專利名稱:具有多通道電信時標(biāo)測試能力的測試和測量儀器的制作方法
本專利申請在這里主張Peter J.Letts和Steven C.Herring在1999年9月24日提交的、題目為“Telecommunications MaskTesting(電信時標(biāo)測試)”的美國臨時專利申請序列號NO.60/155,977的優(yōu)先權(quán)。
本專利申請涉及在2000年6月22日提交的、轉(zhuǎn)讓給與本專利申請相同的受讓人的、以及也主張以上標(biāo)明的美國臨時專利申請的優(yōu)先權(quán)的、題目為“A Test and Measurement Instrument HavingTelecommunications Mask Testing Capability with an Autofit toMask Feature(具有自動適應(yīng)時標(biāo)特性的電信時標(biāo)測試能力的測試和測量儀器)”(Letts)的美國專利申請序列號NO.09/602,575,承擔(dān)代理卷號7011-US1,以及涉及在2000年6月29日提交的、轉(zhuǎn)讓給與本專利申請相同的受讓人的、以及也主張以上標(biāo)明的美國臨時專利申請的優(yōu)先權(quán)的、題目為“A Test and Measurement Instrument HavingTelecommunications Mask Testing Capability with a Mask ZoomFeature(具有時標(biāo)變焦特性的電信時標(biāo)測試能力的測試和測量儀器)”(Letts)的美國專利申請序列號NO.09/607,573,承擔(dān)代理卷號7011-US2。
本發(fā)明總地涉及測試和測量儀器,更具體地,涉及利用電信時標(biāo)特性的那些測試和測量儀器。
在電信工業(yè)中,進行測試來確定特定的信號是否與由國家和國際通信標(biāo)準(zhǔn)實體(例如,LTU-T和ANSI)建立的參量一致是很平常的。執(zhí)行這樣的一致性測試的主要方法是把由示波器得出的波形的脈沖形狀與一個波形“時標(biāo)”進行比較。該時標(biāo)規(guī)定了具有最小和最大幅度值的路徑、預(yù)定的比特速率、和在信號邊緣上的規(guī)定的最小斜率(即,最小帶寬)。如果待測試的信號處在路徑范圍內(nèi),則信號通過測試。這類測試被稱為電信時標(biāo)測試。
示波器特性中最近的改進是“自動設(shè)置時標(biāo)”功能。“自動設(shè)置時標(biāo)”功能在示波器上自動地建立水平、垂直、和觸發(fā)設(shè)置,以提供預(yù)期的信號,以及覆蓋示波器顯示器上的時標(biāo)。在“自動設(shè)置時標(biāo)”功能運行后的程序是通過調(diào)整輸入A/D變換器的設(shè)置而設(shè)置水平和垂直尺度為標(biāo)稱值,得出一個波形,和通過調(diào)整輸入A/D變換器的設(shè)置而調(diào)整波形的尺度和位置,以及顯示該時標(biāo)。
在“自動設(shè)置時標(biāo)”功能建立得出的波形和顯示該時標(biāo)后,電信時標(biāo)測試軟件通過被測試的波形來檢驗是否闖入到時標(biāo)區(qū)域(即,擾亂或時標(biāo)碰撞),它表示波形不遵守可應(yīng)用的電信標(biāo)準(zhǔn)。
在電信工業(yè)中,已經(jīng)看到,較高的磁心和接入數(shù)據(jù)速率需要較高的容量線路卡,也被稱為網(wǎng)絡(luò)接口卡。這樣的高容量線路卡可以把STM1E信號(每秒156兆比特)下變頻到63個通道的E1信號(每秒2兆比特)。當(dāng)多通道器件被設(shè)計到網(wǎng)絡(luò)接口卡時,對于多通道的高速度通過/失敗測試的需要變成為嚴(yán)厲。
所需要的是對于測試遵從電信標(biāo)準(zhǔn)的電信設(shè)備的多通道的電信信號問題的高速度的解決辦法。
在具有M個信號輸入通道的測試和測量儀器中,把代表來自每個通道的信號的各個樣本與時標(biāo)象素進行比較,以檢測與給定的技術(shù)條件的非一致性。在示波器的顯示屏幕上的初始時標(biāo)和波形位置可以通過“自動設(shè)置時標(biāo)”功能來確定。當(dāng)象素由光柵形成器被組合到光柵存儲器時,基本上實時地進行時標(biāo)象素與波形象素的比較,以檢測在波形象素與時標(biāo)象素之間的沖突(即,時標(biāo)擾亂)。獲取是同時地和重復(fù)地執(zhí)行的。從所有M個信號輸入通道獲取的波形在優(yōu)選地獲取時間間隔期間順序地與時標(biāo)進行比較,以及在屏幕上被畫出。這樣,可以對于與基本上在單個獲取時間間隔內(nèi)的電信時標(biāo)的一致性,測試波形。利用復(fù)接器的系統(tǒng)可以從一組N個通道中一次選擇M個通道,以減小對于測試全部N個通道所需要的時間。最好提高代表擾亂時標(biāo)的樣本的象素的強度,以便更好地觀看電信時標(biāo)。
圖1顯示了按照現(xiàn)有技術(shù)的多通道電信時標(biāo)測試裝置。
圖2是適合于本發(fā)明使用的示波器的簡化示意圖。
圖3是由圖2的裝置采用的存儲器的平板的簡化代表圖。
圖4顯示了按照本發(fā)明的一個實施例的電信時標(biāo)和多個波形的屏幕顯示。
圖5顯示了按照本發(fā)明的多通道電信時標(biāo)測試裝置。
圖1是按照現(xiàn)有技術(shù)的多通道電信時標(biāo)測試裝置100的簡化的圖。待測試的線路卡包括要被測試遵從電信標(biāo)準(zhǔn)的N個通道的信號。N個通道(典型地63通道)被加到N∶1復(fù)接器120(典型地63∶1復(fù)接器)。復(fù)接器120的單個輸出信號被加到具有電信時標(biāo)測試能力的示波器130的單個通道的信號輸入端。
在運行時,示波器130獲取信號以及確定信號是通過時標(biāo)測試還是通不過時標(biāo)測試。然后這個序列被重復(fù)N次,例如63次,以檢驗線路卡110的每個通道。復(fù)接器120和示波器130是在GPIB控制器140的控制下。GPIB控制器140可以是具有GPIB(通用接口能力)控制能力的,微處理器、微計算機、或?qū)S肁SIC控制器。在圖1的裝置中,對于時標(biāo),一次只測試一個通道。所以,GPIB控制器140必須發(fā)送63個分開地切換的控制命令到復(fù)接器120。如果在每次復(fù)接器切換選擇以后需要設(shè)定時間,則用于測試整個線路卡110的總的時間隨之增加??衫斫獾?,測試典型地線路卡的速度對于電信工業(yè)是決定性重要的。
重要的是指出,所以,沒有示波器能夠基本上同時地(即,在單個信號獲取內(nèi))相對于電信時標(biāo)來測試一個以上的通道。本發(fā)明利用圖2所示的硬件結(jié)構(gòu),大大地減小對于執(zhí)行電信測試多通道線路卡所需要的時間。圖2以簡化的方框圖形式顯示了在實施本發(fā)明時使用的四通道數(shù)字示波器100。這樣的示波器可以是,例如,由Tektronix公司。Beaverton,Oregon制造的TDS-3054數(shù)字熒光粉示波器(DPO)。輸入信號被加到包括A/D(模擬-數(shù)字)變換器219的獲取電路210。獲取路210幾乎連續(xù)地以高速度采樣加上的輸入信號,以及把樣本存儲在獲取存儲器220。
在運行時,數(shù)字示波器200通過周期地采樣在探針(為簡明起見,未示出)接觸到待觀察的電路的某個節(jié)點時的一點處存在的電壓,而獲取有關(guān)輸入信號的狀態(tài)(即,波形)的信息。如上所述,圖2的示波器200代表四通道數(shù)字示波器,諸如TDS 3054 DPO。雖然四通道是優(yōu)選的,但本發(fā)明對于雙通道示波器也是有用的。示波器200的示波器探針和前端被設(shè)計成精確地復(fù)制信號,或信號的某個預(yù)定的分?jǐn)?shù)或倍數(shù),并把它送到A/D變換器219。A/D變換器219的輸出是一系列被存儲在獲取存儲器220中的多比特數(shù)字字。接連地獲取的樣本以順序地相關(guān)的地址被存儲在獲取存儲器中,由此涉及到時間尺度。在這些地址的數(shù)據(jù)實際上由光柵形成器240變換回時間尺度,以及被存儲在光柵存儲器250。顯示硬件,諸如強度或彩色繪圖儀280,讀出光柵存儲器250的內(nèi)容,并把數(shù)據(jù)加到光柵掃描顯示器290。上述的時間尺度代表沿示波器的光柵顯示器290的x軸的水平距離。
對于背景信息來說,光柵包含水平行和垂直列。每個行可由沿垂直軸(y軸)的位置數(shù)目識別,而每個列可由沿水平軸(x軸)的位置數(shù)目識別。典型地,在數(shù)字示波器中,從獲取存儲單元的數(shù)據(jù)內(nèi)容得出的電壓幅度來確定所顯示的象素的垂直位置(行數(shù)),而從獲取存儲器的地址得出的時間值來確定水平位置(列數(shù))。擴展獲取存儲器的內(nèi)容含量和地址,以產(chǎn)生二維光柵存儲器的含量的處理過程被稱為“形成光柵”。
光柵形成器240通過讀出獲取存儲器120的內(nèi)容含量、讀出光柵存儲器250的相關(guān)存儲單元的內(nèi)容含量、組合這二者,以及把結(jié)果的數(shù)值存儲(即,組合)回光柵存儲器250而形成復(fù)合的多比特灰度波形。幾乎在同時,多功能光柵衰變單元270讀出光柵存儲器250的內(nèi)容含量和以預(yù)定的速率減去數(shù)據(jù),以及存儲衰變的數(shù)值回光柵存儲器250,供以后顯示用。所有上述的功能在控制器230的控制下運行,該控制器可以是,例如,PowerPC G3微處理器,專用ASIC,或另外,控制器230可用多個處理器來實施。
光柵存儲器250在圖2上被更詳細(xì)地顯示為光柵存儲器350。光柵存儲器250包括三組存儲器平板,灰度(GS)平板353,矢量平板354,和UI(用戶接口)平板356。本領(lǐng)域技術(shù)人員將會看到,雖然很容易根據(jù)存儲器“平板”想到這種結(jié)構(gòu),但它們實際上只是快速SRAM顯示存儲器的相鄰的塊。
波形數(shù)據(jù)被寫入到GS平板353,它是以512×402矩陣排列的205,824存儲單元的陣列,每個存儲單元是9比特長。9個比特規(guī)定強度,顏色,以及象素是時標(biāo)象素還是波形象素。
矢量平板354被用來顯示從數(shù)學(xué)運算(例如,來自通道1和通道2的信號的和值)得出的波形,或用于顯示先前存儲的參考波形。矢量平板354是以512×402矩陣排列的205,824存儲單元的陣列,每個存儲單元是2比特長。順便指出,2個比特將規(guī)定對于給定象素的三個級別的亮度和“關(guān)斷”狀態(tài)。
UI平板356用來存儲與文本字符有關(guān)的象素數(shù)據(jù),它包括整個640×480的屏幕面積。這樣,UI平板356是以640×480矩陣排列的307,200存儲單元的陣列,每個存儲單元是4比特長。4個比特規(guī)定對于給定象素的顏色和亮度級別。
三組平板353、354、和356的輸出信號被讀出,以及被組合,以便在顯示讀出硬件單元380中典型地以60Hz速率顯示。
圖4顯示了在示波器的顯示屏幕上顯示的典型的電信時標(biāo)的兩個部分410、430。圖2的控制器230把電信時標(biāo)放入顯示存儲器。它被畫成為由一系列存儲的X-Y點規(guī)定的一系列的多邊形(例如,四邊形)。電信時標(biāo)可被放入兩個存儲器組的任一個組,取決于它的最后目的。如果目的只是觀看電信時標(biāo),或在屏幕上移動它,則把它放入矢量平板354。然而,如果目的是正如在共同未決的、題目為“A Testand Measurement Instrument Having Telecommunications MaskTesting Capability with an Autofit to Mask Feature(具有自動適應(yīng)時標(biāo)特性的電信時標(biāo)測試能力的測試和測量儀器)”(Letts)的美國專利申請序列號NO.09/602,575(在此引用,以供參考)中那樣把它與波形數(shù)據(jù)進行比較,則把電信時標(biāo)放入GS平板353。這是因為光柵形成器必須接入波形數(shù)據(jù)和電信時標(biāo),以便于檢測在這二者之間的擾亂(即,作出沖突判決),正如象素被放入光柵存儲器350的GS平板353。
參照圖4,數(shù)字示波器等的顯示屏幕400,其上顯示了具有上部410和下部430的電信時標(biāo)。上部410和下部430的每個部分包括由多邊形(例如,四邊形)組成的各個段。
假定,“自動設(shè)置時標(biāo)”特性把電信時標(biāo)410,430放置在顯示屏幕上(被寫入到光柵存儲器250),以及獲取和調(diào)整波形430、440、450、和460到標(biāo)稱值。一部分的“自動設(shè)置時標(biāo)”功能(以上涉及的)則進行控制和阻止在時標(biāo)區(qū)域中任何象素數(shù)據(jù)的衰變(這樣,時標(biāo)不必被連續(xù)地重新畫出)。
回想起在新的數(shù)據(jù)被寫入到光柵存儲器350以前,現(xiàn)有的數(shù)據(jù)從光柵存儲器350的GS平板353的相關(guān)存儲單元被讀出。現(xiàn)有的數(shù)據(jù)與新的數(shù)據(jù)組合,以便實施灰度(灰色標(biāo)度)特性的增量部分(灰度特性的減量部分由多功能光柵衰變單元270完成)。組合的數(shù)據(jù)然后被寫回到顯示器的存儲器中。
本發(fā)明認(rèn)識到,在現(xiàn)有的數(shù)據(jù)和波形數(shù)據(jù)被組合的時候?qū)嵤_突檢測運行,使得這個特性能夠以極高的速度速率(每秒約一千萬點)運行。因此,如果現(xiàn)有的象素數(shù)據(jù)表示,這個象素是電信時標(biāo)的一部分,則檢測到在波形象素與時標(biāo)象素之間的沖突(即擾亂),以及提醒控制器230出現(xiàn)擾亂。
四通道的輸入信號順序地以一個波形的原則與時標(biāo)進行比較(即,在進到下一個波形的象素之前,從單個波形一次一個象素,直至整個波形完全被檢驗)。整個程序過程可能非??欤灾掠谌克膫€通道對于用戶來說似乎是同時被測試的。
在TDS3000系列示波器中,諸如上述的TDS3054,每個通道與不同彩色(例如,紅、綠、黃、和深紅)的控制按鈕相聯(lián)系,與該通道有關(guān)的波形以相應(yīng)的顏色被畫在顯示屏幕上。所以,如果通過按下綠色控制按鈕來選擇通道2,則通道2的波形以綠色被畫在顯示屏幕上。所以,圖4的波形430、440、450和460將以四種不同的顏色呈現(xiàn)。優(yōu)選地,電信時標(biāo)部分410、420以五種顏色被畫出,例如,藍(lán)色。這樣,時標(biāo)擾亂(即,至少一個時標(biāo)象素被波形重寫)被顯示給用戶,以及侵犯時標(biāo)的波形的顏色表示哪個信號不遵從電信標(biāo)準(zhǔn)。
不擾亂時標(biāo)的那些象素是相對于黑色背景被顯示的,以及由于在波形軌跡和背景之間的相對較好的對比度,它是容易觀察的。然而,擾亂時標(biāo)的那些象素是相對于藍(lán)色時標(biāo)被顯示的,以及由于在波形軌跡和藍(lán)色的時標(biāo)之間的減小的對比度,它是不太容易觀察的。在這時,考慮在藍(lán)色時標(biāo)上顯示的綠色軌跡。已經(jīng)發(fā)現(xiàn),如果擾亂時標(biāo)的波形象素以比起不擾亂時標(biāo)的波形的那個部分的象素更高強度的水平被顯示,則時標(biāo)擾亂更容易觀察。
想要的亮度增加可以如下地完成。假定光柵形成器240從光柵存儲器250讀出給定的象素的當(dāng)前值,以及確定這個特定的象素是電信時標(biāo)的一部分。要被寫入到光柵存儲器的同一個存儲單元中的波形象素將和時標(biāo)“沖突”,以及造成時標(biāo)擾亂。為了增加這個“擾亂的”波形象素的顯示強度以便更好地觀看,波形樣本值的兩個比特在被存儲到光柵存儲器250以前被改變。這個改變使得繪圖儀280的不同的段被使用,它又使得該特定的波形象素的顯示強度值比它本來值大大地增加。被存儲在光柵存儲器250的該存儲單元中的特定的數(shù)據(jù)字表示象素的強度值,象素的顏色(即,與波形軌跡的其余部分相同的顏色),但保持一個指示,這個特定的象素存儲單元屬于電信時標(biāo)。最終的顯示在時標(biāo)擾亂的點處將呈現(xiàn)出波形相對于時標(biāo)更大的對比度。
圖5是按照本發(fā)明的多通道電信時標(biāo)測試裝置500的簡化的圖。待測試的線路卡510包括要被測試遵從電信標(biāo)準(zhǔn)的N個通道的電信信號。N個通道(典型地63通道)被加到N∶4復(fù)接器520(在這種情況下,63∶4復(fù)接器)。復(fù)接器520的四個輸出信號被加到具有電信時標(biāo)測試能力的四通道示波器530(例如,上述的TDS 3054 DPO)的四個信號輸入端。復(fù)接器520和示波器530是在GPIB控制器540的控制下。GPIB控制器540可以是具有GPIB(通用接口能力)控制能力的,微處理器、微計算機、或?qū)S肁SIC控制器。
在運行時,示波器530同時地獲取信號以及順序地確定信號是通過時標(biāo)測試還是通不過時標(biāo)測試。然后這個序列被重復(fù)N次,例如16次,以一次四個一組的形式檢驗線路卡510的每個通道。這樣,如上所述,本發(fā)明利用圖2所示的硬件結(jié)構(gòu),大大地減小對于執(zhí)行電信測試多通道線路卡所需要的時間。達(dá)到時間減小是因為在本發(fā)明的裝置中,四個信號是相對于時標(biāo)同時地被測試的。達(dá)到時間減小也是因為相對于圖1的裝置所需要的切換控制信號的數(shù)目來說,只有四分之一的切換控制信號(具有任何有關(guān)的延遲時間和建立時間)需要被發(fā)送到圖5的N-通道復(fù)接器520。
已經(jīng)描述的是用于相對于電信時標(biāo)測試波形的多通道的非常高速度的方法和裝置。
雖然本發(fā)明是相對于數(shù)字示波器描述的,但這里將會看到,本發(fā)明可被應(yīng)用于其它的測試和測量設(shè)備,例如,邏輯分析儀,或通信網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
雖然如先前存儲那樣地描述了用于產(chǎn)生時標(biāo)的X-Y點,但本領(lǐng)域技術(shù)人員將會看到,用戶可通過測試和測量儀器的數(shù)據(jù)端口從PC機下載他自己的數(shù)據(jù),以便于產(chǎn)生定制的時標(biāo)。
權(quán)利要求
1.用于多通道時標(biāo)測試的測試和測量儀器,包括一組M個信號輸入端,用于接收來自待測試電路的M個信號;獲取系統(tǒng),被耦合到所述M個信號輸入端,用于在每個所述M個信號輸入端處獲取波形的樣本;控制器,用于產(chǎn)生規(guī)定時標(biāo)的時標(biāo)象素數(shù)據(jù);存儲器,用于存儲所述波形樣本和所述時標(biāo)象素數(shù)據(jù),所述時標(biāo)象素數(shù)據(jù)包括識別碼;比較電路,用于讀存儲單元,和確定從每個所述M個信號輸入端獲取的所述信號的波形樣本是否要被寫入到當(dāng)前存儲時標(biāo)象素、造成時標(biāo)擾亂的存儲單元中;以及顯示電路,用于同時顯示所述時標(biāo)的代表物和來自所述M個信號輸入端的全部所述波形。
2.權(quán)利要求1的測試和測量儀器,其特征在于,所述比較電路是光柵形成器;所述存儲器是光柵存儲器;以及所述比較是在所述波形樣本被組合到所述光柵存儲器中時,通過所述光柵形成器檢驗對于所述識別碼的所述光柵存儲器的象素數(shù)據(jù)而完成的;以及所述比較是以一個波形的原則順序地執(zhí)行的。
3.權(quán)利要求2的測試和測量儀器,其特征在于,每個所述波形是以M個不同顏色中一種顏色被顯示的,以及所述電信時標(biāo)以第M+1個顏色被顯示。
4.權(quán)利要求3的測試和測量儀器,其特征在于,響應(yīng)于確定時標(biāo)擾亂,所述光柵形成器在把所述樣本組合到所述光柵存儲器以前,提高擾亂所述時標(biāo)的所述波形樣本的強度值。
5.權(quán)利要求1的測試和測量儀器,其特征在于,產(chǎn)生時標(biāo)象素的所述控制器是微處理器。
6.權(quán)利要求1的測試和測量儀器,其特征在于,產(chǎn)生時標(biāo)象素的所述控制器是專用ASIC。
7.權(quán)利要求1的測試和測量儀器,其特征在于所述測試和測量儀器是數(shù)字示波器。
8.用于多通道時標(biāo)測試的測試和測量系統(tǒng),包括具有N個輸入通道和M個輸出通道的復(fù)接器,其中N大于M,以及M大于1,用于響應(yīng)于第一控制信號在M-通道組中一次選擇所述N-通道的一些通道;所述N個輸入通道的每個通道被耦合來接收來自待測試的電路的N個輸出通道的各個通道的信號;測試和測量儀器,響應(yīng)于第二控制信號運行,以及包括一組M個信號輸入端,每個所述M個信號輸入端被耦合到所述M個信號輸出通道的各個輸出通道;獲取系統(tǒng),被耦合到所述M個信號輸入端,用于在每個所述M個信號輸入端處獲取波形的樣本;控制器,用于產(chǎn)生規(guī)定時標(biāo)的時標(biāo)象素數(shù)據(jù);存儲器,用于存儲所述波形樣本和所述時標(biāo)象素數(shù)據(jù),所述時標(biāo)象素數(shù)據(jù)包括識別碼;比較電路,用于讀存儲單元,和確定從每個所述M個信號輸入端獲取的所述信號的波形樣本是否要被寫入到當(dāng)前存儲時標(biāo)象素、造成時標(biāo)擾亂的存儲單元中;以及顯示電路,用于同時顯示所述時標(biāo)的代表物和來自所述M個信號輸入端的全部所述波形;以及控制器,被耦合到所述復(fù)接器與所述測試和測量儀器,用于產(chǎn)生所述第一和第二控制信號。
9.權(quán)利要求8的測試和測量系統(tǒng),其特征在于,所述比較電路是光柵形成器;所述存儲器是光柵存儲器;以及所述比較是在所述波形樣本被組合到所述光柵存儲器中時,通過所述光柵形成器檢驗對于所述識別碼的所述光柵存儲器的象素數(shù)據(jù)而完成的;以及所述比較是以一個波形的原則上順序地執(zhí)行的。
10.權(quán)利要求9的測試和測量系統(tǒng),其特征在于,每個所述波形是以M個不同顏色中一種顏色被顯示的,以及所述電信時標(biāo)以第M+1個顏色被顯示。
11.權(quán)利要求10的測試和測量系統(tǒng),其特征在于,響應(yīng)于確定時標(biāo)擾亂,所述光柵形成器在把所述樣本組合到所述光柵存儲器以前,提高擾亂所述時標(biāo)的所述波形樣本的強度值。
12.權(quán)利要求8的測試和測量系統(tǒng),其特征在于,產(chǎn)生時標(biāo)象素的所述控制器是微處理器。
13.權(quán)利要求8的測試和測量系統(tǒng),其特征在于,產(chǎn)生時標(biāo)象素的所述控制器是專用ASIC。
14.權(quán)利要求8的測試和測量系統(tǒng),其特征在于所述測試和測量儀器是數(shù)字示波器。
15.在包括具有時標(biāo)測試能力的測試和測量儀器的測試和測量系統(tǒng)中,用于進行多通道時標(biāo)測試的方法,包括從一組N個通道中一次選擇M個通道;在被耦合到所述M個通道的M個輸入端處獲取波形的樣本;產(chǎn)生規(guī)定時標(biāo)的時標(biāo)象素數(shù)據(jù);存儲所述波形樣本和所述時標(biāo)象素數(shù)據(jù)到存儲器中,所述時標(biāo)象素數(shù)據(jù)包括識別碼;通過讀存儲單元和確定從每個所述M個信號輸入端獲取的所述信號的波形樣本是否要被寫入到當(dāng)前存儲時標(biāo)象素、造成時標(biāo)擾亂的存儲單元中,而比較時標(biāo)象素數(shù)據(jù)與波形樣本數(shù)據(jù);把所述波形樣本組合到光柵存儲器中;以及把所述時標(biāo)和所述M個波形同時顯示在顯示屏幕上。
16.權(quán)利要求15的方法,其特征在于,所述比較步驟是在所述波形樣本被組合到所述光柵存儲器中時,通過所述光柵形成器檢驗對于所述識別碼的所述光柵存儲器的象素數(shù)據(jù)而完成的;以及所述樣本的所述比較是以一個波形的原則上進行的。
17.權(quán)利要求15的方法,其特征在于,所述顯示步驟包括以M個不同顏色中一種顏色顯示每個所述波形,以及以第M+1個顏色顯示所述時標(biāo)。
18.權(quán)利要求16的方法,其特征在于,還包括以下步驟在把所述樣本組合到所述光柵存儲器以前,提高被確定為造成時標(biāo)擾亂的樣本的強度值。
全文摘要
在具有M個信號輸入通道的測試和測量儀器中,檢測與給定的技術(shù)條件的非一致性。當(dāng)象素由光柵形成器被組合到光柵存儲器時,基本上實時地進行時標(biāo)象素與波形象素的比較,以檢測在波形象素與時標(biāo)象素之間的沖突。從所有M個信號輸入通道獲取的波形在優(yōu)選地獲取時間間隔期間順序地與時標(biāo)進行比較,以及在屏幕上被畫出。利用復(fù)接器的系統(tǒng)可以從一組N個通道中一次選擇M個通道,以減小對于測試全部N個通道所需要的時間。
文檔編號G01R31/28GK1290079SQ00129020
公開日2001年4月4日 申請日期2000年9月25日 優(yōu)先權(quán)日1999年9月24日
發(fā)明者P·J·萊茨, S·C·赫林 申請人:特克特朗尼克公司