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電子照相用構(gòu)件、處理盒和電子照相設(shè)備的制造方法

文檔序號:8548029閱讀:643來源:國知局
電子照相用構(gòu)件、處理盒和電子照相設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及電子照相用構(gòu)件、處理盒和電子照相設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002] 采用電子照相系統(tǒng)的電子照相設(shè)備主要包括電子照相感光構(gòu)件、充電裝置、曝光 裝置、顯影裝置、轉(zhuǎn)印裝置和定影裝置。充電裝置采用通過施加電壓(僅直流電壓或疊加交 流電壓的直流電壓)至與電子照相感光構(gòu)件的表面接觸或靠近配置的充電構(gòu)件而給電子 照相感光構(gòu)件的表面充電的系統(tǒng)。從穩(wěn)定地進(jìn)行充電和減少臭氧的生成的觀點(diǎn),已優(yōu)選使 用用與電子照相感光構(gòu)件的表面接觸的充電構(gòu)件進(jìn)行充電的接觸充電系統(tǒng)。在接觸充電系 統(tǒng)的情況下,已優(yōu)選使用漉形狀的充電構(gòu)件(下文中稱作"充電漉")。
[0003] 在使用接觸充電系統(tǒng)中的充電漉的情況下,存在其中歸因于充電構(gòu)件的微小電阻 不均和充電構(gòu)件的表面上調(diào)色劑和外部添加劑的污染而易于形成橫紋狀充電不均圖像的 問題。
[0004] 為了解決上述問題,已進(jìn)行各種嘗試。作為該些嘗試之一,已提出設(shè)及通過引入樹 脂顆粒至充電漉的樹脂層W形成凸部從而均一化充電來改進(jìn)橫紋狀充電不均圖像的方法 (專利文獻(xiàn)1)。
[0005] 進(jìn)一步地,作為用于形成凸部的顆粒,使用包括紡鍾狀、圓柱狀、或針狀的絕緣性 材料作為在其表面上攜帶金屬氧化物的母顆?;痑separticles)的復(fù)合顆粒。已提出設(shè) 及通過使用顆粒形成從小到大的凸形狀來改進(jìn)由污染引起的不良圖像(defectiveimage) 和由放電不良引進(jìn)的不良圖像的方法(專利文獻(xiàn)2)。
[0006] 現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0007] 專利文獻(xiàn)
[000引 Pi'Ll;日本專利申請?zhí)亻_2003-316112號公報(bào)
[0009] ?化2:日本專利申請?zhí)亻_2009-9029號公報(bào)

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010] 發(fā)巧要解決的間願
[0011] 然而,在使用接觸充電系統(tǒng)中的充電構(gòu)件的情況下,當(dāng)在如上所述的充電構(gòu)件的 表面上形成凸部時(shí),減少充電構(gòu)件與電子照相感光構(gòu)件之間的接觸面積。因此,劣化充電構(gòu) 件相對于電子照相感光構(gòu)件的從動旋轉(zhuǎn)性(化iven-rotationperhrmance)。與此同時(shí),在 一些情況下形成具有橫紋狀濃度不均(下文中有時(shí)稱作"條帶化anding)")的電子照相圖 像。目P,劣化通過電子照相感光構(gòu)件與充電構(gòu)件之間的接觸的充電構(gòu)件相對于電子照相感 光構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)的追隨性(follow-upperhrmance),其引起電子照相感光構(gòu)件的表面電位 的局部不均。推定表面電位的局部不均呈現(xiàn)為電子照相圖像上的條帶。
[0012] 另外,本發(fā)明的發(fā)明人已認(rèn)識到,近年來為了滿足電子照相圖像形成設(shè)備的進(jìn)一 步高速化的需求,必須發(fā)展具有相對于電子照相感光構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)的優(yōu)良的追隨性、且更不 可能引起條帶圖像化andingimage)的形成的充電構(gòu)件。
[0013] 本發(fā)明的目的為提供改進(jìn)電子照相用構(gòu)件相對于電子照相感光構(gòu)件的從動旋轉(zhuǎn) 性W抑制條帶的發(fā)生,且還可適合用于高速、高耐久性、和高圖像品質(zhì)的電子照相設(shè)備的電 子照相用構(gòu)件。
[0014] 本發(fā)明的另一目的為提供有助于高品質(zhì)的電子照相圖像的形成的處理盒和電子 照相設(shè)備。
[00巧]用于解決間願的方秦
[0016] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方案之一,提供電子照相用構(gòu)件,其包括;導(dǎo)電性基體;和表面 層,其中:表面層包括粘結(jié)劑樹脂和選自由碳酸儀的薄片狀晶體顆粒和碳酸巧的薄片狀晶 體顆粒組成的組的至少一種晶體顆粒的凝集物;由晶體顆粒形成的卡屋結(jié)構(gòu)(cardhouse structure)的端面露出在凝集物的表面;表面層的表面包括源于凝集物的凸部;和凸部的 表面具有反映露出在凝集物表面的卡屋結(jié)構(gòu)的端面形狀的凹凸。
[0017] 進(jìn)一步地,根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方案之一,提供包括上述電子照相用構(gòu)件和電子照 相感光構(gòu)件的處理盒,處理盒可拆卸地安裝在電子照相設(shè)備的主體上。進(jìn)一步地,根據(jù)本發(fā) 明的實(shí)施方案之一,提供包括上述電子照相用構(gòu)件和電子照相感光構(gòu)件的電子照相設(shè)備。 [00化]發(fā)巧的效果
[0019] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方案之一,可進(jìn)一步改進(jìn)電子照相用構(gòu)件相對于電子照相感光 構(gòu)件的從動旋轉(zhuǎn)性。因此,可進(jìn)一步抑制由歸因于電子照相感光構(gòu)件與電子照相用構(gòu)件之 間的相對速度不均的充電不均而引起的條帶圖像的發(fā)生。
【附圖說明】
[0020] 圖1A為根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件(漉形狀)的截面圖。
[0021] 圖1B為根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件(漉形狀)的截面圖。
[0022] 圖2為根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面附近放大的局部截面圖。
[0023] 圖3A為根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的截面圖。
[0024] 圖3B為說明根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的凸部表面的高度剖面的實(shí)例的圖。
[0025] 圖4A為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的示例性 形狀的圖。
[0026] 圖4B為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的另一示 例性形狀的圖。
[0027] 圖4C為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的又一示 例性形狀的圖。
[002引圖5A為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的卡屋結(jié) 構(gòu)的示例性形狀的圖。
[0029] 圖5B為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的卡屋結(jié) 構(gòu)的示例性形狀的圖。
[0030] 圖5C為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的卡屋結(jié) 構(gòu)的示例性形狀的圖。
[0031] 圖5D為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的卡屋結(jié) 構(gòu)的示例性形狀的圖。
[0032] 圖5E為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的卡屋結(jié) 構(gòu)的示例性形狀的圖。
[0033] 圖5F為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的卡屋結(jié) 構(gòu)的示例性形狀的圖。
[0034] 圖5G為說明包含于根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面層中的凝集物的卡屋結(jié) 構(gòu)的示例性形狀的圖。
[0035] 圖6為說明用于測量根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面的動摩擦系數(shù)的測量 設(shè)備的圖。
[0036]圖7為由測量根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的表面的動摩擦系數(shù)獲得的示例性 圖表。
[0037] 圖8為說明根據(jù)本發(fā)明的電子照相設(shè)備的實(shí)例的截面示意圖。
[003引圖9為說明根據(jù)本發(fā)明的處理盒的實(shí)例的截面示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0039] 圖1A為根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的截面圖,且電子照相用構(gòu)件包括導(dǎo)電性 基體1和覆蓋導(dǎo)電性基體1的周面的表面層2。另外,表面層2包含粘結(jié)劑樹脂和凝集物 4。如圖1B所示,導(dǎo)電性彈性層3可形成在導(dǎo)電性基體1與表面層2之間。
[0040] 圖2為表面層2的表面附近放大的局部截面圖。源于凝集物4的凸部(下文中簡 稱為"凸部")形成在表面層2的表面。
[0041] 圖3A為根據(jù)本發(fā)明的電子照相用構(gòu)件的截面圖。圖3B說明其中放大由圖3A的 凝集物4形成的凸部表面的圓圈部分的凸部表面的高度剖面。應(yīng)注意,圖3B中凸部表面的 圓圈部分的放大圖為透視圖。圖3B中示出的基準(zhǔn)線5相當(dāng)于與圖3A中示出的導(dǎo)電性基體 1平行所畫的基準(zhǔn)線5。圖3B中,通過基準(zhǔn)線5上相對于電子照相用構(gòu)件的表面的水平方 向的外周的凸部表面的虛線表示高度剖面6。如圖3B的高度剖面6所示,凸部的表面具有 反映露出在凝集物4的表面的卡屋結(jié)構(gòu)的形狀的凹凸。
[0042] 凝集物的形狀的實(shí)例包括圖4A所示的球狀,圖4B所示的柱狀,和圖4C所示的管 狀。
[0043] 如圖5A至圖5G所示,卡屋結(jié)構(gòu)指其中形成凝集物4的薄片狀晶體顆粒的端面和 層面(layerface)有選擇地相互接觸的結(jié)構(gòu)。在該種情況下,可存在其中如圖5B所示的 晶體顆粒的端面和層面相互結(jié)合的晶體顆粒形狀。進(jìn)一步地,薄片狀晶體顆??删哂腥鐖D 5C所示的波浪形狀(wavyshape),且如圖抓所示,端面的厚度可不均一。
[0044] 如圖祀所不,不特別限制薄片狀晶體顆粒的大小關(guān)系(magni化d
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