技術編號：6143305
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種用于物體、尤其是半透明物體的至少 一部分的三 維測量的測量組件，包括帶有連續(xù)光譜的光源、用于產生多焦(multifokalen)照明圖案(Beleuchtungsmuster)的裝置、帶有大色像差 (chromatische Aberration,有時或稱色差)用于將照明圖案的焦點成像 (abbilden)到物體上的物鏡、用于確定通過物鏡共焦地成像在物體上的 焦點的波長光譜的檢測單元(例如CCD面檢測器)，以及布置在共焦地 被成像的焦點和檢測...
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