技術(shù)編號(hào)：6094264
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。要求2003年11月10日提交美國專利和商標(biāo)局的美國臨時(shí)專利申請No.60/518962的優(yōu)先權(quán)，其整體結(jié)合在此作為參考。 背景技術(shù) 正開發(fā)數(shù)字X射線平板檢測器(FPD)，它基于非晶硅薄膜晶體管和具有X射線閃爍體技術(shù)的光電二極管的組合。一般，這些數(shù)字檢測器具有比X射線薄膜更好的動(dòng)態(tài)范圍和檢測量子效率(DQE)。平板X射線檢測器正更多地用于醫(yī)療和工業(yè)無損診斷應(yīng)用的X射線成像。大尺寸平板X射線檢測器可用于成像相當(dāng)大的物體，諸如人體。X射線檢測器的單個(gè)大尺寸面板...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。