本發(fā)明涉及一種光斬波器，該光斬波器可以用于延遲發(fā)光的測(cè)量和成像。屬于光學(xué)儀器制造領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

在光致發(fā)光現(xiàn)象中，分子受光照激發(fā)躍遷到激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)的分子可通過(guò)釋放光子回到基態(tài)，即分子的熒光或磷光。分子的激發(fā)態(tài)存在壽命，即激發(fā)態(tài)的分子要在過(guò)一段時(shí)間之后才釋放光子回到基態(tài)，且不同分子的激發(fā)態(tài)壽命各不不同，分子激發(fā)態(tài)壽命越長(zhǎng)，其發(fā)光持續(xù)時(shí)間越長(zhǎng)。通常情況下，分子的熒光壽命在納秒級(jí)，磷光壽命可以達(dá)到微秒級(jí)以上。延遲熒光分子，其壽命也可以達(dá)到微秒級(jí)甚至毫秒級(jí)。近些年發(fā)展的一些磷光分子，壽命可以達(dá)到秒級(jí)。此外一些無(wú)機(jī)納米材料，其壽命在毫秒級(jí)以上。這些長(zhǎng)壽命的發(fā)光統(tǒng)稱為延遲發(fā)光，也被稱為輝光。

在熒光和磷光的測(cè)量中，一般需要構(gòu)建兩個(gè)光路：光路一是激發(fā)光照射樣品的光路，即從光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)透鏡、光柵等部件后會(huì)聚到樣品上，其目的是使樣品中的分子受光照激發(fā)；光路二是探測(cè)器探測(cè)樣品發(fā)光的光路，即樣品發(fā)光經(jīng)過(guò)透鏡、光柵等部件后到達(dá)探測(cè)器。在穩(wěn)態(tài)的測(cè)量過(guò)程中，光路一和光路二同時(shí)打開(kāi)，即激發(fā)光一直照射樣品的條件下測(cè)量，這種方式可以獲得樣品發(fā)光光譜和強(qiáng)度的信息，但是不能得到樣品激發(fā)態(tài)壽命的信息。

隨著科學(xué)的發(fā)展，分子的激發(fā)態(tài)研究在基礎(chǔ)科學(xué)和檢測(cè)應(yīng)用中越來(lái)約重要。為了獲得分子激發(fā)態(tài)壽命的信息和時(shí)間分辨的光譜，人們發(fā)展了瞬態(tài)光譜儀。瞬態(tài)光譜儀，包括瞬態(tài)吸收和瞬態(tài)熒光光譜儀，在光物理光化學(xué)的研究中有重要應(yīng)用。（參考專利公開(kāi)說(shuō)明書(shū)CN201310392018.6、CN200510092520.0、CN201180017387.6、CN201110005032.7等。）為了實(shí)現(xiàn)時(shí)間分辨的測(cè)量，可采用脈沖光源激發(fā)樣品，同時(shí)利用具有高時(shí)間分辨率的光電倍增管、單光子計(jì)數(shù)器或具有門控功能的CCD測(cè)量其延遲的吸收或者發(fā)光信號(hào)，以獲得分子激發(fā)態(tài)的壽命等信息。然而為了實(shí)現(xiàn)高的時(shí)間分辨率，這類光譜儀通常需配備價(jià)格昂貴的脈沖激光器和CCD。而且激光器是單一波長(zhǎng)，不能實(shí)現(xiàn)全波段的測(cè)量。配置不同波長(zhǎng)的激光器可以部分解決這個(gè)問(wèn)題，然而卻導(dǎo)致儀器的成本大大增加。為了降低成本，人們將光斬波器應(yīng)用到瞬態(tài)光譜的測(cè)量中。

光斬波器簡(jiǎn)稱斬光器，可以把連續(xù)光源發(fā)出的光，調(diào)制成脈沖或交變的光信號(hào)。（參考專利公開(kāi)說(shuō)明書(shū)CN200710025960.3、CN201310342971.X、CN200410093016.8，中國(guó)專利申請(qǐng)?zhí)?01520771676.0等。）傳統(tǒng)斬光器主要部件之一是斬光盤，也叫斬光片，斬光盤上分布著幾個(gè)或多個(gè)通光孔，通常這些通光孔以軸心為中心成中心對(duì)稱分布。當(dāng)電機(jī)控制斬光盤，在一定轉(zhuǎn)速下，連續(xù)光源經(jīng)過(guò)斬光盤上的通光孔后，即被調(diào)制成一定頻率的周期性脈沖光。

在一些應(yīng)用中，可在光譜儀的激發(fā)光的光路后加一個(gè)斬波器，這樣就將穩(wěn)態(tài)的光源變成了模擬的瞬態(tài)光源，同時(shí)在探測(cè)器的前面再加一個(gè)斬波器，用來(lái)調(diào)節(jié)延遲時(shí)間和快門時(shí)間，以實(shí)現(xiàn)時(shí)間分辨的測(cè)量。同樣的方案可以用于時(shí)間分辨的熒光顯微鏡的設(shè)計(jì)。（參考文獻(xiàn)Anal. Chem. 2011, 83, 2294-2300。）并在生物成像領(lǐng)域中有重要應(yīng)用。

然而在上述解決方法中，需要對(duì)兩個(gè)斬波器進(jìn)行協(xié)同控制，或者協(xié)同控制脈沖光源和斬波器，由于現(xiàn)有的斬波器一般采用電機(jī)機(jī)械調(diào)制，其精度受電機(jī)轉(zhuǎn)速影響較大，其調(diào)制出的脈沖光源本身帶有一定的時(shí)間誤差，加上要對(duì)兩個(gè)斬波器同步控制，必然使誤差加大，降低了整體測(cè)量的時(shí)間分辨率。提高單個(gè)斬波器的精度可以提高整體測(cè)量的時(shí)間精度，但是斬波器的成本隨之增加。

中國(guó)專利（申請(qǐng)?zhí)?01520771676.0）公開(kāi)了一種光學(xué)斬波器，將兩個(gè)斬光盤的轉(zhuǎn)動(dòng)通過(guò)齒輪或傳送帶耦合，使一個(gè)電機(jī)同時(shí)控制兩個(gè)斬光盤，避免了電機(jī)轉(zhuǎn)速不穩(wěn)導(dǎo)致的散射光干擾，專利CN106066317A公開(kāi)了將光學(xué)斬波器用于延遲發(fā)光測(cè)量的方法，利用反光鏡或棱鏡反射，以控制測(cè)量光路的方向，使用一個(gè)斬光盤也可以用于延遲發(fā)光的測(cè)量。

上述兩種方法具有較廣泛的適用性。然而使用兩個(gè)斬光盤或者改變光路方向，都增加了儀器的復(fù)雜程度。此外，在測(cè)量延遲時(shí)間非常短的發(fā)光信號(hào)時(shí)，需要斬光盤高速轉(zhuǎn)動(dòng)，以達(dá)到快速斬光的目的，這必然會(huì)加劇齒輪嚙合處的磨損。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決上述問(wèn)題，降低散射光干擾，并簡(jiǎn)化儀器，本發(fā)明設(shè)計(jì)了一種光斬波器，該斬波器使用電機(jī)調(diào)制，其斬光盤由圓柱的底面和側(cè)面構(gòu)成，圓柱的底面和側(cè)面分別分布有通光孔，當(dāng)該光斬波器繞圓柱軸轉(zhuǎn)動(dòng)的時(shí)候，可以同時(shí)對(duì)垂直于圓柱底面和側(cè)面的光路進(jìn)行斬光控制。

該斬波器可以設(shè)計(jì)成可分離式，底面和側(cè)面可以拆開(kāi)、重新組合，這樣就可以調(diào)節(jié)底面和側(cè)面通光孔的相對(duì)位置，達(dá)到調(diào)節(jié)延遲時(shí)間的目的。

將上述斬波器應(yīng)用于延遲發(fā)光的測(cè)量方法為：測(cè)量中有兩條光路：光路一是激發(fā)光照射樣品的光路，其目的是使樣品中的分子受光照激發(fā)；光路二是探測(cè)器探測(cè)樣品發(fā)光的光路，即樣品發(fā)光到達(dá)探測(cè)器。將樣品放置于合適的位置，使兩條光路不分先后，分別經(jīng)過(guò)圓柱式斬波器的側(cè)面和底面，當(dāng)斬波器繞圓柱的軸轉(zhuǎn)動(dòng)，其側(cè)面和底面可以分別對(duì)兩條光路進(jìn)行斬光，即實(shí)現(xiàn)兩次斬光：對(duì)光路一的斬光相當(dāng)于把穩(wěn)態(tài)光源轉(zhuǎn)變成脈沖光源；對(duì)光路二的斬光相當(dāng)于探測(cè)器快門的開(kāi)合。兩次斬光就實(shí)現(xiàn)了脈沖信號(hào)發(fā)生和延遲探測(cè)的協(xié)同控制。

該斬波器不需要齒輪嚙合，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，并且適用于許多熒光儀和成像系統(tǒng)。

按照上述方法將上述斬波器裝載在熒光光譜儀或熒光成像裝置中，構(gòu)建合適的光路，可以實(shí)現(xiàn)樣品延遲發(fā)光的測(cè)量或成像。在這樣的裝置中，其含有光源、樣品架或樣品室、探測(cè)器等一般穩(wěn)態(tài)熒光儀或成像裝置的基本零部件，還含有一個(gè)上述斬波器。此外，該裝置的光路為：光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)斬波器的側(cè)面或底面，作為激發(fā)光照射樣品，然后樣品的光經(jīng)過(guò)斬波器的底面或側(cè)面，到達(dá)探測(cè)器。

上述熒光光譜儀，其特征在于：該熒光光譜儀含有上述的斬波器，還含有光源、探測(cè)器、樣品架或樣品室；此外，該熒光光譜儀的光路為：光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)斬波器的側(cè)面或底面，作為激發(fā)光照射樣品，然后樣品的光經(jīng)過(guò)斬波器的底面或側(cè)面，到達(dá)探測(cè)器。

上述熒光成像裝置，其特征在于：該裝置含有上述的斬波器，還含有光源、探測(cè)器、樣品架或樣品室；此外，該裝置的光路為：光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)斬波器的側(cè)面或底面，作為激發(fā)光照射樣品，然后樣品的光經(jīng)過(guò)斬波器的底面或側(cè)面，到達(dá)探測(cè)器。

其中一種優(yōu)選的成像裝置還含有二向色鏡、物鏡、透鏡；激發(fā)光經(jīng)過(guò)圓柱式斬波器的側(cè)面轉(zhuǎn)變?yōu)槊}沖光源，再經(jīng)過(guò)二向色鏡反射，經(jīng)過(guò)物鏡后照射樣品臺(tái)中的樣品，樣品發(fā)光依此經(jīng)過(guò)物鏡、二向色鏡，再經(jīng)過(guò)斬波器的底面、透鏡后到達(dá)探測(cè)器。

在光路上，還可以搭配狹縫、光柵、透鏡、濾光片、分光片、衰減片等，還可以增加二向色鏡、棱鏡、反光鏡或光纖以改變光路的方向。只要測(cè)量中，光源照射樣品之前先經(jīng)過(guò)了斬波器，樣品的發(fā)光經(jīng)過(guò)斬波器后再到達(dá)探測(cè)器，則測(cè)量延遲發(fā)光的原理都是一樣。

本發(fā)明的斬波器非常適合于含有二向色鏡的熒光成像系統(tǒng)中，將二向色鏡置于圓柱斬波器的內(nèi)部，可以將垂直于圓柱側(cè)面的入射光反射到圓柱底面的方向，處于該方向的樣本受激發(fā)后，其發(fā)光延反方向透過(guò)二向色鏡，并穿過(guò)圓柱另外一個(gè)底面，即可實(shí)現(xiàn)兩次斬光。

上述延遲發(fā)光的測(cè)量或成像中，當(dāng)光源發(fā)光通過(guò)斬波器的側(cè)面通光孔照射到樣品上的時(shí)候，斬波器的底面正好擋住了樣品到探測(cè)器的光路；當(dāng)斬波器轉(zhuǎn)動(dòng)使光源到樣品的光路被斬波器的側(cè)面擋住的時(shí)候，斬波器的底面正好也繞軸轉(zhuǎn)過(guò)了一個(gè)角度，使得樣品的發(fā)光可以通過(guò)斬波器底面的通光孔的到達(dá)探測(cè)器，相當(dāng)于快門開(kāi)啟并收集光信號(hào)。由于一次照射所收集的信號(hào)較弱，可以使斬光盤勻速轉(zhuǎn)動(dòng)，反復(fù)上述測(cè)量過(guò)程，并累積多次測(cè)量的信號(hào)，以獲得理想的信號(hào)強(qiáng)度。

該裝置用于時(shí)間分辨的成像（時(shí)間門的成像，又或者延遲成像），其原理與前面延遲發(fā)光的測(cè)量的原理一致，都是通過(guò)一個(gè)斬波器對(duì)光源和樣品發(fā)光同時(shí)進(jìn)行斬光：對(duì)光源斬光，可以將光源轉(zhuǎn)化為脈沖光源；對(duì)樣品發(fā)光斬光，相當(dāng)于控制延遲時(shí)間和快門時(shí)間。由于兩次斬光是由一個(gè)斬波器進(jìn)行，放置好樣品的位置，使入射光和出射光不在同一時(shí)間經(jīng)過(guò)通光孔，即可以確保兩次斬光在時(shí)間上完全錯(cuò)開(kāi)。因而在這個(gè)方法中，即使電機(jī)轉(zhuǎn)速稍有不穩(wěn)定，使頻率出現(xiàn)偏差，進(jìn)行多次測(cè)量也不會(huì)出現(xiàn)漏光現(xiàn)象，即完全排除了背景散射光的干擾。相對(duì)于分別使用兩個(gè)斬波器控制脈沖光和快門，極大提高了檢測(cè)的信噪比。此外，由于該方法將快門控制與斬光控制同步，因而在延遲光譜及時(shí)間分辨的成像應(yīng)用中，無(wú)需再配備脈沖發(fā)生器、延遲發(fā)生器和快門附件等，簡(jiǎn)化了儀器裝置并降低了成本。

從該測(cè)試的原理可知，該光譜儀可以搭配任意的穩(wěn)態(tài)光源使用，如汞燈、氙燈等，相對(duì)于使用單一波長(zhǎng)的脈沖激光器，其激發(fā)波長(zhǎng)可以使用光柵調(diào)節(jié)，范圍覆蓋廣，可以測(cè)試不同激發(fā)波長(zhǎng)的物質(zhì)，大大降低了成本。該方法也可以搭配大功率的近紅外激光器，如980nm、808nm等，可以用于上轉(zhuǎn)化材料或近紅外發(fā)射材料的時(shí)間分辨的成像。

附圖說(shuō)明

圖1為圓柱式斬波器用于測(cè)量延遲發(fā)光的結(jié)構(gòu)示意圖，101為斬波器，102為側(cè)面通光孔，103為底面通光孔，104為樣品池。

圖2為一種可分離式斬波器。

圖3為正置的延遲發(fā)光成像裝置結(jié)構(gòu)示意圖，201為斬波器，202為側(cè)面通光孔，203為底面通光孔，204為二向色鏡，205為物鏡，206為樣品臺(tái)，207為樣品，208為透鏡，209為探測(cè)器。

圖4為倒置的延遲發(fā)光成像裝置結(jié)構(gòu)示意圖，各零部件與圖3相同。

圖5為圓柱式斬波器與激發(fā)模塊聯(lián)用的結(jié)構(gòu)示意圖，301為斬波器，302為底面通光孔，303為側(cè)面通光孔，304為激發(fā)模塊，305為濾光片，306為二向色鏡，307為濾光片。

具體實(shí)施方式

為了說(shuō)明本發(fā)明的原理以及其優(yōu)勢(shì)，下面通過(guò)具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明，其目的在于幫助更好的理解本發(fā)明的內(nèi)容，但這些具體實(shí)施方案不以任何方式限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。 在實(shí)際應(yīng)用中，可以根據(jù)具體情況實(shí)施最合適的方案。

實(shí)施實(shí)例1 ，斬波器用于測(cè)量延遲發(fā)光。

如圖1所示，為圓柱式斬波器測(cè)量延遲發(fā)光的示意圖，圓柱式斬波器101上具有側(cè)面通光孔102和底面通光孔103，激發(fā)光通過(guò)側(cè)面照射到樣品池104上，樣品受激發(fā)后發(fā)出熒光或者磷光經(jīng)過(guò)底面射出，之后被探測(cè)器檢測(cè)。

該裝置測(cè)量延遲發(fā)光的原理如下：當(dāng)斬波器繞圓柱軸轉(zhuǎn)動(dòng)的時(shí)候，側(cè)面通光孔102對(duì)入射光進(jìn)行斬光，將入射光變?yōu)槊}沖光，在某一時(shí)刻，入射光照射到樣品上的時(shí)候，樣品的發(fā)光被斬波器的底面擋住，當(dāng)斬波器轉(zhuǎn)過(guò)一個(gè)角度，使側(cè)面擋住了入射光，此時(shí)底面的通光孔103正好轉(zhuǎn)到了樣品池的上方，使樣本的延遲發(fā)光射出。斬波器勻速轉(zhuǎn)動(dòng)，如此循環(huán)，可以累積多次測(cè)量的信號(hào)。只要樣品發(fā)光通過(guò)底面通光孔103的時(shí)候，斬波器的側(cè)壁擋住了入射激發(fā)光，就可以實(shí)現(xiàn)樣本延遲發(fā)光的測(cè)量。

從上述過(guò)程可知，脈沖、延遲、快門均由一個(gè)斬波器控制，多周期測(cè)量的過(guò)程中，即使斬光盤轉(zhuǎn)速不穩(wěn)，而使頻率有所抖動(dòng)，也可以確保脈沖、延遲、快門依次發(fā)生，使樣品散射光被阻擋在外，降低了非延遲發(fā)光的干擾。

按同樣的原理，斬波器側(cè)面和底面的通光孔數(shù)量不限于2個(gè)，其它孔數(shù)的斬波器也可以用于上述延遲發(fā)光的測(cè)量，在具體的測(cè)試中，可以根據(jù)樣品的激發(fā)態(tài)壽命選擇合適孔數(shù)的斬波器。

在這種測(cè)量方式中，斬波器轉(zhuǎn)速、側(cè)面通光孔和底面通光孔的大小和相對(duì)位置決定了測(cè)量的大致延遲時(shí)間和快門時(shí)間。

假設(shè)斬波器轉(zhuǎn)速為x轉(zhuǎn)/秒，側(cè)面和底面分別均勻分布了y個(gè)通光孔，以轉(zhuǎn)軸為圓心，側(cè)面通光孔對(duì)應(yīng)的弧度為2π/m，底面通光孔對(duì)應(yīng)的弧度為2π/n，當(dāng)入射光被擋住后，斬波器需要再轉(zhuǎn)過(guò)2π/l的弧度才使樣本發(fā)光從斬波器射出，則脈沖頻率為xy赫茲，周期為1/(xy)秒，脈寬為1/(xm)秒，快門時(shí)間為1/(xn)秒，延遲時(shí)間為1/(xl)秒。

如果x=200，y=10，n=50，m=l=500，則周期為1000微秒，快門為100微秒，延遲時(shí)間為10微秒?？梢詼y(cè)量許多物質(zhì)的延遲發(fā)光，這些樣品有磷光金屬配合物，長(zhǎng)壽命的延遲熒光分子，稀土納米材料等。

要測(cè)量壽命更短的樣品，可以提高斬波器的轉(zhuǎn)速或頻率。如果斬波器的頻率為200千赫茲，則周期為5微秒，調(diào)節(jié)側(cè)面通光孔和底面通光孔的大小，及相對(duì)位置，可以使脈寬、延遲和快門時(shí)間總和在5微秒以內(nèi)，可以測(cè)量大部分延遲熒光分子和磷光分子的延遲發(fā)光。

在上述光路中，還可以增加透鏡，使激發(fā)光集中于樣品上，或者使樣品發(fā)光集中到探測(cè)器上，以增強(qiáng)信號(hào)強(qiáng)度。

此外，該斬波器可以設(shè)計(jì)成可分離式，如附圖2所示，底面和側(cè)面可以拆開(kāi)、重新組合，這樣就可以調(diào)節(jié)底面和側(cè)面通光孔的相對(duì)位置，達(dá)到調(diào)節(jié)延遲時(shí)間的目的。其中底面和側(cè)面的組合方式不限于附圖中的方式，其它的組合方式以及一些常用的緊固件也可以用于這類斬波器中。

該斬波器可以搭配任意的穩(wěn)態(tài)光源使用，也可以搭配大功率激光器，用于上轉(zhuǎn)換發(fā)光的時(shí)間分辨光譜的測(cè)量。

實(shí)施實(shí)例2 ，斬波器用于延遲發(fā)光的成像。

成像設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖如附圖3和附圖4所示，激發(fā)光經(jīng)過(guò)圓柱式斬波器201的側(cè)面轉(zhuǎn)變?yōu)槊}沖光源，再經(jīng)過(guò)二向色鏡204反射，經(jīng)過(guò)物鏡205后照射樣品臺(tái)206中的樣品207，樣品發(fā)光依此經(jīng)過(guò)物鏡205、二向色鏡204，再經(jīng)過(guò)斬波器的底面、透鏡208后到達(dá)探測(cè)器209。

斬波器轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中，激發(fā)光必須經(jīng)過(guò)斬波器201的側(cè)面通光孔202才能照射樣品，樣品發(fā)光也必須經(jīng)過(guò)底面通光孔203才能到達(dá)探測(cè)器，但是這兩次光經(jīng)過(guò)通光孔的時(shí)間不同，存在先后次序，因而探測(cè)器可以可以拍攝樣品的延遲發(fā)光照片。延遲測(cè)量的原理與實(shí)施實(shí)例1相同。

圖3和圖4采用了相同的元件，區(qū)別在于，圖3是正置成像系統(tǒng)，圖4是倒置成像系統(tǒng)，分別適用于不同的檢測(cè)用途。

省略物鏡205和透鏡208，該裝置也可以用于延遲發(fā)光成像，只是成像的焦平面不同。

二向色鏡204也可以換成分光片、長(zhǎng)波通、短波通、帶通、帶阻濾光片或顏色濾光片，以實(shí)現(xiàn)反射和透射光譜的分離，可以根據(jù)激發(fā)光光譜和樣品發(fā)光顏色選擇合適的濾光片。

選擇合適的物鏡和透鏡，該裝置可以用于延遲發(fā)光的顯微成像。相對(duì)于一般的熒光顯微鏡，其優(yōu)勢(shì)在于，測(cè)量延遲發(fā)光，可以簡(jiǎn)化濾光系統(tǒng)，顯著降低成本。相對(duì)于其它的時(shí)間分辨的顯微鏡，該裝置不需要專門的脈沖光源，也不需要延遲控制器，帶有門控功能的CCD探測(cè)器，因而成本低廉。此外，可以搭配各種穩(wěn)態(tài)光源，包括氙燈汞燈LED，大功率近紅外光源，用于上轉(zhuǎn)換的時(shí)間分辨成像。

實(shí)施實(shí)例3，斬波器用于熒光顯微鏡的時(shí)間分辨成像。

市面上現(xiàn)有的熒光顯微鏡大多采用二向色鏡的激發(fā)模塊，如圖5所示，304為激發(fā)模塊，其中含有三塊濾光片，其中二向色鏡306與濾光片305和307呈45度夾角放置，這類激發(fā)模塊在熒光顯微鏡中廣泛使用，入射光經(jīng)過(guò)濾光片305過(guò)濾再被二向色鏡306反射至樣品處，樣品的熒光透過(guò)二向色鏡和濾光片307后再到達(dá)探測(cè)器，該光路與圖3和圖4中的光路類似，因而，本發(fā)明的斬波器可以結(jié)合激發(fā)模塊裝載在這些熒光顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)時(shí)間分辨的熒光成像。圖5為斬波器301和激發(fā)模塊304聯(lián)合使用的示意圖，入射光必須經(jīng)過(guò)斬波器的側(cè)面通光孔303才能進(jìn)入激發(fā)模塊304，從激發(fā)模塊射出的熒光必須經(jīng)過(guò)底面通光孔302才能被探測(cè)器檢測(cè)。因而當(dāng)斬波器301勻速轉(zhuǎn)動(dòng)的時(shí)候，入射光和出射光交替通過(guò)斬波器和激發(fā)模塊，從而屏蔽了散射光，實(shí)現(xiàn)時(shí)間分辨的熒光成像。

此外，實(shí)例1到實(shí)例3中的所有裝置中，可以使用其它孔數(shù)的斬光盤，以改變斬光頻率。還可以根據(jù)被測(cè)物發(fā)光的性質(zhì)，在光路上添加狹縫、光柵、透鏡、濾光片、分光片、衰減片等，還可以增加二向色鏡、棱鏡、反光鏡或光纖以改變光路的方向，以增強(qiáng)檢測(cè)的信噪比。