技術編號:6632000
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種,首先在待測平面放置一光闌,采集欠焦、聚焦、離焦三幅光強圖像,并利用欠焦與離焦光強圖像進行數值差分得到光強的軸向微分信號;然后利用離散余弦變換求解光強的軸向微分信號的逆拉普拉斯,并基于離散余弦變換,將光強的軸向微分信號的逆拉普拉斯求取梯度,并除以聚焦光強圖像,然后再求散度運算;最后利用離散余弦變換將第三步所得結果求取逆拉普拉斯,就得到了光強傳輸方程的解,也就是所要求解的相位分布。本發(fā)明提高了相位恢復的精度,實現十分簡單高效,所需的外儲量也非...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
請注意,此類技術沒有源代碼,用于學習研究技術思路。