器構(gòu)成。上述數(shù)據(jù)顯示裝置為LED顯示裝置或IXD顯示裝置。本實用新型采用的光電接收頭，是對光電接收器件的陣列排布，對被檢測光場的光能量或功率進行檢測。通過成陣列排布的光電接收器件可一次進行多點檢測，然后通過 MCU處理系統(tǒng)進行運算比較，不但可以直接通過LED或IXD顯示出測量各點的功率值，還可以較快判斷出光斑的均勻性。

圖1為本實用新型的原理框圖；圖2為本實用新型的放大電路原理圖；[0017]圖3為本實用新型的光電接收頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
參見圖1，本實用新型包括光電接收頭、MCU處理系統(tǒng)、放大電路、調(diào)零電路、標定電路、電源管理系統(tǒng)和數(shù)據(jù)顯示裝置，光電接收頭通過放大電路與MCU處理系統(tǒng)連接，調(diào)零電路和標定電路分別與放大電路連接，數(shù)據(jù)顯示裝置與MCU處理系統(tǒng)連接，電源管理系統(tǒng)負責給MCU處理系統(tǒng)、放大電路、調(diào)零電路、標定電路和數(shù)據(jù)顯示裝置供電。其中數(shù)據(jù)顯示裝置為LED顯示裝置或IXD顯示裝置。參見圖2，本實用新型中放大電路是對光電接收器件采集的光電信號進行放大，采用0P07C放大器。調(diào)零電路減小外界光的干擾的補償電路，是保證在自然光照下0P07C放大器輸出為零即無信號輸出，采用電阻R9、R7、R11和電位器R27組成，通過調(diào)節(jié)電位器R27使輸出為零。標定電路是系統(tǒng)所測的功率值與標準功率值相同，由20K的VR3電位器構(gòu)成，通過調(diào)整電位器使輸出與標準功率值相同。參見圖3，本實用新型的光電接收頭包括光電接收器件1和光電接收頭外殼2，光電接收器件1成陣列排布在光電接收頭外殼上。本實施例采用是五個光電接收器件1，光電接收器件1為光電池或光電二極管。本實用新型工作時，陣列的排布光電接收器件1將各個位置光斑的能量轉(zhuǎn)化為微弱的電信號；放大電路將此信號放大到可以處理的程度；并將此信號送入MCU處理系統(tǒng)的 AD采樣口 ；MCU處理系統(tǒng)將采集到的值進行運算和顯示，直接通過LED或IXD顯示出測量各點的功率值，或通過通訊接口傳送給其它系統(tǒng)；通過調(diào)整調(diào)零電路，使在沒有光照時電路的輸出為零；通過調(diào)整標定電路使功率值與標準功率值相同。
權(quán)利要求1.一種光場光能量陣列測量裝置，其特征在于該裝置包括光電接收頭和MCU處理系統(tǒng)，所述光電接收頭與MCU處理系統(tǒng)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于該裝置還包括放大電路，所述光電接收頭通過放大電路與MCU處理系統(tǒng)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于該裝置還包括調(diào)零電路和標定電路，所述調(diào)零電路和標定電路分別與放大電路連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于該裝置還包括數(shù)據(jù)顯示裝置，所述數(shù)據(jù)顯示裝置與MCU處理系統(tǒng)連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于該裝置還包括電源管理系統(tǒng)，所述電源管理系統(tǒng)負責給MCU處理系統(tǒng)、放大電路、調(diào)零電路、標定電路和數(shù)據(jù)顯示裝置供電。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4或5所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于 所述光電接收頭包括光電接收器件和光電接收頭外殼，所述光電接收器件成陣列排布在光電接收頭外殼上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于所述光電接收器件為光電池或光電二極管。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于所述放大電路采用 0P07C放大器。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于所述調(diào)零電路采用電阻R9、R7、Rll和電位器R27組成，所述電阻R9、R7、Rll分別和電位器R27相接，通過調(diào)節(jié)電位器R27使輸出為零，所述標定電路主要由VR3電位器構(gòu)成。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光場光能量陣列測量裝置，其特征在于所述數(shù)據(jù)顯示裝置為LED顯示裝置或IXD顯示裝置。
專利摘要本實用新型涉及一種適用于大型斑狀激光的能量分布均勻性檢測的光場光能量陣列測量裝置。該裝置包括光電接收頭和MCU處理系統(tǒng)，所述光電接收頭與MCU處理系統(tǒng)連接。本實用新型可一次進行多點檢測且可較快判斷出光斑的均勻性。
文檔編號G01J1/44GK201935732SQ20102066952
公開日2011年8月17日 申請日期2010年12月19日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月19日
發(fā)明者孫建華, 袁科, 郭建 申請人:西安華科光電有限公司