專利名稱：熒光余輝測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種熒光余輝測量裝置。
背景技術(shù)：
長余輝熒光材料，又稱夜光粉、蓄光粉、夜光指示牌等。它受到光照射時(shí)，部分照射光能量被吸收、貯存；當(dāng)光照停止后。將逐漸釋放出光能。它廣泛應(yīng)用于夜間警示標(biāo)識，輪船和公共場所應(yīng)急指示牌等。余輝亮度及余輝時(shí)間是長余輝熒光材料最重要的參數(shù)。目前對這些參數(shù)的測量沒有統(tǒng)一、可靠的方法?，F(xiàn)有的方法是先將長余輝熒光材料在太陽光、日光燈或某一特定燈下照射一段時(shí)間后，在暗室里用亮度計(jì)測量該熒光材料的余輝亮度，不斷讀取每一時(shí)刻亮度計(jì)上的讀數(shù)值，得到余輝亮度隨時(shí)間的變化關(guān)系。所有這些方法中，樣品的激發(fā)和余輝亮度測量都是分開操作，使用麻煩，一致性差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的旨在提供一種集曝光和測量于一體，使用方便的熒光余輝測量裝置。
本發(fā)明的熒光余輝測量裝置包括激發(fā)光源、控制樣品曝光的曝光控制裝置、用于曝光和測量的暗箱，在暗箱上安裝有樣品座，在暗箱內(nèi)設(shè)有接收樣品余輝光信號的余輝探測器，余輝探測器的輸出端與測量儀表相連。
工作時(shí)，在曝光控制裝置的控制下，樣品受到激發(fā)光源輻照曝光，曝光結(jié)束，樣品將不斷釋放熒光即余輝，由余輝探測器接收余輝，并將余輝光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸入測量儀表，在儀表顯示余輝亮度和余輝時(shí)間參數(shù)值。
本發(fā)明的熒光余輝測量裝置結(jié)構(gòu)緊湊、簡單，它利用曝光控制裝置和連體的曝光、測量暗箱，將樣品的曝光和測量有機(jī)地結(jié)合在一起，測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、一致性好，使用方便。


圖1是本發(fā)明構(gòu)成示意圖；圖2是本發(fā)明一種具體結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式
參照圖1，本發(fā)明的熒光余輝測量裝置包括激發(fā)光源1、用于曝光和測量的暗箱3，在暗箱3上安裝有樣品座6，暗箱內(nèi)設(shè)有接收樣品余輝光信號的余輝探測器4，余輝探測器4與測量儀表5相連，在激發(fā)光路上設(shè)有曝光控制裝置2，用于控制照到樣品表面的激發(fā)光。樣品釋放的余輝由余輝探測器4接收，并將余輝光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸給測量儀表5。激發(fā)光源1可以用汞燈、氙燈、熒光燈或金屬鹵化燈。曝光控制裝置可以是控制激發(fā)光源點(diǎn)亮或關(guān)閉的控制器，如繼電器，或者也可以是安裝在激發(fā)光源1與樣品座6之間的光閘。
圖2是本發(fā)明的具體實(shí)例，它包括安裝在光源箱內(nèi)的激發(fā)光源1，用于曝光和測量的暗箱3，此例，暗箱3具有曝光箱3a和測量箱3b兩部分，該兩箱利用余輝光孔11相連通，在曝光箱3a安裝有樣品座6，在測量箱3b內(nèi)設(shè)有余輝探測器4。圖例，樣品座6用彈簧托架14支撐，緊貼在曝光箱底部的測試口上。在樣品座上裝有控制樣品溫度的溫控元件15，如熱電致冷器或電熱絲。
為使激發(fā)光源發(fā)光穩(wěn)定，通常，將采用的汞燈、氙燈、熒光燈或金屬鹵化燈的兩個(gè)電極垂直安裝，再利用設(shè)在暗箱內(nèi)的光轉(zhuǎn)折鏡8將激發(fā)光折射到樣品座6上，光轉(zhuǎn)折鏡可以是平面反光鏡或折光棱鏡。圖示實(shí)例中，曝光控制裝置2是設(shè)在暗箱內(nèi)能繞軸9轉(zhuǎn)動90°的用于控制激發(fā)光孔10和余輝光孔11打開或關(guān)閉的電動光閘，曝光時(shí)，光閘打開激發(fā)光孔10，它同時(shí)關(guān)閉余輝光孔11，測量余輝時(shí)，光閘關(guān)閉激發(fā)光孔10，它同時(shí)打開余輝光孔11。余輝從余輝光孔進(jìn)入測量箱3b，由余輝探測器4將余輝光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸給測量儀表5。余輝探測器4可用硅光電二極管或高靈敏光電倍增管。
為使照射到樣品座的光均勻，可如圖所示，在激發(fā)光源1至暗箱3的光路上設(shè)置光漫射板7，該光漫射板可以采用漫透射板或漫反射板。此例中，在暗箱內(nèi)的激發(fā)光路上還安裝了用于控制照到樣品光強(qiáng)的激發(fā)照度監(jiān)測裝置，它由部分反光鏡12和光電探測器13組成，部分反光鏡12可以采用半透/反射鏡，由其將部分激發(fā)光反射到光電探測器13，光電探測器將光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸入到測量儀表5，在測量儀表顯示光強(qiáng)，以便據(jù)此調(diào)節(jié)激發(fā)光源的光強(qiáng)。測量儀表5以采用帶有串行接口的儀表為好，如可用帶RS-232C串行接口的PR-305型儀表，將它與計(jì)算機(jī)16相連，這樣利用計(jì)算機(jī)采集每一時(shí)刻熒光樣品的余輝信號，可得到余輝的亮度曲線。
權(quán)利要求
1.熒光余輝測量裝置，其特征是它包括激發(fā)光源[1]、控制樣品曝光的曝光控制裝置[2]、用于曝光和測量的暗箱[3]，在暗箱上安裝有樣品座[6]，在暗箱內(nèi)設(shè)有接收樣品余輝光信號的余輝探測器[4]，余輝探測器[4]的輸出端與測量儀表[5]相連。
2.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是激發(fā)光源[1]是汞燈、氙燈、熒光燈或金屬鹵化燈。
3.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是所說的汞燈、氙燈、熒光燈或金屬鹵化燈的兩個(gè)電極垂直安裝。
4.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是曝光控制裝置[2]是控制激發(fā)光源點(diǎn)亮或關(guān)閉的控制器。
5.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是曝光控制裝置[2]是安裝在激發(fā)光源[1]與樣品座[6]之間的光閘。
6.按權(quán)利要求5所述的熒光余輝測量裝置，其特征是所說的光閘是設(shè)在暗箱[3]內(nèi)能繞軸[9]轉(zhuǎn)動90°的用于控制激發(fā)光孔[10]和余輝光孔[11]打開或關(guān)閉的電動光閘，在光閘打開激發(fā)光孔[10]的同時(shí)，光閘又關(guān)閉余輝光孔[11]，在光閘關(guān)閉激發(fā)光孔[10]的同時(shí)，光閘又打開余輝光孔[11]。
7.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是在激發(fā)光源[1]至暗箱[3]的光路上設(shè)置光漫射板[7]。
8.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是在暗箱[3]內(nèi)設(shè)有將激發(fā)光折射到樣品座[6]的光轉(zhuǎn)折鏡[8]。
9.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是在暗箱[3]的激發(fā)光路上安裝有由部分反光鏡[12]和光電探測器[13]組成的激發(fā)照度監(jiān)測裝置，光電探測器[13]的輸出端與測量儀表[5]相連。
10.按權(quán)利要求1所述的熒光余輝測量裝置，其特征是在樣品座[6]上裝有控制測試樣品溫度的溫控元件[15]。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種熒光余輝測量裝置。它包括激發(fā)光源、控制樣品曝光的曝光控制裝置、用于曝光和測量的暗箱，在暗箱上安裝有樣品座，在暗箱內(nèi)設(shè)有接收樣品余輝光信號的余輝探測器，余輝探測器的輸出端與測量儀表相連。工作時(shí)，在曝光控制裝置的控制下，樣品受到激發(fā)光源輻照曝光，曝光結(jié)束，樣品將不斷釋放熒光即余輝，由余輝探測器接收余輝，并將余輝光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸入測量儀表，在儀表顯示余輝亮度和余輝時(shí)間參數(shù)值。本發(fā)明的熒光余輝測量裝置結(jié)構(gòu)緊湊、簡單，它利用曝光控制裝置和連體的曝光、測量暗箱，將樣品的曝光和測量有機(jī)地結(jié)合在一起，測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、一致性好，使用方便。
文檔編號G01N21/64GK1428603SQ0113918
公開日2003年7月9日 申請日期2001年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2001年12月22日
發(fā)明者牟同升 申請人:浙江大學(xué)