技術編號：6367260
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種。背景技術基于點特征跟蹤方法中，點的檢測和準確匹配是ー個難點，主要是因為相機視角變化、圖像質量低以及遮擋等原因形成。點的檢測和匹配的關鍵是點特征表示和相似度度量。目前最新的點特征求取方法有SIFT、SURF和DAISY等。Lowe在1999年提出了尺度不變的特征點提取算法SIFT，通過計算特征點鄰域的梯度直方圖作為特征點的描述子，然后根據(jù)特征點的描述子進行匹配。但是，SIFT特征點計算復雜，維數(shù)高，實時性能差。Herbert Bay提出了ー種...
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