專利名稱：用于對信號計數(shù)或積分的輻射探測器的制作方法
用于對信號計數(shù)或積分的輻射探測器本發(fā)明涉及一種輻射敏感探測器，并且本發(fā)明尤其適用于計算機斷層攝影(CT)。 不過，它也可以適應(yīng)其他醫(yī)療成像應(yīng)用和非醫(yī)療成像應(yīng)用。計算機斷層攝影(CT)掃描器包括發(fā)射多色輻射的χ射線管，多色輻射橫貫檢查區(qū) 域。探測器陣列對著在檢查區(qū)域中與X射線管相對一側(cè)上的弧，探測橫貫檢查區(qū)域的輻射。 探測器陣列產(chǎn)生指示檢查區(qū)域的信號。重建器重建信號并產(chǎn)生指示檢查區(qū)域的體積圖像數(shù) 據(jù)。圖像處理器處理體積圖像數(shù)據(jù)以產(chǎn)生檢查區(qū)域的一個或多個圖像。對于包括常規(guī)積分或間接變換探測器(例如基于硫氧化釓(GOS)的探測器)的CT 掃描器而言，得到的圖像包括按照對應(yīng)于相對放射密度的灰度值表示的像素。這種信息反 映了被掃描主體的衰減特性，一般展示出諸如患者體內(nèi)解剖結(jié)構(gòu)、無生命對象物理結(jié)構(gòu)等 的結(jié)構(gòu)。令人遺憾的是，χ射線通過給定對象的衰減強烈依賴于入射X射線的光子能量。這 種物理現(xiàn)象在圖像中將自己表現(xiàn)為射束硬化偽影，例如不均勻性、陰影和條紋?？梢匀菀椎?校正一些射束硬化偽影，但其他射束硬化偽影可能更難以校正。此外，在圖像中低密度的高 衰減材料可能獲得與高密度的低衰減材料相同的CT數(shù)。于是，僅僅基于CT數(shù)，對于被掃描 對象的材料構(gòu)成可能幾乎得不到或得不到信息。捕獲輻射的頻譜特性提供了更多信息，可以將其用于減少射束硬化偽影并提供關(guān) 于被掃描對象材料構(gòu)成的信息。由于信噪比(SNR)低，積分探測器一般不太適于計數(shù)。相 反，諸如基于碲化鎘鋅(CdZnTe或CZT)或碲化鎘(CdTe)的探測器的計數(shù)直接轉(zhuǎn)換探測器 可以通過例如并行地計數(shù)光子和測量光子的能量來捕獲光譜信息。不過，計數(shù)探測器一般不太適于CT應(yīng)用，因為這種探測器通常不能為每秒十(10) 兆個(Mcoimts/sec)以上的χ射線通量計數(shù)光子，一些χ射線管能夠提供超過IOM counts/ sec，例如100M counts/sec的個數(shù)。可以將光子通量減小到計數(shù)探測器電子設(shè)備能夠計數(shù) 光子的水平；不過，這樣減少光子通量可能會導(dǎo)致SNR降低，并且更重要的是，可能會減小 動態(tài)范圍，這是CT所不能接受的。此外，由于余輝大，直接轉(zhuǎn)換計數(shù)探測器通常不太適于積 分。本申請的各個方面解決了上述和其他問題。根據(jù)一個方面，一種輻射敏感探測器陣列包括探測光子并產(chǎn)生表示所探測光子的 信號的光電傳感器。該輻射敏感探測器陣列還包括信號分析器，在所述信號分析器能夠識 別所述光電傳感器的輸出中的信號時，對信號進行能量分箱和計數(shù)，在所述信號分析器不 能識別所述光電傳感器的輸出中的信號時，在積分周期內(nèi)對所述光電傳感器的輸出進行積 分。根據(jù)另一方面，一種醫(yī)療成像設(shè)備包括發(fā)射橫貫檢查區(qū)域的輻射的輻射源以及探 測橫貫檢查區(qū)域的輻射的探測器陣列。探測器陣列包括探測輻射并產(chǎn)生指示所探測輻射的 電信號的光電傳感器。數(shù)字化器產(chǎn)生包括所述電信號的數(shù)字表示的數(shù)字輸出。在信號分析 器能夠識別所述數(shù)字輸出中的電信號的數(shù)字表示時，信號分析器對所述數(shù)字輸出中的電信 號的數(shù)字表示進行能量分箱和計數(shù)，并且在所述信號分析器不能識別所述數(shù)字輸出中的電信號的數(shù)字表示時，對所述數(shù)字輸出進行積分。根據(jù)另一方面，一種方法包括確定數(shù)字化信號中的數(shù)字化脈沖是否相對于彼此可 識別，其中每個數(shù)字化脈沖與從醫(yī)療成像系統(tǒng)發(fā)射的輻射束探測的光子的能量對應(yīng)。該方 法還包括在所述數(shù)字化脈沖相對于彼此可識別時，對所述數(shù)字化脈沖進行能量分辨。該方 法還包括在所述數(shù)字化脈沖相對于彼此不可識別時對所述數(shù)字信號進行積分。本發(fā)明通過各種部件或部件布置，以及通過各種步驟或步驟布置而變得明顯。附 圖的作用在于對優(yōu)選實施例進行圖示，不應(yīng)將其解讀為對本發(fā)明構(gòu)成限制。

圖1示出了一種醫(yī)療成像設(shè)備；圖2示出了該醫(yī)療成像設(shè)備的示例探測器陣列和示例信號處理部件；圖3示出了流程圖；圖4示出了對于相對低χ射線通量的數(shù)字化脈沖；圖5示出了對于相對高χ射線通量的數(shù)字化脈沖。首先，參考圖1，計算機斷層攝影(CT)掃描器100包括靜止臺架102，從掃描期間 其大致靜止的意義上來講它是靜止的。不過，靜止臺架102可以配置成傾斜和/或以其他 方式被移動。計算機斷層攝影(CT)系統(tǒng)100還包括旋轉(zhuǎn)臺架104，旋轉(zhuǎn)臺架104可旋轉(zhuǎn)地耦合 到靜止臺架102。旋轉(zhuǎn)臺架104關(guān)于縱向或ζ軸108繞著檢查區(qū)域106旋轉(zhuǎn)。在圖示的實施例中，諸如χ射線管的輻射源110由旋轉(zhuǎn)臺架104支撐并與旋轉(zhuǎn)臺 架104 —起繞著檢查區(qū)域106旋轉(zhuǎn)。輻射源110發(fā)射橫貫檢查區(qū)域106的多色輻射。在另 一實施例中，CT系統(tǒng)100是具有由靜止臺架102支撐的一個或多個輻射源110的靜止掃描器ο輻射敏感探測器陣列112探測由輻射源110發(fā)射的橫貫檢查區(qū)域106的光子。輻 射敏感探測器陣列112包括在ζ軸方向延伸的多行輻射敏感光電傳感器和沿橫向方向延伸 的多列輻射敏感光電傳感器。也預(yù)期單行探測器陣列構(gòu)造。在圖示的實施例中，輻射敏感探測器陣列112包括基于閃爍體的光電傳感器，例 如光通信中具有閃爍體的光電二極管，并且光電傳感器和信號整形電子器件位于同一集成 電路上。輻射敏感探測器陣列112產(chǎn)生指示所探測輻射的電信號，例如電流或電壓。在其 他實施例中，可以采用另一間接轉(zhuǎn)換探測器或直接轉(zhuǎn)換探測器，直接轉(zhuǎn)換探測器直接產(chǎn)生 指示所探測光子的電信號。適當?shù)闹苯愚D(zhuǎn)換探測器的示例包括基于CZT、CdTeJg (II)氧 化物(PbO)、HgI的探測器。信號處理器114處理由輻射敏感探測器陣列112產(chǎn)生的信號。如下文更詳細描述 的，信號處理器114包括基于信號形狀確定輻射敏感探測器陣列112產(chǎn)生的信號中的個體 脈沖(一個或多個)是否可識別的電子器件。如果信號處理器114確定個體脈沖是可識別 的，那么信號處理器114工作在計數(shù)模式下，并針對每個積分周期對個體脈沖進行能量分 辨(能量分箱和計數(shù))。如果信號處理器114確定個體脈沖是不可識別的，那么信號處理器 114工作在積分模式下，并針對每個積分周期對信號的總能量進行積分。信號處理器114還可以根據(jù)脈沖產(chǎn)生數(shù)字定時信號。當信號大于預(yù)置值時，可以 作為前沿鑒別器(Leading Edge Discriminator)信號生成定時；或者當信號是信號最大值 的一小部分時,可以作為恒比鑒別(ConstantFraction Discrimination)生成定時。
重建器116重建來自探測器的投影數(shù)據(jù)以產(chǎn)生指示患者內(nèi)部解剖結(jié)構(gòu)的體積數(shù) 據(jù)。圖像處理器118處理由重建器116產(chǎn)生的體積圖像數(shù)據(jù)，以便以人類可讀的形式加以顯示。諸如臥榻的患者支撐物120在檢查區(qū)域106中支撐患者?；颊咧挝?20可以沿 著ζ軸108與旋轉(zhuǎn)臺架104的旋轉(zhuǎn)協(xié)同地移動，以促成螺旋形、軸向或其他期望的掃描軌道。通用計算系統(tǒng)122充當操作員控制臺。操作員控制臺122包括諸如顯示器和/或 打印機的人類可讀輸出裝置和諸如鍵盤和/或鼠標的輸入裝置?？刂婆_122上駐留的軟件 允許操作員控制系統(tǒng)100的工作，例如，通過允許操作員選擇掃描規(guī)程、發(fā)起掃描、終止掃 描、觀察和/或操控體積圖像數(shù)據(jù)和/或以其他方式與系統(tǒng)100交互。圖2還示出了探測器陣列112和信號處理部件114。探測器陣列112包括探測橫 貫檢查區(qū)域106的輻射的輻射敏感光電傳感器204。探測器陣列112包括閃爍體202和光 電傳感器204?；蛘?，可以使用單個直接轉(zhuǎn)換探測器將χ射線輻射轉(zhuǎn)換成電信號。在圖示的示例中，閃爍體202為快速閃爍體。例如，閃爍體202可以具有從大約零 (0)納秒(ns)到大約四十(40)ns范圍內(nèi)的衰減時間，同時余輝低。這樣，閃爍體202能夠 每命中keV的χ射線事件產(chǎn)生二十(20)到六十(60)光子左右。這種閃爍體的示例包括基 于 Lu3Al5O12 :Pr (LUAG)、LuAlO3 :Ce (LuAp)、Lu2SiO5 :Ce (LSO)、Lu2Si2O7 :Ce (LPS)、LaBr, LaCl 的閃爍體。圖示的光電傳感器204是高質(zhì)量的光電二極管或其他光電傳感器。例如，圖示的 光電傳感器204具有低暗電流、低電容和低電阻。例如，圖示的傳感器204可以具有十五 (15)皮法或更小范圍的電容和等于或大于一千兆歐姆(IGQ)的電阻。也預(yù)期具有不同電 容和/或電阻特性的光電傳感器。光子傳感器也可以是雪崩光電二極管(APD)或包括載流 子倍增以放大信號的另一種光子傳感器。探測器陣列112還包括放大器206。圖示的放大器206是寬帶放大器。例如，圖示 的放大器206可以是一千兆赫(IGHz)或更大的放大器，例如，十(lO)GHz。也預(yù)期具有更窄 帶寬的放大器。如圖所示，光電傳感器204和放大器206位于同一晶片208上。因此，相對于傳感 器204和放大器206位于不同晶片上的配置，傳感器204和放大器206之間的電連接可以 更短。結(jié)果，相對于傳感器204和放大器206位于不同晶片上的配置而言，信噪比(SNR)可 以更高。晶片208可以是硅或其他類型的晶片。信號處理部件114包括專用集成電路(ASIC) 210。ASIC 210包括諸如摸擬到數(shù)字 轉(zhuǎn)換器(ADC)的數(shù)字化器212。在圖示的實施例中，數(shù)字化器212為快速數(shù)字ADC。例如， 數(shù)字化器212可以是一百(100)兆赫(MHz)、lGHz或IOGHz的數(shù)字化器。ASIC 210還包括數(shù)字信號分析器214。信號分析器214確定ASIC 210是工作于 計數(shù)模式還是積分模式下。信號分析器214從來自探測器陣列112的信號識別χ射線通 量的水平是否使得個體脈沖(一個或多個)能夠被計數(shù)。在圖示的實施例中，信號分析器 214使用在低χ射線通量和高χ射線通量下訓(xùn)練的前饋神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來確定是否能夠識別個體 脈沖。通常，對于相對低通量可以計數(shù)個體脈沖，對于相對高通量不能計數(shù)。ASIC 210還包括計數(shù)電子器件216和積分電子器件218。在信號分析器214確定可以計數(shù)個體脈沖時，計數(shù)電子器件216針對每個積分周期對脈沖進行能量分箱和計數(shù)。 在信號分析器214確定不能計數(shù)個體脈沖時，積分電子器件218對每個積分周期上的組合 脈沖進行積分。或者，可以激活積分電子器件218以針對每個積分周期產(chǎn)生積分值。由于 積分是數(shù)字的，因此可以使用數(shù)字校正來消除偏移和非線性。ASIC 210還包括讀出電子器件220。在圖示的示例中，ASIC 210為數(shù)字ASIC，并且數(shù)字化器212和信號分析器214都 位于ASIC上。相對于使用混合信號ASIC這可以降低成本，混合信號ASIC可能制造起來更 昂貴而沒有數(shù)字化器212。在另一實施例中，數(shù)字化器可以是晶片208的部分或者放大器 206可以是ASIC 201的部分。結(jié)合圖3描述操作。在302，橫貫檢查區(qū)域的輻射擊中閃爍體202，閃爍體202產(chǎn) 生指示輻射能量的光子。在304，輻射敏感光電傳感器204接收光并產(chǎn)生指示所探測輻射的信號。信號可以 是電信號，例如電流或電壓。在306，放大器206產(chǎn)生指示所接收輻射的能量的脈沖。該脈沖可以是具有指示所 探測光子的能量的峰值幅度的電流脈沖或電壓脈沖。在308，數(shù)字化器212生成包括脈沖的數(shù)字化信號。在310，信號分析器214接收數(shù)字化信號并確定能否在數(shù)字化信號中識別脈沖。如 上所述，在圖示實施例中使用經(jīng)訓(xùn)練的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)。圖4和5示出了分別針對相對較低和相對較高通量的數(shù)字化脈沖。參考圖4，第一軸402表示電流水平，第二軸404表示時間。由附圖標記406指示 積分周期的結(jié)束。如圖4所示，對于相對較低的通量，ASIC 210的輸出可以包括能夠被識 別的個體數(shù)字化脈沖408和410。參考圖5，第一軸502表示電流水平，第二軸504表示時間，由附圖標記506指示積 分周期的結(jié)束。如圖5所示，對于相對較高的通量，在數(shù)字化信號中不能識別個體脈沖。返回圖3，如果可識別個體數(shù)字化脈沖，那么在312，計數(shù)電子器件216對數(shù)字化脈 沖進行能量分箱，在314，計數(shù)電子器件216計數(shù)數(shù)字化脈沖。例如，對于每個數(shù)字化脈沖 408和410，計數(shù)電子器件216對數(shù)字化脈沖中的樣本求和以計算數(shù)字化脈沖的近似總能 量，并針對每個積分周期406計數(shù)和存儲每種不同能量的脈沖數(shù)目。否則，在318，積分電子器件218對來自數(shù)字化器212的數(shù)字化信號進行積分。例 如，積分電子器件218可以在積分周期506內(nèi)對數(shù)字化信號508中的樣本求和，以產(chǎn)生針對 積分周期506的總能量?？梢葬槍γ總€事件激活這種模式，無論是否能夠適當區(qū)分個體事 件。在320，由讀出電子器件220讀出處理的信號。論述各種變化。在圖示的實施例中，ASIC 210被示為與探測器陣列112分離。在另一實施例中， ASIC 210是探測器陣列112的部分。在上述實施例中，數(shù)字化器212、信號分析器214、計數(shù)電路216、積分電路218和 讀出電子器件220位于同一 ASIC 210上。不過，在另一實施例中，數(shù)字化器212、信號分析 器214、計數(shù)電路216、積分電路218和讀出電子器件220中的至少一個位于不同的集成電路上。如上所述，根據(jù)χ射線通量的水平，ASIC 210工作于計數(shù)模式或積分模式下。在 另一實施例中，在相對較低通量下ASIC 210工作于雙模式下，其中，ASIC 210既計數(shù)由數(shù) 字化器212產(chǎn)生的數(shù)字化信號又對其進行積分。在另一實施例中，信號分析器214通過識別從下降信號電平到上升信號電平的轉(zhuǎn) 變來確定對于數(shù)字化器212產(chǎn)生的信號是否能夠識別個體脈沖。例如，信號分析器214能 夠確定這種轉(zhuǎn)變是否跨過預(yù)設(shè)的閾值電平。如果轉(zhuǎn)變跨過閾值，信號分析器214確定可識 別個體脈沖，如果轉(zhuǎn)變不跨過閾值，信號分析器214確定不可識別個體脈沖。在另一實施例中，采用一種基于概率的方式來確定對于數(shù)字化器212產(chǎn)生的信號 是否能夠識別個體脈沖。例如，可以使用基于相關(guān)性的技術(shù)來確定數(shù)字化器212產(chǎn)生的信 號和個體數(shù)字化信號之間的相關(guān)度。這里結(jié)合計算機斷層攝影醫(yī)療成像應(yīng)用描述了實施例。但是，應(yīng)當理解，可以附加 地或備選地將本發(fā)明用于希望捕獲輻射的頻譜方面的其他醫(yī)療成像應(yīng)用和/或非醫(yī)療成 像應(yīng)用。利用由閃爍體202和光電傳感器204構(gòu)成的探測器112描述了這里的實施例。不 過要理解，可以使用適于輻射探測的任何探測器，包括直接轉(zhuǎn)換探測器。在能夠識別個體脈沖的情況下，可以通過前沿鑒別或恒比鑒別從數(shù)字化信號產(chǎn)生 時間信號?？梢詫⑦@一定時信號用于PET掃描器中的符合測量中?？梢詫⑦@種探測器用于 CT和PET掃描器中。定時信號的精確度也可以取決于數(shù)字化頻率。十(IO)GHz的數(shù)字化可 以獲得200ps的理論精確度，這適用于TOF PET。已經(jīng)參考優(yōu)選實施例描述了本發(fā)明。在閱讀并理解了前述詳細說明的同時，本領(lǐng) 域技術(shù)人員可以進行修改和變化。意在將本發(fā)明解讀為包括所有此類落在權(quán)利要求及其等 同替代的范圍內(nèi)的修改和變化。
權(quán)利要求
一種輻射敏感探測器陣列(112)，包括光電傳感器(204)，所述光電傳感器探測光子并產(chǎn)生指示所述光子的信號；信號分析器(214)，在所述信號分析器(214)能夠識別所述光電傳感器(204)的輸出中的所述信號時，其對所述信號進行能量分箱和計數(shù)，在所述信號分析器(214)不能識別所述光電傳感器(204)的輸出中的所述信號時，其在積分周期上對所述光電傳感器(204)的輸出進行積分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射敏感探測器陣列，還包括接收所述信號并產(chǎn)生包括指示所探測光子的能量的脈沖的輸出的電子器件(206)，其 中，在所述信號分析器(214)能夠識別所述電子器件(206)的輸出中的所述脈沖時，所述信 號分析器(214)對所述脈沖進行能量分箱和計數(shù)，并且在所述信號分析器(214)不能識別 所述電子器件(206)的輸出中的所述脈沖時，其在所述積分周期上對所述電子器件(206) 的輸出進行積分；以及晶片(208)，其中，所述光電傳感器(204)和所述電子器件(206)都位于所述晶片 (208)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射敏感探測器陣列，還包括對所述光電傳感器(204)的輸 出進行數(shù)字化的數(shù)字化器(212)，其中，所述信號分析器(214)分析經(jīng)數(shù)字化的輸出以確定 在經(jīng)數(shù)字化的輸出中是否可識別所述信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的輻射敏感探測器陣列，其中，所述信號分析器(214)采用神經(jīng) 網(wǎng)絡(luò)來確定經(jīng)數(shù)字化的輸出中是否可識別所述信號，其中，利用包括與低χ射線通量對應(yīng) 的數(shù)字脈沖和與高χ射線通量對應(yīng)的數(shù)字脈沖的數(shù)據(jù)對所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進行訓(xùn)練。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的輻射敏感探測器陣列，還包括數(shù)字ASIC(210)，其中，所述數(shù) 字化器(212)和所述信號分析器(214)都位于所述數(shù)字ASIC(210)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射敏感探測器陣列，其中，所述光電傳感器(204)包括光電 二極管，所述光電二極管的電容在大約0到大約15皮法的范圍內(nèi)并且其電阻率至少為大約 1千兆歐姆。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的輻射敏感探測器陣列，其中，所述電子器件(206)包括帶寬為 大約1千兆赫茲到大約10千兆赫茲的放大器。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的輻射敏感探測器陣列，其中，所述數(shù)字化器(212)包括以大約 100兆赫茲采樣的模數(shù)轉(zhuǎn)換器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射敏感探測器陣列，其中，在與所探測光子對應(yīng)的χ射線 通量等于或小于每秒10兆個計數(shù)時，所述輻射敏感探測器陣列(112)工作于光子計數(shù)模式 下，在與所探測光子對應(yīng)的χ射線通量大于每秒10兆個計數(shù)時，所述輻射敏感探測器陣列 (112)工作于積分模式下。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射敏感探測器陣列，其中，所述輻射敏感探測器陣列 (112)是計算機斷層攝影掃描器(100)的部分。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輻射敏感探測器陣列，其中，所述輻射敏感探測器陣列 (112)是正電子發(fā)射斷層攝影掃描器的部分。
12.—種醫(yī)療成像設(shè)備，包括輻射源(110)，其發(fā)射橫貫檢查區(qū)域(106)的輻射；以及探測器陣列(112)，其探測橫貫所述檢查區(qū)域(106)的輻射，所述探測器陣列(112)包括光電傳感器(204)，其探測輻射并產(chǎn)生指示所探測輻射的電信號； 數(shù)字化器(212)，其產(chǎn)生包括所述電信號的數(shù)字表示的數(shù)字輸出；以及 信號分析器(214)，在所述信號分析器(214)能夠識別所述數(shù)字輸出中的所述電信號 的所述數(shù)字表示時，對所述數(shù)字輸出中的所述電信號的所述數(shù)字表示進行能量分箱和計 數(shù)，并且在所述信號分析器(214)不能識別所述數(shù)字輸出中的所述電信號的所述數(shù)字表示 時，對所述數(shù)字輸出進行積分。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的醫(yī)療成像設(shè)備，其中，所述探測器陣列(112)為直接轉(zhuǎn)換探 測器。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的醫(yī)療成像設(shè)備，其中，所述探測器陣列(112)為間接轉(zhuǎn)換探 測器。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的醫(yī)療成像設(shè)備，其中，在所探測輻射的χ射線通量相對高 時，所述輻射敏感探測器陣列(112)對數(shù)字化的輸出進行積分，在所探測輻射的χ射線通量 相對低時，所述輻射敏感探測器陣列(112)對所述數(shù)字化的輸出中的脈沖進行能量分箱和 計數(shù)。
16.一種方法，包括確定數(shù)字化信號中的數(shù)字化脈沖是否相對于彼此可識別，其中，每個數(shù)字化脈沖對應(yīng) 于從由醫(yī)療成像系統(tǒng)(100)發(fā)射的輻射束探測的光子的能量；在所述數(shù)字化脈沖相對于彼此可識別時，對所述數(shù)字化脈沖進行能量分辨；以及 在所述數(shù)字化脈沖相對于彼此不可識別時對所述數(shù)字信號進行積分。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，還包括在所述數(shù)字化脈沖相對于彼此可識別時對所 述數(shù)字信號進行積分。
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，還包括對來自探測所述輻射束的輻射敏感探測器 (112)的信號進行數(shù)字化以產(chǎn)生至少一個所述數(shù)字化脈沖。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中，所述輻射敏感探測器(112)包括光電傳感器 (204)和放大器(206)，且所述光電傳感器(204)感測所述輻射束，并且所述放大器(206) 產(chǎn)生所述信號。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述輻射敏感探測器(112)包括晶片(208)， 其中，所述光電傳感器(204)和所述放大器(206)位于所述晶片(208)上。
21.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，還包括采用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來確定所述數(shù)字化脈沖是否相 對于彼此可識別。
22.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，還包括從所述數(shù)字化信號產(chǎn)生時間信號。
23.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其中，通過前沿鑒別或恒比鑒別之一產(chǎn)生所述時間信號。
24.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，還包括將所述時間信號用于正電子發(fā)射斷層攝影掃 描器(100)中的符合測量中。
25.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，還包括在所述數(shù)字化脈沖相對于彼此可識別時既對 所述數(shù)字化脈沖進行能量分辨又對所述數(shù)字信號進行積分。
全文摘要
一種輻射敏感探測器陣列(112)包括探測光子并產(chǎn)生指示所探測光子的信號的光電傳感器(204)。該輻射敏感探測器陣列(112)還包括信號分析器(214)，在所述信號分析器(214)能夠識別所述光電傳感器(204)的輸出中的信號時，對信號進行能量分箱和計數(shù)，并且在所述信號分析器(214)不能識別所述光電傳感器(204)的輸出中的信號時，在積分周期上對所述光電傳感器(204)的輸出進行積分。
文檔編號G01T1/17GK101903799SQ200880121398
公開日2010年12月1日 申請日期2008年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月20日
發(fā)明者N·魏納 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司