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測定沖擊試樣缺口顯微鏡的制作方法

文檔序號:2807010閱讀:530來源:國知局
專利名稱:測定沖擊試樣缺口顯微鏡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型提供一種測定沖擊試樣缺口顯微鏡屬于光學(xué)測量儀器。
用沖擊試驗(yàn)機(jī)測定金屬或非金屬材料的抗沖擊性能,要依據(jù)國家或國際標(biāo)準(zhǔn)加工沖擊試樣缺口,其沖擊試樣缺口主要分兩大種一種為V型,另一種為U型。由于沖擊試樣缺口較小、尺寸公差要求較高而形成加工出的缺口尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)比較困難。如加工出的缺口尺寸超出了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定范圍,必然使沖擊試驗(yàn)數(shù)據(jù)失去真實(shí)可靠性,特別對壓力容器生產(chǎn)廠更加重要,所以說沖擊試樣缺口尺寸是反映沖擊試驗(yàn)數(shù)據(jù)能否真實(shí)可靠的重要指標(biāo)。
目前國內(nèi)尚未有測定沖擊試樣缺口的專用儀器。有少數(shù)大型企業(yè)利用長度光學(xué)儀器對缺口進(jìn)行部分測量,其缺口頂端半徑的測定還是困難。大多數(shù)擁有沖擊試驗(yàn)機(jī)的企業(yè)或單位只能用眼睛代替儀器測量。
本實(shí)用新型提供一種快速、準(zhǔn)確的確定沖擊試樣缺口是否合格的測定沖擊試樣缺口顯微鏡。其顯微鏡由鏡頭部分、鏡頭支承部分、比對測定調(diào)距部分組合構(gòu)成。其主要特征在于,一、鏡頭部分制作具有沖擊試樣缺口尺寸公差帶的上分劃板并和其它部件組合構(gòu)成的顯微鏡鏡頭,其鏡頭在受支承時可圓周轉(zhuǎn)動并與底座孔同軸。二、鏡頭支承部分底座與立柱相固結(jié),立柱懸端與懸臂一端相固結(jié),其懸臂另一端與鏡頭嵌裝配合,底座孔與鏡頭軸線同軸。
三、比對測定調(diào)距部分絲杠上端徑向嵌裝固結(jié)一圓環(huán)呈現(xiàn)圓柱狀并且中部開口,由一螺桿通過圓環(huán)至開口與裝入開口內(nèi)的另一構(gòu)件下端軸頸以螺紋方式配合,當(dāng)轉(zhuǎn)動螺桿時另一構(gòu)件 承載其上沖擊試樣沿轉(zhuǎn)動軸線移動;另一構(gòu)件上端與絲杠的上端形狀相同,由另一螺桿通過圓環(huán)至開口與裝入口內(nèi)的平臺下端軸頸以螺紋方式配合,當(dāng)轉(zhuǎn)動螺桿時平臺承載沖擊試樣沿轉(zhuǎn)動軸線移動,當(dāng)轉(zhuǎn)動圓轉(zhuǎn)平臺時可使沖擊試樣圓周轉(zhuǎn)動,當(dāng)轉(zhuǎn)動手輪時可使沖擊試樣升降。上下兩個螺桿軸線相互垂直,由手輪、兩個螺桿圓轉(zhuǎn)平臺的轉(zhuǎn)動形成了具有多位移比對測定調(diào)距構(gòu)造。
上分劃板的缺口尺寸公差帶比對圖形以如下方式構(gòu)成有兩個V型,有一個小U型和一個大U型,有一雙半徑圓孤線,有一條缺口尺寸公差帶平分線。鏡頭光學(xué)系統(tǒng)由目鏡、場鏡、上分劃板、下分劃板、物鏡所組成。
本實(shí)用新型為從事沖擊試驗(yàn)的人員提供了一種快速、準(zhǔn)確的確定沖擊試驗(yàn)缺口是否合格的專用儀器。能夠比對測定五種缺口尺寸的沖擊試樣,用之可較大的提高沖擊試驗(yàn)數(shù)據(jù)的真實(shí)可靠性,確保產(chǎn)品質(zhì)量。
附圖給出了本實(shí)用新型的實(shí)施例


圖1為上分劃板平面圖。圖2為鏡頭光學(xué)系統(tǒng)圖。圖3為沖擊試樣位置俯視圖。圖4為本顯微鏡主視圖。圖5為圖4的右視圖。圖4和圖5中(含部分全剖視)。
下面參照附圖詳細(xì)描述,參見
圖1,圖中由V型缺口其夾角45度±2度(A)、V型缺口其夾角45度±1度(B)、V型缺口其夾角45度±1度頂端半徑小于(B)范圍以一雙半徑圓孤線(E、F)、U型缺口其小深度(C)、U型缺口其大深度(D)、一條公差帶平分線(G),以及保留有0~7毫米數(shù)字和線段。上述缺口都是以自身的尺寸公差帶所確定的比對范圍。如(A)V型缺口其夾角45度±2度頂端半徑為0.25±0.025毫米,即最大夾角47度最小夾角43度,頂端半徑最大0.275毫米最小0.025毫米,根據(jù)試樣尺寸確定最大深度2.1毫米最小深度1.9毫米。再如(E、F)一雙半徑圓孤線,適用于對特殊非金屬材料沖擊試樣缺口頂端半徑的比對,即聚苯乙稀沖擊試樣V型缺口其夾角45度±1度落入(B)公差帶范圍內(nèi)不是完全合格,還要將頂端半徑與(E)最大半徑和(F)最小半徑分別相比對,當(dāng)頂端半徑小于或等于(E)大于或等于(F)的同時才是完全合格的沖擊試樣(3)。保留0~7毫米數(shù)字和線段適用于對缺口在深度上超差實(shí)施實(shí)際測量。
圖1、上分劃板在顯微鏡頭(7)內(nèi)所處位置參見圖2。圖2中上分劃板(4)、下分劃板(5)。本實(shí)用新型所采用的鏡頭(7)是市售20倍讀數(shù)顯微鏡頭,只是制作
圖1樣式的上分劃板(4),并裝入鏡頭(7)內(nèi)原上分劃板(4)位置上形成了一個主要用于測定沖擊試樣(3)缺口并可進(jìn)行其它測量的多用途鏡頭(7)。沖擊試樣(3)在圓轉(zhuǎn)平臺(2)上所處位置參見圖3。圖中平臺(1)、圓轉(zhuǎn)平臺(2)、沖擊試樣(3)、螺桿(4)、螺桿(5)。沖擊試樣(3)靠于定位塊并被壓住,鏡頭支承部分參見圖4和圖5由底座(10)與立柱(11)相垂直固結(jié),立柱(11)懸端與懸臂(12)一端相垂直嵌裝固結(jié),其懸臂(12)另一端與鏡頭(7)嵌裝配合,底座(10)嵌裝絲杠(9)的孔與鏡頭(7)軸線同軸。比對測定調(diào)距部分參見圖4和圖5。由絲杠(9)上端徑向嵌裝固結(jié)一個圓環(huán)(13)后呈現(xiàn)圓柱形狀并且中部開口、由螺桿(4)通過圓環(huán)(13)至開口與裝入開口內(nèi)的另一構(gòu)件(14)下端軸頸以螺紋方式配合,當(dāng)轉(zhuǎn)動螺桿(4)時另一構(gòu)件(14)承載其上沖擊試樣(3)沿轉(zhuǎn)動軸線移動。另一構(gòu)件(14)上端與絲杠(9)的上端形狀構(gòu)造相同,由螺桿(5)通過圓環(huán)(13)至開口與裝入開口內(nèi)的平臺(1)下端軸頸以螺紋方式配合,當(dāng)轉(zhuǎn)動螺桿(5)時平臺(1)承載沖擊試樣(3)沿轉(zhuǎn)動軸線移動,當(dāng)轉(zhuǎn)動圓轉(zhuǎn)平臺(2)時可使沖擊試樣(3)圓周轉(zhuǎn)動,當(dāng)轉(zhuǎn)動手輪(6)時可使沖擊試樣(3)升降。本實(shí)用新型為國內(nèi)擁有幾萬臺金屬或非金屬材料沖擊試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行材料沖擊試驗(yàn)提供了試樣檢測手段,并能夠快速準(zhǔn)確比對測定五種缺口的沖擊試樣。仍適用于對布氏硬度和維氏硬度的壓痕以及其它測量,具有結(jié)構(gòu)簡單、體積小、制造容易和成本低等優(yōu)點(diǎn)。
權(quán)利要求1.一種測定沖擊試樣缺口顯微鏡,用于快速、準(zhǔn)確地確定沖擊試樣缺口是否合格,由鏡頭部分、鏡頭支承部分和比對測定調(diào)距部分構(gòu)成,其特征在于a,所述鏡頭(7)部分,由制作具有沖擊試樣(3)缺口尺寸公差帶的上分劃板(4)和其它部件組合構(gòu)成;b,所述鏡頭(7)支承部分,以底座(10)與立柱(11)相固結(jié),立柱(11)懸端與懸臂(12)一端相固結(jié),其懸臂(12)另一端與鏡頭(7)嵌裝配合,底座(10)孔與鏡頭(7)軸線同軸;c,所述比對測定調(diào)距部分,絲杠(9)上端徑向嵌裝固結(jié)一個圓環(huán)(13)呈現(xiàn)圓柱狀并且中部開口,由螺桿(4)通過圓環(huán)(13)至開口與裝入開口內(nèi)的另一構(gòu)件(14)下端軸頸以螺紋方式配合,當(dāng)轉(zhuǎn)動螺桿(4)時另一構(gòu)件(14)承載其上沖擊試樣(3)沿轉(zhuǎn)動軸線移動。另一構(gòu)件(14)上端與絲杠(9)的上端形狀構(gòu)造相同,由螺桿(5)通過圓環(huán)(13)至開口與裝入開口內(nèi)的平臺(1)下端軸頸以螺紋方式配合,當(dāng)轉(zhuǎn)動螺桿(5)時平臺(1)承載沖擊試樣(3)圓周轉(zhuǎn)動,當(dāng)轉(zhuǎn)動手輪(6)時可使沖擊試樣(3)升降。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種快速準(zhǔn)確地確定沖擊試樣缺口尺寸是否符合國家標(biāo)準(zhǔn)的測定沖擊試樣缺口顯微鏡。屬于光學(xué)測量儀器,其特征是,在鏡頭部分中制作裝入能夠比對測定五種沖擊試樣缺口尺寸的尺寸公差帶上分劃板。鏡頭支承部分由底座、立柱和懸臂固結(jié)組合構(gòu)成,比對測定調(diào)距部分由轉(zhuǎn)動絲杠手輪、轉(zhuǎn)動兩個螺桿、轉(zhuǎn)動平臺實(shí)現(xiàn),本新型解決了長期存在的測定沖擊試樣缺口尺寸的困難,使用之可較大地提高材料抗沖擊性能試驗(yàn)數(shù)據(jù)的真實(shí)可靠性。
文檔編號G02B21/32GK2089171SQ9120207
公開日1991年11月20日 申請日期1991年2月2日 優(yōu)先權(quán)日1991年2月2日
發(fā)明者牟艷旗, 程佐玉 申請人:程佐玉, 牟艷旗
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