技術(shù)編號：6248914
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了，在暗場環(huán)境下，利用線結(jié)構(gòu)光源對被測玻璃側(cè)面進行照射，玻璃內(nèi)部的缺陷如雜質(zhì)、裂痕等會散射一部分光，利用高分辨率的CCD相機從被測玻璃的正面進行拍攝，記錄一系列帶有缺陷信息的圖像，然后移動玻璃到下一個位置，再進行拍攝，最后得到被測玻璃側(cè)面所有照射位置的缺陷圖像。由于高分辨率的CCD相機的視場有限，先將某一片層處得到的圖像進行二維拼接，得到該片層的缺陷圖像，記錄缺陷的二維坐標(biāo)和所屬片層序號，再對所有片層處的缺陷圖像進行三維重建，得到整個玻璃內(nèi)部缺陷...
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