專利名稱：彩色陰級(jí)射線管用錐體的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于彩色陰極射線管的錐體。
屏盤1和錐體3通過在其對(duì)置的各自密封端面4、4上夾置的熔接玻璃5而密封。通過將錐體3的密封端面4朝上保持，在其密封端面4上涂敷與有機(jī)結(jié)合劑(通稱賦形劑)混合的漿狀的結(jié)晶性熔接玻璃并進(jìn)行干燥后，將屏盤1的密封端面4朝下放置在其上，并加熱燒結(jié)，來進(jìn)行該密封。
在這樣的熔接玻璃5的密封中，從涂敷性和密封強(qiáng)度方面來看，需要將粘性低的漿狀的熔接玻璃5盡可能多的、并且均勻地涂敷在錐體3的密封端面4上。
但是，現(xiàn)有的錐體3的密封端面4是平滑的鏡面狀態(tài)，如果大量地涂敷漿狀的熔接玻璃5，則不能穩(wěn)定地保持在密封端面4上，其一部分從密封端面4垂掛，如圖4所示的錐體3的密封端面4附近的外表面部和熔接玻璃5形成的角度a小，呈現(xiàn)所謂的凹腔的密封形狀。因此，屏盤1和錐體3的密封強(qiáng)度惡化，其結(jié)果，在作為陰極射線管制造的后工序的真空排氣工序中，因密封部的強(qiáng)度惡化而產(chǎn)生玻殼破損的問題。因此，本申請(qǐng)人在(日本)特公平7-95431中提出了將與熔接玻璃的密封端面形成帶有多個(gè)微細(xì)凹陷狀的凹部的粗糙面的陰極射線管用錐體，實(shí)現(xiàn)防止陰極射線管用錐體的熔接玻璃的垂掛并保持穩(wěn)定，可以獲得良好的密封形狀。
但是，一方面期望改善因?qū)㈠F體的密封端面形成粗糙面而造成的在密封端面上殘留附著的微小異物和密封部產(chǎn)生微小泡，而且，期望可以獲得密封強(qiáng)度更良好的陰極射線管用錐體。
即，在使上述的密封端面形成粗糙面的錐體中，在制造工序和包裝中，在其密封端面上附著的有機(jī)物和碳、或微小金屬粉末等微小異物，即使經(jīng)過錐體清洗工序后，也有殘存在密封端面的凹部內(nèi)的情況，或者在密封過程中，有密封端面上涂敷的熔接玻璃未填充在凹部內(nèi)，在凹部內(nèi)殘存空氣的情況。在使用密封端面上殘存微小異物或污跡等狀態(tài)下將錐體和屏盤密封的玻殼的陰極射線管中，在施加高電壓時(shí)，有在所述微小異物或污跡的部位造成電荷集中的情況，而在凹部中殘留空氣的狀態(tài)下，在密封部形成微泡，其結(jié)果，有引起不能獲得具有期望強(qiáng)度和性能的陰極射線管的危險(xiǎn)。為了抑制兩玻璃部件的變形，玻璃構(gòu)成的屏盤和錐體的密封通常在450℃以下的溫度進(jìn)行加熱燒結(jié)，但在后工序的陰極射線管制造的真空排氣工序(最高溫度約350℃)中，為了使熔接玻璃的密封部不軟化，例如使用ZnO-Pb-B2O3系的結(jié)晶性的熔接玻璃。該結(jié)晶性的熔接玻璃因加熱從約400℃起開始軟化、流動(dòng)，同時(shí)從熔接玻璃內(nèi)部析出4PbO·B2O3和2ZnO·PbO·B2O3的結(jié)晶，通過約440℃下30～60分鐘的燒結(jié)，改變?yōu)闊崤蛎浵禂?shù)適合錐體的玻璃材質(zhì)的值(約100×10-7/℃)的耐熱溫度高的結(jié)晶玻璃。此時(shí)，在熔接玻璃和錐體的界面上，熔接玻璃一邊進(jìn)行結(jié)晶一邊與錐體的密封端面的玻璃進(jìn)行反應(yīng)，通過楔作用而進(jìn)行浸蝕，通過形成化學(xué)的結(jié)合來進(jìn)行密封。熔接玻璃的密封強(qiáng)度由熔接玻璃和錐體玻璃的反應(yīng)、浸蝕的程度來決定。作為判斷兩者的密封程度的方法，有以下方法用硝酸等強(qiáng)酸溶解除去熔接玻璃成分后，觀察判斷在錐體玻璃的密封端面的表面(錐體玻璃和熔接玻璃之間的界面)上熔接玻璃的結(jié)晶反應(yīng)后的米粒狀的粒子(以下稱為R粒子)的形成狀態(tài)，但為了獲得高密封強(qiáng)度，在錐體玻璃的表面上需要R粒子連鎖狀細(xì)密地形成。此外，R粒子以長徑約5～90μm、短徑約1～10μm的大致針狀地形成，但燒結(jié)后的熔接玻璃是包含結(jié)晶相和非結(jié)晶相的結(jié)晶玻璃狀態(tài)，R粒子的形成狀態(tài)造成的結(jié)晶體積的比例成為決定熔接玻璃的熱膨脹系數(shù)的重要因素，所以盡可能以呈現(xiàn)細(xì)密的連鎖狀態(tài)來形成R粒子，成為熔接玻璃獲得與錐體玻璃對(duì)應(yīng)的合適的熱膨脹系數(shù)的關(guān)鍵。所述密封部中發(fā)生的微泡因密封過程中形成R粒子而成為大障礙，不僅不能獲得熔接玻璃的合適的熱膨脹系數(shù)，而且產(chǎn)生不能獲得高密封強(qiáng)度和良好的密封形狀的問題。
本發(fā)明為了實(shí)現(xiàn)上述目的，在具有通過熔接玻璃來密封屏盤的密封端面的彩色陰極射線管用錐體中，提供以下結(jié)構(gòu)在假設(shè)十點(diǎn)平均粗糙度為Rz、山峰山谷的平均間隔為Sm時(shí)，密封端面的表面寬度方向上50％以上的表面是10≤Rz≤25μm、且2.5＜Sm/Rz≤6.0，并且具有由山峰山谷形成的多個(gè)微細(xì)凹陷狀凹部的粗糙面。
圖5表示錐體的密封端面中的粗糙面6的粗糙度曲線。粗糙面6包括相對(duì)于平均線m呈凸?fàn)畹纳椒?a；相對(duì)于平均線m呈凹狀的山谷6b；以及由山峰和山谷6a、6b形成的多個(gè)微細(xì)的凹陷狀的凹部6c。對(duì)于這樣的粗糙面6，根據(jù)日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS B0601-1994規(guī)定的方法和定義，如下確定上述的十點(diǎn)平均粗糙度Rz、山峰山谷的平均間隔Sm。
十點(diǎn)平均粗糙度Rz是從粗糙度曲線中沿其平均線m方向采樣基準(zhǔn)長度L，從該采樣部分的平均線m中，求沿縱放大倍率的方向測(cè)定的、求從最高的山峰的頂點(diǎn)至第5個(gè)山峰的頂點(diǎn)高度的絕對(duì)值的平均值和從最低的山谷底部至第5山谷底部高度的絕對(duì)值的平均值之和，將該值以μm表示(下式)。
Rz＝(|YP1+YP2+YP3+YP4+YP5|)/5+(|XP1+XP2+XP3+XP4+XP5|)/5山峰山谷的平均間隔Sm是從粗糙度曲線中沿其平均線m方向采樣基準(zhǔn)長度L，求一個(gè)山峰和其相鄰的一個(gè)山谷所對(duì)應(yīng)的平均線m的長度之和，將平均值以mm表示，但在本發(fā)明中，將這樣的平均值以mm表示(下式)。
Sm＝(Sm1+Sm2+…+Smi+…+Smn)/n再有，根據(jù)上述的定義，在測(cè)定十點(diǎn)平均粗糙度Rz、山峰山谷的平均間隔Sm時(shí)，假設(shè)基準(zhǔn)長度L＝0.8mm以上、評(píng)價(jià)長度Ln＝4mm以上，此外，假設(shè)垂直軸放大率為1000～10000倍，水平軸放大率為10～50倍。
在本發(fā)明中，具有由十點(diǎn)平均粗糙度Rz為10≤Rz≤25μm的粗糙面6的山峰山谷6a、6b形成的凹陷狀的凹部6c，從而使在其上涂敷的漿狀的熔接玻璃浸透、保持于凹部6c，所以可抑制熔接玻璃的垂掛。此外，通過在其間進(jìn)行的干燥作用，提高漿的粘性，進(jìn)一步抑制其流動(dòng)，熔接玻璃沒有垂掛，以不易產(chǎn)生熱應(yīng)力的形狀來保持，其結(jié)果，可獲得良好的密封形狀。
Rz＜10μm時(shí)，由于凹部6c的深度過小，所以對(duì)凹部6c的熔接玻璃的浸透淺，不能獲得熔接玻璃的穩(wěn)定保持性，容易產(chǎn)生垂掛。此外，在錐體的運(yùn)輸和包裝工序中，與傳送帶、包裝材料或其中混入的灰塵等微小異物接觸的密封端面上，容易產(chǎn)生損傷，如果凹部6c的深度小，則這樣的損傷在密封端面的寬度方向上容易呈現(xiàn)貫通的狀態(tài)。這樣的密封端面的損傷成為誘發(fā)密封工序和真空排氣工序中玻殼破損的原因，同時(shí)還存在陰極射線管內(nèi)部的真空泄漏的問題。
在Rz＞25μm時(shí)，在密封過程中的燒結(jié)環(huán)境中，密封端面的山峰6a和山谷6b中的溫度分布上產(chǎn)生偏差，從而密封端面上涂敷的熔接玻璃的軟化流動(dòng)速度在山谷6b和山峰6a中有所不同，在密封端面上難以按均勻厚度進(jìn)行熔接玻璃浸透、反應(yīng)，其結(jié)果，難以獲得期望的密封形狀和密封強(qiáng)度。
而且，在本發(fā)明中，除了上述的十點(diǎn)平均粗糙度Rz以外，通過形成Rz和山峰山谷的平均間隔Sm為2.5＜Sm/Rz≤6.0的粗糙面，形成粗糙面6的山峰山谷6a、6b在熔接玻璃的R粒子的形成和向凹部6c內(nèi)填充漿狀的熔接玻璃中呈現(xiàn)合適的平均傾斜，軟化的熔接玻璃均勻地流動(dòng)并填充到凹部6c內(nèi)，在山峰山谷6a、6b的傾斜上以緊密連接的狀態(tài)連鎖狀細(xì)密地形成期望尺寸的R粒子。
如果Sm/Rz≤2.5，則有粘性的漿狀的熔接玻璃難以填充到凹部6c內(nèi)，凹部6c內(nèi)殘存空氣，在密封部中成為包含微泡的密封狀態(tài)，阻礙R粒子的形成，所以在錐體玻璃的表面中R粒子的形成狀態(tài)不形成緊密連鎖狀，容易形成粗雜的R粒子狀態(tài)。如果R粒子的形成狀態(tài)粗雜，則熔接玻璃和錐體玻璃的截面上的反應(yīng)不充分，熔接玻璃的熱膨脹系數(shù)不適合于錐體玻璃的熱膨脹系數(shù)，此外，熔接玻璃的結(jié)晶化產(chǎn)生的楔作用不足，有只能獲得低密封強(qiáng)度的危險(xiǎn)。此外，因錐體的密封端面和熔接玻璃的接觸面積增大，所以需要增大熔接玻璃和錐體玻璃的反映時(shí)間，以便在密封過程中達(dá)到期望的密封強(qiáng)度，因而使密封作業(yè)時(shí)間增加，導(dǎo)致作業(yè)效率和生產(chǎn)率下降。而且，在錐體的制造工序中密封端面上附著的微小異物、污跡等難以脫落。在使用微小異物和污跡原封不動(dòng)殘存在構(gòu)成粗糙面的凹部6c內(nèi)的玻殼的陰極射線管中，在由電子槍施加了高壓的情況下，在異物和污跡部位引起電荷集中，其結(jié)果，在密封端部附近的錐體玻璃和熔接玻璃的界面上有產(chǎn)生裂紋并破損，造成絕緣破壞的危險(xiǎn)。
而如果Sm/Rz＞6.0，則構(gòu)成粗糙面6的山峰山谷6a、6b的平均傾斜過于平滑，所以在涂敷了熔接玻璃的錐體密封端面上放置屏盤造成的熔接玻璃的露出量容易過乘，因此容易呈現(xiàn)凹腔的密封形狀。此外，還容易誘發(fā)錐體的密封端面和熔接玻璃的接觸面積變小造成的密封強(qiáng)度的下降。
從上述觀點(diǎn)來看，十點(diǎn)平均粗糙度Rz和山峰山谷的平均間隔Sm之比為2.5＜Sm/Rz≤6.0，更好為3.5≤Sm/Rz≤5.0。
為了穩(wěn)定獲得本發(fā)明的上述作用，具有基于本發(fā)明的Rz和Sm/Rz的多個(gè)微細(xì)凹陷的凹部的粗糙面形成于密封端面的表面寬度方向內(nèi)的50％以上。
作為本發(fā)明的在錐體的密封端面上形成帶有多個(gè)微細(xì)凹陷狀的凹部的粗糙面形成方法，沒有特別的限定，但在形成期望的山峰山谷和凹部，并且抑制發(fā)生不必要的研磨損傷方面，通過含有研磨材料的泥漿以一個(gè)至多個(gè)階段進(jìn)行機(jī)械拋光研磨的方法容易又適用。此外，作為其他方法，有使用金剛石球進(jìn)行粗研磨，用鋁等硬度高的材料進(jìn)行噴砂處理等的機(jī)械處理方法，或者，對(duì)進(jìn)行過這些機(jī)械處理的粗糙面用氟酸和酸性氟化銨等玻璃腐蝕性的水溶液進(jìn)行化學(xué)處理，也能夠調(diào)整粗糙面的Rz或Sm值。


圖1是實(shí)施例的彩色陰極射線管用錐體的密封端面的局部放大斜視圖；圖2是使用實(shí)施例的彩色陰極射線管用錐體密封的密封部的放大剖面圖；圖3是表示以密封的彩色陰極射線管用錐體的狀態(tài)的剖面圖；圖4是使用現(xiàn)有的彩色陰極射線管用錐體密封的密封部的放大剖面圖；圖5是表示實(shí)施例的彩色陰極射線管用錐體的密封端面的粗糙面的放大剖面圖。
圖1是本實(shí)施例的彩色陰極射線管用錐體3的局部放大斜視圖。錐體3在其密封端面4的全周上配有10≤Rz≤25μm、且2.5＜Sm/Rz≤6.0的粗糙面6。如圖5所示，粗糙面6由相對(duì)于平均線m呈凸?fàn)畹纳椒?a、相對(duì)于平均線m呈凹狀的山谷6b、以及由山峰山谷6a、6b形成的多個(gè)微細(xì)凹陷狀的凹部6c構(gòu)成。
例如，可以通過將錐體3的密封端面4與旋轉(zhuǎn)的研磨臺(tái)對(duì)接，施加一定的負(fù)荷，同時(shí)供給將具有規(guī)定的粒度分布的氧化鋁研磨材料(主要成分Al2O3)分散在水中的研磨漿來進(jìn)行研磨而獲得這樣的粗糙面6。研磨結(jié)束后，通過將錐體3進(jìn)行水洗、干燥，可制作具有期望的表面性狀的粗糙面6的密封端面4的錐體3。
這樣的粗糙面6的凹部6c的關(guān)鍵在于，不形成橫切錐體3的密封端面4兩邊的連續(xù)的線狀或溝狀，各凹部6c以獨(dú)立的不連續(xù)狀形成。即，如果凹部成為橫切錐體3的密封端面4兩邊的連續(xù)線狀或溝狀，則難以將熔接玻璃5完全填充到所有這些線狀或溝狀的凹部中，其結(jié)果，在使內(nèi)部為真空的陰極射線管中，有發(fā)生真空泄漏等問題的危險(xiǎn)。
圖2表示使用熔接玻璃5將帶有這樣的粗糙面6的密封端面4的彩色陰極射線管用錐體3與屏盤1的密封端面4進(jìn)行密封后的狀態(tài)。通過將涂敷在錐體3的密封端面4上的漿狀的熔接玻璃5浸透于密封端面4的粗糙面6的凹部6c，抑制熔接玻璃5的垂掛，使熔接玻璃5穩(wěn)定保持在錐體3的密封端面4上，所以與在其上放置的屏盤1的密封端面4之間可以形成良好的密封形狀。
錐體3的密封端面4因熔接玻璃5容易充分浸透粗糙面6的凹部6c，所以不僅具有熔接玻璃5的穩(wěn)定保持性，而且在凹部6c中不殘留空氣，在密封部不發(fā)生微泡。此外，在密封過程中，不阻礙熔接玻璃5的結(jié)晶化、R粒子的形成，可以細(xì)密形成具有期望尺寸的R粒子，合適地進(jìn)行熔接玻璃5和錐體3的密封端面4的玻璃界面上的反應(yīng)，可以獲得更高的密封強(qiáng)度。
本發(fā)明的實(shí)施例1～4和比較例1及2的陰極射線管用錐體的密封端面的Rz、Sm及Sm/Rz示于表1和表2。
作為各實(shí)施例及比較例的錐體，使用長寬比為4∶3的對(duì)角外徑為724mm、密封端面寬度為12mm、偏轉(zhuǎn)角為110°的陰極射線管用錐體。再有，對(duì)于各實(shí)施例和比較例1來說，使用上述的研磨方法，通過適當(dāng)改變氧化鋁研磨材料的粒度分布或泥漿中的研磨材料濃度，而在比較例2中，通過將錐體的密封端面與旋轉(zhuǎn)的帶有金剛石球研磨臺(tái)的研磨裝置對(duì)接，施加一定的負(fù)荷來進(jìn)行研磨，從而在各個(gè)密封端面上形成粗糙面。
在各實(shí)施例和比較例的錐體中，密封端面的粗糙面的十點(diǎn)平均粗糙度Rz、凹凸的平均間隔Sm的各值，根據(jù)日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JISB0601-1994中規(guī)定的方法和定義，通過測(cè)定錐體的密封端面的短軸(SA)、長軸(LA)、對(duì)角軸(DA)各部分的表面粗糙度而獲得。在表面粗糙度的測(cè)定中，以基準(zhǔn)長度L＝0.8mm、評(píng)價(jià)長度Ln＝8mm、垂直軸放大率＝2000倍、水平軸放大率＝20倍來進(jìn)行。密封端面的短軸上、長軸上、對(duì)角軸上的表面粗糙度是測(cè)定各軸上的密封端面寬度方向的中央部的粗糙度。

表1

表2就各實(shí)施例和比較例的錐體來說，將其密封端面向上保持，均勻地涂敷熔接玻璃的漿料并進(jìn)行干燥。作為熔接玻璃的漿料，使用將乙酸叔戊酯和硝化棉的混合液的賦形劑、以及熔接玻璃(旭硝子株式會(huì)社制ASF-1307)按熔接玻璃∶賦形劑＝12∶1的重量比充分混合而調(diào)制的漿料。
接著，按與上述錐體相同尺寸(對(duì)角外徑為724mm、密封端面寬度為12mm)，準(zhǔn)備具有對(duì)角軸方向的外表面曲率半徑為40000mm的大致平坦的平面部外表面的陰極射線管用玻璃屏盤，對(duì)于各實(shí)施例和比較例的錐體，將各個(gè)屏盤的密封端面朝下放置，在電爐中按最高溫度為440℃、30分鐘的條件進(jìn)行加熱燒結(jié)，制作成將錐體和屏盤密封的陰極射線管用玻殼。
對(duì)這樣獲得的各玻殼的耐壓強(qiáng)度、錐體玻璃的密封端面的內(nèi)表面形成的R粒子的形成狀態(tài)及密封部的密封形狀進(jìn)行測(cè)定、觀察的結(jié)果示于表3。
耐壓強(qiáng)度使用耐水壓法測(cè)定，即在玻殼內(nèi)填充水，使該水壓上升，由此測(cè)定玻殼破裂時(shí)的水壓，將玻殼破裂時(shí)的水壓值作為耐壓強(qiáng)度。一般地，在內(nèi)部形成真空的陰極射線管的情況下，考慮到真空排氣后的長期的大氣壓強(qiáng)和排氣工序等的熱真空應(yīng)力上升，需要玻殼的耐壓強(qiáng)度至少達(dá)到大氣壓的2.5倍的0.25MPa的耐壓強(qiáng)度，但實(shí)際上，熱真空應(yīng)力值最高、最容易受到玻殼的局部熱應(yīng)力集中等影響的部位是錐體和屏盤的密封部，所以期望玻殼具有盡可能高的耐壓強(qiáng)度。在使用各實(shí)施例及比較例的錐體制作的玻殼的耐壓強(qiáng)度測(cè)定中，玻殼破裂時(shí)的起點(diǎn)都發(fā)生密封部。
此外，對(duì)于R粒子的形成狀態(tài)來說，將使用各實(shí)施例及比較例的錐體制作的玻殼的密封端面的短軸側(cè)中央部切下來，在超聲波振動(dòng)下使用10％的硝酸水溶液，僅溶解除去密封端面的熔接玻璃(去熔接)，使用顯微鏡觀察在錐體玻璃的密封端面的表面上形成的R粒子的形成狀態(tài)。R粒子的形成狀態(tài)如下直接緊密連接在試料片的整個(gè)密封端面上、細(xì)密連鎖狀地形成的情況表示為○，其形成不細(xì)密、或不連鎖的情況表示為×。
此外，就密封部的密封形狀來說，表示觀察使用各實(shí)施例和比較例的錐體制作的玻殼的密封部的熔接玻璃切下部分形狀的結(jié)果。密封形狀的觀察是分別制作10個(gè)使用各實(shí)施例和比較例的錐體制作的玻殼，目視觀察其密封形狀，表示形成凹腔不良形狀的玻殼數(shù)目。

表3在實(shí)施例1～4的陰極射線管用錐體中，密封時(shí)的R粒子的形成、生長充分地進(jìn)行，此外，密封形狀也呈現(xiàn)沒有凹腔、具有高密封強(qiáng)度的良好密封形狀。其結(jié)果，在使用這些錐體制作的陰極射線管用玻殼中，可獲得耐壓強(qiáng)度高的良好效果。
相反，在比較例1的陰極射線管用錐體中，在密封部產(chǎn)生微泡，R粒子的形成狀態(tài)不充分，其結(jié)果，在使用這樣的錐體制作的陰極射線管用玻殼中，與實(shí)施例比較，耐壓強(qiáng)度低。此外，在比較例2的陰極射線管用錐體中，密封部中有密封端面和附近的外表面部及熔接玻璃形成的角度小的凹腔密封形狀的情況，使用這樣的錐體制作的陰極射線管用玻殼與實(shí)施例相比，耐壓強(qiáng)度低。
如以上說明，根據(jù)本發(fā)明的彩色陰極射線管用錐體，可維持密封端面上的熔接玻璃的穩(wěn)定保持性，同時(shí)消除因密封端面的微小異物和污跡的殘留、密封部產(chǎn)生的微泡而造成的問題，并且可合適地進(jìn)行密封過程中的熔接玻璃和錐體玻璃的界面中的反應(yīng)，獲得良好的密封形狀和優(yōu)良的密封強(qiáng)度，可進(jìn)行比現(xiàn)有密封強(qiáng)度高的良好密封，在陰極射線管的制造工序中也可以進(jìn)一步降低玻殼的破損，具有有助于提高制造合格品率的良好效果。
權(quán)利要求
1.一種彩色陰極射線管用錐體，具有通過熔接玻璃來密封屏盤的密封端面，其特征是，在假設(shè)十點(diǎn)平均粗糙度為Rz、山峰山谷的平均間隔為Sm時(shí)，所述密封端面的表面寬度方向上的50％以上的表面為10≤Rz≤25μm、且2.5＜Sm/Rz≤6.0，并且具有由所述山峰山谷形成的多個(gè)微細(xì)凹陷狀凹部的粗糙面。
全文摘要
本發(fā)明提供一種彩色陰極射線管用錐體，其具有通過熔接玻璃來密封屏盤的密封端面，在假設(shè)十點(diǎn)平均粗糙度為Rz、山峰山谷的平均間隔為Sm時(shí)，密封端面的表面寬度方向上50％以上的表面是10≤Rz≤25μm、且2.5＜Sm/Rz≤6.0，并且具有由山峰山谷形成的多個(gè)微細(xì)凹陷狀凹部的粗糙面。
文檔編號(hào)H01J9/26GK1464521SQ02122888
公開日2003年12月31日 申請(qǐng)日期2002年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2000年12月26日
發(fā)明者伊藤茂嘉 申請(qǐng)人:日本電氣硝子株式會(huì)社