專利名稱：光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢查裝置，尤其涉及一種光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置。
背景技術(shù)：
目前的光譜樣塊檢查工序在中轉(zhuǎn)包中取樣，送到光譜室進(jìn)行檢測(cè)。具體來(lái)說(shuō)，在此 期間光譜室須將樣塊作切削加工平整后才能準(zhǔn)確作光譜分析。但是樣塊作切削加工目前是 送到(CNC)車床來(lái)加工，一是有殺雞用牛刀的感覺(jué)，二是(CNC)車床是有生產(chǎn)任務(wù)的，樣塊 加工材質(zhì)不同，又得中斷生產(chǎn)，三是沒(méi)有生產(chǎn)任務(wù)時(shí)(CNC)車床無(wú)人操作，影響樣塊加工， 四是安排一專人來(lái)為車樣塊又浪費(fèi)人力成本。并且，即使是使用普通車床來(lái)加工，由于不同 的樣塊的大小不同，使得每件加工時(shí)都要花較多時(shí)間來(lái)加工。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的以上問(wèn)題，提供一種光譜樣塊用簡(jiǎn)易
檢查裝置。為實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的目的光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，包括有裝置支架，所述的裝 置支架上端分布有檢查臺(tái)板，其中所述的檢查臺(tái)板上至少分布有三個(gè)勾爪，所述的三個(gè)勾 爪之間預(yù)留有光譜樣塊卡接空間。進(jìn)一步地，上述的光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，其中，所述的三個(gè)勾爪呈圓環(huán)狀等距 離分布。更進(jìn)一步地，上述的光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，其中，所述的勾爪上分布有引導(dǎo)斜采用本實(shí)用新型技術(shù)方案，其占地面積小，在試驗(yàn)室內(nèi)可以存放，不會(huì)影響到工廠 本身的布局改變。更為重要的是，本實(shí)用新型無(wú)需對(duì)樣塊進(jìn)行切削加工的平整工序，提升了 檢測(cè)速度。并且，配合專用樣塊模具使用效果最佳。本實(shí)用新型的目的、優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)，將通過(guò)下面優(yōu)先實(shí)施例的非限制性說(shuō)明進(jìn)行圖 示和解釋，這些實(shí)施例是參照附圖僅作為例子給出的。

圖1是本光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置的正面使用示意圖；圖2是本光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置的側(cè)面使用示意圖圖3是勾爪上帶有引導(dǎo)斜面的構(gòu)造示意圖；圖4是勾爪上帶有引導(dǎo)斜面的使用示意圖。圖中各附圖標(biāo)記的含義如下1檢查臺(tái)板 2勾爪3光譜樣塊 4引導(dǎo)斜面具體實(shí)施方式
如圖1 4所示的光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，包括有裝置支架，在裝置支架的上端 分布有檢查臺(tái)板1，其特別之處在于本實(shí)用新型所采用的檢查臺(tái)板1上至少分布有三個(gè)勾 爪2。并且，該三個(gè)勾爪2之間預(yù)留有光譜樣塊卡接空間。結(jié)合本實(shí)用新型一較佳的實(shí)施方式來(lái)看，為了能夠適應(yīng)絕大多數(shù)的光譜樣塊3，實(shí) 現(xiàn)第一時(shí)間的定位取樣，本實(shí)用新型所采用的三個(gè)勾爪2呈圓環(huán)狀等距離分布。同時(shí)，考慮 到操作人員取放光譜樣塊3的便捷程度，在勾爪2上分布有引導(dǎo)斜面4。這樣，還能夠避免 勾爪2對(duì)光譜樣塊3的外圍進(jìn)行刮傷的情況。從本實(shí)用新型的實(shí)施過(guò)程來(lái)看，其操作過(guò)程十分便捷，使用者僅需要將光譜樣塊3 放置到卡接空間內(nèi)，即可實(shí)現(xiàn)三個(gè)勾爪2對(duì)光譜樣塊3的卡接定位。免去了將樣塊作切削 加工平整的過(guò)程。通過(guò)上述的文字表述并結(jié)合附圖可以看出，采用本實(shí)用新型后，其占地面積小，在 試驗(yàn)室內(nèi)可以存放，不會(huì)影響到工廠本身的布局改變。更為重要的是，本實(shí)用新型無(wú)需對(duì)樣 塊進(jìn)行切削加工的平整工序，提升了檢測(cè)速度。并且，配合專用樣塊模具使用效果最佳。當(dāng)然，以上僅是本實(shí)用新型的具體應(yīng)用范例，對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不構(gòu)成任 何限制。除上述實(shí)施例外，本實(shí)用新型還可以有其它實(shí)施方式。凡采用等同替換或等效變 換形成的技術(shù)方案，均落在本實(shí)用新型所要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，包括有裝置支架，所述的裝置支架上端分布有檢查臺(tái)板， 其特征在于所述的檢查臺(tái)板上至少分布有三個(gè)勾爪，所述的三個(gè)勾爪之間預(yù)留有光譜樣 塊卡接空間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，其特征在于所述的三個(gè)勾爪呈 圓環(huán)狀等距離分布。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，其特征在于所述的勾爪上分布 有引導(dǎo)斜面。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種光譜樣塊用簡(jiǎn)易檢查裝置，包括有裝置支架，在裝置支架的上端分布有檢查臺(tái)板，其特點(diǎn)是本實(shí)用新型所采用的檢查臺(tái)板上至少分布有三個(gè)勾爪。并且該三個(gè)勾爪之間預(yù)留有光譜樣塊卡接空間。本實(shí)用新型占地面積小，在試驗(yàn)室內(nèi)可以存放，不會(huì)影響到工廠本身的布局改變。更為重要的是，本實(shí)用新型無(wú)需對(duì)樣塊進(jìn)行切削加工的平整工序，提升了檢測(cè)速度。并且，配合專用樣塊模具使用效果最佳。
文檔編號(hào)G01N21/25GK201917516SQ201020645519
公開(kāi)日2011年8月3日 申請(qǐng)日期2010年12月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月7日
發(fā)明者許福壽 申請(qǐng)人:蘇州春興精工股份有限公司