技術編號：87959
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本發(fā)明涉及用于圖形檢查的方法和系統(tǒng)，該方法和系統(tǒng)在制造電路過程中在檢查電路方面是特別有用的。 背景技術電路，諸如印刷電路板的制造通常包括一個或多個階段，在這些階段期間，將導體圖形沉積在一個或多個襯底層上以形成印刷電路板。須使用，例如，由以色列的Orbotech Ltd.Of Yavne可提供的V-300TM、Inspire 9060TM、SK-75TM或ICP 8060TM AOI系統(tǒng)對至少一些襯底層進行自動光學檢查(AOI)。 在AOI中采用多種方法來光學地檢查電路圖形是否有缺陷。一些方法包括將待檢查的...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。
該類技術注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學習。