技術(shù)編號(hào):6094519
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及光學(xué)儀器和粉粒體測(cè)試。許多工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域的半成品或產(chǎn)品通常呈粉未狀,粉未的顆粒粒度組成是生產(chǎn)控制中最基本的參數(shù)之一。粒度及其分布的測(cè)試是生產(chǎn)與科研中一項(xiàng)重要的測(cè)試項(xiàng)目。目前常用的測(cè)試方法有沉降法、篩析法、顯微鏡法和激光粒度分析法,其中后者測(cè)試速度快、重復(fù)性好、應(yīng)用范圍廣,并可以用于生產(chǎn)在線的測(cè)試,正逐漸引起人們的重視。但目前國(guó)內(nèi)外的激光粒度儀存在下列一些問(wèn)題,影響它的推廣應(yīng)用。(1)、采用平行光路,光路長(zhǎng),付立葉透鏡前面設(shè)準(zhǔn)直鏡,測(cè)量樣品置于付...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。