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鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置及方法

文檔序號(hào):6113025閱讀:705來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于設(shè)備檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體地說(shuō)是一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù)
眾所周知,繼電器是一種電子設(shè)備執(zhí)行器件,它具有控制系統(tǒng)(又稱輸入回路)和被控制系統(tǒng)(又稱輸出回路),通常應(yīng)用于自動(dòng)控制電路中,它實(shí)際上是用較小的電流去控制較大電流的一種“自動(dòng)開(kāi)關(guān)”。故在電路中起著自動(dòng)調(diào)節(jié)、安全保護(hù)、轉(zhuǎn)換電路等作用。繼電器的類型很多,鐵路信號(hào)繼電器多為電磁式繼電器,這種繼電器一般由鐵芯、線圈、銜鐵、觸點(diǎn)簧片等組成。只要在線圈兩端加上一定的電壓,線圈中就會(huì)流過(guò)一定的電流,從而產(chǎn)生電磁效應(yīng),銜鐵就會(huì)在電磁力吸引的作用下克服返回彈簧的拉力吸向鐵芯,從而帶動(dòng)銜鐵的動(dòng)接點(diǎn)與前接點(diǎn)(常開(kāi)觸點(diǎn))吸合。當(dāng)線圈斷電后,電磁的吸力也隨之消失,銜鐵就會(huì)在彈簧的反作用力返回原來(lái)的位置,使動(dòng)接點(diǎn)與原來(lái)的后接點(diǎn)(常閉觸點(diǎn))吸合。這樣吸合、釋放,從而達(dá)到了在電路中的導(dǎo)通、切斷的目的。對(duì)于繼電器的“后接點(diǎn)”和“前接點(diǎn)”,可以這樣來(lái)區(qū)分繼電器線圈未通電時(shí)與動(dòng)接點(diǎn)處于斷開(kāi)狀態(tài)的接點(diǎn),稱為“前接點(diǎn)”(常開(kāi)觸點(diǎn));與動(dòng)接點(diǎn)處于導(dǎo)通狀態(tài)的接點(diǎn)稱為“后接點(diǎn)”(常閉觸點(diǎn))。
鐵路信號(hào)繼電器的性能好壞直接影響到鐵路列車運(yùn)行安全,所以對(duì)繼電器的性能檢測(cè)由為重要,而在繼電器本身眾多的性能參數(shù)中接點(diǎn)齊度是鐵路信號(hào)繼電器的重要指標(biāo)之一,接點(diǎn)齊度即指檢測(cè)繼電器吸起或落下時(shí)后接點(diǎn)或前接點(diǎn)導(dǎo)通或斷開(kāi)是否同步(最多8組前、后接點(diǎn))。傳統(tǒng)測(cè)量鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的方法是將繼電器插入移動(dòng)測(cè)試盤插座上,再將移動(dòng)測(cè)試盤電纜與“鐵路信號(hào)繼電器綜合參數(shù)測(cè)試臺(tái)”連接,首先通過(guò)手動(dòng)操作測(cè)試臺(tái)上的按鍵或旋鈕選擇被測(cè)繼電器型號(hào),不能直接自動(dòng)搜索被測(cè)繼電器型號(hào),操作繁瑣,選擇被測(cè)繼電器型號(hào)后完成接點(diǎn)齊度測(cè)試。脫離測(cè)試臺(tái)無(wú)法檢測(cè),而測(cè)試臺(tái)十分昻貴,大約三萬(wàn)元至八萬(wàn)元左右。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種智能化高、成本低且準(zhǔn)確的鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置及方法。
本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置,其特征是它設(shè)有從繼電器座獲得被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型數(shù)據(jù)并與內(nèi)存數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的微控制器MCU;設(shè)有將微控制器MCU在比較以后確認(rèn)的可識(shí)別繼電器類型信息進(jìn)行顯示的LCD液晶顯示器;設(shè)有通過(guò)微控制器MCU對(duì)繼電器接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)的判斷結(jié)果進(jìn)行顯示的LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器,設(shè)有驅(qū)動(dòng)微控制器MCU繼續(xù)搜索被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型的“搜索”鍵。
一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)方法,其特征是(1)微控制器MCU和LCD液晶顯示器進(jìn)入復(fù)位狀態(tài),所有端口輸出高電平;(2)微控制器MCU首先按照“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型列表”中從前往后的順序向被測(cè)繼電器所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”;(3)微控制器MCU執(zhí)行讀數(shù)據(jù)函數(shù),讀取被測(cè)繼電器接點(diǎn)邏輯電平并轉(zhuǎn)換成4位十六進(jìn)制編碼存入微控制器MCU緩沖區(qū);(4)微控制器MCU將存入緩沖區(qū)的編碼與內(nèi)存中的“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”的標(biāo)準(zhǔn)編碼比較,比較結(jié)果相符的進(jìn)行下一步,不相符的重復(fù)(1)至(4);(5)微控制器MCU確認(rèn)搜索到可識(shí)別繼電器類型后,將搜索到的被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型信息送至LCD液晶顯示器顯示;
(6)微控制器MCU對(duì)各組后接點(diǎn)和前接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)實(shí)時(shí)跟蹤測(cè)試,并通過(guò)MCU驅(qū)動(dòng)LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器中對(duì)應(yīng)接點(diǎn)的LED點(diǎn)亮或熄滅,觀察接點(diǎn)齊度。
本發(fā)明的檢測(cè)裝置不須連接測(cè)試臺(tái)和輸入繼電器型號(hào),完全可以獨(dú)立使用,并能自動(dòng)搜索鐵路現(xiàn)行通用的各種繼電器接點(diǎn)排列組合類型,快速診斷繼電器的前接點(diǎn)齊度、后接點(diǎn)齊度和接觸不良等故障;對(duì)于維護(hù)人員日常檢修繼電器是十分便利的助手,同時(shí)也可以應(yīng)用到繼電器生產(chǎn)線上,提高生產(chǎn)線自動(dòng)化程度和產(chǎn)品質(zhì)量,減少大量人力勞動(dòng)且成本較低。本發(fā)明的檢測(cè)方法還具備步驟操作簡(jiǎn)單,檢測(cè)結(jié)果直觀準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。


圖1為本發(fā)明的程序流程圖;圖2為本發(fā)明的裝置連接示意圖;圖3為本發(fā)明讀取接點(diǎn)型號(hào)為8QH繼電器的電路圖;圖4為本發(fā)明讀取接點(diǎn)型號(hào)為4QH-A繼電器的電路圖;圖5為MCU驅(qū)動(dòng)LCD液晶顯示器和蜂鳴器電路圖;圖6為MCU驅(qū)動(dòng)LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器電路圖。
具體實(shí)施例方式
由圖2所示,本發(fā)明是一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置,其特征是它設(shè)有從繼電器座獲得被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型數(shù)據(jù)并與內(nèi)存數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的微控制器MCU;設(shè)有將微控制器MCU在比較以后確認(rèn)的可識(shí)別繼電器類型信息進(jìn)行顯示的LCD液晶顯示器;設(shè)有通過(guò)微控制器MCU對(duì)繼電器接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)的判斷結(jié)果進(jìn)行顯示的LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器,設(shè)有驅(qū)動(dòng)微控制器MCU繼續(xù)搜索被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型的“搜索”鍵,設(shè)有在更換被檢測(cè)繼電器時(shí)使微控制器MCU和LCD液晶顯示器復(fù)位的“復(fù)位”鍵,還設(shè)有在微控制器MCU確認(rèn)可識(shí)別繼電器類型后通過(guò)微控制器MCU驅(qū)動(dòng)進(jìn)行聲音提示的蜂鳴器。
由圖1所示,本發(fā)明利用以上裝置檢測(cè)鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)方法是由下述的步驟組成(1)、本裝置已將“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”標(biāo)準(zhǔn)編碼寫入微控制器MCU的存儲(chǔ)器內(nèi)。即向所有繼電器動(dòng)接點(diǎn)輸出低電平“0”,則后接點(diǎn)與動(dòng)接點(diǎn)導(dǎo)通時(shí)輸出的低電平“0”和前接點(diǎn)與動(dòng)接點(diǎn)斷開(kāi)時(shí)輸出的高電平“1”,按一定順序編制成4位十六進(jìn)制標(biāo)準(zhǔn)編碼后寫入微控制器MCU的存儲(chǔ)器內(nèi)。表1為寫入微控制器MCU內(nèi)存的可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型的4位十六進(jìn)制標(biāo)準(zhǔn)編碼;表1 可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型

注Q-前接點(diǎn),H-后接點(diǎn),J-加強(qiáng)接點(diǎn)
(2)、微控制器MCU和LCD液晶顯示器進(jìn)入復(fù)位狀態(tài),所有端口輸出高電平,因此LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器中16個(gè)LED均不亮;(3)、微控制器MCU首先按照“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”列表中從前往后的順序向被測(cè)繼電器所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”;即從表1中編號(hào)1至26從前往后的順序向被測(cè)繼電器所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”;(4)、微控制器MCU執(zhí)行讀數(shù)據(jù)函數(shù),讀取被測(cè)繼電器接點(diǎn)邏輯電平并轉(zhuǎn)換成4位十六進(jìn)制編碼存入微處理器MCU緩沖區(qū);(5)、微控制器MCU將存入緩沖區(qū)的4位十六進(jìn)制編碼與內(nèi)存中的“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”的4位十六進(jìn)制標(biāo)準(zhǔn)編碼比較,比較結(jié)果相符的進(jìn)行下一步,不相符的MCU將接點(diǎn)端口復(fù)位到高電平“1”同時(shí)LCD清屏,并向“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型列表”中下一個(gè)接點(diǎn)類型的所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”,即重復(fù)(2)至(5),直至搜索到被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型為止;(6)、微控制器MCU確認(rèn)搜索到可識(shí)別繼電器類型后,將搜索到的被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型信息送至LCD液晶顯示器顯示,同時(shí)驅(qū)動(dòng)蜂鳴器發(fā)出聲音提示;(7)、微控制器MCU對(duì)各組后接點(diǎn)和前接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)跟蹤測(cè)試,并通過(guò)MCU驅(qū)動(dòng)LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器中對(duì)應(yīng)接點(diǎn)的LED點(diǎn)亮或熄滅,觀察接點(diǎn)齊度。
具體檢測(cè)以可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型8QH為例,接通電源后微控制器MCU和LCD液晶顯示器進(jìn)入復(fù)位狀態(tài),所有端口輸出高電平“1”,因此LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器中16個(gè)LED均不亮;微控制器MCU首先按照“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”列表中從前往后的順序向被測(cè)繼電器所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”;即從表1中編號(hào)1至26的從前往后的順序向被測(cè)繼電器所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”,即被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型“8QH”的所有動(dòng)接點(diǎn)P81、P61、P41、P21、和P71、P51、P31、P11輸出測(cè)試低電平“0”;微控制器MCU執(zhí)行讀數(shù)據(jù)函數(shù),讀取被測(cè)繼電器接點(diǎn)邏輯電平并轉(zhuǎn)換成4位十六進(jìn)制編碼存入微控制器MCU緩沖區(qū),微控制器MCU將存入緩沖區(qū)的4位十六進(jìn)制編碼與內(nèi)存中的“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”的4位十六進(jìn)制標(biāo)準(zhǔn)編碼比較,比較結(jié)果相符的進(jìn)行下一步,不相符的MCU將接點(diǎn)端口復(fù)位到高電平“1”同時(shí)LCD清屏,并向“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”列表中下一個(gè)接點(diǎn)類型的所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”,即重復(fù)(2)至(5),直至搜索到被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型為止,由于被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型為“8QH”,微控制器MCU確認(rèn)已搜索到,則將被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型信息送至LCD液晶顯示器顯示,同時(shí)驅(qū)動(dòng)蜂鳴器發(fā)出聲音提示;下面的函數(shù)為讀取被測(cè)繼電器接點(diǎn)邏輯電平的自動(dòng)輸出和搜索函數(shù)void Disting_REL(CODE)定義自動(dòng)搜索函數(shù),CODE為標(biāo)準(zhǔn)編碼{Reset_Point(); MCU端口復(fù)位到高電平“1”P81=0;以下8行向動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試電平“0”P61=0;(8QH)P41=0;P21=0;P71=0;P51=0;P31=0;P11=0;Read_Point();讀取接點(diǎn)狀態(tài)Wirt_COM(Rest); LCD清屏if(REL_Pint==CODE)DIS=1; 與標(biāo)準(zhǔn)編碼比較if(LEF_Pint==CODE)DIS=1;if(DIS==1) 搜索到被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型{Key_Voice();驅(qū)動(dòng)蜂鳴器TypeCode=1;Wirt_Data(0x38);驅(qū)動(dòng)LCD顯示信息Wirt_Data(0x51);Wirt_Data(0x48);
return;}}由圖3、圖4所示,MCU讀取8QH的后接點(diǎn)邏輯電平與前接點(diǎn)邏輯電平編碼為100100100100B(16位二進(jìn)制),轉(zhuǎn)換成4位十六進(jìn)制編碼為0x9204;4QH-A的后接點(diǎn)邏輯電平與前接點(diǎn)邏輯電平編碼為111111100100B(16位二進(jìn)制),轉(zhuǎn)換成4位十六進(jìn)制編碼為0xfe04。一般繼電器的左側(cè)接點(diǎn)與右側(cè)接點(diǎn)對(duì)稱,只要一側(cè)接點(diǎn)邏輯電平編碼與MCU內(nèi)存的標(biāo)準(zhǔn)編碼相符,就可認(rèn)定已搜索到被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型。利用這一點(diǎn),即使一側(cè)接點(diǎn)損壞MCU仍可搜索到被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型。搜索到被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型后,微控制器MCU對(duì)各組后接點(diǎn)和前接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)實(shí)時(shí)跟蹤測(cè)試,并由圖6所示,通過(guò)MCU驅(qū)動(dòng)LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器中對(duì)應(yīng)接點(diǎn)的LED點(diǎn)亮或熄滅,觀察接點(diǎn)齊度。測(cè)試齊度函數(shù)如下void Follow_8QH() 定義跟蹤測(cè)試8QH函數(shù){//*********后接點(diǎn)********//if(P83==0)P4=P4&0xfe; 判斷后接點(diǎn)是否導(dǎo)通?是,點(diǎn)亮LEDelse P4=P4|0x01; 不是,熄滅LEDif(P63==0)P4=P4&0xfd;else P4=P4|0x02;if(P43==0)P4=P4&0xfb;else P4=P4|0x04;if(P23==0)P4=P4&0xf7;else P4=P4|0x08;if(P73==0)P4=P4&0xef;else P4=P4|0x10;if(P53==0)P4=P4&0xdf;else P4=P4|0x20;if(P33==0)P4=P4&0xbf;else P4=P4|0x40;if(P13==0)P4=P4&0x7f;else P4=P4|0x80;//*********前接點(diǎn)*********//if(P82==0)P5=P5&0xfe; 判斷前接點(diǎn)是否導(dǎo)通?是,點(diǎn)亮LEDelse P5=P5|0x01;不是,熄滅LEDif(P62==0)P5=P5&0xfd;else P5=P50x02;if(P42==0)P5=P5&0xfb;else P5=P5|0x04;if(P22==0)P5=P5&0xf7;else P5=P5|0x08;if(P72==0)P5=P5&0xef;else P5=P5|0x10;if(P52==0)P5=P5&0xdf;else P5=P5|0x20;if(P32==0)P5=P5&0xbf;else P5=P5|0x40;if(P12==0)P5=P5&0x7f;else P5=P5|0x80;}從上面的函數(shù)說(shuō)明MCU先逐一測(cè)試?yán)^電器后接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài),然后再逐一測(cè)試?yán)^電器前接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)。如某一接點(diǎn)導(dǎo)通就驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)的LED點(diǎn)亮,如對(duì)應(yīng)的LED不亮,則說(shuō)明該接點(diǎn)損壞。此時(shí)用手緩慢推動(dòng)繼電器銜鐵,使后接點(diǎn)斷開(kāi)前接點(diǎn)導(dǎo)通,MCU熄滅對(duì)應(yīng)后接點(diǎn)的LED并驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)前接點(diǎn)的LED點(diǎn)亮,即可十分清楚地觀察到前后接點(diǎn)齊度,參見(jiàn)圖6。
由于本檢測(cè)裝置嵌入了高速微控制MCU芯片,循環(huán)檢測(cè)一次只須幾十微秒。綜合上述,實(shí)現(xiàn)了本發(fā)明的目的。
權(quán)利要求
1.一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置,其特征是它設(shè)有從繼電器座獲得被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型數(shù)據(jù)并與內(nèi)存數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的微控制器MCU;設(shè)有將微控制器MCU在比較以后確認(rèn)的可識(shí)別繼電器類型信息進(jìn)行顯示的LCD液晶顯示器;設(shè)有通過(guò)微控制器MCU對(duì)繼電器接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)的判斷結(jié)果進(jìn)行顯示的LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器,設(shè)有驅(qū)動(dòng)微控制器MCU繼續(xù)搜索被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型的“搜索”鍵。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置,其特征是還設(shè)有在微控制器MCU確認(rèn)可識(shí)別繼電器類型后通過(guò)微控制器MCU驅(qū)動(dòng)進(jìn)行聲音提示的蜂鳴器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置,其特征是設(shè)有在更換被檢測(cè)繼電器時(shí)使微控制器MCU和LCD液晶顯示器復(fù)位的“復(fù)位”鍵。
4.一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)方法,其特征是(1)微控制器MCU和LCD液晶顯示器進(jìn)入復(fù)位狀態(tài),所有端口輸出高電平;(2)微控制器MCU首先按照“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型列表”中從前往后的順序向被測(cè)繼電器所有動(dòng)接點(diǎn)輸出測(cè)試低電平“0”;(3)微控制器MCU執(zhí)行讀數(shù)據(jù)函數(shù),讀取被測(cè)繼電器接點(diǎn)邏輯電平并轉(zhuǎn)換成編碼存入微控制器MCU緩沖區(qū);(4)微控制器MCU將存入緩沖區(qū)的編碼與內(nèi)存中的“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”的標(biāo)準(zhǔn)編碼比較,比較結(jié)果相符的進(jìn)行下一步,不相符的重復(fù)(1)至(4);(5)微控制器MCU確認(rèn)搜索到可識(shí)別繼電器類型后,將搜索到的被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型信息送至LCD液晶顯示器顯示;(6)微控制器MCU對(duì)各組后接點(diǎn)和前接點(diǎn)導(dǎo)通狀態(tài)實(shí)時(shí)跟蹤測(cè)試,并通過(guò)MCU驅(qū)動(dòng)LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器中對(duì)應(yīng)接點(diǎn)的LED點(diǎn)亮或熄滅,觀察接點(diǎn)齊度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)方法,其特征是在步驟(1)前,需先將“可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型”列表中所有繼電器的后接點(diǎn)與動(dòng)接點(diǎn)導(dǎo)通及前接點(diǎn)與動(dòng)接點(diǎn)斷開(kāi)時(shí)輸出的邏輯電平進(jìn)行編碼,并寫入微處理器MCU的存儲(chǔ)器內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)方法,其特征是在動(dòng)接點(diǎn)輸出低電平“0”,則后接點(diǎn)與動(dòng)接點(diǎn)導(dǎo)通時(shí)輸出的低電平“0”和前接點(diǎn)與動(dòng)接點(diǎn)斷開(kāi)時(shí)輸出的高電平“1”,按一定順序編制成4位十六進(jìn)制編碼后寫入微控制器MCU的存儲(chǔ)器內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)方法,其特征是微控制器MCU確認(rèn)搜索到可識(shí)別繼電器類型后,將搜索到的被測(cè)繼電器接點(diǎn)類型信息送至LCD液晶顯示器顯示,同時(shí)驅(qū)動(dòng)蜂鳴器發(fā)出聲音提示。
全文摘要
一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)裝置,其技術(shù)要點(diǎn)是它設(shè)有從繼電器座獲得接點(diǎn)類型數(shù)據(jù)的微控制器MCU;設(shè)有LCD液晶顯示器;設(shè)有LED接點(diǎn)狀態(tài)指示器,設(shè)有“搜索”鍵。一種鐵路信號(hào)繼電器接點(diǎn)齊度的檢測(cè)方法,即利用檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)可識(shí)別繼電器接點(diǎn)類型的存儲(chǔ)、被測(cè)測(cè)繼電器接點(diǎn)類型的自動(dòng)搜取以及實(shí)時(shí)跟蹤測(cè)試?yán)^電器接點(diǎn)齊度的方法。本發(fā)明的檢測(cè)裝置可以獨(dú)立使用,并能自動(dòng)搜索繼電器接點(diǎn)排列組合類型,快速診斷繼電器的前、后接點(diǎn)齊度和接觸不良等故障;對(duì)于人員檢修繼電器是便利的助手,應(yīng)用到繼電器生產(chǎn)線上,提高自動(dòng)化程度和產(chǎn)品質(zhì)量,減少人力勞動(dòng)且成本較低。本發(fā)明的檢測(cè)方法還具備步驟操作簡(jiǎn)單,檢測(cè)結(jié)果直觀準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01R31/327GK1888929SQ20061004725
公開(kāi)日2007年1月3日 申請(qǐng)日期2006年7月21日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月21日
發(fā)明者李春鶴 申請(qǐng)人:李春鶴
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