專利名稱：楔形塞尺校準(zhǔn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種校準(zhǔn)裝置，尤其涉及一種用于對(duì)楔形塞尺的刻度進(jìn)行校準(zhǔn)的
裝置。
背景技術(shù)：
楔形塞尺是用于對(duì)部件之間的間隙進(jìn)行測(cè)量的一種器具，目前市場(chǎng)上契形塞尺一 般為進(jìn)口的較多如韓國(guó)、日本，國(guó)內(nèi)的臺(tái)灣也有生產(chǎn)，其它生產(chǎn)較少。現(xiàn)階段國(guó)家未有對(duì)楔 形塞尺進(jìn)行校準(zhǔn)的相應(yīng)規(guī)程，因此契形塞尺量值溯源成為一大攻關(guān)的課題，而量值準(zhǔn)確是 反映產(chǎn)品質(zhì)量控制的基礎(chǔ)保證。該問(wèn)題主要是由于契形塞尺校準(zhǔn)時(shí)的定位不準(zhǔn)造成的。而 該校準(zhǔn)缺少試驗(yàn)手段不能判斷其示值性能是否合格，因此該問(wèn)題久久未能解決，給生產(chǎn)和 質(zhì)量帶來(lái)了較大影響?，F(xiàn)在對(duì)楔形塞尺通行的校準(zhǔn)的手段是采用量塊組合進(jìn)行檢測(cè)，該手 段是先利用三塊或四塊量塊組合成具有一定尺寸空間測(cè)量體，然后再往該空間內(nèi)插入塞 尺，利用相互平行的兩塊量塊與塞尺相接觸，看接觸點(diǎn)位置處的示值與量塊之間的距離是 否一致，或誤差的大小。這種校準(zhǔn)手段在進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)易造成量塊測(cè)量面被塞尺不小心劃傷， 測(cè)量時(shí)又需對(duì)量塊進(jìn)行組合后才能實(shí)現(xiàn)比對(duì)測(cè)量，導(dǎo)致因人為未組合到位產(chǎn)生定位不準(zhǔn)及 測(cè)量點(diǎn)不在同一條直線上測(cè)量帶來(lái)的誤差。

發(fā)明內(nèi)容為克服上述缺陷，本實(shí)用新型需要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種楔形塞尺校準(zhǔn)裝 置，其具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、校準(zhǔn)操作方便、速度快、校準(zhǔn)值準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)。 為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案一種楔形塞尺校準(zhǔn)裝置，包括底 座、用于和塞尺相配合的校準(zhǔn)件，校準(zhǔn)件位于底座上，其特征在于，校準(zhǔn)件與底座之間為可 拆卸連接，所述校準(zhǔn)件內(nèi)部具有貫穿的測(cè)量孔，在底座上于測(cè)量孔的位置處具有與測(cè)量孔 相通的空間，該空間用于穿過(guò)塞尺的端部。在對(duì)楔形塞尺進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，把楔形塞尺的端部直 接插入到測(cè)量孔內(nèi)，楔形塞尺的兩側(cè)面分別與測(cè)量孔的口部?jī)?nèi)側(cè)相接觸，讀出接觸點(diǎn)位置 處塞尺的刻度值，把該刻度值與測(cè)量孔的內(nèi)徑值進(jìn)行比對(duì)，即可得出該刻度值的誤差情況。 測(cè)量孔的內(nèi)徑值應(yīng)預(yù)先得知，且測(cè)量孔的內(nèi)徑應(yīng)小于楔形塞尺的最大寬度值。校準(zhǔn)件一般 是直接擱置在底座上，也可以在底座上設(shè)置用于限定校準(zhǔn)件位置的限位件，或者是在底座 上設(shè)置用于夾持校準(zhǔn)件的夾持結(jié)構(gòu)。
作為優(yōu)選，所述校準(zhǔn)件的截?cái)嗝娉蕡A環(huán)狀。該校準(zhǔn)件實(shí)際是環(huán)規(guī)，利用環(huán)規(guī)的內(nèi)徑 作為基準(zhǔn)用于對(duì)楔形塞尺進(jìn)行校準(zhǔn)，擴(kuò)大了環(huán)規(guī)的適用范圍，且對(duì)塞尺校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性高。 作為優(yōu)選，所述校準(zhǔn)件的端面上沿其徑向設(shè)有刻痕和標(biāo)示測(cè)量孔內(nèi)徑大小的標(biāo) 識(shí)。該刻痕用于指示塞尺與環(huán)規(guī)相接觸的位置，在進(jìn)行校準(zhǔn)操作時(shí)，塞尺直接從該刻痕的位 置處插入到環(huán)規(guī)內(nèi)部。 作為優(yōu)選，所述底座為塊狀，底座的側(cè)面上設(shè)有梯形槽，在底座上設(shè)有溝通校準(zhǔn)件 測(cè)量孔和梯形槽的透孔，所述的空間形成在透孔內(nèi)。在進(jìn)行校準(zhǔn)操作時(shí)，在正常情況下，楔形塞尺的端部會(huì)進(jìn)入到透孔內(nèi)，以便楔形塞尺的兩側(cè)邊分別與環(huán)規(guī)的口部相接觸。 作為優(yōu)選，所述底座上設(shè)有定位環(huán)，定位環(huán)包覆在校準(zhǔn)件的外周面上。定位環(huán)的高
度一般要小于校準(zhǔn)件的高度，校準(zhǔn)件處于定位環(huán)內(nèi)時(shí)，校準(zhǔn)件的上端部會(huì)突出到定位環(huán)的
外側(cè)，便于對(duì)校準(zhǔn)件的拿取。定位環(huán)的設(shè)置方便了校準(zhǔn)件的放置，便于校準(zhǔn)件在底座上的快
速定位。
因此，本實(shí)用新型的有益效果 把校準(zhǔn)件設(shè)置在底座上，在校準(zhǔn)件內(nèi)部設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)徑的測(cè)量孔，通過(guò)往測(cè)量孔內(nèi) 插入塞尺，塞尺與測(cè)量孔的口部相接觸，把塞尺上接觸點(diǎn)處的刻度值與測(cè)量孔的內(nèi)徑值相 比較，即可得出該刻度值是否出現(xiàn)偏差，從而也就完成了對(duì)塞尺上該刻度值的校準(zhǔn)。校準(zhǔn)塊 與底座為可拆卸式連接，這樣可以很方便地對(duì)具有不同內(nèi)徑測(cè)量孔的校準(zhǔn)塊進(jìn)行更換，從 而可以對(duì)楔形塞尺上的多個(gè)刻度值進(jìn)行校準(zhǔn)，為楔形塞尺在實(shí)際的測(cè)量工作中的準(zhǔn)確示值 提供了保證。在底座上設(shè)置用于塞尺端部穿過(guò)的空間，這為楔形塞尺的校準(zhǔn)操作提供了方 便。

附圖1是本實(shí)用新型楔形塞尺校準(zhǔn)裝置使用狀態(tài)下的縱向剖視圖。
具體實(shí)施方式見(jiàn)圖中，本實(shí)用新型楔形塞尺校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)包括塊狀的底座1和設(shè)于底座1上 的校準(zhǔn)件2。校準(zhǔn)件2為圓環(huán)狀，它實(shí)際上是環(huán)規(guī)，其內(nèi)部具有通透的測(cè)量孔。在底座l上 設(shè)有用于楔形塞尺3端部穿過(guò)的空間，該空間與校準(zhǔn)件2中的測(cè)量孔相通。 所述底座1的側(cè)面位置處設(shè)有梯形槽6，在底座1上設(shè)有透孔5，上述的空間形成 在透孔5內(nèi)，透孔5溝通測(cè)量孔和梯形槽6。 在底座1上于透孔5的外周設(shè)有突出的定位環(huán)4，定位環(huán)4間隙地包覆在校準(zhǔn)件2 下端的外周面上，定位環(huán)4的高度要小于校準(zhǔn)件2的高度。環(huán)規(guī)的外徑大小一般都是相同 的，只是其內(nèi)徑有一定的變化，環(huán)規(guī)是直接擱置到定位環(huán)4內(nèi)。 校準(zhǔn)件2的兩端面上設(shè)有刻痕，該刻痕沿校準(zhǔn)件2的徑向方向布置。校準(zhǔn)件2的 兩端面上還設(shè)有刻度值標(biāo)識(shí)，該刻度值用于顯示測(cè)量孔的內(nèi)徑大小。 在圖中，校準(zhǔn)件2是直接擱置在底座1上的，當(dāng)然也可以在底座1上設(shè)置一可動(dòng)作 的夾持裝置，用于對(duì)校準(zhǔn)件2進(jìn)行夾持。
權(quán)利要求一種楔形塞尺校準(zhǔn)裝置，包括底座、用于和塞尺相配合的校準(zhǔn)件，校準(zhǔn)件位于底座上，其特征在于，校準(zhǔn)件(2)與底座(1)之間為可拆卸連接，所述校準(zhǔn)件(2)內(nèi)部具有貫穿的測(cè)量孔，在底座(1)上于測(cè)量孔的位置處具有與測(cè)量孔相通的空間，該空間用于穿過(guò)塞尺(3)的端部。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的楔形塞尺校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述校準(zhǔn)件(2)的截?cái)嗝娉?圓環(huán)狀。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的楔形塞尺校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述校準(zhǔn)件(2)的端面上沿 其徑向設(shè)有刻痕和標(biāo)示測(cè)量孔內(nèi)徑大小的標(biāo)識(shí)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的楔形塞尺校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述底座(1)為塊 狀，底座(1)的側(cè)面上設(shè)有梯形槽(6)，在底座(1)上設(shè)有溝通校準(zhǔn)件(2)測(cè)量孔和梯形槽 (6)的透孔(5)，所述的空間形成在透孔(5)內(nèi)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的楔形塞尺校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述底座(1)上設(shè)有定位環(huán) (4)，定位環(huán)(4)包覆在校準(zhǔn)件(2)的外周面上。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種楔形塞尺校準(zhǔn)裝置。其解決了現(xiàn)有對(duì)楔形塞尺刻度值進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)操作不便，校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性差，易對(duì)校準(zhǔn)件的表面產(chǎn)生劃傷的問(wèn)題。所采取的技術(shù)措施一種楔形塞尺校準(zhǔn)裝置，包括底座、用于和塞尺相配合的校準(zhǔn)件，校準(zhǔn)件位于底座上，其特征在于，校準(zhǔn)件與底座之間為可拆卸連接，所述校準(zhǔn)件內(nèi)部具有貫穿的測(cè)量孔，在底座上于測(cè)量孔的位置處具有與測(cè)量孔相通的空間，該空間用于穿過(guò)塞尺的端部。
文檔編號(hào)G01B3/46GK201548151SQ20092031255
公開(kāi)日2010年8月11日 申請(qǐng)日期2009年10月15日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月15日
發(fā)明者吳玲萍, 李書(shū)福, 楊健, 潘巨林 申請(qǐng)人:浙江豪情汽車(chē)制造有限公司;浙江吉利控股集團(tuán)有限公司