運用事件相關(guān)電位儀輔助篩查輕度認知障礙的方法【
技術(shù)領(lǐng)域：
】[0001]本發(fā)明涉及一種運用事件相關(guān)電位（ERPs)儀輔助篩查輕度認知障礙的方法?！?br>背景技術(shù)：
】[0002]老年性癡呆（Alzheimer'sdisease,AD)是持續(xù)進行性的智能衰退，并且缺乏有效的治療手段，病因?qū)W復雜，早期識別較為困難。輕度認知障礙（mildcognitiveimpairment,MCI)被認為是AD的早期階段，是介于AD和正常衰老之間的一種認知功能損害狀態(tài)。在正常人向癡呆演化過程中，被試會明顯的表現(xiàn)出智能下降，最突出表現(xiàn)為記憶力衰退。在輕度認知損害期，被試會表現(xiàn)為對新發(fā)生的事情記憶能力下降?；颊呓?jīng)常為錯過某些重要的事情和場合而煩惱，家庭主婦也會表現(xiàn)出做菜的口味發(fā)生變化，這是由于他們忘了自己到底添加了多少調(diào)味料。隨著智能損害的加重，這種記憶能力也會逐漸向遠期記憶發(fā)展，直至完全忘記整個世界，包括自己的子女和伴侶。相關(guān)研宄顯示，輕度認知損害在老年人中的發(fā)生率為5.3%，每年約有10%~15%的輕度認知損害患者轉(zhuǎn)化為AD，而正常老年人群每年轉(zhuǎn)化為AD僅為1%~2%。學者HuangC，WahlundLO，Almkvist0等（2003)對82例輕度認知損害患者進行為期2年的隨訪研宄，其中28例（34%)例轉(zhuǎn)化為AD，54例(66%)例保持穩(wěn)定狀態(tài)，依此將輕度認知損害分為進展型（ProgressiveMCI，PMCI)和穩(wěn)定型（StableMCI，SMCI)。目前最迫切的任務是如何有效識別PMCI患者，并對其進行早期干預，延緩其向AD發(fā)展。[0003]以往研宄表明，情緒信息可能被優(yōu)先得到加工，當給被試看同樣喚醒程度的面孔和情緒圖片時，情緒面孔又會得到優(yōu)先加工。也就是說，個體在觀察帶情緒的面孔時，能使用最小的資源，得到最大程度的加工。但是這種情緒優(yōu)勢效應可能在MCI被試中損害，這種損害是MCI在行為異常前的早期表現(xiàn)。而且這種損害能通過事件相關(guān)電位（Event-relatedpotentials，ERPs)技術(shù)檢測到?；诖?，我們發(fā)明了一種MCI的早期識別技術(shù)。[0004]ERPs是對客觀事件進行認知加工時產(chǎn)生的腦電變化，它具有較高時間分辨率，能夠?qū)崟r記錄與認知加工相關(guān)聯(lián)的神經(jīng)電生理過程，并且可能在行為問題還不明顯的時候，可見部分皮層神經(jīng)的異常腦電活動?！?br/>發(fā)明內(nèi)容】[0005]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于提供一種識別MCI的技術(shù)，即運用事件相關(guān)電位(ERPs)儀輔助篩查輕度認知障礙的方法，它可以早發(fā)現(xiàn)癡呆，為早治療癡呆提供有益幫助。[0006]為解決上述技術(shù)問題本發(fā)明的技術(shù)方案為：[0007]本發(fā)明一種運用事件相關(guān)電位儀輔助篩查輕度認知障礙的方法，包括下述步驟：[0008]a.根據(jù)Petersen(1999)的輕度認知障礙診斷標準，判斷患者是否為輕度認知障礙的患者；[0009]b.使用編程軟件E-prime在計算機上呈現(xiàn)情緒面孔圖片，讓可疑為輕度認知損害的被試者進行情緒面孔記憶，分別讓輕度認知損害患者學習三類情緒面孔（正性面孔，中性面孔，負性面孔）各50張，在第一次學習時讓被試對每個面孔的情緒類型進行分類，并對分類錯誤的照片給予糾正，以后每隔30分鐘瀏覽溫習一遍面孔照片，共學習四次；[0010]C.在末次學習完成1小時后，進行學習效果測試，即再認測試，將學習過的面孔和未學習過的面孔按1:1的比例混合，隨機呈現(xiàn)給被試，請被試逐個進行區(qū)分，在被試進行圖片辨別任務的同時，采用事件相關(guān)電位儀記錄其腦電；[0011]d.在次日，在與C步驟中的時間的同一時間，將記憶過的面孔和新面孔（前面沒有看見過）按1:1比例混合隨機呈現(xiàn)，讓被試再次判斷該面孔是否瀏覽過。在被試進行區(qū)分任務的同時，采用事件相關(guān)電位儀記錄腦電；[0012]e.采用scan4.3對腦電數(shù)據(jù)進行預處理，提取的事件相關(guān)電位成份主要有N170，早期新舊效應（300-500ms)和晚期的新舊效應（500-800ms)等三個指標，并采用Spss統(tǒng)計軟件包分析上述四個指標在24小時內(nèi)變化；[0013]f.被試的再認的精確度越低，事件相關(guān)電位成份（N170成份、早期新舊效應、晚期的新舊效應）學習完成24小時后與剛完成時相比，如果該被試的比值越小，表明其為輕度認知損害的可能越大。[0014]所述a步驟中，判斷患者是否為輕度認知障礙的標準有如下幾點：[0015]a)經(jīng)常為忘事煩惱；b)被試出現(xiàn)與受教育程度、年齡不相稱的記憶損害；c)被試的一般的認知功能正常；d)被試的日常生活能力正常；e)沒有癡呆表現(xiàn)。[0016]所述步驟c、d中，使用事件相關(guān)電位儀收集被試腦電時，主要參數(shù)設(shè)置如下：[0017]電極帽按國際10/20系統(tǒng)電極安置法放置電極，采用64導聯(lián)電極帽，記錄P07，P08，F(xiàn)z，Cz，Pz電極的腦電圖，參考電極置于左耳后單側(cè)乳突，左眼上下2個電極記錄垂直眼電（VEOG)，兩眼外側(cè)2個電極記錄水平眼電（HEOG)，接地點位于Fpz點和Fz點連線的中點，連續(xù)記錄時濾波帶通為0.05-lOOHz，采樣率為500Hz，每個電極與頭皮之間的電阻均小于5KQ。[0018]所述步驟e中，在對腦電數(shù)據(jù)進行預處理過程中，主要有以下幾個要點：[0019]截取每個刺激呈現(xiàn)前IOOms到呈現(xiàn)后800ms的腦電，以回歸法自動校正眼電偽跡，并剔除波幅超過±75yV的腦電，濾波帶通為0.05-40HZ;[0020]N170分析P08和P07兩個電極，平均波幅取值范圍在160到240ms之間。新舊效應共選取3個電極進行分析（Fz，Cz，Pz)。早期新舊效應分析時間窗為300~500ms，晚期新舊效應分析500~800ms。[0021]所述步驟f?中，被試在學習階段的精確度，事件相關(guān)電位成份（N170成份、早期新舊效應、晚期的新舊效應）學習完成24小時后與剛完成時的比值計算方法如下：[0022]被試的精確度（用Xl表示）：擊中率減去虛報率（擊中率是指被試正確再認學習過的圖片的概率；虛報率是指被試把未學習過的面孔說成學習過的概率）；[0023]Xl=p[hits]-p[falsepositives][0024]所述p[hits]表示擊中率，所述p[falsepositives]表示虛報率。[0025]N170波幅和潛伏期（用X2表示）：該指標反應被試在學習完成24小時后再認時的腦電圖的變化，N170潛伏期計算時不考慮新面孔和舊面孔的差異，N170波幅計算時使用學習過的"舊面孔"波幅當前第1頁1 2