技術(shù)編號：6248907
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供一種，所述材料雙向散射特性測量裝置包括光源發(fā)射機構(gòu)、光源軌道、光源移動機構(gòu)、探測器、探測器軌道、探測器移動機構(gòu)、軌道轉(zhuǎn)向器、目標(biāo)轉(zhuǎn)盤、測量控制器和數(shù)據(jù)處理器。通過設(shè)置光源發(fā)射機構(gòu)、光源軌道、光源移動機構(gòu)、探測器、探測器軌道、探測器移動機構(gòu)、軌道轉(zhuǎn)向器、目標(biāo)轉(zhuǎn)盤、測量控制器和數(shù)據(jù)處理器，能夠自動控制材料雙向散射特性測量裝置進行測量，降低了環(huán)境和人工對測量造成的影響，提高了測量的準(zhǔn)確率。專利說明 [0001]本發(fā)明涉及材料光學(xué)性能檢測，特別是指...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。