技術編號:6145215
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明與透明材料有關,特別是一種透明材料折射率的測量方法及其干涉測量儀。2.該測定儀通過轉動樣品改變光程差,需要轉動很大角度才能得到大量的條紋變化量,以達到其測量精度。但引起光束偏轉很大,可能破壞其干涉。3.該測定儀影響測量精度的因素很多,例如樣品厚度、光源波長、轉動角度和條紋變化量等的誤差都會影響該測定儀的測量精度。發(fā)明內容本發(fā)明要解決的技術問題在于克服上述現有技術在測量透明材料折射率方面的困難,提供一種透明材料折射率的測量方法,在此基礎上,提供一種透明...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。