電子元件測試分類設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種電子元件測試分類設(shè)備，有供料裝置、收料裝置、測試裝置及輸送裝置，該供料裝置容納復(fù)數(shù)個電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件，收料裝置容納復(fù)數(shù)個不同等級的完測電子元件，測試裝置設(shè)于測試區(qū)的上方，以對電性接點(diǎn)朝上的電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，該輸送裝置設(shè)有至少一入料移載臂、至少一出料移載臂及至少一測試移載臂，該入料移載臂系自上方將供料裝置處電性接點(diǎn)朝上的電子元件移載至位于第一交換區(qū)的測試移載臂，該測試移載臂則自下方承載電子元件并移載至測試區(qū)，將電子元件以電性接點(diǎn)朝上的方式與測試裝置電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)，完測后再將電子元件移載至第二交換區(qū)，由出料移載臂自上方將電子元件移載至收料裝置，并執(zhí)行分類作業(yè)。
【專利說明】
電子元件測試分類設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種利用電子元件電性接點(diǎn)朝上移載及測試的方式，以有效簡化輸送路徑，并達(dá)到有效降低設(shè)備成本及提升測試產(chǎn)能的電子元件測試分類設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]按，現(xiàn)今科技在不斷研發(fā)與創(chuàng)新下，以往必需由許多大型電子電路結(jié)合才能完成的工作已完全由集成電路(integrated circuit，簡稱IC)所取代，由于IC在生產(chǎn)過程中乃經(jīng)過多道的加工程序，因此為了確保產(chǎn)品品質(zhì)，業(yè)者于IC制作完成后，均會進(jìn)行電路測試作業(yè)，以檢測出IC于制作過程中，是否遭受損壞，進(jìn)而檢測出不良品。
[0003]請參閱圖1，其是本
【申請人】先前申請之中國臺灣發(fā)明第I 468329號電子元件拾料單元及其應(yīng)用的測試設(shè)備專利案，其測試設(shè)備系于機(jī)臺10上配置有供料裝置11、收料裝置12、測試裝置13及輸送裝置14，該供料裝置11容納復(fù)數(shù)個電性接點(diǎn)朝下的待測電子元件，收料裝置12容納復(fù)數(shù)個不同等級的完測電子元件，測試裝置13設(shè)于測試區(qū)的下方，以對電性接點(diǎn)朝下的電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，該輸送裝置14設(shè)有一可作X-Y-Z三軸向移動的入料移載臂141及出料移載臂142，以分別于上方移載供料裝置11的待測電子元件以及將完測電子元件移載至收料裝置12分類放置，另于測試裝置13的二惻分別設(shè)有Y-Z 二軸向移動的第一下壓臂143及第二下壓臂144，以分別將待測電子元件移入測試裝置13，并下壓執(zhí)行測試作業(yè)，為了使入料移載臂141上電性接點(diǎn)朝下的待測電子元件可轉(zhuǎn)交給第一下壓臂143或第二下壓臂144移入至測試裝置13，輸送裝置14另設(shè)有第一入料載臺145及第二入料載臺146，而供入料移載臂141自上方置入待測電子元件后，第一入料載臺145及第二入料載臺146再分別作X軸向移動至第一下壓臂143及第二下壓臂144的側(cè)方，第一下壓臂143及第二下壓臂144接著分別作Y-Z 二軸向移動，而可分別自上方將第一入料載臺145及第二入料載臺146上的待測電子元件取出并移入至測試裝置13下壓執(zhí)行測試作業(yè)；另為了使第一下壓臂143及第二下壓臂144上電性接點(diǎn)朝下的完測電子元件可轉(zhuǎn)交給出料移載臂142移載至收料裝置12分類放置，輸送裝置14另設(shè)有第一出料載臺147及第二出料載臺148，而于第一出料載臺147及第二出料載臺148分別作X軸向移動至第一下壓臂143及第二下壓臂144的側(cè)方后，供第一下壓臂143及第二下壓臂144自上方置入完測電子元件，第一出料載臺147及第二出料載臺148再分別作X軸向移動，以供出料移載臂142自上方將第一出料載臺147及第二出料載臺148上的完測電子元件移載至收料裝置12分類放置。該設(shè)計(jì)由于入料移載臂141、第一下壓臂143、第二下壓臂144及出料移載臂142都是自上方吸取移載電子元件，因此當(dāng)入料移載臂141上的待測電子元件要轉(zhuǎn)交給第一下壓臂143或第二下壓臂144移入測試裝置13時，或者是第一下壓臂143或第二下壓臂144上的完測電子元件要轉(zhuǎn)交給出料移載臂142移載至收料裝置12時，都必須通過第一入料載臺145及第二入料載臺146，或者是第一出料載臺147及第二出料載臺148所提供轉(zhuǎn)乘的作用，才能作電子元件的交換移載；然而，由于該輸送裝置14必須設(shè)有第一入料載臺145、第二入料載臺146、第一出料載臺147及第二出料載臺148，因此出現(xiàn)以下的問題:
[0004]1.機(jī)構(gòu)及輸送路徑較為復(fù)雜:該輸入裝置14由于必須設(shè)有可作X軸向移動的第一入料載臺145、第二入料載臺146、第一出料載臺147及第二出料載臺148，因此不僅機(jī)構(gòu)較為復(fù)雜，且必須通過第一入料載臺145、第二入料載臺146、第一出料載臺147及第二出料載臺148作X軸向移動的移載，而增加輸送路徑的復(fù)雜度，而影響設(shè)備的成本。
[0005]2.交換移載的次數(shù)及時間較多:該輸入裝置14的入料移載臂141由于必須通過第一入料載臺145及第二入料載臺146的移載，才能將待測電子元件轉(zhuǎn)交給第一下壓臂143或第二下壓臂144移入測試裝置13，以及第一下壓臂143及第二下壓臂144必須通過第一出料載臺147或第二出料載臺148的移載，才能將完測電子元件轉(zhuǎn)交給出料移載臂142移載至收料裝置12，因此不僅交換移載的次數(shù)較多，且造成交換移載的時間過長，而影響測試的產(chǎn)能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本發(fā)明人遂以其多年從事相關(guān)行業(yè)的研發(fā)與制作經(jīng)驗(yàn)，針對目前所面臨的問題深入研究，經(jīng)過長期努力的研究與試作，終究研創(chuàng)出一種不僅可有效降低設(shè)備成本，且可有效提升測試產(chǎn)能的測試分類設(shè)備，以有效改善【背景技術(shù)】的缺點(diǎn)，此即為本發(fā)明的設(shè)計(jì)宗旨。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
[0008]—種電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，包括有:
[0009]機(jī)臺:設(shè)有測試區(qū)、第一交換區(qū)，以及第二交換區(qū)；
[0010]供料裝置:設(shè)于該機(jī)臺上，容納復(fù)數(shù)個電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件；
[0011]收料裝置:設(shè)于該機(jī)臺上，容納復(fù)數(shù)個不同等級的完測電子元件；
[0012]測試裝置:架設(shè)于該機(jī)臺的測試區(qū)的上方，并設(shè)有測試板及探針，以對電性接點(diǎn)朝上的電子元件執(zhí)行測試作業(yè)；
[0013]輸送裝置:設(shè)于該機(jī)臺上，該輸送裝置設(shè)有至少一入料移載臂、至少一出料移載臂及至少一測試移載臂，該入料移載臂自該供料裝置處的上方將電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件移載至該第一交換區(qū)，該測試移載臂移動于該機(jī)臺的第一交換區(qū)、測試區(qū)及第二交換區(qū)之間，該測試移載臂自下方承載待測電子元件，并將該待測電子元件以電性接點(diǎn)朝上的方式執(zhí)行測試作業(yè)，該出料移載臂將該完測電子元件移載至該收料裝置并執(zhí)行分類作業(yè)。
[0014]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該輸送裝置的入料移載臂設(shè)有至少一第一取放吸嘴，該入料移載臂并作χ-γ-ζ三軸向移動，將該待測電子元件移載至該第一交換區(qū)。
[0015]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該輸送裝置的出料移載臂設(shè)有至少一第二取放吸嘴，該出料移載臂并作χ-γ-ζ三軸向移動，自該第二交換區(qū)的上方將該完測電子元件移載至該收料裝置。
[0016]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該輸送裝置設(shè)有第一測試移載臂及第二測試移載臂，該第一測試移載臂及該第二測試移載臂分別設(shè)有至少一取放吸嘴或承座，并分別移動于該第一交換區(qū)、該測試區(qū)及該第二交換區(qū)之間。
[0017]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該機(jī)臺的第一交換區(qū)及第二交換區(qū)分別設(shè)于該測試區(qū)的第一側(cè)下方及第二側(cè)下方，在該測試區(qū)的第一側(cè)上方及第二側(cè)上方分別設(shè)有第三交換區(qū)及第四交換區(qū)。
[0018]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該輸送裝置設(shè)有第一測試移載臂及第二測試移載臂，該第一測試移載臂移動于該第一交換區(qū)、該測試區(qū)及該第二交換區(qū)之間，該第二測試移載臂則移動于該第三交換區(qū)、該測試區(qū)及該第四交換區(qū)之間。
[0019]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該入料移載臂將該待測電子元件分別移載至該第一交換區(qū)及該第三交換區(qū)。
[0020]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該出料移載臂分別自該第二交換區(qū)及該第四交換區(qū)的上方移載該完測電子元件。
[0021]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該機(jī)臺上設(shè)有空盤裝置，該空盤裝置并以移盤器移載空料盤。
[0022]所述的電子元件測試分類設(shè)備，該機(jī)臺上設(shè)有對位裝置，該對位裝置設(shè)有復(fù)數(shù)個容置孔，在各容置孔的一側(cè)設(shè)有推移件，以供該入料移載臂上的待測電子元件對位。
[0023]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明具有的有益效果是:
[0024]本發(fā)明提供一種電子元件測試分類設(shè)備，其系利用入料移載臂自上方將供料裝置處電性接點(diǎn)朝上的電子元件交換移載至位于第一交換區(qū)的測試移載臂，該測試移載臂自下方承載電子元件并移載至測試區(qū)，將電子元件以電性接點(diǎn)朝上的方式與設(shè)于測試區(qū)上方的測試裝置電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)，于完測后再將電子元件移載至第二交換區(qū)，由出料移載臂自上方將電子元件交換移載至收料裝置，并執(zhí)行分類作業(yè)；如此，利用電子元件電性接點(diǎn)朝上移載及測試的方式，即可不須設(shè)置提供轉(zhuǎn)乘作用的入料載臺及出料載臺，進(jìn)而可有效簡化機(jī)構(gòu)及輸送路徑，達(dá)到有效降低設(shè)備成本的實(shí)用效益。
[0025]本發(fā)明提供一種電子元件測試分類設(shè)備，其系利用入料移載臂自上方將供料裝置處電性接點(diǎn)朝上的電子元件移載至位于第一交換區(qū)的測試移載臂，該測試移載臂自下方承載電子元件并移載至測試區(qū)，將電子元件以電性接點(diǎn)朝上的方式與設(shè)于測試區(qū)上方的測試裝置電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)，于完測后再將電子元件移載至第二交換區(qū)，由出料移載臂自上方將電子元件交換移載至收料裝置，并執(zhí)行分類作業(yè)；如此，利用電子元件電性接點(diǎn)朝上移載及測試的方式，即可不須通過入料載臺及出料載臺所提供轉(zhuǎn)乘作用，進(jìn)而可有效簡化交換移載的次數(shù)及縮減交換移載的時間，達(dá)到有效提升測試產(chǎn)能的實(shí)用效益。
【附圖說明】
[0026]圖1是中國臺灣發(fā)明第I 468329號專利案的測試設(shè)備的示意圖；
[0027]圖2是本發(fā)明第一實(shí)施例的架構(gòu)示意圖；
[0028]圖3是本發(fā)明第一實(shí)施例的作動不意圖(一)；
[0029]圖4是本發(fā)明第一實(shí)施例的作動示意圖(二)；
[0030]圖5是圖4的部分側(cè)視示意圖；
[0031]圖6是本發(fā)明第一實(shí)施例的作動不意圖(三)；
[0032]圖7是圖6的部分側(cè)視示意圖；
[0033]圖8是本發(fā)明第一實(shí)施例的作動示意圖(四)；
[0034]圖9是圖8的部分側(cè)視示意圖；
[0035]圖10是本發(fā)明第一實(shí)施例的作動不意圖(五)；
[0036]圖11是圖10的部分側(cè)視示意圖；
[0037]圖12是本發(fā)明第一實(shí)施例的作動示意圖(六)；
[0038]圖13是本發(fā)明第二實(shí)施例的架構(gòu)示意圖；
[0039]圖14是本發(fā)明第二實(shí)施例的作動示意圖(一)；
[0040]圖15是本發(fā)明第二實(shí)施例的作動示意圖(二)；
[0041]圖16是圖15的部分側(cè)視示意圖；
[0042]圖17是本發(fā)明第二實(shí)施例的作動示意圖(三)；
[0043]圖18是圖17的部分側(cè)視示意圖；
[0044]圖19是本發(fā)明第二實(shí)施例的作動示意圖(四)；
[0045]圖20是圖19的部分側(cè)視示意圖；
[0046]圖21是本發(fā)明第二實(shí)施例的作動示意圖(五)；
[0047]圖22是圖21的部分側(cè)視示意圖；
[0048]圖23是本發(fā)明第二實(shí)施例的作動示意圖(六)；
[0049]圖24是本發(fā)明第二實(shí)施例的作動示意圖(七)；
[0050]圖25是圖24的部分側(cè)視示意圖。
[0051]附圖標(biāo)記說明:[現(xiàn)有部分]10-機(jī)臺；11-供料裝置；12_收料裝置；13_測試裝置；14-輸送裝置；141-入料移載臂；142_出料移載臂；143_第一下壓臂；144_第二下壓臂；145-第一入料載臺；146-第二入料載臺；147-第一出料載臺；148-第二出料載臺；[本發(fā)明部分]20-機(jī)臺；21_供料裝置；22_收料裝置；23_測試裝置；231_測試板；232_探針；24-空盤裝置；241_移盤器；25_輸送裝置；251_入料移載臂；2511_第一取放吸嘴；252_出料移載臂；2521_第二取放吸嘴；253_第一測試移載臂；2531_第一承座；254_第二測試移載臂；2541_第二承座；26_對位裝置；261_容置孔；262_推移件；30_測試區(qū)；31_第一交換區(qū)；32_第二交換區(qū)；33_第三交換區(qū)；34_第四交換區(qū)；40_電子元件。
【具體實(shí)施方式】
[0052]為使貴審查委員對本發(fā)明作更進(jìn)一步的了解，茲舉較佳實(shí)施例并配合圖式，詳述如后:
[0053]請參閱圖2，本發(fā)明第一實(shí)施例的測試分類設(shè)備，其系于機(jī)臺20上配置有供料裝置21、收料裝置22、測試裝置23、空盤裝置24、輸送裝置25及對位裝置26，另以區(qū)域空間而言，該機(jī)臺20設(shè)有測試區(qū)30、位于測試區(qū)30第一側(cè)的第一交換區(qū)31，以及位于測試區(qū)30第二側(cè)的第二交換區(qū)32，該供料裝置21容納復(fù)數(shù)個電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件，收料裝置22容納復(fù)數(shù)個不同等級的完測電子元件，測試裝置23系架設(shè)于機(jī)臺20的測試區(qū)30的上方，主要設(shè)有測試板231及復(fù)數(shù)個探針232，以對電性接點(diǎn)朝上的電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，該空盤裝置24系供收納復(fù)數(shù)個空料盤，并利用移盤器241將供料裝置21上的空料盤移載至該空盤裝置24收納，或?qū)⒖毡P裝置24上的空料盤移載至收料裝置22，該輸送裝置25設(shè)有至少一入料移載臂251、至少一出料移載臂252及至少一測試移載臂，于本實(shí)施例中，該輸送裝置25設(shè)有第一測試移載臂253及第二測試移載臂254，該入料移載臂251設(shè)有至少一第一取放吸嘴2511，并可自上方作X-Y-Z三軸向移動，將供料裝置21處電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件移載至位于測試區(qū)30第一側(cè)的第一交換區(qū)31處，該第一測試移載臂253及第二測試移載臂254分別設(shè)有至少一取放吸嘴或承座，于本實(shí)施例中，該第一測試移載臂253及第二測試移載臂254分別設(shè)有至少一第一承座2531及第二承座2541，該第一測試移載臂253及第二測試移載臂254可分別自下方承載電子元件，并作X-Y-Z三軸向移動于第一交換區(qū)31、測試區(qū)30以及位于測試區(qū)30第二側(cè)的第二交換區(qū)32，而于第一交換區(qū)31位置自下方承載來自入料移載臂251的待測電子元件，并將待測電子元件移載至測試區(qū)30，使待測電子元件以電性接點(diǎn)朝上的方式與測試裝置23的探針232電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)，于完成測試測后，再將完測電子元件移載至第二交換區(qū)32處，該出料移載臂252設(shè)有至少一第二取放吸嘴2521，并可自上方作X-Y-Z三軸向移動，將第一測試移載臂253或第二測試移載臂254上的完測電子元件交換移載至收料裝置22，并執(zhí)行分類作業(yè)；另由于供料裝置21處的待測電子元件是有可能無法準(zhǔn)確承置于料盤內(nèi)的位置上，而使入料移載臂251的第一取放吸嘴2511在吸取待測電子元件時，該待測電子元件無法準(zhǔn)確的定位于第一取放吸嘴2511上，因此于機(jī)臺20上可以設(shè)有一對位裝置26，該對位裝置26設(shè)有復(fù)數(shù)個容置孔261，并于各容置孔261的一側(cè)設(shè)有推移件262，該入料移載臂251于供料裝置21處吸取待測電子元件后，可先將該待測電子元件移載至對位裝置26的容置孔261處，并以第一取放吸嘴2511保持吸附待測電子元件的狀態(tài)下，由各推移件262單側(cè)頂推待測電子元件，使各待測電子元件移動抵靠于各容置孔261的另一側(cè)，而使各待測電子元件準(zhǔn)確對位于第一取放吸嘴2511上，再繼續(xù)由入料移載臂251將對位后的待測電子元件移載至第一交換區(qū)31處，即可準(zhǔn)確的進(jìn)行后續(xù)的測試作業(yè)。
[0054]請參閱圖3，本發(fā)明的測試分類設(shè)備其開始作動時，其第一測試移載臂253及第二測試移載臂254分別位于第一交換區(qū)31及第二交換區(qū)32，而入料移載臂251則于供料裝置21處自上方吸取電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40。
[0055]請參閱圖4、圖5，接著入料移載臂251將電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40移載至對位裝置26的容置孔261處，并以保持吸附待測電子元件的狀態(tài)下，由各推移件262單側(cè)頂推待測電子元件40，使各待測電子元件40移動抵靠于各容置孔261的另一側(cè)，而使各待測電子元件40準(zhǔn)確對位于入料移載臂251的第一取放吸嘴2511上。
[0056]請參閱圖5、圖6，接著入料移載臂251將電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40移載至第一交換區(qū)31處，由于第一測試移載臂253位于該第一交換區(qū)31處，因此第一測試移載臂253上的第一承座2531可自下方承載來自入料移載臂251的待測電子元件40，并使待測電子元件40保持電性接點(diǎn)朝上的方向。
[0057]請參閱圖8、圖9，接著第一測試移載臂253將待測電子元件40移載至測試區(qū)30，并頂升使待測電子元件40以電性接點(diǎn)朝上的方式與測試裝置23的探針232電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)。在第一測試移載臂253將待測電子元件40移載至測試區(qū)30的同時，入料移載臂251將會再移動至供料裝置21處，自上方吸取下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40，而位于第二交換區(qū)32的第二測試移載臂254則會移動至第一交換區(qū)31處，承載由入料移載臂251移載的下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40。
[0058]請參閱圖10、圖11，第一測試移載臂253上的電子元件40完成測試測后，第一測試移載臂253會將完測電子元件40移載至第二交換區(qū)32處，而出料移載臂252則移動至第二交換區(qū)32處，并自上方吸取第一測試移載臂253上的完測電子元件40。在此同時，第二測試移載臂254于承載下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40后，將會移載至測試區(qū)30，并頂升使該批次的待測電子元件40以電性接點(diǎn)朝上的方式與測試裝置23的探針232電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)。
[0059]請參閱圖12，接著出料移載臂252將完測電子元件40交換移載至收料裝置22，并執(zhí)行分類作業(yè)。在此同時，位于第二交換區(qū)32的第一測試移載臂253則會移動至第一交換區(qū)31處，承載下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40，進(jìn)而與第二測試移載臂254交替的于第一交換區(qū)31、測試區(qū)30以及第二交換區(qū)32之間移載電子元件。
[0060]請參閱圖13，本發(fā)明第二實(shí)施例的測試分類設(shè)備，其于機(jī)臺20上配置的供料裝置21、收料裝置22、測試裝置23、空盤裝置24、對位裝置26、輸送裝置25的入料移載臂251及出料移載臂252系相同于第一實(shí)施例，因此不予贅述。第二實(shí)施例的測試分類設(shè)備差異在于該機(jī)臺20的第一交換區(qū)31及第二交換區(qū)32分別設(shè)于測試區(qū)30的第一側(cè)下方及第二側(cè)下方，并于該測試區(qū)30的第一側(cè)上方及第二側(cè)上方分別設(shè)有第三交換區(qū)33及第四交換區(qū)34，而該輸送裝置25的第一測試移載臂253系作X-Y-Z三軸向移動于第一交換區(qū)31、測試區(qū)30及第二交換區(qū)32之間，該輸送裝置25的第二測試移載臂254則作X-Y-Z三軸向移動于第三交換區(qū)33、測試區(qū)30以及第四交換區(qū)34之間，以交替的移載電子元件。
[0061]請參閱圖14，本發(fā)明第二實(shí)施例的測試分類設(shè)備其開始作動時，其第一測試移載臂253及第二測試移載臂254分別位于第一交換區(qū)31及第四交換區(qū)34，而入料移載臂251則于供料裝置21處自上方吸取電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40。
[0062]請參閱圖15、圖16，接著入料移載臂251將電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40移載至對位裝置26的容置孔261處，并以保持吸附待測電子元件的狀態(tài)下，由各推移件262單側(cè)頂推待測電子元件40，使各待測電子元件40移動抵靠于各容置孔261的另一側(cè)，而使各待測電子元件40準(zhǔn)確對位于入料移載臂251的第一取放吸嘴2511上。
[0063]請參閱圖17、圖18，接著入料移載臂251將電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40移載至第一交換區(qū)31處，由于第一測試移載臂253位于該第一交換區(qū)31處，因此第一測試移載臂253上的第一承座2531可自下方承載來自入料移載臂251的待測電子元件40，并使待測電子元件40保持電性接點(diǎn)朝上的方向。
[0064]請參閱圖19、圖20，接著第一測試移載臂253將待測電子元件40移載至測試區(qū)30，并頂升使待測電子元件40以電性接點(diǎn)朝上的方式與測試裝置23的探針232電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)。在第一測試移載臂253將待測電子元件40移載至測試區(qū)30的同時，入料移載臂251將會再移動至供料裝置21處，自上方吸取下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40，而位于第四交換區(qū)34的第二測試移載臂254則會移動至第三交換區(qū)33處，承載由入料移載臂251移載并完成對位的下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40。
[0065]請參閱圖21、圖22，第一測試移載臂253上的電子元件40完成測試測后，第一測試移載臂253會將完測電子元件40移載至第二交換區(qū)32處，而出料移載臂252則移動至第二交換區(qū)32處，并自上方吸取第一測試移載臂253上的完測電子元件40。在此同時，第二測試移載臂254于第三交換區(qū)33處承載下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40后，將會移載至測試區(qū)30，并頂升使該批次的待測電子元件40以電性接點(diǎn)朝上的方式與測試裝置23的探針232電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)。
[0066]請參閱圖23，接著出料移載臂252將完測電子元件40交換移載至收料裝置22，并執(zhí)行分類作業(yè)。在此同時，位于第二交換區(qū)32的第一測試移載臂253則會移動至第一交換區(qū)31處，承載由入料移載臂251移載并完成對位的下一批次電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件40 ο
[0067]請參閱圖24、圖25，當(dāng)?shù)诙y試移載臂254上的電子元件40完成測試測后，第二測試移載臂254會將完測電子元件40移載至第四交換區(qū)34處，而出料移載臂252則移動至第四交換區(qū)34處，并自上方吸取第二測試移載臂254上的完測電子元件40。在此同時，第一測試移載臂253將會移載至測試區(qū)30，并頂升使該批次的待測電子元件40以電性接點(diǎn)朝上的方式與測試裝置23的探針232電性連接并執(zhí)行測試作業(yè)，進(jìn)而與第二測試移載臂254交替的移載電子兀件。
[0068]綜上說明，本發(fā)明利用電子元件電性接點(diǎn)朝上移載及測試的方式，即可不須設(shè)置提供轉(zhuǎn)乘作用的入料載臺及出料載臺，進(jìn)而可有效簡化機(jī)構(gòu)及輸送路徑，并簡化交換移載的次數(shù)及縮減交換移載的時間，達(dá)到有效降低設(shè)備成本及提升測試產(chǎn)能的實(shí)用效益。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，包括有: 機(jī)臺:設(shè)有測試區(qū)、第一交換區(qū)，以及第二交換區(qū)； 供料裝置:設(shè)于該機(jī)臺上，容納復(fù)數(shù)個電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件； 收料裝置:設(shè)于該機(jī)臺上，容納復(fù)數(shù)個不同等級的完測電子元件； 測試裝置:架設(shè)于該機(jī)臺的測試區(qū)的上方，并設(shè)有測試板及探針，以對電性接點(diǎn)朝上的電子元件執(zhí)行測試作業(yè)； 輸送裝置:設(shè)于該機(jī)臺上，該輸送裝置設(shè)有至少一入料移載臂、至少一出料移載臂及至少一測試移載臂，該入料移載臂自該供料裝置處的上方將電性接點(diǎn)朝上的待測電子元件移載至該第一交換區(qū)，該測試移載臂移動于該機(jī)臺的第一交換區(qū)、測試區(qū)及第二交換區(qū)之間，該測試移載臂自下方承載待測電子元件，并將該待測電子元件以電性接點(diǎn)朝上的方式執(zhí)行測試作業(yè)，該出料移載臂將該完測電子元件移載至該收料裝置并執(zhí)行分類作業(yè)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該輸送裝置的入料移載臂設(shè)有至少一第一取放吸嘴，該入料移載臂并作χ-γ-ζ三軸向移動，將該待測電子元件移載至該第一交換區(qū)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該輸送裝置的出料移載臂設(shè)有至少一第二取放吸嘴，該出料移載臂并作X-Y-Z三軸向移動，自該第二交換區(qū)的上方將該完測電子元件移載至該收料裝置。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該輸送裝置設(shè)有第一測試移載臂及第二測試移載臂，該第一測試移載臂及該第二測試移載臂分別設(shè)有至少一取放吸嘴或承座，并分別移動于該第一交換區(qū)、該測試區(qū)及該第二交換區(qū)之間。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該機(jī)臺的第一交換區(qū)及第二交換區(qū)分別設(shè)于該測試區(qū)的第一側(cè)下方及第二側(cè)下方，在該測試區(qū)的第一側(cè)上方及第二側(cè)上方分別設(shè)有第三交換區(qū)及第四交換區(qū)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該輸送裝置設(shè)有第一測試移載臂及第二測試移載臂，該第一測試移載臂移動于該第一交換區(qū)、該測試區(qū)及該第二交換區(qū)之間，該第二測試移載臂則移動于該第三交換區(qū)、該測試區(qū)及該第四交換區(qū)之間。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該入料移載臂將該待測電子元件分別移載至該第一交換區(qū)及該第三交換區(qū)。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該出料移載臂分別自該第二交換區(qū)及該第四交換區(qū)的上方移載該完測電子元件。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該機(jī)臺上設(shè)有空盤裝置，該空盤裝置并以移盤器移載空料盤。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件測試分類設(shè)備，其特征在于，該機(jī)臺上設(shè)有對位裝置，該對位裝置設(shè)有復(fù)數(shù)個容置孔，在各容置孔的一側(cè)設(shè)有推移件，以供該入料移載臂上的待測電子元件對位。
【文檔編號】G01R31/00GK105983543SQ201510058096
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年2月4日
【發(fā)明人】謝旼達(dá), 張?jiān)?
【申請人】鴻勁科技股份有限公司