技術編號：6091285
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬長度計量與測試。高精度與微型化是當前科技與工業(yè)發(fā)展的必然趨勢，微小內(nèi)尺寸的測量比微小外尺寸更困難，對于盲小孔的測量，特別是要測出其任意截面處孔的尺寸和形狀誤差，未見到報到?，F(xiàn)有的測孔方法很多，主要有接觸法和非接觸法兩種。一.接觸式測量1.坐標測量機測量法坐標測量機測量法是在三坐標測量機上，利用測球和孔壁接觸，感受并存儲球坐標值，通過數(shù)據(jù)處理而實現(xiàn)對孔的測量，這種方法既能測通孔而且能夠測盲孔，在測量φ0.5mm及至更小的孔時，由于測頭細測桿的變形誤差...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。