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液晶顯示器制造過程中待報廢軟排線回收利用方法

文檔序號:2727742閱讀:284來源:國知局
專利名稱:液晶顯示器制造過程中待報廢軟排線回收利用方法
技術領域
本發(fā)明涉及液晶顯示器制造方法,特別是涉及一種在液晶顯示器制造中 待報廢軟排線的回收方法。
背景技術
隨著多媒體的迅速發(fā)展,許多平面顯示器(Flat Panel Display )技術相繼 被開發(fā)出來,如液晶顯示器(Liquid Crystal Display, LCD )。液晶顯示器具有 外形輕薄、耗電量少以及無輻射污染等特性,已被廣泛地應用在筆記本電腦、 個人數(shù)字助理(PDA)等攜帶式資訊產(chǎn)品上,甚至已有逐漸取代傳統(tǒng)臺式電腦的 CRT監(jiān)視器的趨勢。
在制作液晶顯示器的過程中,經(jīng)常使用印刷電路板(PWB)進行組裝, 在印刷電路板與顯示面板之間,利用集成電路(IC)塊作橋接。圖1為現(xiàn)有 的一種液晶平面顯示器平面結(jié)構(gòu)示意圖。在顯示面板100的S側(cè)(源極驅(qū)動 側(cè))鄰接有印刷電路板110,兩者之間以數(shù)個集成電路芯片130架接。同樣的, 在顯示面板100的G側(cè)(柵極驅(qū)動側(cè))鄰接有印刷電路板120,并使用集成 電路(IC )塊140架接。利用集成電路橋接PWB的顯示面板之后安裝上偏光 板等形成液晶模組,在液晶模組與背光模組、鐵框等進行組裝后,大體形成 一液晶顯示器。
一個合格的液晶顯示器,必須保證液晶模組中各個模塊之間通信正常。 因此,在液晶顯示器組裝過程,需要通過測試主機來測試液晶模組各個 模塊之間通信情況。請參閱圖2,其為測試液晶模組通信情況的結(jié)構(gòu)示意圖。 測試主機21通過排線部件22連接本主機21的電路接口 211與設置于液 晶模組23背部的測試接口 231,測試主機21按照預先設定的程序向液晶模組 23發(fā)送訊號,根據(jù)液晶模組23返回的處理結(jié)果來判斷液晶模組23的通信情 況。在測試主機21和液晶模組23之間傳送的信號不一致時,通常,在測試 主機21和液晶模組23之間設置一轉(zhuǎn)換電路板24,用于進行信號轉(zhuǎn)換,以便測試主機21和液晶模組23之間進行通信。也就是說,測試主機21、液晶模 組23和轉(zhuǎn)換電路板24之間通過軟排線和相應接插頭組成的排線部件22來完 成它們之間的連接。
在測試過程中,每測試一液晶模組23的通信情況,就需要至少插拔一次 與測試主機21的電路接口 211連接的排線部件22,以及插拔一次與液晶模組 23的測試接口相連的排線部件22。隨著使用次數(shù)增多,與各個接口相連的排 線部件22之軟排線經(jīng)常會出現(xiàn)磨損狀況,因而出現(xiàn)磨損位置其接觸信號不穩(wěn) 定或出現(xiàn)雜訊號,無法保證正常的測試而直接將該排線部件22進行的報廢處 理。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種液晶顯示器制造過程中待報廢軟排線回收利 用方法,以解決現(xiàn)有技術中制造過程中用到的排線部件由于磨損而影響傳輸 信號質(zhì)量而直接報廢,存在資料浪費的技術問題。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種測試液晶模組通信情況的測試方法,以解 決測試過程中用到的排線部件由于磨損而影響傳輸信號質(zhì)量而直接報廢,存
在資料浪費的技術問題。
為了解決上述問題,本發(fā)明提供一種液晶顯示器制造過程中待報廢軟排 線回收利用方法,包括
確定待報廢軟排線的異常段;
將所述待報廢軟排線直接沿著沖切IC金型的凹槽往前,送到?jīng)_切IC金 型沖口位置;
沖切掉所述異常段,以回收利用該待報廢軟排線。
標識出需要沖切的異常段的沖切位置;在沖切時,將軟排線放置位置與 原IC送取位置保持平行;
通過沖切IC金型沖口對準所述沖切位置來沖切掉所述異常段。
并且,在沖切之前,將與待報廢軟排線的異常段相連的插接頭進行拆卸; 在沖切掉所述異常段后,待報廢軟排線中沖切掉異常段的一端重新裝上所述
插接頭。所述沖切IC金型為從IC沖切報廢下來的金型。
一種測試液晶才莫組通信情況的測試方法,用于通過測試主4幾來測試液晶
模組內(nèi)的通信情況,包括以下步驟
檢測軟排線是否通信正常,如果不正常,則先將軟排線異常段進行標注, 再將所述待^^艮廢軟排線直接沿著沖切IC金型的凹槽往前,送到?jīng)_切IC金型 沖口位置,沖切掉所述異常段,與插接口組成新的排線部件;
通過排線部件建立測試主機與液晶模組之間的通信連接;
測試主機測試液晶模組的通信情況。
所述沖切IC金型為從IC沖切報廢下來的金型。
與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明利用了在液晶顯示器的制作過程中,將用于沖 切IC的IC沖切金型來進行軟排線磨損部分的沖切,使得原來要報廢的軟排線 又得到廢物利用,即將精度已經(jīng)無法滿足的軟排線使用IC沖切金型進行沖切, 使之進行二次、三次回收使用,在沒有增加成本的基礎上降低了報廢成本。 并且,金型可以采用從IC沖切報廢下來的金型,延長了金型其使用年限。


圖1為現(xiàn)有的一種液晶平面顯示器平面結(jié)構(gòu)示意圖; 圖2為測試液晶模組通信情況的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖3為軟排線的 一 內(nèi)部結(jié)構(gòu)剖示圖4為本發(fā)明 一種液晶顯示器制造過程中待報廢軟排線回收利用方法的 流程圖5為一種測試液晶模組通信情況的測試方法的流程圖。
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖,具體說明本發(fā)明。
本發(fā)明的申請人看到軟排線部分由于磨損程度而直接達到報廢時,發(fā)現(xiàn) 每一次磨損程度非常厲害的僅是軟排線靠近插接口部分,而整條軟排線其余 部分還是具有信號傳輸功能。為此,本申請人開始深入研究軟排線。
請參閱圖3,其為軟排線的一內(nèi)部結(jié)構(gòu)剖示圖。軟排線包括并排的多根信 號連接線31,每一信號連接線31由PVC基材包覆。當軟排線進行磨損時,通常是由于將某一信號連接線31磨損而影響傳輸信號的傳輸質(zhì)量。為此,申 請人考慮將有磨損的異常段從軟排線上進行切除,這種剩下的軟排線就可以 正常通信了。為此,申請人嘗試用剪刀等切除異常段,但是,由于軟排線其
要求的精度是兩PIN角位置距離lmm即1000um,用剪刀等日常工具切除異 常段的軟排線不能達到精度要求,也就是說,達不到精度要求的軟排線同樣 也只能是報廢處理。若需要將切除異常段的軟排線能達到精度的要求,則需 要購買專業(yè)性很強的切割工具,為了回收成本相對低的軟排線而購買價格昂 貴的切割工具,這也有點得不償失,為此,目前公司的處理方式是直接將磨 損到 一定程度的軟排線直接進行報廢處理。
在液晶顯示器的制造過程中,需要將IC從IC料帶上沖切下來,然后才 能將顯示面板通過IC連接PWB,組成液晶模組。目前,是通過金型來沖切 IC 。申請人考慮到利用現(xiàn)有的液晶顯示器制造過程中現(xiàn)有的設備金型是否可 以沖切待報廢軟排線,經(jīng)試驗證明,利用沖切IC金型來沖切待報廢軟排線, 其沖切的軟排線滿足其精度的要求,這樣的話,既可以利用不需要重新添置 新的設備而且還能達到報廢物再利用的效果。
并且,金型為沖切IC的高精密設備,此部分要求精度軟高,誤差不可超 過10um;隨著沖切次數(shù)增加磨損程度也相應增加,經(jīng)過測試超出其精度無法 達到要求時報廢處理。而待報廢軟排線的沖切精度只有l(wèi)mm即1000um。因 此,金型可以采用沖切IC報廢下來的金型,其延長了金型的使用年限。
請參閱圖4,其為本發(fā)明一種液晶'顯示器制造過程中待報廢軟排線回收利 用方法的流程圖,它包括
S110:確定待報廢軟排線的異常段。本發(fā)明可以通過目測或相關儀器來測
量軟排線上是否有磨損程度達到報廢程度的異常^a。換句話說,軟排線是否
已存在導致磨損位置其接觸信號不穩(wěn)定或出現(xiàn)雜訊號干擾、無法正常測試的 異常段。如果是,則本發(fā)明標識出需要沖切的異常段的沖切位置。
S120:將所述待報廢軟排線直接沿著沖切IC金型的凹槽往前,送到?jīng)_切 IC金型沖口位置;在沖切時,將軟排線放置位置與原IC送取位置保持平行, 通過沖切IC金型沖口對準所述沖切位置來沖切掉所述異常段。S130:沖切掉所述異常段,以回收利用該待報廢軟排線。
在沖切之前,將與待報廢軟排線的異常段相連的插接頭進行拆卸;在沖
切掉所述異常段后,待報廢軟排線中沖切掉異常段的一端重新裝上所述插接頭。
所述沖切IC金型通常為從IC沖切報廢下來的金型。
通過這種方式,可以回收利用待報廢軟排線,而且也延長金型的使用年 限,降低了報廢成本。
請參閱圖5,其為一種測試液晶模組通信情況的測試方法的流程圖。它用 于通過測試主機來測試液晶模組內(nèi)的通信情況,包括以下步驟
S210:檢測軟排線是否通信正常,如果不正常,則先將軟排線異常段進行 標注,再將所述待報廢軟排線直接沿著沖切IC金型的凹槽往前,送到?jīng)_切IC 金型沖口位置,沖切掉所述異常段,與插接口組成新的排線部件。先標識出 需要沖切的異常段的沖切位置;在沖切時,將軟排線放置位置與原IC送取位 置保持平行,通過沖切IC金型沖口對準所述沖切位置來沖切掉所述異常段。
在沖切之前,將與待報廢軟排線的異常段相連的插接頭進行拆卸; 在沖切掉所述異常段后,待報廢軟排線中沖切掉異常段的一端重新裝上所述 插接頭。
S220:通過排線部件建立測試主機與液晶模組之間的通信連接。 還請參閱圖2,測試主機21通過排線部件22連接本主機21的電路接口 211與設置于液晶模組23背部的測試接口 231,測試主機21按照預先設定的 程序向液晶模組23發(fā)送訊號,根據(jù)液晶模組23返回的處理結(jié)果來判斷液晶 模組23的通信情況。在測試主機21和液晶模組23之間傳送的信號不一致時, 通常,在測試主機21和液晶模組23之間設置一轉(zhuǎn)換電路板24,用于進行信 號轉(zhuǎn)換,以便測試主才幾21和液晶模組23之間進行通信。也就是說,測試主 機21 、液晶模組23和轉(zhuǎn)換電路板24之間通過軟排線和相應接插頭組成的排 線部件22來完成它們之間的連接。測試主機21通過排線部件22連接本主機 21的電路接口 211與設置于液晶才莫組23背部的測試接口 231,測試主機21 按照預先設定的程序向液晶模組23發(fā)送訊號,根據(jù)液晶模組23返回的處理結(jié)果來判斷液晶模組23的通信情況。在測試主機21和液晶^^莫組23之間傳送 的信號不一致時,通常,在測試主機21和液晶模組23之間設置一轉(zhuǎn)換電路 板24,用于進行信號轉(zhuǎn)換,以便測試主機21和液晶模組23之間進行通信。 也就是說,測試主機21、液晶模組23和轉(zhuǎn)換電路板24之間通過軟排線和相 應接插頭組成的排線部件22來完成它們之間的連接。 S230:測試主機測試液晶模組的通信情況。 測試主機通過預先設定的程序來測試液晶模組的通信情況。 所述沖切IC金型為從IC沖切報廢下來的金型。
本項技術可以用在模組制程測試液晶模組測試使用軟排線使用第一次后 磨損要報廢部分,利用精度已經(jīng)無法滿足使用IC于沖切金型進行沖切軟排線 進行二次、三次回收使用,降低報廢成本;從而產(chǎn)生雙重效應如下,延長金 型設備其使用年限。
以上公開的僅為本發(fā)明的幾個具體實施例,但本發(fā)明并非局限于此,任 何本領域的技術人員能思之的變化,都應落在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種液晶顯示器制造過程中待報廢軟排線回收利用方法,包括確定待報廢軟排線的異常段;將所述待報廢軟排線直接沿著沖切IC金型的凹槽往前,送到?jīng)_切IC金型沖口位置;沖切掉所述異常段,以回收利用該待報廢軟排線。
2、 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,還包括 標識出需要沖切的異常段的沖切位置;在沖切時,將軟排線放置位置與原IC送取位置保持平行; 通過沖切IC金型沖口對準所述沖切位置來沖切掉所述異常段。
3、 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,還包括在沖切之前,將與待報廢軟排線的異常段相連的插接頭進行拆卸;在沖切掉所述異常段后,待報廢軟排線中沖切掉異常段的一端重新裝上 所述插接頭。'
4、 如權(quán)利要求1至3任何一項所述的方法,其特征在于,所述沖切IC 金型為從IC沖切報廢下來的金型。
5、 一種測試液晶才莫組通信情況的測試方法,用于通過測試主才幾來測試液 晶模組內(nèi)的通信情況,其特征在于,包括以下步驟檢測軟排線是否通信正常,如果不正常,則先將軟排線異常段進行標注, 再將所述待報廢軟排線直接沿著沖切IC金型的凹槽往前,送到?jīng)_切IC金型 沖口位置,沖切掉所述異常段,與插接口組成新的排線部件;通過排線部件建立測試主機與液晶模組之間的通信連接;測試主機測試液晶模組的通信情況。
6、 如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,還包括 標識出需要沖切的異常段的沖切位置;在沖切時,將軟排線放置位置與原IC送取位置保持平行;通過沖切IC金型沖口對準所述沖切位置來沖切掉所述異常段。
7、 如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,還包括在沖切之前,將與待報廢軟排線的異常段相連的插接頭進行拆卸;在沖切掉所述異常段后,待報廢軟排線中沖切掉異常段的一端重新裝上所述 插接頭。
8、 如權(quán)利要求6至7任何一項所述的方法,其特征在于,所述沖切IC 金型為從IC沖切報廢下來的金型。
全文摘要
一種液晶顯示器制造過程中待報廢軟排線回收利用方法,包括確定待報廢軟排線的異常段;將所述待報廢軟排線直接沿著沖切IC金型的凹槽往前,送到?jīng)_切IC金型沖口位置;沖切掉所述異常段,以回收利用該待報廢軟排線。本發(fā)明利用了在液晶顯示器的制作過程中,將用于沖切IC的IC沖切金型來進行軟排線磨損部分的沖切,使得原來要報廢的軟排線又得到廢物利用,即將精度已經(jīng)無法滿足的軟排線使用IC沖切金型進行沖切,使之進行二次、三次回收使用,在沒有增加成本的基礎上降低了報廢成本。并且,金型可以采用從IC沖切報廢下來的金型,延長了金型其使用年限。
文檔編號G02F1/13GK101419353SQ20071004741
公開日2009年4月29日 申請日期2007年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月25日
發(fā)明者李建華 申請人:華映視訊(吳江)有限公司
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