專利名稱：測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試裝置，特別是涉及一種測試待測板的電氣信號的測試裝置。
背景技術(shù)：
印刷電路板組件(printed circuit board assembly, PCBA )在制造完成后，需藉由測試裝置對印刷電路板組件進行電器信號的測試，以確保印刷電路板組件的可靠度。
請參閱圖1所示，是現(xiàn)有習(xí)知的一種測試裝置的示意圖?，F(xiàn)有習(xí)知的測試裝置100包括一探針基座110、多個探針組120以及一承載件130。探針基座110具有多個貫孔112，每一探針組120包括一可伸縮的探針122與一探針套124。探針套124穿設(shè)于貫孔112內(nèi)并固定于探針基座110上，每一探針套124中并容置一探針122，而探針122可伸縮的部分則露出于探針套124外。承載件130具有一容置槽132，以容置一待測板50。此外，探針基座110更具有多個定位孔114，而承載件130更具有多個定位柱134。承載件130適于沿方向Dl移動至測試位置。
請參閱圖2所示，是圖1的測試裝置進行測試時的剖面示意圖。當(dāng)承載件130移動至測試位置時，承載件130的定位柱134分別穿過對應(yīng)的定位孔114，且由于該容置槽132的底部具有分別對應(yīng)待測板50的多個測試接點52的多個貫孔133可使探針122分別穿過，因此待測板50上的測試接點52即可分別抵壓對應(yīng)的探針122。探針122分別穿過貫孔133而與測試接點52接觸。此外，探針122的底部電性連接至測試模塊(圖未示)，以使測試模塊能通過探針122對待測板50進行測試。
由于待測板50上難免會殘留都性物質(zhì)(如松香)，當(dāng)待測板50放到容置槽132中時，容置槽132內(nèi)也會被勦附殘留黏性物質(zhì)，而探針122與待測板50接觸后，黏性物質(zhì)也會黏附于探針122上。測試裝置100經(jīng)過長時間與不同的測試板50接觸測試后，探針122上的黏性物質(zhì)即會逐漸累積。當(dāng)探針122上的黏性物質(zhì)的量累積到一定程度時，探針122容易通過黏性物質(zhì)而黏附于待測板50上。如此，當(dāng)從測試裝置100取出待測板50時，探針122會隨著承載件130移動，而自探針套124中脫離。在現(xiàn)有習(xí)知的技術(shù)中，為防止因探針122的脫離導(dǎo)致無法完成測試，需經(jīng)常耗費時間清除黏性物質(zhì)以維護測試裝置100的正常作動，導(dǎo)致測試效率低落。由此可見，上述現(xiàn)有的測試裝置在結(jié)構(gòu)與使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進一步改進。為了解決上述存在的問題,相關(guān)廠商莫不費盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品又沒有適切結(jié)構(gòu)能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新型的測試裝置，實屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之一，亦成為當(dāng)前業(yè)界極需改進的目標。
有鑒于上述現(xiàn)有的測試裝置存在的缺陷，本實用新型人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計制造多年豐富的實務(wù)經(jīng)驗及專業(yè)知識，并配合學(xué)理的運用，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型的測試裝置，能夠改進一般現(xiàn)有的測試裝置，使其更具有實用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計，并經(jīng)過反復(fù)試作樣品及改進后，終于創(chuàng)設(shè)出確具實用價值的本實用新型。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目的在于，克服現(xiàn)有的測試裝置存在的缺陷，而提供一種新型的測試裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其提高測試效率，非常適于實用。
本實用新型的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的。依據(jù)本實用新型提出的一種測試裝置，適于測試一待測板，且該待測板具
有多個測試接點，該測試裝置包括 一探針基座；多個探針組，每一探針
組包括一探針與一探針套，該探針套固定于該探針基座，該探針具有一第
一部分與一第二部分，該第一部分容置于該探針套中，且該第一部分的直徑大于該第二部分的直徑，該第一部分的一端并具有與該第二部分結(jié)合的連
接端，而該第二部分可在該第一部分中伸縮；以及一固定板，配置于該探針基座上，該固定板具有分別對應(yīng)該些探針組的多個錐形貫孔，每一錐形貫孔具有相對的一開口端與一縮口端，且該開口端鄰近該探針基座，該些探針的該些第二部分分別穿過該些錐形貫孔，并與該待測板的該些測試接點接觸，而該些探針的第一部分的連接端分別抵靠于該些錐形貫孔的孔壁。本實用新型的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進一 步實現(xiàn)。
前述的測試裝置，其更包括一承栽件，該承載件具有相對的一第一表面與一第二表面，其中，該第一表面適于承載該待測板，而該第二表面則
面向該4笨針基座。
前述的測試裝置，其中所述的承載件更具有朝該探針基座延伸的多個定位柱，而該探針基座具有分別對應(yīng)該些定位柱的多個定位孔，當(dāng)該承載件移動至 一測試位置時，該些定位柱分別穿入該些定位孔。
前述的測試裝置，其中所述的探針，其中每一探針的第一部分的連接端呈配合該些錐形貫孔的漸縮狀。
前述的測試裝置，其中所述的承載件的該第 一表面具有一第 一容置槽，以容置該待測板。
前述的測試裝置，其中所述的第一容置槽的底部具有多個貫孔，而該些探針的第二部分分別穿過該些貫孔而分別接觸該測試板的該些測試接點。
前述的測試裝置，其中所述的承栽件的該第二表面具有一第二容置槽，以在該承載件移動至一測試位置時，容置該固定板。
前述的測試裝置，其中所述的固定板通過一鎖固件而鎖固于該探針基座。
前述的測試裝置，其中所述的鎖固件為一螺絲，該探針基座具有一第一鎖固孔，該固定板具有一第二鎖固孔，而該鎖固件穿過該第二鎖固孔而鎖固于該第 一鎖固孔內(nèi)，且該第二鎖固孔容置該螺絲的一螺頭端。
前述的測試裝置，其更包括一測試模塊，電性連接至每一探針的第一部分的底部。
本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點和有益效果。由以上可知，為達到上述目的，本實用新型提供了一種測試裝置，其適于測試一待測板，且待測板具有多個測試接點。此測試裝置包括探針基座、多個探針組及固定板。各探針組包括探針與固定于探針基座的探針套，其中探針具有一第一部分與一第二部分，第一部分的直徑大于該第二部分的直徑，且第一部分是容置于探針套中。第一部分一端具有一連接端，以與第二部分結(jié)合，并使第二部分可于第一部分內(nèi)伸縮。固定板配置于探針基座上，且具有分別對應(yīng)探針組的多個錐形貫孔。各錐形貫孔具有相對的開口端與縮口端，而開口端為鄰近探針基座。該探針的第二部分是穿過錐形貫孔的縮口端，且第一部分的連接端為抵靠于錐形貫孔的孔壁，而探針的第二部分則可分別接觸一測試板上的測試接點。
在本實用新型的一實施例中，上述的每一探針的第一部分的連接端呈配合錐形貫孔的漸縮狀。
在本實用新型的一實施例中，上述的測試板被置于一承載件上。
在本實用新型的一實施例中，上述的承載件的第一表面具有一第一容置槽，以容置待測板。在本實用新型的一實施例中，上述的第一容置槽的底部具有多個貫孔，而探針是分別穿過貫孔而分別接觸測試板的測試接點。
在本實用新型的 一 實施例中，上述的承載件的第二表面具有 一 第二容置槽，以于承載件移動至測試位置時，容置固定板。
在本實用新型的一實施例中，上述的固定板是通過一鎖固件而鎖固于探針基座。在本實用新型的一實施例中，上述的鎖固件為一螺絲，探針基座具有一第一鎖固孔，固定板具有一第二鎖固孔，而鎖固件是穿過第二鎖固孔而鎖固于第 一鎖固孔內(nèi)，且第二鎖固孔容置螺絲的 一螺頭端。
在本實用新型的一實施例中，上述的測試裝置更包括一測試模塊，電
性連接每一探針的第 一部分的底部。
借由上述技術(shù)方案，本實用新型測試裝置至少具有下列優(yōu)點及有益效果,.
在本實用新型中，由于固定板的錐形貫孔可使探針的第 一部分的連接端抵靠于錐形貫孔的孔壁，所以即使探針因黏性物質(zhì)過多而黏附于待測板，探針仍會受到錐形貫孔的限制而不會隨著待測板移動，所以本實用新型的測試裝置能防止探針從探針套脫離。如此，可減少維護本實用新型的測試裝置的時間，進而提升測試效率。
綜上所述，本實用新型一種測試裝置，包括探針基座、多個探針組及固定板。各探針組包括探針與固定于探針基座的探針套，探針容置于探針套中。探針具有第一部分與第二部分，且第一部分一端具有一連接端，以與第二部分結(jié)合，并使第二部分可于第一部分內(nèi)伸縮。固定板配置于探針基座上，且具有分別對應(yīng)探針組的多個錐形貫孔。各錐形貫孔具有相對的開口端與縮口端，開口端鄰近探針基座。探針的第二部分穿過錐形貫孔的縮口端，第一部分的連接端抵靠錐形貫孔的孔壁，探針的第二部分分別接觸測試板的測試接點。當(dāng)測試板移開，探針可利用錐形貫孔的限制，而不致脫離彈起。本實用新型具有上述諸多優(yōu)點及實用價值，其不論在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或功能上皆有較大改進，在技術(shù)上有顯著的進步，并產(chǎn)生了好用及實用的效果，且較現(xiàn)有的測試裝置具有增進的突出功效，從而更加適于實用，誠為一新穎、進步、實用的新設(shè)計。
上述說明僅是本實用新型技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本實用新型的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本實用新型的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細說明如下。


圖l是現(xiàn)有習(xí)知的一種測試裝置的示意圖。
圖2是圖1的測試裝置進行測試時的剖面示意圖。
圖3是本實用新型一較佳實施例的一種測試裝置的分解立體圖。
圖4是圖3的測試裝置進行測試時的剖面示意圖。
50、 60:待測板 52、 62:測試接點
100、 200:測試裝置 110、 210:探針基座112、 133、 216、 231:貫孔
120、 220:探針組
124、 224:探針套
132:容置槽
214:第一鎖固孔
222a:第一部分
225
底端
233:第一容置槽235:第二容置槽242:錐形貫孔242b:縮口端244:第二鎖固孔252:螺頭端
114、 212:疋位孔122、 222:探針130、 230:承載件134、 236:定位柱221:連接端222b:第二部分232234240:
242a:開口端242c:孔壁250:鎖固件Dl、 D2:方向
具體實施方式
為更進一步闡述本實用新型為達成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，
以下結(jié)合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本實用新型提出的測試裝置其具體實施方式
、結(jié)構(gòu)、特征及其功效，詳細說明如后。
有關(guān)本實用新型的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點及功效，在以下配合參考圖一式口的較佳，施例的詳細說明中將可清，呈現(xiàn)。通過具體實施，式的說
深入且具體的了解，然而所附圖式僅是提供參考與說明之用，并非用來對本實用新型加以限制。
請參閱圖3與圖4,圖3是本實用新型一較佳實施例的一種測試裝置的分解立體圖，而圖4是圖3的測試裝置進行測試時的剖面示意圖。本實施例的測試裝置200適于測試一待測板60，且待測板60具有多個測試接點62。此測試裝置200包括一探針基座210、多個探針組220以及一固定板240。每一探針組220包括一探針222與一探針套224,該探針套224固定于探針基座210,而探針222是容置于探針套224中。該探針222具有一第一部分222a與一第二部分222b，第一部分222a的直徑大于第二部分222b的直徑，且在該第一部分222a的一端具有一連接端221,該連接端221與第二部分222b結(jié)合，并使第二部分222b可在第一部分222a內(nèi)彈性伸縮(本部分屬現(xiàn)有習(xí)知的探針結(jié)構(gòu)，故在此不予贅述)。該第二部分222b的頂端可露出于該探針套224外，固定板240是配置于探針基座210上，且固定板240具有分別對應(yīng)4冢針組220的多個錐形貫孔242。每一錐形貫孔242具有相對的一開口端242a與一縮口端242b，且開口端242a鄰近纟笨針基座210。
面面
表表板
一 二定
第第固探針222的第二部分222b分別穿過錐形貫孔242,以露出于錐形貫孔242，而第一部分222a及其連接端221則受到縮口端242b的限制無法穿越錐形貫孔242，如此可使連接端221分別抵靠于錐形貫孔242的孔壁242c。
本實施例在實施時，該待測板60可用一承載件230來承載，該承栽件230具有相對的一第一表面232與一第二表面234，第一表面232適于承載該待測板60，而第二表面234面向探針基座210。承載件230適于沿一預(yù)定路徑移動至該測試裝置上方的測試位置，以使探針222的第二部分222b分別接觸該測試板60的測試接點62。具體而言，承栽件230適于沿著圖3的方向D2移動，以接近探針基座210,而承載件230在圖4中的位置即上述的測試位置。
在本實施例中，承載件230更具有朝4采針基座210延伸的多個定位柱236，而探針基座210具有分別對應(yīng)定位柱236的多個定位孔212。當(dāng)承載件230移動至測試位置時，定位柱236是分別穿入定位孔212。此外，承載件230的第一表面232具有一第一容置槽233,以容置待測板60。第一容置槽233的底部具有多個貫孔231，且這些貫孔231是分別對應(yīng)待測板60的測試接點62。當(dāng)承載件230移動至測試位置時，探針222的第二部分222b是分別穿過這些貫孔231以與該測試接點62接觸。承栽件230的第二表面234具有一第二容置槽235，以在承載件230移動至測試位置時，容置固定板240。
固定板240例如是通過一鎖固件250而鎖固于探針基座210。更詳細地說，鎖固件250例如為一螺絲，探針基座210具有一第一鎖固孔214，固定板M0具有一第二鎖固孔244，而鎖固件250是穿過第二鎖固孔244而鎖固于第一鎖固孔214內(nèi)，且第二鎖固孔244容置鎖固件250的一螺頭端252。此外，探針基座210更具有多個貫孔216，而該探針套224為穿過該貫孔216并固定于貫孔216中，探針222并置于該探針套224中。
在本實施例中，當(dāng)承載件230移動至測試位置時，待測板60的測試接點62會抵壓對應(yīng)的探針222的第二部分222b，而由于該第二部分222b是可伸縮于第一部分222a內(nèi)，所以當(dāng)待測板60的測試接點62抵壓探針222的第二部分222b時，第二部分222b會稍微縮入第一部分222a內(nèi)，如此可避免探針222彎曲變形。此外，探針222的第一部分222a的底端225例如是電性連接至測試模塊(圖未示)，以使測試模塊能通過探針222對待測板60進行測試。
雖然待測板60上殘留的黏性物質(zhì)(如松香)容易黏附于探針222或是容置槽233上，導(dǎo)致探針222因黏性物質(zhì)而黏附于待測板60，但本實施例的測試裝置200具有固定板240，且固定板240的錐形貫孔242可使探針222第一部分222a的連接端221受到該錐形貫孔242孔壁242c的抵擋限制。當(dāng)取下#*討反60時，固定板240的錐形貫孔242能固定住探針222的位置，以 防止探針222脫離探針套224。換言之，即使探針222黏附于待測板60，當(dāng) 取下待測板60時，待測板60仍會與黏附于待測板60上的探針222分離。 因此，本實施例的測試裝置200能防止探針222自探針套224中脫離，如 此可減少維護測試裝置200的時間，進而提升測試效率。
承上述，在本實施例中，每一探針222的第一部分222a的連接端221 例如是呈配合錐形貫孔242的漸縮狀，以使探針222的第一部分222a的連 接端221緊密接觸錐形貫孔242的孔壁242c，而不易晃動。如此，可防止 探針222與錐形貫孔242的間產(chǎn)生摩擦而導(dǎo)致探針222損壞，或是導(dǎo)致錐 形貫孔242的縮口端242b的孔徑變大而造成相鄰兩探針222接觸而產(chǎn)生短 路的現(xiàn)象。
綜上所述，雖然探針會因黏性物質(zhì)過多而l占附于待測板，但由于本實 用新型的測試裝置具有固定板，且固定板的錐形貫孔可使探針抵靠于錐形 貫孔的孔壁，以防止探針隨著待測板移動而脫離探針套。因此，本實用新 型的測試裝置可節(jié)省維護時間，進而提升測試效率。
以上所述，僅是本實用新型的較佳實施例而已，并非對本實用新型作任 何形式上的限制，雖然本實用新型已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以 限定本實用新型，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本實用新型技術(shù)方 案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動或修飾為等同變化 的等效實施例，但凡是未脫離本實用新型技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本實用新型 的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬 于本實用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1. 一種測試裝置，適于測試一待測板，且該待測板具有多個測試接點，其特征在于其包括一探針基座；多個探針組，每一探針組包括一探針與一探針套，該探針套固定于該探針基座，該探針具有一第一部分與一第二部分，該第一部分容置于該探針套中，且該第一部分的直徑大于該第二部分的直徑，該第一部分的一端并具有與該第二部分結(jié)合的連接端，而該第二部分可在該第一部分中伸縮；以及一固定板，配置于該探針基座上，該固定板具有分別對應(yīng)該些探針組的多個錐形貫孔，每一錐形貫孔具有相對的一開口端與一縮口端，且該開口端鄰近該探針基座，該些探針的該些第二部分分別穿過該些錐形貫孔，并與該待測板的該些測試接點接觸，而該些探針的第一部分的連接端分別抵靠于該些錐形貫孔的孔壁。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，^4衫正在于其更包括一承載件，該承載件具有相對的一第一表面與一第二表面，其中，該第一表面適于承載該待測板，而該第二表面則面向該探針基座。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于其中所述的承載件更具有朝該探針基座延伸的多個定位柱，而該探針基座具有分別對應(yīng)該些定位柱的多個定位孔，當(dāng)該承載件移動至一測試位置時，該些定位柱分別穿入該些定位孔。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的探針，其中每一探針的第一部分的連接端呈配合該些錐形貫孔的漸縮狀。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于其中所述的承載件的該第一表面具有一第一容置槽，以容置該待測板。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試裝置，其特征在于其中所述的第一容置槽的底部具有多個貫孔，而該些探針的第二部分分別穿過該些貫孔而分別接觸該測試板的該些測試接點。
7. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于其中所述的承載件的該第二表面具有一第二容置槽，以在該承載件移動至一測試位置時，容置該固定板。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其中所述的固定板通過一鎖固件而鎖固于該4笨針基座。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于其中所述的鎖固件為一螺絲，該探針基座具有一第一鎖固孔，該固定板具有一第二鎖固孔，而該鎖固件穿過該第二鎖固孔而鎖固于該第 一鎖固孔內(nèi)，且該第二鎖固孔容置該螺絲的一螺頭端。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于其更包括一測試模塊，電性連接至每一探針的第一部分的底部。
專利摘要本實用新型是有關(guān)于一種測試裝置，包括探針基座、多個探針組及固定板。各探針組包括探針與固定于探針基座的探針套，探針容置于探針套中。探針具有第一部分與第二部分，且第一部分一端具有一連接端，以與第二部分結(jié)合，并使第二部分可在第一部分內(nèi)伸縮。固定板配置于探針基座上，且具有分別對應(yīng)探針組的多個錐形貫孔。各錐形貫孔具有相對的開口端與縮口端，開口端鄰近探針基座。探針的第二部分穿過錐形貫孔的縮口端，第一部分的連接端抵靠錐形貫孔的孔壁，探針的第二部分分別接觸測試板的測試接點。當(dāng)測試板移開，探針可利用錐形貫孔的限制，而不致脫離彈起。
文檔編號G01R31/00GK201266222SQ20082014031
公開日2009年7月1日 申請日期2008年10月10日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月10日
發(fā)明者蔡竹青, 錢順榮 申請人:環(huán)隆電氣股份有限公司