基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，包括：電子實(shí)驗(yàn)板，該電子實(shí)驗(yàn)板的背面設(shè)有若干電壓測量點(diǎn)；電子實(shí)驗(yàn)板的背面還設(shè)有測量單元；該測量單元包括：分別與各電壓測量點(diǎn)相連的若干電壓調(diào)理模塊，且各電壓調(diào)理模塊分別與若干AD模塊相連，與各AD模塊相連的適于檢測電壓數(shù)據(jù)的ARM模塊，與該ARM模塊相連的適于顯示電壓數(shù)據(jù)的液晶模塊，ARM模塊還與一鍵盤相連。本實(shí)用新型通過測量單元對電壓測量點(diǎn)進(jìn)行AD采樣測試，做到實(shí)時(shí)監(jiān)測，通過液晶模塊進(jìn)行相應(yīng)數(shù)據(jù)顯示，使用者能夠?qū)崟r(shí)查看電子實(shí)驗(yàn)板各測試點(diǎn)的相關(guān)數(shù)據(jù)，當(dāng)電子實(shí)驗(yàn)板某一參數(shù)進(jìn)行調(diào)整后，能夠及時(shí)了解調(diào)整后的數(shù)據(jù)變化。
【專利說明】基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種實(shí)驗(yàn)裝置，尤其涉及一種基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，國內(nèi)學(xué)校在電子技術(shù)課程的教學(xué)過程中缺乏行之有效的實(shí)驗(yàn)手段進(jìn)行教學(xué)，教學(xué)過程當(dāng)中使用的相關(guān)產(chǎn)品功能單一，無法通用及擴(kuò)展，使教學(xué)受到了一定程度上的限制。傳統(tǒng)的電子實(shí)驗(yàn)裝置通過電壓表對模塊化的電路中的相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測量，學(xué)生在使用過程中多有不便，并且只能測量輸入、輸出端的相關(guān)闡述，無法做到中間參數(shù)的實(shí)時(shí)監(jiān)測。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，該電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)解決了傳統(tǒng)電子實(shí)驗(yàn)裝置只能通過萬用表來進(jìn)行單一參數(shù)測量，無法同時(shí)進(jìn)行多點(diǎn)測量的技術(shù)問題。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了一種基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，包括:背面設(shè)有多電壓測量點(diǎn)的電子實(shí)驗(yàn)板，所述電子實(shí)驗(yàn)板的背面還設(shè)有測量單元；所述測量單元包括:分別與各電壓測量點(diǎn)相連的若干電壓調(diào)理模塊，且各電壓調(diào)理模塊分別與若干AD模塊相連，與各AD模塊相連的適于檢測電壓數(shù)據(jù)的ARM模塊，與該ARM模塊相連的適于顯不電壓數(shù)據(jù)的液晶模塊,所述ARM模塊還與一鍵盤相連。
[0005]進(jìn)一步，為了滿足不同實(shí)驗(yàn)對電源的需要，所述電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)還包括:適于輸出若干電壓的開關(guān)電源，該開關(guān)電源的電壓相應(yīng)輸出端分別與所述電子實(shí)驗(yàn)板和測量單元的電源輸入端相連。
[0006]本實(shí)用新型的上述技術(shù)方案相比現(xiàn)有技術(shù)具有以下優(yōu)點(diǎn):本實(shí)用新型通過所述測量單元對電壓測量點(diǎn)進(jìn)行AD采樣測試，做到實(shí)時(shí)監(jiān)測，通過液晶模塊進(jìn)行相應(yīng)數(shù)據(jù)顯示，使用者能夠?qū)崟r(shí)查看電子實(shí)驗(yàn)板各測試點(diǎn)的相關(guān)數(shù)據(jù)，當(dāng)電子實(shí)驗(yàn)板某一參數(shù)進(jìn)行調(diào)整后，能夠及時(shí)了解調(diào)整后的數(shù)據(jù)變化，以判斷實(shí)驗(yàn)是否成功。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]為了使本實(shí)用新型的內(nèi)容更容易被清楚的理解，下面根據(jù)的具體實(shí)施例并結(jié)合附圖，對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明，其中
[0008]圖1為本實(shí)用新型的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)內(nèi)各部分的位置關(guān)系示意圖；
[0009]圖2為本實(shí)用新型的測量單元的電路框圖。
[0010]其中，PCB板1、實(shí)驗(yàn)電路2、測量單元3、電壓測量點(diǎn)4。
【具體實(shí)施方式】[0011]下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明:
[0012]見圖1、圖2，一種基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，包括:適于提供多電壓測量點(diǎn)4的電子實(shí)驗(yàn)板，其包括PCB板1，以及位于PCB板I正面的實(shí)驗(yàn)電路2，所述電壓測量點(diǎn)4位于該電子實(shí)驗(yàn)板的背面；所述電子實(shí)驗(yàn)板的背面還設(shè)有測量單元3 ;該測量單元3包括:分別與各電壓測量點(diǎn)4相連的若干電壓調(diào)理模塊，且各電壓調(diào)理模塊分別與若干AD模塊相連,與各AD模塊相連的適于檢測電壓數(shù)據(jù)的ARM模塊,與該ARM模塊相連的適于顯示電壓數(shù)據(jù)的液晶模塊，所述ARM模塊還與一鍵盤相連；通過該鍵盤可以設(shè)定顯示電壓數(shù)據(jù)的檔位。
[0013]所述ARM模塊可以采用S3C44B0來實(shí)現(xiàn)；所述AD模塊可以采用AD8950。通過所述電壓調(diào)理電路，電壓測量點(diǎn)的采集電壓以符合AD模塊的輸入電壓。
[0014]所述電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)還包括:適于輸出若干電壓的開關(guān)電源，該開關(guān)電源的電壓相應(yīng)輸出端分別與所述電子實(shí)驗(yàn)板和測量單元的電源輸入端相連。
[0015]顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說明本實(shí)用新型所作的舉例，而并非是對本實(shí)用新型的實(shí)施方式的限定。對于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)。這里無需也無法對所有的實(shí)施方式予以窮舉。而這些屬于本實(shí)用新型的精神所引伸出的顯而易見的變化或變動(dòng)仍處于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之中。
【權(quán)利要求】
1.一種基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，其特征在于包括:背面設(shè)有多電壓測量點(diǎn)的電子實(shí)驗(yàn)板，所述電子實(shí)驗(yàn)板的背面還設(shè)有測量單元； 所述測量單元包括:分別與各電壓測量點(diǎn)相連的若干電壓調(diào)理模塊，且各電壓調(diào)理模塊分別與若干AD模塊相連,與各AD模塊相連的適于檢測電壓數(shù)據(jù)的ARM模塊,與該ARM模塊相連的適于顯示電壓數(shù)據(jù)的液晶模塊，所述ARM模塊還與一鍵盤相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于嵌入式的對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測的電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，其特征在于，所述電子實(shí)驗(yàn)平臺(tái)還包括:適于輸出若干電壓的開關(guān)電源，該開關(guān)電源的電壓相應(yīng)輸出端分別與所述電子實(shí)驗(yàn)板和測量單元的電源輸入端相連。
【文檔編號(hào)】G09B23/18GK203588544SQ201320774702
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年11月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月29日
【發(fā)明者】吳正明, 李君 , 杜永健, 劉迪迪, 陳霜, 趙振鵬 申請人:常州輕工職業(yè)技術(shù)學(xué)院