技術(shù)編號(hào):6749928
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及使用結(jié)構(gòu)測(cè)試技術(shù)加速對(duì)存儲(chǔ)器陣列的測(cè)試,這是用傳統(tǒng)功能測(cè)試所不能做到的。背景技術(shù)隨著在許多電子器件中常用的存儲(chǔ)器陣列日益增大和封裝日益密集,測(cè)試的復(fù)雜程度成指數(shù)增加,徹底地測(cè)試各個(gè)單元以及其它存儲(chǔ)器陣列元件所需的時(shí)間亦成指數(shù)增加。結(jié)果,制造測(cè)試過(guò)程需要更長(zhǎng)的時(shí)間才能完成,已發(fā)現(xiàn)的故障的調(diào)測(cè)工作亦需更長(zhǎng)的時(shí)間才能完成。現(xiàn)有技術(shù)的通常做法是利用功能測(cè)試,即將各種數(shù)值組合寫入到存儲(chǔ)器陣列的存儲(chǔ)單元中,再?gòu)闹凶x出。但是,由于存儲(chǔ)器陣列中的行和列存儲(chǔ)單元的...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
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