技術(shù)編號(hào):6140878
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及測(cè)量技術(shù),尤其是涉及到電化學(xué)測(cè)量技術(shù)。在電化學(xué)研究及測(cè)量工作中,電極電位是最重要的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)之一,其準(zhǔn)確的測(cè)量除了取決于選擇穩(wěn)定、可靠的參比電極和相應(yīng)的測(cè)量?jī)x器外,研究介質(zhì)中IR降的影響也必須引起足夠的重視。對(duì)于大多數(shù)研究介質(zhì),介質(zhì)中IR降可以通過(guò)魯金毛細(xì)管(Luggin Capi11ary Tube)來(lái)消除;但是,對(duì)于某些介質(zhì)或在某些實(shí)驗(yàn)條件下,魯金毛細(xì)管的應(yīng)用受到了限制,介質(zhì)中IR降對(duì)電極電位的影響十分嚴(yán)重,直接影響電極電位測(cè)量結(jié)果的可靠性。目...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。