專利名稱：密碼鎖壽命測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)試儀器技術(shù)領(lǐng)域，具體講是一種密碼鎖壽命測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的密碼鎖的執(zhí)行機(jī)構(gòu)普遍使用電磁閥與其他機(jī)械結(jié)構(gòu)連接來實(shí)現(xiàn)，為了保證密碼 鎖的質(zhì)量，密碼鎖的執(zhí)行機(jī)構(gòu)需要進(jìn)行壽命測(cè)試。目前，所述壽命測(cè)試均為人工操作方式， 即由多人輪流對(duì)密碼鎖的電磁閥進(jìn)行上電和放電工作，同時(shí)記錄操作次數(shù)。所述的人工操 作方式有以下顯著缺點(diǎn)1、由于壽命測(cè)試需要對(duì)電磁閥進(jìn)行上電、放電操作，其操作次
數(shù)多達(dá)幾萬次，甚至十幾萬次，勞動(dòng)強(qiáng)度高，耗時(shí)長(zhǎng)；2、容易受人為因素影響，即對(duì)電 磁閥進(jìn)行上電、放電操作的時(shí)間間隔無法準(zhǔn)確控制，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)，人工記錄操作次 數(shù)的方式增加了出現(xiàn)錯(cuò)誤的概率，使測(cè)試結(jié)果的誤差被放大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，提供一種測(cè)試效率高、自動(dòng)化程度高、測(cè)試準(zhǔn)確性高的 密碼鎖壽命測(cè)試儀。
本發(fā)明的技術(shù)方案是，本發(fā)明密碼鎖壽命測(cè)試儀，它由電源模塊、控制信號(hào)輸入模塊、 中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊組成；所述電源 模塊分別與控制信號(hào)輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊 及狀態(tài)提示模塊電連接；所述中央微處理模塊還分別與控制信號(hào)輸入模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模 塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊電連接；所述電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊還與電磁閥電連接； 所述電磁閥通斷檢測(cè)模塊還與電磁閥連接。
采用上述結(jié)構(gòu)后，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)所述電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊與電 磁閥電連接，當(dāng)工人通過制信號(hào)輸入模塊設(shè)定完測(cè)試次數(shù)等相關(guān)測(cè)試數(shù)據(jù)后，所述電磁閥 驅(qū)動(dòng)模塊在中央微處理模塊的控制下，能夠自動(dòng)地對(duì)電磁閥進(jìn)行上電和放電的操作，而且 上電和放電的操作的時(shí)間間隔能夠精確控制并自動(dòng)記錄操作次數(shù)，無需人工參與，通過狀 態(tài)提示模塊能夠?qū)y(cè)試情況及時(shí)反饋給測(cè)試人員，并能對(duì)測(cè)試所得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行相關(guān)處 理。綜合上述，本發(fā)明密碼鎖壽命測(cè)試儀的測(cè)試效率高、自動(dòng)化程度高、測(cè)試準(zhǔn)確性高。
作為改進(jìn)，所述中央微處理模塊為芯片M37546及其外圍電路，該芯片M37546性價(jià)比 高，穩(wěn)定可靠，更有利于本發(fā)明密碼鎖壽命測(cè)試儀性能的提高。
作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述電磁閥通斷檢測(cè)模塊至少由一個(gè)微動(dòng)開關(guān)組成，每個(gè)微動(dòng)開關(guān)對(duì)應(yīng)一個(gè)電磁閥，所述電磁閥通斷檢測(cè)模塊還與電磁閥連接是指所述微動(dòng)開關(guān)還與電磁閥 的閥芯的活動(dòng)端的端部相抵；所述中央微處理模塊與電磁閥通斷檢測(cè)模塊電連接是指所述 中央微處理模塊與微動(dòng)開關(guān)電連接；這樣，直接通過微動(dòng)開關(guān)來檢測(cè)電磁閥的閥芯的運(yùn)動(dòng) 來確定電磁閥的上電和放電的狀態(tài)，能夠使測(cè)試快速準(zhǔn)確、可靠，而且這種檢測(cè)方式結(jié)構(gòu) 簡(jiǎn)單、成本低，更有利于本發(fā)明密碼鎖壽命測(cè)試儀性能的提高。


圖1是本發(fā)明密碼鎖壽命測(cè)試儀的電路原理框圖。 圖2是控制信號(hào)輸入模塊的電路原理圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
本發(fā)明密碼鎖壽命測(cè)試儀由電源模塊、控制信號(hào)輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥 驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊組成；所述電源模塊分別與控制信號(hào)輸入 模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊電連接； 所述中央微處理模塊還分別與控制信號(hào)輸入模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊 及狀態(tài)提示模塊電連接；所述電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊還與電磁閥電連接；所述電磁閥通斷檢測(cè)模 塊還與電磁閥連接。如圖1所示。
所述電源模塊為現(xiàn)有技術(shù)常用的由交流電源變壓得到的直流穩(wěn)壓電源。 所述控制信號(hào)輸入模塊為現(xiàn)有技術(shù)常用的模擬量輸入電路，如圖2所示，該模擬量輸 入電路共設(shè)有5個(gè)摁鍵，公用一個(gè)模擬信號(hào)輸入端，該模擬信號(hào)輸入端與中央微處理模塊 電連接。
所述中央微處理模塊為芯片M37546及其外圍電路。 所述電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊為芯片ULN2003A。
所述電磁閥通斷檢測(cè)模塊至少由一個(gè)微動(dòng)開關(guān)組成，每個(gè)微動(dòng)開關(guān)對(duì)應(yīng)一個(gè)電磁閥， 所述電磁閥通斷檢測(cè)模塊還與電磁閥連接是指所述微動(dòng)開關(guān)還與電磁閥的閥芯的活動(dòng)端 的端部相抵；所述中央微處理模塊與電磁閥通斷檢測(cè)模塊電連接是指所述中央微處理模塊 與微動(dòng)開關(guān)電連接。
所述狀態(tài)提示模塊由一個(gè)揚(yáng)聲器和三個(gè)雙八數(shù)碼管組成；所述揚(yáng)聲器與芯片ULN2003A 電連接；所述中央微處理模塊與狀態(tài)提示模塊電連接是指所述中央微處理模塊與三個(gè)雙八 數(shù)碼管電連接。
當(dāng)本發(fā)明密碼鎖壽命測(cè)試儀工作時(shí)，首先，測(cè)試人員將需要測(cè)試的電磁閥分別與電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊連接好，再通過所述控制信號(hào)輸入模塊向中央微處理模 塊輸入測(cè)試初始參數(shù)，此時(shí)由所述狀態(tài)提示模塊向測(cè)試人員顯示相關(guān)數(shù)據(jù)，以供測(cè)試人員 確認(rèn)輸入的數(shù)據(jù)正確，當(dāng)初始參數(shù)輸入完畢，所述中央微處理模塊立即按照內(nèi)部程序執(zhí)行， 這樣，所述電磁閥的壽命測(cè)試就開始了。通過狀態(tài)提示模塊，測(cè)試人員可以查看任意一個(gè) 在測(cè)試的電磁閥的上電和放電次數(shù)，而且狀態(tài)提示模塊還能報(bào)故障，即當(dāng)電磁閥上電時(shí)， 電磁閥的閥芯就會(huì)克服閥芯的復(fù)位彈簧的彈力移動(dòng)一段距離，這樣，閥芯的活動(dòng)端也會(huì)移 動(dòng)一段距離，那么，與閥芯的活動(dòng)端的端面相抵的微動(dòng)開關(guān)就會(huì)抬起而斷開微動(dòng)開關(guān)，此 時(shí)，中央微處理模塊就會(huì)得到一個(gè)低電平的信號(hào)輸入，中央微處理模塊就會(huì)記錄一次上電 操作，如果，當(dāng)電磁閥上電時(shí)，電磁閥的閥芯沒動(dòng)，那么，中央微處理模塊通過微動(dòng)開關(guān) 獲得一個(gè)持續(xù)的高電平的信號(hào)輸入，此時(shí)，中央微處理模塊就會(huì)自動(dòng)判斷該電磁閥發(fā)生故 障，并通過控制狀態(tài)提示模塊向測(cè)試人員報(bào)警。當(dāng)測(cè)試完成后，測(cè)試人員再通過控制信號(hào) 輸入模塊及狀態(tài)提示模塊即可查看中央微處理模塊所記錄的測(cè)試數(shù)據(jù)，就能夠方便地知道 相關(guān)測(cè)試結(jié)果。
以上僅就本發(fā)明較佳的實(shí)施例作了說明，但不能理解為是對(duì)權(quán)利要求的限制。本發(fā)明 的結(jié)構(gòu)可以有其他變化，不局限于上述結(jié)構(gòu)，比如所述中央微處理模塊可以為芯片
TMP86P809及其外圍電路?？傊?，凡在本發(fā)明產(chǎn)品獨(dú)立權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)所作的各種 變化均在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種密碼鎖壽命測(cè)試儀，其特征在于由電源模塊、控制信號(hào)輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊組成；所述電源模塊分別與控制信號(hào)輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊電連接；所述中央微處理模塊還分別與控制信號(hào)輸入模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊電連接；所述電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊還與電磁閥電連接；所述電磁閥通斷檢測(cè)模塊還與電磁閥連接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的密碼鎖壽命測(cè)試儀，其特征在于所述中央微處理模塊為 芯片M37546及其外圍電路。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的密碼鎖壽命測(cè)試儀，其特征在于所述電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊為 芯片ULN2003A。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的密碼鎖壽命測(cè)試儀，其特征在于所述電磁闊通斷檢測(cè)模 塊至少由一個(gè)微動(dòng)開關(guān)組成，每個(gè)微動(dòng)開關(guān)對(duì)應(yīng)一個(gè)電磁閥，所述電磁闊通斷檢測(cè)模塊還 與電磁閥連接是指所述微動(dòng)開關(guān)還與電磁閥的閥芯的活動(dòng)端的端部相抵;所述中央微處理 模塊與電磁闊通斷檢測(cè)模塊電連接是指所述中央微處理模塊與微動(dòng)開關(guān)電連接。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的密碼鎖壽命測(cè)試儀，其特征在于所述狀態(tài)提示模塊由一 個(gè)揚(yáng)聲器和三個(gè)雙八數(shù)碼管組成；所述揚(yáng)聲器與芯片ULN2003A電連接；所述中央微處理 模塊與狀態(tài)提示模塊電連接是指所述中央微處理模塊與三個(gè)雙八數(shù)碼管電連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種測(cè)試效率高、自動(dòng)化程度高、測(cè)試準(zhǔn)確性高的密碼鎖壽命測(cè)試儀，它由電源模塊、控制信號(hào)輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊組成；所述電源模塊分別與控制信號(hào)輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊電連接；所述中央微處理模塊還分別與控制信號(hào)輸入模塊、電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊、電磁閥通斷檢測(cè)模塊及狀態(tài)提示模塊電連接；所述電磁閥驅(qū)動(dòng)模塊還與電磁閥電連接；所述電磁閥通斷檢測(cè)模塊還與電磁閥連接。
文檔編號(hào)G01M99/00GK101520382SQ20091009702
公開日2009年9月2日 申請(qǐng)日期2009年3月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月26日
發(fā)明者耘 葉, 林輝撐, 馬建剛 申請(qǐng)人:寧波海誠(chéng)電器有限公司