專利名稱：測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試設(shè)備，特別是涉及一種電子裝置的樞軸耐久性測 試的測試設(shè)備。
背景技術(shù)：
一般而言，電子裝置具備有輕薄短小及方便攜帶的功能已成為現(xiàn)代潮 流的趨勢。為縮小電子裝置的體積，以達到方便攜帶的功效，目前市面上 發(fā)展出掀蓋方式來縮小其體積的可攜式電子裝置，例如筆記型電腦及行動 通訊裝置等，掀蓋式的電子裝置于制造后會利用一測試設(shè)備來測試其樞軸 的耐久性，藉以提供制造廠商關(guān)于電子裝置樞軸的使用壽命及耐久性等相 關(guān)資訊，以利廠商改良結(jié)構(gòu)設(shè)計，控管產(chǎn)品品質(zhì)及了解其產(chǎn)品的使用特性。
請參閱圖1所示， 一種現(xiàn)有習(xí)知的測試設(shè)備1是用以進行電子裝置E 的樞軸耐久性測試。在此，電子裝置E以筆記型電腦為例，電子裝置E具 有一第一本體E1、 一第二本體E2及一樞軸E3。第一本體E1及第二本體E2 是樞接于樞軸E3上，測試設(shè)備1具有一底座11、 一框架12以及一控制裝 置14。其中，框架12連結(jié)二個夾具13,且框架12樞設(shè)于底座11,控制裝 置14與框架12電性連接以控制框架12轉(zhuǎn)動。
在試電子裝置E的樞軸E3耐久性時，首先，將電子裝置E的第一主體 El固定于測試設(shè)備l的底座11上。接著，利用夾具13將電子裝置E的第 二主體E2固定于框架12上。之后，再利用控制裝置14來控制框架12相 對于底座ll轉(zhuǎn)動，俾使第二本體E2以樞軸E3為中心，相對于第一本體E1 轉(zhuǎn)動。藉由上述方式，測試設(shè)備1不斷地利用框架12相對于底座11轉(zhuǎn)動 的方式，來帶動電子裝置E的第二本體E2以樞軸E3為中心，相對于第一 本體E1轉(zhuǎn)動，直到樞軸E3斷裂或損壞為止，藉以得知電子裝置E的樞軸 E3的使用壽命及耐久性。
利用上述方式，僅由框架12帶動電子裝置E的第二本體E2相對于第 一主體E1轉(zhuǎn)動。然而，在長期使用的情況下，使用者在開啟或閉合電子裝 置E時，亦會施予一正向力N至樞軸E3，造成樞軸E3因長期受力作用而損 壞。
有鑒于此，如何提供一種測試設(shè)備能夠正確地模擬實際使用狀態(tài)時，電 子裝置因長期受正向力作用而損壞的情形，實為重要課題之一。
由此可見，上述現(xiàn)有的測試設(shè)備在結(jié)構(gòu)與使用上，顯然仍存在有不便 與缺陷，而亟待加以進一步改進。為了解決上述存在的問題，相關(guān)廠商莫不
費盡心思來"i某求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計被發(fā)展完成，而
一般產(chǎn)品又沒有適切的結(jié)構(gòu)能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解 決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新型的測試設(shè)備，實屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之 一，亦成為當(dāng)前業(yè)界極需改進的目標(biāo)。
有鑒于上述現(xiàn)有的測試設(shè)備存在的缺陷，本發(fā)明人基于從事此類產(chǎn)品 設(shè)計制造多年豐富的實務(wù)經(jīng)驗及專業(yè)知識，并配合學(xué)理的運用，積極加以研 究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型的測試設(shè)備，能夠改進一般現(xiàn)有的測試設(shè)備,使其 更具有實用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計，并經(jīng)過反復(fù)試作樣品及改進后,終于 創(chuàng)設(shè)出確具實用 <介值的本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于，克服現(xiàn)有的測試設(shè)備存在的缺陷，而提供一 種新型的測試設(shè)備，所要解決的技術(shù)問題是使其能夠正確地模擬實際使用 狀態(tài)時電子裝置因長期受正向力作用而損壞的情形，從而更加適于實用。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的。依據(jù) 本發(fā)明提出的一種測試設(shè)備，是應(yīng)用于測試一電子裝置，其特征在于該電 子裝置具有一第一本體、 一第二本體及一樞軸，該第一本體及該第二本體
與該樞軸樞接，該測試設(shè)備包含 一底座，是承載并固定該第一本體；一 框架，是樞設(shè)于該底座； 一施力機構(gòu)，是設(shè)置于該框架，以固定該第二本 體，并施加一正向力至該樞軸；以及一控制裝置，是與該框架電性連接，控制 該框架轉(zhuǎn)動，帶動該第二本體以該樞軸相對于該第一本體轉(zhuǎn)動。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進一步實現(xiàn)。 前述的測試設(shè)備，其中所述的施力機構(gòu)是具有一夾持件，以固定該第 二本體。
前述的測試設(shè)備，其中所述的施力機構(gòu)更具有一螺桿，該螺桿具有一第
一端及一第二端，該第一端連結(jié)于該框架，該第二端連結(jié)于該夾持件，藉由
該螺桿轉(zhuǎn)動而改變該夾持件與該框架間的距離。
前述的測試設(shè)備，其中所述的施力機構(gòu)更具有一彈性件，其是設(shè)置于
該夾持件與該框架之間。
前述的測試設(shè)備，其中所述的彈性件是套設(shè)該螺桿。 前述的測試設(shè)備，其中所述的彈性件是為一彈簧、 一彈片或一伸縮套。 前述的測試設(shè)備，其更包含至少一支撐座，是設(shè)置于該底座下，以
調(diào)整該底座的高度與角度。
前述的測試設(shè)備，其中所述的控制裝置具有一感測元件，其是計數(shù)該
第二本體相對于該第一本體轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動次數(shù)。
前述的測試設(shè)備，其中所述的感測元件是為一紅外線感測器、 一紫外
線感測器、 一光感測器或一超音波感測器。
前述的測試設(shè)備，其中所述的感測元件是為一壓電感測器。 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點和有益效果。借由上述技術(shù)方 案，本發(fā)明測試設(shè)備至少具有下列優(yōu)點承上所述，因依據(jù)本發(fā)明的測試 設(shè)備是藉由施力機構(gòu)施加一平行于第二主體的正向力至樞軸的方式，來模 擬實際使用時開啟與閉合電子裝置的受力狀態(tài)。與現(xiàn)有習(xí)知技術(shù)相較，本 發(fā)明能夠正確地模擬實際使用狀態(tài)，了解樞軸因長期受正向力作用而損壞 的情形，藉以改良樞軸的結(jié)構(gòu)設(shè)計，提高樞軸的可靠度與使用壽命。
綜上所述，本發(fā)明是有關(guān)于一種測試設(shè)備是應(yīng)用于測試一電子裝置，電 子裝置具有一第一本體、 一第二本體及一樞軸，第一本體及第二本體與樞
軸樞接。測試設(shè)備包含一底座、 一框架、 一施力機構(gòu)以及一控制裝置；底 座是承載并固定第一本體，框架是樞設(shè)于底座；施力機構(gòu)是設(shè)置于框架，以 固定第二本體，并施加一正向力至樞軸；控制裝置是與框架電性連接，控 制框架轉(zhuǎn)動，帶動第二本體以樞軸相對于第一本體轉(zhuǎn)動。本發(fā)明能夠正確 地模擬實際使用狀態(tài)，了解樞軸因長期受正向力作用而損壞的情形，藉以 改良樞軸的結(jié)構(gòu)設(shè)計，提高樞軸的可靠度與使用壽命。本發(fā)明具有上述諸 多優(yōu)點及實用價值，其不論在設(shè)備結(jié)構(gòu)或功能上皆有較大的改進，在技術(shù) 上有顯著的進步，并產(chǎn)生了好用及實用的效果，且較現(xiàn)有的測試設(shè)備具有 增進的突出功效，從而更加適于實用，并具有產(chǎn)業(yè)的廣泛利用價值，誠為 一新穎、進步、實用的新設(shè)計。
上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的 技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和 其他目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附 圖，詳細說明如下。


圖l是一種現(xiàn)有習(xí)知的測試設(shè)備的示意圖2A是依據(jù)本發(fā)明較佳實施例的一種測試設(shè)備的示意圖2B是依據(jù)本發(fā)明較佳實施例的測試設(shè)備中施力機構(gòu)的示意圖；以及
圖3是圖2A的測試設(shè)備的作動示意圖。
1、 2:測試設(shè)備 11、 21:底座
12、 22:框架 13:夾具
14、 24:控制裝置 23:施力機構(gòu)
231:夾持件 232:螺桿
2321:第一端 2322:第二端
233:彈性件 25:支撐座
E:電子裝置 El:第一主體
E2:第二主體 E3:樞軸
N:正向力
具體實施例方式
為更進一步闡述本發(fā)明為達成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功 效，以下結(jié)合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的測試設(shè)備其具體實施 方式、結(jié)構(gòu)、特征及其功效，詳細說明如后。
以下將參閱相關(guān)圖式，說明依據(jù)本發(fā)明較佳實施例的一種測試設(shè)備，其
中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。
請參閱圖2A所示，本發(fā)明較佳實施例的一種測試設(shè)備2包含一底座21、 一框架22、 一施力機構(gòu)23以及一控制裝置24。測試設(shè)備2是應(yīng)用于測試 一電子裝置E,電子裝置E具有一第一本體El、 一第二本體E2及一樞軸E3, 第一本體El及第二本體E2與樞軸E3樞接。電子裝置E是可為一筆記型電 腦或一行動通訊裝置，但不限于手機；在本實施例中，電子裝置E是以筆 記型電腦為例。此外，具有二個本體并藉由樞軸樞接，而可開啟與閉合的 電子裝置，本發(fā)明的測試設(shè)備均可應(yīng)用以模擬實際使用時開啟與閉合的受 力狀態(tài)。
底座21是承載并固定第一本體El,底座21下更可設(shè)置至少一支撐座 25,以因應(yīng)不同的電子裝置E的尺寸與厚度，以機械或手動方式調(diào)整底座 21的高度與角度；在本實施例中，是配置四個支撐座25鄰近于底座21的 四個角落?？蚣?2樞設(shè)于底座21，使框架22能夠以樞接處為轉(zhuǎn)動中心，相 對于底座21轉(zhuǎn)動，藉由框架22轉(zhuǎn)動而帶動第二本體E2轉(zhuǎn)動。
施力機構(gòu)23設(shè)置于框架22上，以固定第二本體E2，俾便于框架22轉(zhuǎn) 動時帶動第二本體E2 —并轉(zhuǎn)動。此外，施力機構(gòu)23施加一正向力N至第 二本體E2，第二本體E2受到正向力N作用會傳遞至樞軸E3，故可模擬樞 軸E3長期受正向力N作用而損壞的情形?？刂蒲b置24與框架22電性連接， 用以控制框架22相對于底座21轉(zhuǎn)動，而帶動第二本體E2以樞軸E3為轉(zhuǎn) 動中心，相對于第一本體E1轉(zhuǎn)動。控制裝置24是具有一感測元件(圖未顯 示)，其是計數(shù)第二本體E2相對于第一本體El轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動次數(shù)，感測元件 是可為一紅外線感測器UR sensor )、 一紫外線感測器(UV sensor )、 一 光感測器或一超音波感測器，或可為一壓電感測器。
請參閱圖2B所示，施力機構(gòu)23具有一夾持件231及一螺桿232;夾持 件231是用以固定第二本體E2，螺桿232具有一第一端2321及一第二端 2322，第一端2321連結(jié)于框架22,第二端2322連結(jié)于夾持件231，且藉 由螺桿232轉(zhuǎn)動來改變夾持件231與框架22間的距離。舉例來說，當(dāng)夾持件231與螺桿232的第二端2322固定時，藉由螺桿232的笫一端2321相 對于框架22轉(zhuǎn)動，使螺桿232朝向或遠離框架22位移，使得夾持件231 與框架22間的距離縮短或加長；或者，當(dāng)螺桿232的第一端2321與框架 22固定時，藉由螺桿232的第二端2322與夾持件231相對轉(zhuǎn)動，使夾持件 231在螺桿232上位移，調(diào)整夾持件231與框架22間的距離縮短或加長。 換言之，經(jīng)由夾持件231與螺桿232、或螺桿232與框架22間的相對轉(zhuǎn)動， 來調(diào)整(縮短或加長)夾持件231與框架22間的距離，以調(diào)控施力機構(gòu)23 施予第二主體E2的正向力N的大小。
施力機構(gòu)23更具有一彈性件233,其是設(shè)置于夾持件231與框架22之 間；例如，彈性件233可套設(shè)螺桿232或與螺桿232平行設(shè)置于夾持件231 與框架22之間。在此，當(dāng)夾持件231與框架22間的距離固定時，則可藉 由彈性件233的變化例如壓縮量來調(diào)控正向力N的大小，以提供符合實際 使用狀態(tài)的正向力N，達到正確^^莫擬的功效。此外，亦可藉由夾持件231與 框架22間的距離變化，來調(diào)整彈性件233所提供的正向力N的大小。再者， 彈性件233可為一彈簧、 一彈片或一伸縮套等，但并不以此為限，任何具
有彈性功能的元件皆為本實施例的范疇。
以下將舉例說明本發(fā)明較佳實施例的測試設(shè)備2的作動過程。
請參閱圖3所示，首先，將電子裝置E放置在底座21上，并將第一本
體E1固定于底座21上。接著，再調(diào)整施力機構(gòu)23的夾持件231夾持第二
本體E2的端部，并調(diào)控施加在第二本體E2的正向力N。最后，啟動控制裝
置24，并控制其作動速度，使框架22相對于底座21轉(zhuǎn)動，因而帶動第二
本體B2以樞軸E3為中心，相對于第一本體E1轉(zhuǎn)動?？蚣?2在轉(zhuǎn)動的過
程中，施力機構(gòu)23的螺桿232及彈性件233會施加一正向力N于第二本體
E2，再傳遞作用至樞軸E3。利用上述方式，反復(fù)地模擬使用狀態(tài)時樞軸E3
長期受正向力N作用的耐久性測試，直至樞軸E3損壞或斷裂為止。其中，在
測試過程中，控制裝置24的感測元件(例如紅外線感測器)會計數(shù)第二本
體E2相對于第一本體El轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動次數(shù)，得知樞軸E3的使用壽命及耐久性。
綜上所述，因依據(jù)本發(fā)明的測試設(shè)備是藉由施力機構(gòu)施加一平行于第 二主體的正向力至樞軸的方式，模擬實際使用時開啟與閉合電子裝置的受 力狀態(tài)。與現(xiàn)有習(xí)知技術(shù)相較，本發(fā)明能夠正確地模擬實際使用狀態(tài)，了 解樞軸因長期受正向力作用而損壞的情形，藉以改良樞軸的結(jié)構(gòu)設(shè)計，提
高樞軸的可靠度與使用壽命。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式 上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā) 明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利
用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但 凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例 所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍 內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種測試設(shè)備，是應(yīng)用于測試一電子裝置，其特征在于該電子裝置具有一第一本體、一第二本體及一樞軸，該第一本體及該第二本體與該樞軸樞接，該測試設(shè)備包含一底座，是承載并固定該第一本體；一框架，是樞設(shè)于該底座；一施力機構(gòu)，是設(shè)置于該框架，以固定該第二本體，并施加一正向力至該樞軸；以及一控制裝置，是與該框架電性連接，控制該框架轉(zhuǎn)動，帶動該第二本體以該樞軸相對于該第一本體轉(zhuǎn)動。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的施力機構(gòu) 是具有一夾持件，以固定該第二本體。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的施力機構(gòu) 更具有一螺桿，該螺桿具有一第一端及一第二端，該第一端連結(jié)于該框架，該 第二端連結(jié)于該夾持件，藉由該螺桿轉(zhuǎn)動而改變該夾持件與該框架間的距 離。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的施力機構(gòu) 更具有一彈性件，其是設(shè)置于該夾持件與該框架之間。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的彈性件是 套設(shè)該螺桿。
6、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的彈性件是 為一彈簧、 一彈片或一伸縮套。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于其更包含至少一支 撐座，是設(shè)置于該底座下，以調(diào)整該底座的高度與角度。
8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的控制裝置 具有一感測元件，其是計數(shù)該第二本體相對于該第一本體轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動次數(shù)。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的感測元件 是為一紅外線感測器、 一紫外線感測器、 一光感測器或一超音波感測器。
10、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試設(shè)備，其特征在于其中所述的感測元 件是為一壓電感測器。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種測試設(shè)備是應(yīng)用于測試一電子裝置，電子裝置具有一第一本體、一第二本體及一樞軸，第一本體及第二本體與樞軸樞接。測試設(shè)備包含一底座、一框架、一施力機構(gòu)以及一控制裝置；底座是承載并固定第一本體，框架是樞設(shè)于底座；施力機構(gòu)是設(shè)置于框架，以固定第二本體，并施加一正向力至樞軸；控制裝置是與框架電性連接，控制框架轉(zhuǎn)動，帶動第二本體以樞軸相對于第一本體轉(zhuǎn)動。本發(fā)明能夠正確地模擬實際使用狀態(tài)，了解樞軸因長期受正向力作用而損壞的情形，藉以改良樞軸的結(jié)構(gòu)設(shè)計，提高樞軸的可靠度與使用壽命。
文檔編號G01M99/00GK101201297SQ20061016782
公開日2008年6月18日 申請日期2006年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月14日
發(fā)明者戴寶華, 陳彥志 申請人:英業(yè)達股份有限公司