多功能液晶顯示屏測試裝置制造方法
【專利摘要】公開了一種多功能液晶顯示屏測試裝置,包括電源供給模塊、程序主控模塊、測量數(shù)據(jù)采集模塊、待測量液晶顯示屏以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏，所述電源供給模塊用于將外部輸入的單一電源轉(zhuǎn)換成所述程序主控模塊、測量數(shù)據(jù)采集模塊、待測量液晶顯示屏及其背光以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏分別對應(yīng)所需的不同工作電源，所述程序主控模塊將預(yù)存的測試圖片發(fā)送給所述待測量液晶顯示屏進(jìn)行顯示，并根據(jù)預(yù)存的測試程序驅(qū)動所述待測量液晶顯示屏以進(jìn)行對應(yīng)的測試工作，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊用于采集所述待測量液晶顯示屏在測試工作時的至少包括圖像質(zhì)量和電性參數(shù)的測量數(shù)據(jù)，并將采集到的所述測量數(shù)據(jù)發(fā)送給所述測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏進(jìn)行顯示。
【專利說明】多功能液晶顯示屏測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種多功能液晶顯示屏測試裝置。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]現(xiàn)有的液晶顯示屏測試機(jī)往往僅是測量顯示屏的圖像質(zhì)量(顯示效果)的數(shù)據(jù)，并沒有監(jiān)測顯示屏的電性參數(shù)。但是，作為一種電子模組，電性參數(shù)是很重要的一部分。因為微短路或其它設(shè)計缺陷造成的電性參數(shù)異常但顯示效果在正常范圍內(nèi)的情況并不少見。如果注重產(chǎn)品電參數(shù)的監(jiān)測，勢必容易把不良品流出到客戶，造成不可預(yù)估的隱患。
[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種多功能液晶顯示屏測試裝置，能夠?qū)︼@示屏的電參數(shù)進(jìn)行精確控制和監(jiān)測，以保證產(chǎn)品之高品質(zhì)。
[0006]本發(fā)明提供了一種多功能液晶顯示屏測試裝置，包括電源供給模塊、程序主控模塊、測量數(shù)據(jù)采集模塊、待測量液晶顯示屏以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏，所述電源供給模塊用于將外部輸入的單一電源轉(zhuǎn)換成所述程序主控模塊、測量數(shù)據(jù)采集模塊、待測量液晶顯示屏及其背光以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏分別對應(yīng)所需的不同工作電源，所述程序主控模塊將預(yù)存的測試圖片發(fā)送給所述待測量液晶顯示屏進(jìn)行顯示，并根據(jù)預(yù)存的測試程序驅(qū)動所述待測量液晶顯示屏以進(jìn)行對應(yīng)的測試工作，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊用于采集所述待測量液晶顯示屏在測試工作時的至少包括圖像質(zhì)量和電性參數(shù)的測量數(shù)據(jù)，并將采集到的所述測量數(shù)據(jù)發(fā)送給所述測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏進(jìn)行顯示。
[0007]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述待測量液晶顯示屏為單色I(xiàn)XD、TFT、CSTN、ZBD和BCD中的任意一種，所述待測量液晶顯示屏為電阻式或電容式觸摸屏。
[0008]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述電性參數(shù)至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種。
[0009]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，還包括與所述測量數(shù)據(jù)采集模塊連接的報警模塊，用于將所述測量數(shù)據(jù)采集模塊采集到的電性參數(shù)與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)范圍進(jìn)行對比，當(dāng)判斷電性參數(shù)超過標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)范圍時則發(fā)出警報。
[0010]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述電源供給模塊和測量數(shù)據(jù)采集模塊集成在第一電路板上，所述程序主控模塊集成在第二電路板上，所述第一電路板和第二電路板通過插接件實現(xiàn)連接。
[0011]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述第一電路板上設(shè)有與所述電源供給模塊連接的電源輸入端口，所述電源輸入端口用于連接外部電源；所述第二電路板上分別設(shè)有與所述待測量液晶顯示屏以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏連接的接口 ；所述第二電路板上與所述待測量液晶顯示屏連接的接口為4個。[0012]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述電源供給模塊至少包括7V主機(jī)開關(guān)電源電路、5V開關(guān)電源電路、+3.3V開關(guān)電源電路、VDD數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、VCC數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、VCI數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、+/-6.2V開關(guān)電源電路、LBL基準(zhǔn)電源電路、升壓降壓自動切換電路以及VLCD開關(guān)電源電路中的多個電路，以將外部輸入的12V電源轉(zhuǎn)換成各個模塊所需的不同電源。
[0013]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述程序主控模塊設(shè)有內(nèi)部存儲單元，且所述測試裝置還包括與所述程序主控模塊連接的程序下載端口，外部裝置輸入的所述測試程序通過所述程序下載端口下載并預(yù)存到所述內(nèi)部存儲單元中。
[0014]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，還包括與所述程序主控模塊連接的SD卡存儲模塊以及與所述SD卡存儲模塊連接的USB接口，外部裝置輸入的測試圖片通過所述USB接口送入所述SD卡存儲模塊中預(yù)存。
[0015]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述SD卡還用于存儲測試工作中測量數(shù)據(jù)采集模塊采集到的所述測量數(shù)據(jù)，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊將采集到的所述測量數(shù)據(jù)緩存到作為數(shù)據(jù)緩存模塊的EEPROM后再批量轉(zhuǎn)寫到所述SD卡中。
[0016]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，還包括與所述程序主控模塊連接的控制按鍵模塊，所述控制按鍵模塊包括復(fù)位按鍵和多個程序選擇按鍵以供用戶控制測試工作。
[0017]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明公開的多功能液晶顯示屏測試裝置具有如下有益效果:
1、本發(fā)明實施例的多功能液晶顯示屏測試裝置能夠?qū)︼@示屏的電性參數(shù)進(jìn)行精確控制和監(jiān)測，以保證產(chǎn)品之高品質(zhì)；其中，所述電性參數(shù)至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種；
2、通過增加I/O接口的位數(shù)，使得不僅能夠單色I(xiàn)XD，還可以測試TFT和CSTN、ZBD、B⑶等彩色I(xiàn)XD;另外通過增加電阻觸摸屏的測試功能和預(yù)留電容觸摸屏的測試端口，用于適應(yīng)帶觸摸屏的LCD產(chǎn)品的測試；
3、采用SD卡海量存儲器存儲測試圖片，能夠增大圖片存儲容量，同時提高圖片下載速
度；
4、采用開關(guān)電流源和電壓源對背光供電，效率高，發(fā)熱小，有效提高背光電源驅(qū)動能力范圍；
5、采用測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏進(jìn)行顯示測量的數(shù)據(jù)，使用戶對測量數(shù)據(jù)一目了然。
[0018]
【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]圖1是本發(fā)明實施例1中一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是本發(fā)明實施例2中一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3是本發(fā)明實施例3中一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖4是本發(fā)明實施例4中一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖5A是圖4所示的實施例的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存eeprom流程圖；
圖5B是圖4所示的實施例的創(chuàng)建FAT根目錄記錄流程圖；
圖5C是圖4所不的實施例的申請空閑族流程圖； 圖5D是圖4所示的實施例的eeprom記錄轉(zhuǎn)存至SD/CF文本文件流程圖；
圖6是本發(fā)明實施例5中一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖7是本發(fā)明實施例6中一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖8是本發(fā)明測試裝置與上位機(jī)共同協(xié)作完成測試工作的示意圖；
圖9是本發(fā)明測試裝置的總系統(tǒng)運行流程圖。
[0020]圖10是本發(fā)明測試裝置的電源供給模塊中的7V主機(jī)開關(guān)電源電路圖；
圖11是本發(fā)明測試裝置的電源供給模塊中的5V開關(guān)電源電路圖；
圖12是本發(fā)明測試裝置的電源供給模塊中的+3.3V開關(guān)電源電路圖。
[0021]
【具體實施方式】
[0022]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0023]實施例1
參見圖1，是本發(fā)明實施例提供的一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。該多功能液晶顯示屏測試裝置包括電源供給模塊1、程序主控模塊2、測量數(shù)據(jù)采集模塊3、待測量液晶顯示屏4以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏5，所述電源供給模塊I用于將外部輸入的單一電源轉(zhuǎn)換成所述程序主控模塊2、測量數(shù)據(jù)采集模塊3、待測量液晶顯示屏4及其背光41以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏5分別對應(yīng)所需的不同工作電源，所述程序主控模塊2將預(yù)存的測試圖片發(fā)送給所述待測量液晶顯示屏4進(jìn)行顯示，并根據(jù)預(yù)存的測試程序驅(qū)動所述待測量液晶顯示屏4以進(jìn)行對應(yīng)的測試工作，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊3用于采集所述待測量液晶顯示屏4在測試工作時的至少包括圖像質(zhì)量和電性參數(shù)的測量數(shù)據(jù)，并將采集到的所述測量數(shù)據(jù)發(fā)送給所述測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏5進(jìn)行顯示。
[0024]其中，所述程序主控模塊2可將預(yù)存的測試圖片和預(yù)存的測試程序同時通過獨立的兩個通道發(fā)送給所述待測量液晶顯示屏4進(jìn)行顯示以及進(jìn)行對應(yīng)的測試工作。
[0025]同樣，為了提高測試效率，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊3可通過不同的通道獲取圖像質(zhì)量和電性參數(shù)，且在獲取的電性參數(shù)時，可同時通過獨立的多個通道對應(yīng)獲取多個不同的電性參數(shù)。
[0026]所述電性參數(shù)至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種。
[0027]實施例2
參考圖2，本發(fā)明實施例提供的一種多功能液晶顯示屏測試裝置的結(jié)構(gòu)與實施例1的結(jié)構(gòu)相似，不同的是，在本實施例中，還包括與所述測量數(shù)據(jù)采集模塊3連接的報警模塊6，用于將所述測量數(shù)據(jù)采集模塊3采集到的電性參數(shù)與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)范圍進(jìn)行對比，當(dāng)判斷電性參數(shù)超過標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)范圍時則發(fā)出警報，具體可通過蜂鳴器發(fā)出警報，優(yōu)選的，還可以通過所述電源供給模塊I自動切斷所述待測量液晶顯示屏4的供電，以免由于超標(biāo)的電壓電流對液晶屏造成不可逆轉(zhuǎn)的物理損傷。[0028]實施例3
如圖3所示，本實施例在實施例1的基礎(chǔ)上，將所述電源供給模塊I和測量數(shù)據(jù)采集模塊3集成在第一電路板(電源及測量用板)上，所述程序主控模塊2集成在第二電路板(主板)上，所述第一電路板和第二電路板通過插接件實現(xiàn)連接。這樣可利于電路板線路的設(shè)計和布置。
[0029]另外，所述第一電路板上設(shè)有與所述電源供給模塊I連接的電源輸入端口 11，所述電源輸入端口 11用于連接外部電源；所述第二電路板上分別設(shè)有與所述待測量液晶顯示屏4以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏5連接的待測量液晶顯示屏接口 41和測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏接口 51，其中，所述程序主控模塊2通過所述待測量液晶顯示屏接口 41向所述待測量液晶顯示屏4發(fā)送待測量顯示的圖片和程序，而所述測量數(shù)據(jù)采集模塊3通過所述待測量液晶顯示屏接口 41采集待測量液晶顯示屏在測試工作時的至少包括圖像質(zhì)量和電性參數(shù)的測量數(shù)據(jù)，并將采集到的所述測量數(shù)據(jù)通過所述測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏接口 51發(fā)送給所述測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏5進(jìn)行顯示。其中，所述第二電路板上與所述待測量液晶顯示屏連接的待測量液晶顯示屏接口 41為4個，所述4個接口可用于同時連接4個待測量液晶顯示屏或者可以用于向同個待測量液晶顯示屏輸入四個不同的驅(qū)動電壓以進(jìn)行測試。。
[0030]實施例4
本實施例在實施例1的基礎(chǔ)上，采用Samsun S3C2440處理器作為程序主控模塊2，Samsun S3C2440處理器基本于ARM920T內(nèi)核架構(gòu)，運行主頻400M Hz,支持16KB指令緩存和 16KB 的數(shù)據(jù)緩存，片上集成了 LCD controller，RTC, IIC bus controller, PWM，SD 控制器等等資源，無需要額外的RGB控制器，時鐘芯片等，能有效地降低系統(tǒng)成本。S3C2440與外部SDRAM, Nor flash,時 鐘源，電源管理一起構(gòu)成最小系統(tǒng)。
[0031]另外，本測試裝置還包括與所述程序主控模塊2連接的程序下載端口 7，外部裝置輸入的多個測試程序通過所述程序下載端口 7下載并預(yù)存到所述程序主控模塊2的內(nèi)存中。
[0032]本本實施例還包括與所述程序主控模塊2連接的SD卡存儲模塊8以及與所述SD卡存儲模塊8連接的USB接口 81，外部裝置輸入的測試圖片通過所述USB接口 81送入所述SD卡存儲模塊8中預(yù)存。所述SD卡存儲模塊8還用于存儲測試工作中所述測量數(shù)據(jù)采集模塊3采集到的測量數(shù)據(jù)(包括電性參數(shù)以及產(chǎn)品是否通過測試等)，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊3將采集到的所述測量數(shù)據(jù)緩存到作為數(shù)據(jù)緩存模塊9的EEPROM后再批量轉(zhuǎn)寫到所述SD卡存儲模塊8中。采用可擦寫次數(shù)達(dá)到百萬次的^prom作為中間數(shù)據(jù)記錄緩存，在達(dá)到一定的記錄項時再批量轉(zhuǎn)寫到SD卡，能有效減小對SD卡的頻繁操作，增長SD卡的使用壽命。數(shù)據(jù)特征在于采用FAT文件系統(tǒng)，測量數(shù)據(jù)記錄保存為文本格式，方便通過計算機(jī)轉(zhuǎn)存統(tǒng)計。
[0033]具體的，參考圖5A飛D，測試數(shù)據(jù)存儲分兩步，首先存入臨時e印rom，其次將其轉(zhuǎn)入SD文本存儲。因此也根據(jù)數(shù)據(jù)特征采用兩種數(shù)據(jù)格式。一個模組對應(yīng)一條數(shù)據(jù)記錄，將各項待存數(shù)據(jù)按一定的格式組成連續(xù)的數(shù)組，以十六進(jìn)制形式駐于e印rom，一條記錄占據(jù)84Byte。根據(jù)eeprom剩余空間的多少或用戶的指令，最終數(shù)據(jù)記錄轉(zhuǎn)存進(jìn)SD卡中，并轉(zhuǎn)成ascii碼以組成文本文件。每條記錄所占的字節(jié)數(shù)不定。
[0034]實施例5參考圖6，本實施例在實施例1的基礎(chǔ)上，還包括與所述程序主控模塊2、測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏5連接的控制按鍵模塊10，所述控制按鍵模塊10包括復(fù)位按鍵和多個程序選擇按鍵以供用戶控制測試工作，例如，可供用戶設(shè)定產(chǎn)品的標(biāo)注參數(shù)范圍以及選擇對應(yīng)的測試程序進(jìn)行相關(guān)測試等等。
[0035]實施例6
參考圖7，本實施例的多功能液晶顯示屏測試裝置結(jié)合了上述實施例f實施例5的全部功能1旲塊。
[0036]優(yōu)選的，參考圖8，在上述實施例f實施例6中描述的測試裝置可與上位機(jī)共同協(xié)作完成測試工作，上位機(jī)用于程序的開發(fā)編寫及運行GCC編譯工具鏈，交互編譯生成本測試裝置可執(zhí)行的指令，并通成JTAG協(xié)議把指令下載到測試裝置內(nèi)部的內(nèi)存中。測試的24bit BMP彩圖則通過USB接口由上位機(jī)傳至本測試機(jī)。至此，上位機(jī)的測試相關(guān)準(zhǔn)備已完成。復(fù)位系統(tǒng)，則能按指令完成測試工作。其中，本測試裝置的總系統(tǒng)運行流程如圖9所示。
[0037]另外，在上述任一實施例中，所述待測量液晶顯示屏4為單色I(xiàn)XD、TFT、CSTN、ZBD和BCD中的任意一種，所述待測量液晶顯示屏4為電阻式或電容式觸摸屏。本測試裝置通過增加I/O接口的位數(shù)，使得不僅能夠單色I(xiàn)XD，還可以測試TFT和CSTN、ZBD、B⑶等彩色LCD;另外通過增加電阻觸摸屏的測試功能和預(yù)留電容觸摸屏的測試端口，用于適應(yīng)帶觸摸屏的IXD產(chǎn)品的測試。
[0038]再有，在上述任一 實施例中，所述電源供給模塊I至少包括7V主機(jī)開關(guān)電源電路、5V開關(guān)電源電路、+3.3V開關(guān)電源電路、VDD數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、VCC數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、VCI數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、+/-6.2V開關(guān)電源電路、LBL基準(zhǔn)電源電路、升壓降壓自動切換電路以及VLCD開關(guān)電源電路中的多個電路，以將外部輸入的12V電源轉(zhuǎn)換成各個模塊所需的不同電源；其中可通過定電流或定電壓驅(qū)動所述待測量液晶顯示屏的背光。
[0039]各個電源電路的結(jié)構(gòu)和實現(xiàn)可利用現(xiàn)有技術(shù)中的電路結(jié)構(gòu)或者在現(xiàn)有電路電路基礎(chǔ)上進(jìn)行改進(jìn)的電路，并不影響本發(fā)明實施的效果。例如，7V主機(jī)開關(guān)電源電路可利用如圖10所示的電路結(jié)構(gòu)圖。通過該電路圖，得到輸出電壓為:
VO=I*[1+(R58+R53)/R59]=1*[1+(30+30)/10]=7V。
[0040]而5V開關(guān)電源電路可采用如圖11的電路結(jié)構(gòu)，通過該電路結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)輸出電壓為:VO=0.8*(1+R176/R183)=0.8*(1+16/3)=5V0
[0041]而+3.3V開關(guān)電源電路可采用如圖12的電路結(jié)構(gòu)，通過該電路結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)輸出電壓為:
VO=0.8*[1+R104/(R107+R109)]=0.8*[1+10/(3+0.2)]=3.3V。
[0042]其他電源電路結(jié)構(gòu)在此省略詳細(xì)描述。
[0043]本發(fā)明公開的多功能液晶顯示屏測試裝置具有如下有益效果:
1、本發(fā)明實施例的多功能液晶顯示屏測試裝置能夠?qū)︼@示屏的電性參數(shù)進(jìn)行精確控制和監(jiān)測，以保證產(chǎn)品之高品質(zhì)；其中，所述電性參數(shù)至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種；
2、通過增加I/O接口的位數(shù)，使得不僅能夠單色I(xiàn)XD，還可以測試TFT和CSTN、ZBD、B⑶等彩色I(xiàn)XD;另外通過增加電阻觸摸屏的測試功能和預(yù)留電容觸摸屏的測試端口，用于適應(yīng)帶觸摸屏的LCD產(chǎn)品的測試；
3、采用SD卡海量存儲器存儲測試圖片，能夠增大圖片存儲容量，同時提高圖片下載速
度；
4、采用開關(guān)電流源和電壓源對背光供電，效率高，發(fā)熱小，有效提高背光電源驅(qū)動能力范圍；
5、采用測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏進(jìn)行顯示測量的數(shù)據(jù)，使用戶對測量數(shù)據(jù)一目了然。
[0044]以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，包括電源供給模塊、程序主控模塊、測量數(shù)據(jù)采集模塊、待測量液晶顯示屏以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏，所述電源供給模塊用于將外部輸入的單一電源轉(zhuǎn)換成所述程序主控模塊、測量數(shù)據(jù)采集模塊、待測量液晶顯示屏及其背光以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏分別對應(yīng)所需的不同工作電源，所述程序主控模塊將預(yù)存的測試圖片發(fā)送給所述待測量液晶顯示屏進(jìn)行顯示，并根據(jù)預(yù)存的測試程序驅(qū)動所述待測量液晶顯示屏以進(jìn)行對應(yīng)的測試工作，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊用于采集所述待測量液晶顯示屏在測試工作時的至少包括圖像質(zhì)量和電性參數(shù)的測量數(shù)據(jù)，并將采集到的所述測量數(shù)據(jù)發(fā)送給所述測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏進(jìn)行顯示。
2.如權(quán)利要求1所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，所述待測量液晶顯示屏為單色I(xiàn)XD、TFT、CSTN、ZBD和B⑶中的任意一種，所述待測量液晶顯示屏為電阻式或電容式觸摸屏。
3.如權(quán)利要求1或2所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，所述電性參數(shù)至少包括所述待測量液晶顯示屏的工作電壓、待測量液晶顯示屏的工作電流、背光的工作電壓、背光的工作電流中的一種或多種。
4.如權(quán)利要求1所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，還包括與所述測量數(shù)據(jù)采集模塊連接的報警模塊，用于將所述測量數(shù)據(jù)采集模塊采集到的電性參數(shù)與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)范圍進(jìn)行對比，當(dāng)判斷電性參數(shù)超過標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)范圍時則發(fā)出警報。
5.如權(quán)利要求1所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，所述電源供給模塊和測量數(shù)據(jù)采集模塊集成在第一電路板上，所述程序主控模塊集成在第二電路板上，所述第一電路板和第二電路板通過插接件實現(xiàn)連接。
6.如權(quán)利要求5所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，所述第一電路板上設(shè)有與所述電源供給模塊連接的電源輸入端口，所述電源輸入端口用于連接外部電源；所述第二電路板上分別設(shè)有與所述待測量液晶顯示屏以及測量數(shù)據(jù)顯示監(jiān)控屏連接的接口；所述第二電路板上與所述待測量液晶顯示屏連接的接口為4個，所述4個接口可用于同時連接4個待測量液晶顯示屏或者可以用于向同個待測量液晶顯示屏輸入四個不同的驅(qū)動電壓以進(jìn)行測試。
7.如權(quán)利要求1所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，所述電源供給模塊至少包括7V主機(jī)開關(guān)電源電路、5V開關(guān)電源電路、+3.3V開關(guān)電源電路、VDD數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、VCC數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、VCI數(shù)控可調(diào)開關(guān)電源電路、+/-6.2V開關(guān)電源電路、LBL基準(zhǔn)電源電路、升壓降壓自動切換電路以及VLCD開關(guān)電源電路中的多個電路，以將外部輸入的12V電源轉(zhuǎn)換成各個模塊所需的不同電源；其中可通過定電流或定電壓驅(qū)動所述待測量液晶顯示屏的背光。
8.如權(quán)利要求1所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，所述程序主控模塊設(shè)有內(nèi)部存儲單元，且所述測試裝置還包括與所述程序主控模塊連接的程序下載端口，外部裝置輸入的所述測試程序通過所述程序下載端口下載并預(yù)存到所述內(nèi)部存儲單元中。
9.如權(quán)利要求1所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，還包括與所述程序主控模塊連接的SD卡存儲模塊以及與所述SD卡存儲模塊連接的USB接口，外部裝置輸入的測試圖片通過所述USB接口送入所述SD卡存儲模塊中預(yù)存。
10.如權(quán)利要求9所述的多功能液晶顯示屏測試裝置，其特征在于，所述SD卡存儲模塊還用于存儲測試工作中測量數(shù)據(jù)采集模塊采集到的所述測量數(shù)據(jù)，所述測量數(shù)據(jù)采集模塊將采集到的所述測量數(shù)據(jù)緩存到作為數(shù)據(jù)緩存模塊的EEPROM后再批量轉(zhuǎn)寫到所述SD卡存款模塊 中。
【文檔編號】G02F1/13GK104036708SQ201410244201
【公開日】2014年9月10日 申請日期:2014年6月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月4日
【發(fā)明者】劉志強(qiáng), 梁日平 申請人:精電(河源)顯示技術(shù)有限公司