專利名稱：芯片送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
芯片送樣裝置及^f吏用該送樣裝置的芯片閱讀裝置技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種對芯片監(jiān)測的技術(shù)，尤其涉及一種能在實現(xiàn)準確定位 的前提下對多個芯片進行檢驗的芯片送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置。背景技術(shù)：
芯片閱讀儀是一種專門進行芯片檢測和結(jié)果判定的分析裝置。目前，市場 中銷售的芯片閱讀儀種類較多，主要分為共聚焦顯微鏡式和光電耦合器件閱讀 儀。但是不論是共聚焦顯微鏡式閱讀以還是光電耦合器件閱讀儀在對芯片的檢 測過程中都存在有缺陷。市場上銷售的這些芯片閱讀儀都只能對芯片進行單一檢測。從閱讀儀結(jié)構(gòu) 的設(shè)計上，這些芯片閱讀儀的送樣裝置上安裝的芯片盛樣盤上只有一個檢測位， 在使用芯片閱讀儀進行芯片的檢測分析時只能對芯片進行單一的檢測，若需要 對多個芯片進行聯(lián)合檢測時，就必須將芯片從閱讀儀的送樣裝置上取出，重新 更換新的生物芯片才能實現(xiàn)新的檢測，這樣就影響了芯片檢測過程的效率，而
實用新型內(nèi)容為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不能實現(xiàn)對多個待檢測芯片同時聯(lián)合檢測的技 ^問題，本實用新型提供一種芯片送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置。本實用新型解決現(xiàn)有技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是提供一種芯片送樣裝 置，該芯片送樣裝置包括進樣盤，所述進樣盤上安裝有承栽芯片的盛樣盤，在 所述盛樣盤上安裝有至少兩個檢測位。根據(jù)本實用新型的一優(yōu)選實施例，所述芯片送樣裝置包括用于發(fā)出光電信號的信號發(fā)生裝置；用于屏蔽所述光電信號的遮擋構(gòu)件；所述信號發(fā)生裝置 與所述遮擋構(gòu)件相配合使用，實現(xiàn)所述檢測位在所述芯片送樣裝置上的定位。才艮據(jù)本實用新型的一優(yōu)選實施例，與第 一檢測位相對應(yīng)的位置安裝有兩個 單位的所述遮擋構(gòu)件，與余下所述檢測位相對應(yīng)的位置安裝有一個單位的所述 遮擋構(gòu)件。根據(jù)本實用新型一的優(yōu)選實施例，所述遮擋機構(gòu)為檔片。
本實用新型解決現(xiàn)有技術(shù)問題所采用的另一個技術(shù)方案是提高一種芯片 閱讀裝置，所述芯片閱讀裝置使用了在所述盛樣盤上安裝有至少兩個檢測位； 包括用于發(fā)出光電信號的信號發(fā)生裝置、用于屏蔽所述光電信號的遮擋構(gòu)件， 斧通過所述信號發(fā)生裝置與所述遮擋構(gòu)件相配合使用，實現(xiàn)所述^^測位在所述芯片送樣裝置上的定位的芯片送樣裝置。根據(jù)本實用新型一優(yōu)選實施例，所述盛樣盤在所述進樣盤中旋轉(zhuǎn)時所述檢 測位位置的確定是通過安裝在所述芯片送樣裝置上的信號發(fā)生裝置發(fā)出的光電 信號進行監(jiān)測。本實用新型的有益效果是通過采用上述結(jié)構(gòu)，使得芯片閱讀裝置在對芯 片進行^^測和分析過程中實現(xiàn)了對多個芯片的同時、聯(lián)合檢測，而且芯片閱讀 裝置在檢測芯片的過程中，多個檢測位進位準確，這樣就提高了芯片閱讀裝置 在檢測過程中對檢測點選取定位的準確性，使得芯片檢測裝置在保障檢測準確 性的基礎(chǔ)上提高了芯片檢測的效率。
圖1是本實用新型芯片送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置中芯片 送樣裝置結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是圖l所示的送樣裝置A-A剖面結(jié)構(gòu)示意圖。 圖3是圖1所示的送樣裝置B-B剖面結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是本實用新型芯片送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置中盛樣 盤后浮見結(jié)構(gòu)示意圖。圖5是本實用新型中光電信號發(fā)生裝置與遮擋構(gòu)件配合關(guān)系結(jié)構(gòu)示意圖。圖6是本實用新型芯片送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置中芯片 閱讀裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進行詳細說明。請參閱圖1、圖4和圖5,分別為本實用新型芯片送樣裝置及使用該送樣裝 置的芯片閱讀裝置中芯片送樣裝置結(jié)構(gòu)示意圖、盛樣盤后視結(jié)構(gòu)示意圖和光電 信號發(fā)生裝置與遮擋構(gòu)件配合關(guān)系結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1中所示，該芯片送樣裝 置1中，包括用于使檢測芯片進出芯片閱讀儀的進樣盤2，在進樣盤2上安裝有 承載芯片的盛樣盤3，該盛樣盤3可以在所述進樣盤2上旋轉(zhuǎn)。在實施例中，
該盛樣盤3上安裝有六個檢測位20,如囝4所示，在盛樣盤3上安裝有遮擋機 構(gòu)4，所述遮擋機構(gòu)4在本實施例中采用檔片的結(jié)構(gòu)設(shè)計，其中與圖中的第一檢 測位18相對應(yīng)的位置上安裝兩個檔片，余下的五個檢測位安裝一個檔片。當然， 對于檢測位相應(yīng)位置上安裝的檔片數(shù)量，也可以進行相應(yīng)的變化。目的是使檔 H與光電信號發(fā)生裝置相配合使用時(可參閱圖5)，可以產(chǎn)生不同頻率的光電 信號，實現(xiàn)檢測位在芯片檢測過程中的準確定位。請參閱圖2，是圖1所示的送樣裝置A-A剖面結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，該 芯片送樣裝置1還包括能使盛樣盤3在進樣盤2上實現(xiàn)旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)機構(gòu)。該旋 轉(zhuǎn)機構(gòu)由產(chǎn)生源動力的步進電機9,與步進電機9的輸出軸相連的主同步齒輪 丄0，該主同步齒輪10將傳動力通過同步輪皮帶11傳送給從同步齒輪12，通過 從同步齒輪12驅(qū)動與其相嚙合的盛樣盤齒輪13，并將該動力傳給盛樣盤3，使 得盛樣盤3在芯片的檢測過程中可以通過使用者的控制，實現(xiàn)在進樣盤2上的 旋轉(zhuǎn)。請參閱圖3，是圖1所示的送樣裝置B-B剖面結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示，該 芯片送樣裝置1包括使該送樣裝置1實現(xiàn)進出芯片閱讀儀的進給機構(gòu)。該進給 機構(gòu)包括產(chǎn)生源動力直流電機5，與直流電機5的輸出軸相連的主電機齒輪6, 與該主電機齒輪6相嚙合以實現(xiàn)動力傳送的從電機齒輪7，該從電機齒輪7可以 將動力傳送給芯片送樣裝置的進給機構(gòu)底座8，以此來實現(xiàn)送樣盤2在芯片閱讀 儀17中的進出。在使用芯片閱讀儀進行芯片檢測的過程中，可以參閱圖6，本實用新型芯片 送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置中芯片閱讀裝置結(jié)構(gòu)示意圖。該芯 片閱讀裝置19包括送樣裝置、近焦光學(xué)系統(tǒng)、視頻數(shù)字化模塊、USB控制及數(shù) 據(jù)信號處理模塊、自動識別及檢測分析模塊和數(shù)據(jù)處理及報告模塊六大模塊。 在芯片的分析檢測過程中，這六大模塊相互協(xié)調(diào)配合工作，送樣裝置1將樣品 送至芯片閱讀儀內(nèi)，在控制模塊的控制下，通過視頻數(shù)字化模塊將生物芯片樣 品信息轉(zhuǎn)換為可分析的數(shù)字化信息(灰度值)。分析軟件對灰度值進行計算分析 并給出檢測結(jié)杲。然后通過數(shù)據(jù)處理及報告模塊進行數(shù)據(jù)統(tǒng)計和報告。從而完 成從芯片采樣、信號轉(zhuǎn)化、分析、資料存儲、查詢、報告等工作。在芯片的檢測過程中，芯片閱讀儀19上安裝有控制送樣裝置1工作的按鈕， 一個進出控制按鈕14用于控制進樣盤2在芯片閱讀儀19中的送入和送出，另 一個旋轉(zhuǎn)控制15按鈕用于控制盛樣盤3在進樣盤2上的旋轉(zhuǎn)。使用者在搡作芯對閱讀儀19時，按下控制進樣盤進出芯片閱讀儀的^4丑14,使得如圖3中所示 的直流電機5開始旋轉(zhuǎn)工作，帶動與直流電機5的輸出軸相連的主電機齒輪6,齒輪7帶動送樣裝置1的進給機構(gòu)底座8,以此實現(xiàn)進樣盤2在芯片閱讀儀17 中的送入和送出。在芯片的檢測過程中，閱讀儀檢測完一個芯片后，如果需要 檢測下一個芯片，操作者可以按下控制盛樣盤旋轉(zhuǎn)的按鈕15,如圖2所示，步 進電機9開始工作，與步進電機9的輸出軸相連的主同步齒輪10被步進電機9 帶動工作，該主同步齒輪10將傳動力通過同步輪皮帶11傳送給從同步齒輪12, 通過從同步齒輪12驅(qū)動與其相嚙合的盛樣盤齒輪13，并將該動力傳給盛樣盤3, 實現(xiàn)盛樣盤3在進樣盤2上的旋轉(zhuǎn)。芯片在閱讀儀中進行聯(lián)合檢驗時，對檢測位位置的確定是通過光電信號發(fā) 生裝置與檔片的配合并通過單片機的控制來實現(xiàn)的。當盛樣盤3旋轉(zhuǎn)時，盛樣盤3上的檔片4會同時旋轉(zhuǎn)，當檔片4經(jīng)過光電信號發(fā)生裝置16時，光電信號 發(fā)生裝置16會輸出一個正脈沖信號，閱讀儀中的主控設(shè)備單片機(圖中未視出) 接收到這個信號后會進行計數(shù)，當光電信號發(fā)生裝置16在一定時間內(nèi)聯(lián)系產(chǎn)生 兩個脈沖時在光源視場下的檢測位位置規(guī)定為第一檢測位18，在圖中標注為"a" 號位，單片機會接收這個信號，用來與其它位置進行區(qū)分。在此基礎(chǔ)上每當光 電信號發(fā)生裝置16產(chǎn)生一個脈沖信號就表示檢測位20依次旋轉(zhuǎn)到下一個位置， 即"b、 c、 d、 e、 f"號位，由于步進電機9采用數(shù)字信號控制，當單片機紀錄 脈沖數(shù)到設(shè)定位置時就會控制步進電機9停止旋轉(zhuǎn)工作，從而達到盛樣盤3上 檢測位20在閱讀儀中的精確的定位。通過采用上述結(jié)構(gòu)，使得芯片閱讀裝置19在對芯片進行檢測和分析過程中 實現(xiàn)了對多個芯片的同時、聯(lián)合檢測，而且芯片閱讀裝置19在檢測芯片的過程 中多個檢測位進位準確，這樣就提高了芯片閱讀裝置19在檢測過程中對檢測點 選取定位的準確性，使得芯片檢測裝置在保障檢測準確性的基礎(chǔ)上提高了芯片 檢測的效率。在上述實施例中，僅對本實用新型進行了示范性描述，本領(lǐng)域技術(shù)人員在 不脫離本實用新型所保護的范圍和精神的情況下，可根據(jù)不同的實際需要設(shè)計 出各種實施方式。
權(quán)利要求1.一種芯片送樣裝置，包括進樣盤(2)，所述進樣盤(2)上安裝有承載芯片的盛樣盤(3)，其特征在于所述盛樣盤(3)上安裝有至少兩個檢測位(20)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的芯片送樣裝置，其特征在于所述芯片送樣裝置 (l)包括用于發(fā)出光電信號的信號發(fā)生裝置(16);用于屏蔽所述光電信號的遮 擋構(gòu)件(4);所述信號發(fā)生裝置(16)與所述遮擋構(gòu)件(4)相配合使用，實現(xiàn)所述 檢測位(20)在所述芯片送樣裝置(1)上的定位。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片送樣裝置，其特征在于與第一檢測位(18) 相對應(yīng)的位置安裝有兩個單位的所述遮擋構(gòu)件(4)，與余下所述檢測位相對應(yīng)的 位置安裝有一個單位的所述遮擋構(gòu)件(4)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片送樣裝置，其特征在于所述遮擋構(gòu)件(4) 為檔片。
5. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的芯片送樣裝置，其特征在于所述芯片送樣裝置 (1)上安裝有步進電機(9),所述步進電機(9)通過齒輪(10、 12)和傳送帶(11)帶 動所述盛樣盤(3)在所述送樣裝置(1)上旋轉(zhuǎn)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的芯片送樣裝置，其特征在于所述步進電機(9) 采用數(shù)字信號控制。
7. —種芯片閱讀裝置，其特征在于所述芯片閱讀裝置(19)使用了在所述 盛樣盤(3)上安裝有至少兩個檢測位(20);包括用于發(fā)出光電信號的信號發(fā)生裝 置(16)、用于屏蔽所述光電信號的遮擋構(gòu)件(4)，并通過所述信號發(fā)生裝置(16) 與所述遮擋構(gòu)件(4)相配合使用，實現(xiàn)所述檢測位(20)在所迷芯片送樣裝置(1) 上的定位的芯片送樣裝置(1)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的芯片閱讀裝置，其特征在于所述盛樣盤(3)在所 述進樣盤(2)中旋轉(zhuǎn)時所述檢測位(20)位置的確定是通過安裝在所述芯片送樣 裝置(1)上的信號發(fā)生裝置(16)發(fā)出的光電信號進行監(jiān)測。
專利摘要本實用新型涉及一種能實現(xiàn)對多個芯片同時進行聯(lián)合定位檢驗的芯片送樣裝置及使用該送樣裝置的芯片閱讀裝置。該芯片送樣裝置包括進樣盤，所述進樣盤上安裝有承載芯片的盛樣盤，所述盛樣盤上安裝有至少兩個檢測位；該芯片閱讀裝置通過使用上述芯片送樣裝置使得芯片閱讀裝置在對芯片進行檢測和分析過程中實現(xiàn)了對多個芯片的同時、聯(lián)合檢測，而且閱讀裝置在檢測芯片的過程中多個檢測位進位準確，使得芯片檢測裝置在保障檢測準確性的基礎(chǔ)上提高了芯片檢測的效率。
文檔編號G01R31/01GK201035105SQ20072011932
公開日2008年3月12日 申請日期2007年4月5日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月5日
發(fā)明者余宏友, 王小明, 謝德康, 閆平希, 黃列波 申請人:深圳欣康基因數(shù)碼科技有限公司