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Ic卡插拔壽命試驗臺的制作方法

文檔序號:5839530閱讀:316來源:國知局
專利名稱:Ic卡插拔壽命試驗臺的制作方法
技術領域
本發(fā)明涉及試驗臺,特別是涉及一種IC卡插拔壽命試驗臺。
背景技術
隨著電子技術的發(fā)展,目前IC卡的應用很廣泛,IC卡及IC卡裝置的插拔
壽命需要進行測試,采用人工方式效率太低,而且無法滿足復雜的測試要求、
準確提供試驗數(shù)據(jù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種ic卡插拔壽命試驗臺,可用于IC卡及IC卡裝置
的插拔壽命試驗。
為了達到上述目的,本發(fā)明采用的技術方案是
包括試驗臺架、兩個結構相同的夾裝機構和插拔系統(tǒng);其中兩個結構相 同的夾裝機構相向同軸安裝在試驗臺架的兩側(cè),調(diào)節(jié)夾裝機構的軸向位置能夾 裝IC卡裝置,在兩個結構相同的夾裝機構一側(cè)安裝插拔系統(tǒng),插拔系統(tǒng)垂直于 兩個結構相同的夾裝機構中間,插拔系統(tǒng)前端的IC卡安裝板上安裝IC卡,IC 卡作前后移動,IC卡能插入或拔離IC卡裝置的插卡孔中。
所述的兩個結構相同的夾裝機構均包括夾裝頂桿、夾裝支撐螺母和頂桿帽; 夾裝支撐螺母分別固定安裝在兩側(cè)的試驗臺架上,裝有頂桿帽的夾裝頂桿與夾 裝支撐螺母間為螺紋副配合,轉(zhuǎn)動夾裝頂桿,兩頂桿帽能軸向相向移動能夾裝 IC卡裝置。
所述的插拔系統(tǒng)包括底板、電機座、電機、聯(lián)軸器、后軸承座及軸承、滾 珠絲桿、螺母及連接件、IC卡安裝板、磁鋼、前軸承座及軸承、滑塊和兩根導 軌;底板安裝在試驗臺架內(nèi)的板上;電機座安裝在底板偏離夾裝機構的一端; 電機和后軸承座及軸承安裝在電機座上;前軸承座及軸承安裝在底板的朝向夾 裝機構的一端;滾珠絲桿由后軸承座及軸承和前軸承座及軸承共同支撐;滾珠 絲桿和電機之間通過聯(lián)軸器連接;兩個導軌安裝在底板上,每個導軌上各安裝 一個滑塊;螺母及連接件安裝在兩個滑塊上,螺母及連接件與滾珠絲桿形成螺 旋副;IC卡安裝板安裝在螺母及連接件的上端面;朝向夾裝機構一端的IC卡安 裝板放置IC卡,磁鋼壓在IC卡上,IC卡一端露出IC卡安裝板外。
本發(fā)明具有的有益效果是
它可設置參數(shù)豐富,具有工作可靠、操作方便的特點,可用于IC卡及IC
卡裝置的插拔壽命試驗。


圖1是本發(fā)明的總體結構原理示意圖。
圖2是圖1的夾裝機構原理放大圖。
圖3是圖1的插拔系統(tǒng)原理放大圖。
圖4是本發(fā)明的插拔系統(tǒng)的原理放大示意圖。
圖5是IC卡裝置一種安裝方式示意圖。
圖6是IC卡裝置另一種安裝方式示意圖。
圖中1、試驗臺架,2、夾裝機構,3、插拔系統(tǒng),4、 IC卡裝置,5、夾裝 頂桿,6、夾裝支撐螺母,7、頂桿帽,8、底板,9、電機座,10、電機,11、 聯(lián)軸器,12、后軸承座及軸承,13、滾珠絲桿,14、螺母及連接件,15、 IC卡 安裝板,16、磁鋼,17、前軸承座及軸承,18、滑塊,19、導軌,20、 IC卡。
具體實施例方式
下面結合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的說明。
如圖l、圖2、圖3、圖4所示,本發(fā)明包括試驗臺架l、夾裝機構2、插拔 系統(tǒng)3、自動控制系統(tǒng);其中
夾裝機構2包括左右兩個對稱的部分,安裝在試驗臺架1的后半部分,位 置可調(diào)節(jié),被夾裝IC卡裝置可隨意調(diào)整角度;插拔系統(tǒng)3安裝在試驗臺架內(nèi)1、 夾裝機構2的前面,它夾持IC卡并實現(xiàn)前后插拔動作;前面板安裝在試驗臺架 1的前面,用于安裝各種人機界面;自動控制系統(tǒng)包括人機界面和運動控制子系
統(tǒng)兩部分,運動控制子系統(tǒng)安裝在試驗臺架1內(nèi)。
所說的夾裝機構2包括夾裝頂桿5、夾裝支撐螺母6、頂桿帽7;夾裝支撐 螺母6固定安裝在試驗臺架1上,前后位置可自由調(diào)節(jié);裝有頂桿帽7的夾裝 頂桿5與夾裝支撐螺母6間為螺紋副配合,實現(xiàn)夾裝功能。
所說的插拔系統(tǒng)3包括底板8、電機座9、電機10、聯(lián)軸器11、后軸承座 及軸承12、滾珠絲桿13、螺母及連接件14、 IC卡安裝板15、磁鋼16、前軸承 座及軸承17、滑塊18、導軌19;底板8安裝在試驗臺架1上;電機座9安裝在
地板8的后端;電機10和后軸承座及軸承12安裝在電機座9上;前軸承座及
軸承17安裝在底板8的前端;滾珠絲桿13由后軸承座及軸承12和前軸承座及 軸承17共同支撐;滾珠絲桿13和電機10之間通過聯(lián)軸器11連接;兩個導軌 19安裝在底板8上,每個導軌19上各安裝一個滑塊18;螺母及連接件14安裝
在兩個滑塊18上,并與滾珠絲桿13形成螺旋副;IC卡安裝板15安裝在螺母及 連接件14上;磁鋼16放置在IC卡安裝板15上。 本發(fā)明的工作原理如下
IC卡裝置4通過夾裝機構2夾裝在試驗臺架1上,夾裝的前后位置可以通 過調(diào)節(jié)夾裝機構2的位置調(diào)節(jié),并且IC卡裝置4的安裝角度可以隨意調(diào)節(jié)IC 卡20安放在IC卡安裝板15上,用磁鋼16將IC卡20固定在IC卡安裝板16 上,工作時電機10帶動滾珠絲桿13轉(zhuǎn)動,螺母及連接件14隨滾珠絲桿13的 正反轉(zhuǎn)前后移動,IC卡安裝板15及安裝在其上的IC卡20隨著前后移動,實現(xiàn) IC卡20在IC卡裝置4插卡孔中來回插拔,如圖5和圖6所示,IC卡和IC卡 裝置的夾角是可以通過改變IC卡裝置的安裝角度調(diào)節(jié)的,圖5為垂直插拔,圖 6為任意角度的插拔。人機界面由觸摸屏、按鈕、指示燈等組成;通過人機界面 可以設置參數(shù)、操作控制、査看結果;IC卡插拔的距離、次數(shù)、速度及停頓時 間等均可通過人機界面設置,并且由可編程控制器(PLC)控制,實時顯示當前 完成插拔次數(shù),達到設定插拔次數(shù)時報警提醒用戶。
權利要求
1、一種IC卡插拔壽命試驗臺,其特征在于包括試驗臺架(1)、兩個結構相同的夾裝機構(2)和插拔系統(tǒng)(3);其中兩個結構相同的夾裝機構(2)相向同軸安裝在試驗臺架(1)的兩側(cè),調(diào)節(jié)夾裝機構(2)的軸向位置能夾裝IC卡裝置(4),在兩個結構相同的夾裝機構(2)一側(cè)安裝插拔系統(tǒng)(3),插拔系統(tǒng)(3)垂直于兩個結構相同的夾裝機構(2)中間,插拔系統(tǒng)(3)前端的IC卡安裝板(15)上安裝IC卡(20),IC卡(20)作前后移動,IC卡(20)能插入或拔離IC卡裝置(4)的插卡孔中。
2、 根據(jù)權利要求1所述的一種IC卡插拔壽命試驗臺,其特征在于所述 的兩個結構相同的夾裝機構(2)均包括夾裝頂桿(5)、夾裝支撐螺母(6)和頂桿帽 (7);夾裝支撐螺母(6)分別固定安裝在兩側(cè)的試驗臺架(1)上,裝有頂桿帽(7)的夾 裝頂桿(5)與夾裝支撐螺母(6)間為螺紋副配合,轉(zhuǎn)動夾裝頂桿(5),兩頂桿帽(7) 能軸向相向移動能夾裝IC卡裝置(4)。
3、 根據(jù)權利要求1所述的一種IC卡插拔壽命試驗臺,其特征在于所述 的插拔系統(tǒng)(3)包括底板(8)、電機座(9)、電機(IO)、聯(lián)軸器(ll)、后軸承座及軸承 (12)、滾珠絲桿(13)、螺母及連接件(14)、 IC卡安裝板(15)、磁鋼(16)、前軸承座 及軸承(17)、滑塊(18)和兩根導軌(19);底板(8)安裝在試驗臺架(1)內(nèi)的板上;電 機座(9)安裝在底板(8)偏離夾裝機構(2)的一端;電機(10)和后軸承座及軸承(12) 安裝在電機座(9)上;前軸承座及軸承(17)安裝在底板(8)的朝向夾裝機構(2)的一 端;滾珠絲桿(13)由后軸承座及軸承(12)和前軸承座及軸承(17)共同支撐;滾珠 絲桿(13)和電機(10)之間通過聯(lián)軸器(11)連接;兩個導軌(19)安裝在底板(8)上,每 個導軌(19)上各安裝一個滑塊(18);螺母及連接件(14)安裝在兩個滑塊(18)上,螺 母及連接件(14)與滾珠絲桿(13)形成螺旋副;IC卡安裝板(15)安裝在螺母及連接 件(14)的上端面;朝向夾裝機構(2)—端的IC卡安裝板(15)放置IC卡(20),磁鋼 (16)壓在IC卡(20)上,IC卡(20)—端露出IC卡安裝板(15)外。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種IC卡插拔壽命試驗臺。將兩個結構相同的夾裝機構相向同軸安裝在試驗臺架的兩側(cè),調(diào)節(jié)夾裝機構的軸向位置能夾裝IC卡裝置,在兩個結構相同的夾裝機構一側(cè)安裝插拔系統(tǒng),插拔系統(tǒng)垂直于兩個結構相同的夾裝機構中間,插拔系統(tǒng)前端的IC卡安裝板上安裝IC卡,IC卡作前后移動它能插入或拔離IC卡裝置的插卡孔中。通過人機界面設置參數(shù)、操作控制、查看結果;IC卡插拔的距離、次數(shù)、速度及停頓時間等均可通過人機界面設置,并且由可編程控制器控制,實時顯示當前完成插拔次數(shù),達到設定插拔次數(shù)時報警提醒用戶。本發(fā)明工作可靠、操作方便,可廣泛用于各種IC卡及IC卡裝置插拔壽命試驗。
文檔編號G01M99/00GK101349617SQ20081012040
公開日2009年1月21日 申請日期2008年8月26日 優(yōu)先權日2008年8月26日
發(fā)明者沈文新, 佳 程, 嵐 金, 陳賞順 申請人:浙江省計量科學研究院
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