技術(shù)編號(hào)：6219821
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種預(yù)測(cè)半導(dǎo)體器件NBTI壽命及其漲落的方法，僅用一個(gè)半導(dǎo)體器件即可預(yù)測(cè)出其最好壽命、最壞壽命和平均壽命。測(cè)試時(shí)間大大縮短，可以實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；另外，由于僅用一個(gè)半導(dǎo)體器件，避免了傳統(tǒng)方法中DDV的影響，同時(shí)可以研究壽命在半導(dǎo)體器件之間的漲落；另外，本發(fā)明提出了最好壽命、最壞壽命和平均壽命，也即考慮了CCV的影響；最后，靜態(tài)漲落的影響也可以考慮進(jìn)來(lái)，進(jìn)而可以全面的評(píng)價(jià)半導(dǎo)體器件性能的漲落。專利說(shuō)明一種預(yù)測(cè)半導(dǎo)體器件NBTI壽命及其漲落的方法[0001]本發(fā)明...
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