技術(shù)編號：6244786
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬實(shí)驗(yàn)室測量，特別是涉及一種90。該方法由以下步驟組成(1)選擇合適厚度的靶材料所述靶材料為Au或Cu，所述Au可用厚度為0.10-0.12mm，Cu可用厚度為0.01-0.03mm；(2)探測效率刻度選擇步驟一中的靶材料Au或Cu，置于γ探測器端面上方，利用已知活度的90Sr體源置于靶材料上方進(jìn)行測量，得到探測效率ε，其數(shù)值為特征X射線能峰計(jì)數(shù)率與90Sr標(biāo)準(zhǔn)源活度比值；(3)樣品中90Sr測量分析將待測的90Sr樣品置于靶材料上方，利用γ探測器測...
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