專利名稱：帶鋼表面氧化膜電位差曲線測(cè)定的試樣尺寸定位器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及帶鋼表面氧化膜電位差曲線的測(cè)定，尤其涉及帶鋼表面氧化膜電
位差曲線測(cè)定的試樣。本實(shí)用新型適用于快速評(píng)價(jià)帶鋼表面氧化膜的組成和質(zhì)量。
背景技術(shù)：
帶鋼表面氧化膜電位差曲線(Potential Differential Curve)是快速評(píng)價(jià)帶鋼 脫碳板表面氧化膜質(zhì)量及組成，其原理是在以試樣為正極，同批次無膜基板為負(fù)極；放在一 定溫度和濃度的電解液中形成原電池，測(cè)定其電位變化隨時(shí)間的關(guān)系曲線(即Potential Differential Curve,簡(jiǎn)稱P-D曲線)。通過電位峰值的變化評(píng)價(jià)、檢測(cè)膜的質(zhì)量。 原方法采用將導(dǎo)線焊接在正負(fù)兩極上并用膠帶按一定的尺寸進(jìn)行封閉，用兩個(gè)鍥 型板大小端配合將正負(fù)兩極固定，放入電解槽中進(jìn)行測(cè)定。此方法操作麻煩，樣品腐蝕面積 和正負(fù)兩極距離難以保證，并且不能滿足不同厚度樣品測(cè)定要求，在實(shí)際工作中有一定的 局限性。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型旨在解決現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供帶鋼表面氧化膜電位差曲線測(cè)定的試 樣尺寸定位器和電極裝置，操作簡(jiǎn)單，適應(yīng)性好。 本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的一種帶鋼表面氧化膜電位差曲線測(cè)定的試樣尺寸定位 器，它包括一個(gè)底座，底座上設(shè)有兩對(duì)試樣架，其中一對(duì)試樣架位于底座上表兩側(cè)，并將另 一對(duì)試樣架夾在中間，兩對(duì)試樣架之間的空間為試樣槽。 本實(shí)用新型根據(jù)電化學(xué)理論，電極(基板和試驗(yàn)片)的截面積的大小決定了原電 池輸出電極電位大小，而正負(fù)兩極(基板和試驗(yàn)片)之間的距離、腐蝕液的溫度和濃度決定 了腐蝕時(shí)間。為了確保腐蝕有效面積，我們?cè)O(shè)計(jì)制作了試樣尺寸定位器，其插入試樣尺寸定 位器中部分即為測(cè)量有效面積。

下面，結(jié)合附圖進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
圖1為本實(shí)用新型的試樣尺寸定位器示意圖； 圖2為圖1的俯視圖。
具體實(shí)施方式如圖1至圖3所示，一種帶鋼表面氧化膜電位差曲線測(cè)定的試樣尺寸定位器，它包 括一個(gè)底座l，底座上設(shè)有兩對(duì)試樣架2，其中一對(duì)試樣架位于底座上表兩側(cè)，并將另一對(duì) 試樣架夾在中間，兩對(duì)試樣架之間的空間為試樣槽3。
權(quán)利要求一種帶鋼表面氧化膜電位差曲線測(cè)定的試樣尺寸定位器，其特征在于，它包括一個(gè)底座，底座上設(shè)有兩對(duì)試樣架，其中一對(duì)試樣架位于底座上表兩側(cè)，并將另一對(duì)試樣架夾在中間，兩對(duì)試樣架之間的空間為試樣槽。
專利摘要本實(shí)用新型涉及帶鋼表面氧化膜電位差曲線的測(cè)定，尤其涉及帶鋼表面氧化膜電位差曲線測(cè)定的試樣。一種帶鋼表面氧化膜電位差曲線測(cè)定的試樣尺寸定位器，它包括一個(gè)底座，底座上設(shè)有兩對(duì)試樣架，其中一對(duì)試樣架位于底座上表面兩側(cè)，并將另一對(duì)試樣架夾在中間，兩對(duì)試樣架之間的空間為試樣槽。本實(shí)用新型適用于快速評(píng)價(jià)帶鋼表面氧化膜的組成和質(zhì)量。
文檔編號(hào)G01N27/403GK201464416SQ200920077740
公開日2010年5月12日 申請(qǐng)日期2009年7月1日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月1日
發(fā)明者朱子平, 李蕾, 王君祥 申請(qǐng)人:上海寶鋼工業(yè)檢測(cè)公司