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Pcb板用電測(cè)試探頭的制作方法

文檔序號(hào):6033061閱讀:188來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:Pcb板用電測(cè)試探頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及PCB板,特別的涉及其加工過(guò)程測(cè)試設(shè)備。
背景技術(shù)
PCB板就是印刷電路板,幾乎會(huì)出現(xiàn)在每一種電子設(shè)備當(dāng)中。而電子零件就鑲在大小各 異的PCB板上。隨著電子設(shè)備越來(lái)越復(fù)雜,需要的零件越來(lái)越多,PCB板上的線路與零件也 越來(lái)越密集。該板由絕緣隔熱、并不易彎曲的材質(zhì)構(gòu)成基板,在表面可以看到的細(xì)小線路材 料是銅箔,原本銅箔是覆蓋在整個(gè)板子上,在制造過(guò)程中部分被蝕刻處理掉,留下來(lái)的部份 就變成網(wǎng)狀的細(xì)小線路了。這些線路被稱作導(dǎo)線或稱布線,并用來(lái)提供PCB板上零件的電路 連接。
現(xiàn)有PCB板生產(chǎn)過(guò)程中需要不時(shí)對(duì)其電路進(jìn)行開(kāi)短路測(cè)試,通常用的電測(cè)試探頭的端點(diǎn) 即測(cè)試端為尖頭形狀,由于尖頭較為鋒利,探測(cè)過(guò)程中與被測(cè)電路板接觸面積小,常常導(dǎo)致 接觸不良探測(cè)有誤,而且由于鋒利還會(huì)劃傷焊接點(diǎn),產(chǎn)生劃痕,影響外觀。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、檢測(cè)可靠的PCB板用電測(cè)試探頭。 實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型目的的技術(shù)方案如下
一種PCB板用電測(cè)試探頭,具有探頭身和測(cè)試端,上述測(cè)試端為圓弧形。由于上述電測(cè) 試探頭的測(cè)試端為圓弧形,當(dāng)用來(lái)檢測(cè)PCB板的開(kāi)短路時(shí),其與電路板的接觸面積大大增加, 保證接觸良好,不致誤測(cè);另外由于其圓弧形接觸面,不會(huì)劃傷電路板表面,保護(hù)了PCB板 外觀不受損。


圖l為本實(shí)用新型示意圖。
具體實(shí)施方式
見(jiàn)圖l,本實(shí)用新型PCB板的電測(cè)試探頭的測(cè)試端1為圓弧形。該探頭安裝在測(cè)試模具上, 然后將PCB板與模具對(duì)準(zhǔn)后進(jìn)行電測(cè)試。當(dāng)用來(lái)測(cè)試PCB板的開(kāi)短路情況時(shí),上述電測(cè)試探 頭的測(cè)試端與電路板的被測(cè)試點(diǎn)有良好的接觸面積,保證了良好的電導(dǎo)通,不會(huì)發(fā)生誤測(cè)現(xiàn) 象。而且由于圓弧形測(cè)試端不會(huì)劃傷PCB板,不會(huì)因?yàn)榻?jīng)過(guò)測(cè)試而影響其美觀。
權(quán)利要求1、一種PCB板用電測(cè)試探頭,具有探頭身和測(cè)試端(1),其特征在于上述測(cè)試端為圓弧形。
專利摘要本實(shí)用新型涉及PCB板,特別的涉及其加工過(guò)程測(cè)試設(shè)備。目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、檢測(cè)可靠的PCB板用電測(cè)試探頭。一種PCB板用電測(cè)試探頭,具有探頭身和測(cè)試端,上述測(cè)試端為圓弧形。由于上述電測(cè)試探頭的測(cè)試端為圓弧形,當(dāng)用來(lái)檢測(cè)PCB板的開(kāi)短路時(shí),其與電路板的接觸面積大大增加,保證接觸良好,不致誤測(cè);另外由于其圓弧形接觸面,不會(huì)劃傷電路板表面,保護(hù)了PCB板外觀不受損。
文檔編號(hào)G01R1/067GK201212894SQ20082003971
公開(kāi)日2009年3月25日 申請(qǐng)日期2008年7月8日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月8日
發(fā)明者姜其斌, 陳定紅, 黃小敏 申請(qǐng)人:常州澳弘電子有限公司
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