技術編號:6253280
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種,獲得測試光照數(shù)據(jù)及參比光照數(shù)據(jù)樣品放于任一進光口的光通路上,發(fā)光器發(fā)出的測試光穿透樣品從該進光口射入積分球,檢測器測試此時檢測口的測試光照數(shù)據(jù);樣品放于任一進光口的光通路上,發(fā)光器發(fā)出的測試光從另一進光口射入積分球,檢測器測試此時檢測口的參比光照數(shù)據(jù);比較測得的測試光照數(shù)據(jù)及參比光照數(shù)據(jù),獲得樣品的透過率。消除樣品的二次反射、測試光從樣品處溢出導致測試的透過率結果出現(xiàn)誤差,提高樣品透過率的測試精度。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬于測...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。